| 意味 | 例文 |
Test Inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14612件
TIRE TEST APPARATUS, TIRE FITTING SHAFT FOR USE IN IT, AND TIRE TEST METHOD例文帳に追加
タイヤ試験装置、これに用いられるタイヤ装着軸及びタイヤ試験方法 - 特許庁
The test execution part 14 tests the software using the test data in the list prepared by the list preparation part 18 among the test data stored in the test data storage part 11.例文帳に追加
テスト実行部14は、テストデータ記憶部11に記憶されたテストデータのうち、リスト作成部18が作成したリストのテストデータを用いてソフトウェアをテストする。 - 特許庁
To provide a tool for test and test method capable of performing chip unit test, even if the chip to be mounted in an MCM does not have a built-in test circuit.例文帳に追加
MCMに搭載されるチップがテスト回路を内蔵していなくても、チップ単体テストを行うことのできるテスト用治具およびテスト手法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit that has a built-in test controller for generating a test pattern only for a pin necessary in a test and a test pattern for all pins.例文帳に追加
テストに必要なピンのみのテストパターンから、すべてのピンに対するテストパターンを生成するテストコントローラを内蔵した半導体集積回路を得ること。 - 特許庁
This test piece can be used as a disposable test piece improved in responding speed.例文帳に追加
応答速度が向上した使い捨て型の試験片として利用できる。 - 特許庁
The IDE creates the org.me.mylibpackage and the LibClassTest.java file in a separate test folder. You can find this file by expanding the Test Packages node and the org.me.mylib subnode.例文帳に追加
「テストパッケージ」の下に org.me.mylib パッケージと LibClassTest.java ファイルが作成されます。 - NetBeans
A test mode decision circuit 12 sets a test mode in the semiconductor memory.例文帳に追加
テストモード判定回路12は、半導体記憶装置にテストモードを設定する。 - 特許庁
To provide a test cassette adaptable to different test devices in common.例文帳に追加
異なる試験装置に共通に適用できる試験用カセットを提供する。 - 特許庁
The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).例文帳に追加
CPU及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(7,8)と、テスト回路を起動するテスト制御回路(6)と共に、テスト起動レジスタ(9)、テスト状態レジスタ(10)、及びテスト汎用レジスタ(11)を備える。 - 特許庁
To shorten test time in a data holding time test of a dynamic ROM using no test circuit or a simple test circuit.例文帳に追加
ダイナミックROMのデータ保持時間検査の検査時間をテスト回路を用いずに、もしくは簡素なテスト回路を用いて短縮する。 - 特許庁
The record test result storage means records the result of the record test when carrying out the record test in a prescribed record test result storage area.例文帳に追加
記録テスト結果記憶手段は、記録テストを行った際の記録テスト結果を所定の記録テスト結果記憶領域に記録する。 - 特許庁
In Osaka and Kobe, the money was handed in on the 25th, and went through the authenticity test on the 26th, in Nagasaki, the money was handed in on the 27th, and went though the authenticity test on the 28th, and in Niigata, the authenticity test was on August 3, and lastly, in Hakodate the authenticity test was on August 12. 例文帳に追加
大阪と神戸では25日に提出・26日に検勘、長崎では27日に提出・28日に検勘、新潟では8月3日に検勘、最後の函館では8月12日に検勘が行われた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To provide a test circuit that can set a test mode and input a test signal after setting the test mode even if a terminal to be used only in the test mode is not provided in a semiconductor package.例文帳に追加
半導体パッケージにテストモード時にのみ使用される端子を設けなくても、テストモードの設定及びテストモード設定後のテスト信号入力ができるテスト回路を提供する。 - 特許庁
To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.例文帳に追加
感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁
To provide a method for obtaining a test order of test items easily in a short time, by which the total test time becomes shortest, in an integrated circuit test constituted by plural test items.例文帳に追加
複数のテスト項目で構成される集積回路のテストに於いて、総テスト時間が最短となるテスト項目の試験順序を短時間で容易に求める手法を提供する。 - 特許庁
In this test, the DRAM 11, 12, 13 having a short test time are tested in serial, the DRAM 14 having the longest test time is tested in parallel to this serial test.例文帳に追加
この試験は、試験時間の短いDRAM11,12,13をシリアルに試験し、このシリアルな試験に平行して試験時間の最も長いDRAM14をパラレルに試験する。 - 特許庁
To perform a sorting test not in a test environment but in an actual environment when a sorting test of form data is performed, and to prevent test form data from being stored in an unexpected folder.例文帳に追加
帳票データの仕分けテストを行う際に、テスト環境ではなく本番環境で行うとともに、予期せぬフォルダにテスト帳票データが保存されることを防止する。 - 特許庁
With a start bit set in the test start register, the test control circuit starts a test operation of the CPU with the test circuits, accumulates test results, and resets the CPU and the internal circuits in response to the completion of the test operation.例文帳に追加
テスト起動レジスタにスタートビットがセットされて、テスト制御回路は、テスト回路によるCPUなどのテスト動作を起動しテスト結果を蓄積し、テスト動作の終了に応答してCPUと内部回路をリセットする。 - 特許庁
To update test specifications or test procedures at any time along the progress of a test, to raise work efficiency of the test and to eliminate errors in a test operation.例文帳に追加
テストの進行状況に沿ってテスト仕様書あるいはテスト手順書を随時更新し、テストの作業効率を向上させると共にテスト作業の誤りを無くす。 - 特許庁
To provide a test piece extensometer capable of enabling a test piece extensometer to automatically separate from a test piece after breakdown test and elastic modulus test in a material testing machine.例文帳に追加
材料試験機における耐力試験、弾性率試験が終了した後、試験片伸び計が試験片から自動的に離脱することができる試験片伸び計を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE WITH BUILT-IN BURN-IN CIRCUIT AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
バーンイン回路内蔵半導体装置およびテスト方法 - 特許庁
(4) Examples of in vivo genotoxicity test using germ cells例文帳に追加
(4) 生殖細胞を用いる in vivo 遺伝毒性試験の例 - 経済産業省
METHOD FOR DETERMINING DNA IN TEST SAMPLE例文帳に追加
被験試料中のDNAの定量方法 - 特許庁
I have no confidence in the test this time. 例文帳に追加
私は今回のテストに自信がありません。 - Weblio Email例文集
MULTI-MODE OPTIMIZATION TECHNOLOGY IN TEST FORMATION例文帳に追加
テスト生成におけるマルチモード最適化技術 - 特許庁
Be sure to pass the test in November. 例文帳に追加
必ず11月の試験には合格しよう - 京大-NICT 日英中基本文データ
EVALUATION TEST DEVICE FOR COIL PERFORMANCE IN SMES例文帳に追加
SMES用コイル性能評価試験装置 - 特許庁
TESTING SYSTEM, BURN-IN TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
試験システム、バーンイン試験方法及びプログラム - 特許庁
TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT IN TRANSMISSION DEVICE例文帳に追加
伝送装置における試験パターン生成回路 - 特許庁
In the TravelReservationServiceApplication Composite project expand the Test node. 例文帳に追加
TravelReservationServiceApplication 複合プロジェクトの「テスト」ノードを展開します。 - NetBeans
CONTENT AUTHENTICATION MANAGEMENT SYSTEM IN ONLINE TEST例文帳に追加
オンラインテストにおけるコンテンツ認証管理システム - 特許庁
The same question was asked in the last examination [appeared on the last test]. 例文帳に追加
その問題はこの前の試験に出た. - 研究社 新和英中辞典
a large stone that is lifted by a person in order to test his strength 例文帳に追加
力だめしに持ち上げる大きな石 - EDR日英対訳辞書
We will get the results of the test in two weeks. 例文帳に追加
テストの結果は2週間後に分かります。 - Weblio Email例文集
Your performance in the test was good [bad]. 例文帳に追加
君のテストの出来栄えは良かった[悪かった]. - 研究社 新英和中辞典
BUILT-IN SELF TEST HIERARCHY FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路用の組込み自己テスト階層 - 特許庁
I have come to the hospital in order to take the blood test.例文帳に追加
今日は血液検査を受けに来ました。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
To provide a test terminal capable of easily carrying out an operation test of a relay in which a test plug is inserted into the test terminal, while preventing the relay from malfunctioning, even when using a general test plug as the test plug.例文帳に追加
一般的なテストプラグを用いても、これをテスト端子に対し挿入して行う継電器の誤動作を防止してその動作試験を容易に行うことのできるテスト端子を提供する。 - 特許庁
To provide a test device, a test system, and a test method which are capable of shortening a test time by solving at least a part of the various problems in a conventional multi-site test or concurrent test.例文帳に追加
従来のマルチサイト・テストやコンカレント・テストにおける各種の問題点の少なくとも一部を解決し、テスト時間の短縮を図ること等ができる、テスト装置、テストシステム、及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁
TEST CIRCUIT FOR MICROCOMPUTER HAVING BUILT-IN FLASH EEPROM, AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
フラッシュEEPROM内蔵マイクロコンピュータの試験回路及びその試験方法 - 特許庁
LINE TEST SYSTEM FOR IN-BAND RINGER SUBSCRIBER LINE AND ITS LINE TEST METHOD例文帳に追加
インバンドリンガー加入者回線の回線試験システムとその回線試験方法 - 特許庁
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