「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an automatic test execution system capable of test script generation in a command parameter determination stage and test script generation independent of a test script preparer.例文帳に追加

コマンドパラメタの決定段階でのテストスクリプトの生成及びテストスクリプト作成者に依存しないテストスクリプトの生成を可能としたテスト自動実行システムの提供。 - 特許庁

To realize a simultaneous test of a plurality of DUTs (test objects) at different test rates and to realize a parallel test of a plurality of different functions in an identical DUT.例文帳に追加

異なるテストレートでの複数のＤＵＴ（試験対象）の同時試験や、同一ＤＵＴでの複数の異なる機能別の並列試験を実現する。 - 特許庁

To make it unnecessary to provide any test pad for inputting an electric signal or test mode control register, and to control plural test modes in an integrated circuit device having plural test modes.例文帳に追加

複数のテストモードを有する集積回路装置に於いて、電気的信号を入力するためのテストパッド、テストモード制御レジスタ等を不要にする。 - 特許庁

To reduce a trouble that a determined test is not performed in the X-ray examination apparatus having a test mode wherein a test piece is examined to perform a test.例文帳に追加

テストピースを検査にかけてテストを行うテストモードを有するＸ線検査装置において、決められたテストが為されないという不具合を低減する。 - 特許庁

The self-test controller 10 is responsive to scanned-in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that is predertermined by the self-test instruction.例文帳に追加

自己テスト・コントローラ１０は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁

To provide a protective cover for test plugs, which can prevent an operation error from the start of a test to the finish of the test by improving the work efficiency in the test.例文帳に追加

試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。 - 特許庁

A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加

試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

TEST BURN-IN DEVICE FOR MIDDLE POWER AND HIGH POWER IC例文帳に追加

ミドルパワー及びハイパワーＩＣ用テストバーンイン装置 - 特許庁

To test an A/D converter in a shorter time.例文帳に追加

Ａ／Ｄコンバータの試験時間の短縮にある。 - 特許庁

CLEARANCE SETTING METHOD IN DRAG TEST DEVICE例文帳に追加

引摺り試験装置におけるクリアランス設定方法 - 特許庁

I'll give it my all in next week's test.例文帳に追加

私は来週のテストでは最善を尽くします。 - Weblio Email例文集

They are making the test plans in a hurry. 例文帳に追加

彼らは急いで試験計画を作成している。 - Weblio Email例文集

That shows a high level of effectiveness in regards to the test subjects. 例文帳に追加

それは被験者に対し高い効果を示す。 - Weblio Email例文集

Japan to Allow Test Drilling for Gas in East China Sea 例文帳に追加

日本が東シナ海でのガス試掘を許可へ - 浜島書店 Catch a Wave

TEST BOARD FOR TESTING CONTINUITY IN POWER SOURCE/GND TERMINAL例文帳に追加

電源／ＧＮＤ端子導通試験用テストボード - 特許庁

To generate video test signals in various formats.例文帳に追加

種々のフォーマットのビデオ・テスト信号を発生する。 - 特許庁

DUAL IN-LINE MEMORY MODULE AND TEST SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

テスト用デュアルインラインメモリモジュール及びそのテストシステム - 特許庁

SIMPLE TEST METHOD FOR DEGREE OF DECOMPOSITION IN HIGHLY ORGANIC SOIL例文帳に追加

高有機質土の簡易分解度試験方法。 - 特許庁

In a test system side, reference data are provided.例文帳に追加

テストシステム側では基準データを準備している。 - 特許庁

Issue the following commands in thetest/dev/ directory: 例文帳に追加

以下のコマンドをtest/dev/ディレクトリで実行してください。 - Gentoo Linux

Specification of feature test macro requirements in manual pages 例文帳に追加

マニュアルページでの機能検査マクロの要件の規定 - JM

feature test macro must be defined in order to obtain this definition. 例文帳に追加

機能検査マクロを定義しなければならない。 - JM

The result is displayed in the Test Output section. 例文帳に追加

結果が「テスト出力」セクションに表示されます。 - NetBeans

In the next section, you use the IDE to test the web service.例文帳に追加

次の節では IDE でこの Web サービスをテストします。 - NetBeans

Expand the Test Packages node in the Projects window. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで「テストパッケージ」ノードを展開します。 - NetBeans

GIMBAL CONTROL SYSTEM WITH BUILT-IN TEST CIRCUIT例文帳に追加

ビルトインテスト回路を内蔵したジンバル制御システム - 特許庁

I did not request yoda's presence here to test him in battle.例文帳に追加

戦闘の試練の為でヨーダを誘ってないよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

So we decided to test this in the lab.例文帳に追加

そこでこれを実験室で試すことにしました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

It goes against the grain for him to cheat in the test.例文帳に追加

試験でカンニングするのは彼の性に合わない - Eゲイト英和辞典

You may hear a big sound in a test.例文帳に追加

検査中に大きな音がなる場合があります。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

The scan chain circuit (20) takes in test data (S1-1, 2, ...) contained in scan-in data (SI) to perform scan test.例文帳に追加

スキャンチェーン回路（２０）は、スキャンインデータ（ＳＩ）に含まれるテストデータ（Ｓ１−１，２…）を取り込んでスキャンテストを行う。 - 特許庁

To secure contact points for an in-circuit test of a test probe on a printed board without executing the additional design of a test pad.例文帳に追加

テストパッドの追加設計せずにプリント基板上におけるテストプローブのインサーキットテスト用の接触ポイントを確保する。 - 特許庁

To perform a JTAG test without requiring a test device of another configuration and without including a test-only device in an information processor.例文帳に追加

ＪＴＡＧテストを別構成のテスト装置を必要とせず、またテスト専用の装置を内蔵せずに実行する。 - 特許庁

To easily determine the density nonuniformity in a test area and a false positive outside the test area, and to accurately analyze a test target material.例文帳に追加

テスト領域の濃度ムラやテスト領域外の擬陽性を容易に判別し精度良く被検物質の分析を行う。 - 特許庁

The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加

試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁

To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.例文帳に追加

テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁

In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes.例文帳に追加

前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

To provide a leak test method using a differential pressure type leak test device, which is capable of performing a leak test accurately in a shorter time.例文帳に追加

リークテストを、より短時間で精度良く行うことができる、差圧式リークテスト装置によるリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency in a device test and reduce test costs per DUT (Device Under Test) by making effective use of limited hardware resources.例文帳に追加

限られたハードウェア資源を有効利用し、デバイス試験の効率を上げ、ＤＵＴ当たりの試験コストを低減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which shows an excellent test result in both a heat cycle test and a moisture absorption resistance reflow test.例文帳に追加

温度サイクル試験においても、また耐吸湿リフロー性試験においても良好な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece manufacturing method which enables a compression test to be performed with respect to a test piece in a state near to actual construction time.例文帳に追加

実際の施工時に近い状態の供試体で圧縮試験を行うことができる供試体作成方法を得る。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

Out of test cases included in a set of input test cases, test cases having the determined value are determined as candidates (712).例文帳に追加

入力テスト・ケースの集合に含まれるテストケースのうち、上記で決定した値を持っているものを候補とする（７１２）。 - 特許庁

A characteristic of the test piece processed by the test piece processing apparatus 12 is measured by a material test apparatus 13 in the field.例文帳に追加

そして、材料試験装置１３は試験片加工装置１２で加工された試験片の特性をその場で測定する。 - 特許庁