「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform a hardness test based on a more accurate test force in a hardness tester.例文帳に追加

硬さ試験機において、より正確な試験力に基づく硬さ試験を可能にすること。 - 特許庁

To improve performance in a signal transmission between a test device and test equipment.例文帳に追加

被検デバイスとテスト機器間との間の信号電送における性能の向上を図る。 - 特許庁

A test pattern image composed of a plurality of pieces of test patch data different in line area ratio is formed.例文帳に追加

ライン面積率が異なる複数のテストパッチデータよりなるテストパターン像を形成する。 - 特許庁

GENE FOR CONTROLLING NONMOVEMENT OF MOUSE IN TAIL SUSPENSION TEST AND FORCED SWIMMING TEST例文帳に追加

尾懸垂テストおよび強制水泳テストにおけるマウスの無動化を制御する遺伝子 - 特許庁

Test condition items are managed in association with a request transmitted from a test execution terminal.例文帳に追加

テスト条件項目をテスト実施端末から送信されるリクエストと関連付けて管理する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING ENDING TIME IN LIFE TEST AND TEST STOP REFERENCE例文帳に追加

打切り試験における打切り時間および試験中止基準見積もり方法・装置 - 特許庁

Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit.例文帳に追加

アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。 - 特許庁

A test circuit performs test determination by write-in and read-out for the memory array.例文帳に追加

テスト回路は、上記メモリアレイに対する書き込みと読み出しによる試験判定を行う。 - 特許庁

Then, the amount of the test gas in the environment wherein the test gas does not exist is detected.例文帳に追加

次に、該試験ガスが存在しない環境内における該試験ガスの量を検出する。 - 特許庁

A test program 11 is a program that is built in a host device to control the entire test.例文帳に追加

試験プログラム１１は上位装置に内蔵され試験全体を制御するプログラムである。 - 特許庁

An operation confirmation test of an excessive speed prevention means is incorporated in a load dump test.例文帳に追加

負荷遮断試験に過速度防止手段の動作確認試験を組み込むこととした。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH PROGRAM FOR TEST SYSTEM IS RECORDED例文帳に追加

半導体検査システム及び方法並びに検査システム用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

The IC card test device 1 stores a test script 15 described in script language.例文帳に追加

ＩＣカードテスト装置１はスクリプト言語で記述されたテストスクリプト１５を記憶している。 - 特許庁

The consumer is able to test the flashlight temporarily by pushing the test strip in.例文帳に追加

テストストリップを押し込んで、消費者は、懐中電灯を一時的に試験することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its self test method in which test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮できる半導体装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁

This stage for a test piece holds a test piece of analysis object in a vacuum container.例文帳に追加

真空容器内で分析対象となる試料を保持するための試料用ステージである。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN DELAY TEST FACILITATION CIRCUIT AND PATH DELAY TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

ディレイテスト容易化回路を内蔵した集積回路および集積回路のパスディレイテスト方法 - 特許庁

To provide a SOC with a built-in self-test circuit and a self-test method therefor.例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ及びそのセルフテスト方法を提供する。 - 特許庁

To perform test writing also in an outer periphery as well as test writing of an inner periphery of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの内周の試し書きと併せて、外周においても試し書きを行う。 - 特許庁

To provide a test unit in which test progress information during occurrence of an error can be obtained.例文帳に追加

エラー発生時の試験進行情報を得ることができる試験装置を提供する。 - 特許庁

In the projects window expand the SynchronousSample-BC-BCApplication, right-click Test and choose New Test Case. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで「SynchronousSample-BC-BCApplication」を展開し、「テスト」を右クリックして「新規テストケース」を選択します。 - NetBeans

In the Enter the Test Case Name step, enter a name for the test case and click Next. 例文帳に追加

「テストケース名を入力」ステップで、テストケースの名前を入力して「次へ」をクリックします。 - NetBeans

Select Test Initializer and Test Finalizer in the dialog box, if unselected. 例文帳に追加

ダイアログで「テスト初期化」および「テスト終了」が選択されていない場合は選択します。 - NetBeans

When you run the test suite the IDE will run the test classesUtilsJUnit4Test and VectorsJUnit4Test in the order they are listed. 例文帳に追加

テストスイートを実行すると、UtilsJUnit4Test と VectorsJUnit4Test のテストクラスが、リストされた順序で実行されます。 - NetBeans

The siloxane concentration measurement section 30 measures siloxane concentration in a test area of the test room 20.例文帳に追加

シロキサン濃度計測部３０は、テスト室２０のテストエリア内のシロキサン濃度を計測する。 - 特許庁

After the test data is written in the DRAM array 100, data corresponding to the test data is read.例文帳に追加

ＤＲＡＭアレイ１００にテストデータを書込んだ後、テストデータに対応するデータを読出す。 - 特許庁

A test signal generating circuit 11 generates a test signal in a process of waveform adjustment.例文帳に追加

テスト信号発生回路１１は、波形調整の過程において、テスト信号を発生させる。 - 特許庁

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.例文帳に追加

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁

To conduct selection of high quality having wide test coverage by switching in order a serial mode and a parallel mode to be operated, in a burn-in test using a static burn-in test device.例文帳に追加

スタティックバーインテスト装置を用いたバーインテストにおいて、シリアルモードとパラレルモードを順次切り替えて動作させることにより、テストカバレージの大きな高品質な選別を行なう。 - 特許庁

A pattern select circuit selects an internal test pattern output from the pattern generating circuit in a first test mode, and selects an external test pattern supplied through a test terminal in a second test mode to output the selected test pattern to the memory chip.例文帳に追加

パターン選択回路は、第１試験モード時に、パターン発生回路から出力される内部試験パターンを選択し、第２試験モード時に、試験端子を介して供給される外部試験パターンを選択し、選択した試験パターンをメモリチップに出力する。 - 特許庁

The test strip and the test meter include structures for verifying the integrity of the test strip traces, to measure the parasitic resistance of the test strip traces, and to provide compensation in the voltage applied to the test strip deemed as parasitic resistive losses in the test strip traces.例文帳に追加

試験片と試験計器が試験片トレースの一体化を確証し、試験片トレースの寄生抵抗を測定し、さらに試験片トレース内の寄生抵抗損と見なす試験片に印加される電圧の補償を提供する構造を含む。 - 特許庁

If you selected JUnit 3 as the version for your tests, the IDE can generate JUnit 3 test suitesbased on the test classes in the test package.In JUnit 3 you specify the test classes to include in the test suite by creating an instance of TestSuite and using the addTest method for each test.例文帳に追加

テストのバージョンとして JUnit 3 を選択した場合、IDE ではテストパッケージのテストクラスに基づいて JUnit 3 テストスイートが生成されます。 JUnit 3 では、TestSuite のインスタンスを作成し、各テストに対して addTest メソッドを使用することによって、テストスイートに含めるテストクラスを指定します。 - NetBeans

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD例文帳に追加

組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND BURN-IN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置およびそのバーンインテスト方法 - 特許庁

INTERMEDIATE BEARING SUPPORTING RACK IN BALANCING TEST MACHINE例文帳に追加

釣合い試験機における中間軸受支持架台 - 特許庁

To adequately test a program unit in short time.例文帳に追加

短時間で十分なプログラム単体試験を行う。 - 特許庁

I'm worried about whether I can get good marks in that test. 例文帳に追加

私はそのテストで良い点が取れるか不安だ。 - Weblio Email例文集

I was happy I got high marks in the test. 例文帳に追加

私はテストで高得点をとったことに喜んだ。 - Weblio Email例文集

That was the hardest test I've ever taken in my life. 例文帳に追加

そのテストは私の人生で最も難しかった。 - Weblio Email例文集

All of the test subjects have this fact in common.例文帳に追加

この事実は全ての被験者に共通している。 - Weblio Email例文集

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びそのバーインテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、およびバーンイン試験方法 - 特許庁

To execute a plurality of test programs in parallel.例文帳に追加

複数の試験プログラムを並行して実行させる。 - 特許庁

ROPE RETURN DEVICE IN VEHICLE CRASH TEST APPARATUS例文帳に追加

車両衝突試験装置におけるロープリターン装置 - 特許庁