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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test specificationの意味・解説 > Test specificationに関連した英語例文

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Test specificationの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 207



例文

You can use the Go to Test action to open any of these specification files.例文帳に追加

「テストへ移動」アクションを使用すると、これらの仕様ファイルを開くことができます。 - NetBeans

To provide a program test specification generation which enables automatic extraction of a test item corresponding to significance.例文帳に追加

重要度に応じたテスト項目の自動的な抽出を可能とするプログラムテスト仕様書生成装置を提供する。 - 特許庁

To automatically generate a system test specification fit for an actual situation of business for performing a test about processing important on the business.例文帳に追加

業務上重要な処理についてテストするための業務の実態に即したシステムテスト仕様書を自動生成する。 - 特許庁

In a test case automatic creating method, a first specification description language is translated into a second specification description language according to a transformation rule.例文帳に追加

テストケース自動生成の方法は、まず、転換ルールに従って、第一仕様記述言語を、第二仕様記述言語に転換する。 - 特許庁

例文

A test data specification is updated based on a restriction condition of each extracted execution path.例文帳に追加

抽出された各実行経路の制約条件に基づいて、テストデータ仕様を更新する。 - 特許庁


例文

PROGRAM DESIGN DEVELOPMENT SUPPORTING DEVICE AND STORAGE MEDIUM STORED WITH TEST SPECIFICATION PREPARATION PROGRAM例文帳に追加

プログラム設計開発支援装置およびテスト仕様作成プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

CHARACTERISTIC CORRELATION ANALYSIS METHOD AND SYSTEM, AND TEST SPECIFICATION MANAGEMENT METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

特性相関解析方法及びそのシステム並びに試験仕様管理方法及びそのシステム - 特許庁

To perform a test even on a tape library device whose device specification is unknown.例文帳に追加

装置仕様がわからないテープライブラリ装置に対しても、試験を実施することを課題とする。 - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

例文

A test specification output part 190 outputs the test specifications including the agitation event row agitated by the even row agitating part 130.例文帳に追加

イベント列撹乱部130が撹乱した撹乱イベント列を含む試験仕様を、試験仕様出力部190が出力する。 - 特許庁

例文

Then, a test specification preparing part 12 prepares and outputs a test specification C1 in which the constituting elements extracted by the constituting element extracting part 11 are listed as inspection items.例文帳に追加

そして、テスト仕様書作成部14は、この構成要素抽出部11により抽出された構成要素を検査項目として列挙したテスト仕様書C1を作成して出力する。 - 特許庁

A specification model is executed by substituting a predetermined test result for input variable of the specification model, and the mounting model is executed by substituting a test result for input variable of the mounting model.例文帳に追加

仕様モデルの入力変数に所定の試験値を代入することで仕様モデルを実行し、実装モデルの入力変数に試験値を代入することで実装モデルを実行する。 - 特許庁

To reuse a prepared program code even when a specification is changed, when a test program is prepared from the formal specification and when the program code is inserted manually into the test program.例文帳に追加

形式的仕様からテストプログラムを生成し、そのテストプログラムに手作業でプログラムコードを挿入した場合、仕様が変更されたときでも作成されたプログラムコードを再利用可能とする。 - 特許庁

To provide a system for creating a test specification such that contents understood only by experts are rendered comprehensible a non-expert third party and allowing the test specification to be also used as a manual.例文帳に追加

試験仕様書を作成する際に有識者しか分からない内容を有識者でない第3者でも分かるように作成し、マニュアルとしても活用できるようにするシステムを提供する - 特許庁

A quality judging specification result for the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element on a wafer carried out using the determined specification value as the specification value for the avalanche proof level test is made to serve as a quality judged result in the avalanche proof level test of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

決定された規格値をアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値として行ったウエーハ上の試験対象半導体素子のアバランシェ耐量試験の合否判断結果を、その試験対象半導体素子のRBSOA耐量の試験での合否判断結果とする。 - 特許庁

To provide a test item generation device extracting a test item from a branch condition of control of specification information, and generating test item combination information wherein a combination of the extracted test items is optimized.例文帳に追加

仕様情報の制御の分岐条件からテスト項目し、抽出したテスト項目の組合せを最適化したテスト項目組合せ情報を生成するテスト項目生成装置を得ること。 - 特許庁

Since the standard test specifications can be repeatedly used for creation of test specifications for the ECU software for various kinds of machines, efficiency of test specification creation can be improved.例文帳に追加

この標準検査仕様は、各機種のECUソフトウエアの検査仕様を作成する際に繰り返し利用できるので、検査仕様作成の効率化を図ることができる。 - 特許庁

Each test items of the generated test specification is collated with the facility change information to create a test terminal which determines a result of the test, thereby automating the full-point test of the display device screen.例文帳に追加

上記で生成した試験仕様書の各試験項目と、設備変化情報を照合することによって、試験結果を判定する試験端末を作成することにより、表示装置画面の全点試験の自動化を実現する。 - 特許庁

The selected specification is applied to a test result next time, and a display 309 for showing results 310, 311, 312 after application of the specification is shown.例文帳に追加

選択された仕様は、次に、テスト結果に適用され、仕様を適用した結果310、311、312を示す表示309が示される。 - 特許庁

The generated test specification file 23 is displayed and edited as necessary (step S3).例文帳に追加

なお、生成されたテスト仕様書ファイル23は、必要に応じて、表示され、編集される(ステップS3)。 - 特許庁

In addition, the specification file information of respective test items for the test program is extracted, and a test sequence is considered so as to minimize the amount of specification change of an LSI inspection apparatus, whereby the programming description enabling the shortest test period to be realized can be accurately and rapidly considered.例文帳に追加

さらに、テストプログラムの各テスト項目毎のスペックファイル情報を抽出して、LSI検査装置のスペック変更量が最小となるテスト順番を検討することにより、テスト時間を最短にするプログラミング記述の検討を正確かつ迅速に行うことができる。 - 特許庁

The method is applied to a case for displaying a test pattern of a color chart of specification of a first color gamut, and a test pattern of a color chart of specification of a second color gamut wider than the first color gamut on a television receiver 30.例文帳に追加

第1の色域の規格のカラーチャートのテストパターンと、第1の色域よりも広い第2の色域の規格のカラーチャートのテストパターンとをテレビジョン受像機30に表示させる場合に適用される。 - 特許庁

ELectronic data of verification object DUT specifications 21, a various DUT specification libraries 26, a test item library 22, a test specification library 27, a verification library 24, a test template group 25, correspondence information 28, and a DUT library 29 are stored in the database part 20.例文帳に追加

データベース部20は、検証対象DUT仕様21、各種DUT仕様ライブラリ26、テスト項目ライブラリ22、テスト仕様ライブラリ27、検証ライブラリ24、テストテンプレート群25、対応情報28、DUTライブラリ29の電子データを格納する。 - 特許庁

In this test atmosphere construction system, a function block specification information storing part 111 stores information showing a function block that operates in connection with specification information of a prescribed function block while associated with the specification information.例文帳に追加

発明の試験環境構築システムは、機能ブロック仕様情報記憶部111は、所定の機能ブロックの仕様情報に対応させて関連して動作する機能ブロックを示す情報を記憶する。 - 特許庁

By a coverage analysis computing method, the second specification description language is analyzed for calculating a coverage of the second specification description language, while a test case matching the second specification description language is created according to the coverage.例文帳に追加

カバレージ分析演算法により、第二仕様記述言語を分析し、第二仕様記述言語のカバレージを計算すると共に、カバレージに従って、第二仕様記述言語に対応するテストケースを生成する。 - 特許庁

To obtain a system test device which can integrate the steps from creating a test specification, executing a test, and generating the test result, to creating a manual, thereby reducing a load on a system designer, and realizing a system with high reliability.例文帳に追加

試験仕様書、試験の実施、試験結果およびマニュアル作成までの工程を一元化し、システム設計者の負担を軽減し、かつ、信頼性の高いシステムを実現することのできるシステムテスト装置を得る。 - 特許庁

To provide a device and a program for supporting to rapidly and easily prepare the test case group of a test specification providing a low working load to a test case preparing person and capable of increasing a coverage.例文帳に追加

テストケース作成者に与える作業負荷が低く、網羅性の高い試験仕様書のテストケース群を迅速かつ容易に作成できるよう支援を行う装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

By visually editing the input object or output object and the input information or output information according to test item operations or verification order, a test specification and a manual can be created, an automatic test can be executed based on the edited test specification, and evidence as a test result is acquired corresponding to each test item and is output.例文帳に追加

前記入力対象または出力対象と前記入力情報または出力情報を試験項目の操作または検証の順番に従ってビジュアル的に編集していく事によって試験仕様書およびマニュアルを作成することができ、編集された試験仕様書を元に自動試験が実行でき、試験結果として試験項目毎に対応してエビデンスを取得し出力する - 特許庁

Further, since, in the EDS file, specification and the content of test are described in association with each other, the content of test are easily obtained.例文帳に追加

さらに、EDSファイルは、仕様書の部分と、テスト内用を記載した部分とが、互いに対応しながら記載されているので、そのテスト内容が把握しやすい。 - 特許庁

To provide a test specification generation device and a program, generating test specifications of a conversion program executing conversion processing imparted with priority order.例文帳に追加

優先順位を付与した変換処理を実行する変換プログラムのテスト仕様書を生成するテスト仕様生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

Use Test File or Run File from the Editor context menu to run the specification file under rspec control, which means that the test follows the specification file options found in the spec.opts file in the spec directory. 例文帳に追加

「エディタ」のコンテキストメニューから「ファイルをテスト」または「ファイルを実行」を使用して、rspec コントロールの下にある仕様ファイルを実行します。 これは、spec ディレクトリ内の spec.opts ファイルにある仕様ファイルオプションに、テストが従うことを意味します。 - NetBeans

A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5).例文帳に追加

テストシナリオパス生成処理部8は、要求仕様ファイル2のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(4)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル5に生成したデータを格納する(5)。 - 特許庁

To provide a specification preparation support device for excluding vagueness of the descriptions of requirement specifications, and for preparing eligibility test specification without any omission with respect to the requirement specifications.例文帳に追加

要件仕様書の記述の曖昧さを排除し、要件仕様書に対して抜けの無い適格性試験仕様書の作成が可能な仕様書作成支援装置を提供する。 - 特許庁

To generate a reasonable number of test cases capable of testing the quality of a software program while taking a business specification into account.例文帳に追加

業務仕様を考慮し、かつ、ソフトウェアプログラムの品質を検査できる妥当な量のテストケースを生成する。 - 特許庁

To reduce the burden on a creator by automatically creating a simple and detailed test specification.例文帳に追加

容易かつ詳細なテスト仕様書を自動作成することにより、作成者の作成負担軽減を図ること。 - 特許庁

A candidate scene vector 621 corresponding to a test image vector is subjected to positional specification in the network (step 620).例文帳に追加

テスト画像ベクトルに対応した候補情景ベクトル621は、ネットワークにおいて位置特定される(ステップ620)。 - 特許庁

A display part displays the ultrasonic image of the test subject corresponding to the time area specified by the specification part.例文帳に追加

表示部は、特定部により特定された時間領域に対応する被検体の超音波画像を表示する。 - 特許庁

A circuit simulator 12 ascertains a circuit operation resting on data stored in the memory device 10 and a test specification 11.例文帳に追加

回路シミュレータ12は、記憶装置10と試験規格11のデータに基づいて回路動作の確認を行う。 - 特許庁

To share a probe card with the same specification among TAB tapes having different number of test pads.例文帳に追加

異なるテストパッド数のTABテープであっても、同一の仕様のプローブカードを共用することを可能にする。 - 特許庁

The Directorate shall determine the specification of the samples for the purpose of performing the test in accordance with the instructions relating to each plant variety.例文帳に追加

局は,各植物品種に関する指示に従ってテストを行う目的で標本の仕様を定める。 - 特許庁

Thereby, the executor of the action test is not required for checking a plurality of input operation procedures in every specification.例文帳に追加

これにより、動作試験の実施者は、仕様毎の複数の入力操作手順を参照しなくとも良くなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and a method therefor capable of accurately and meticulously applying conforming article/nonconforming article discrimination to semiconductor chips formed on a substrate, which cannot be attained only by an electric selection test for discriminating whether or not a test specification is satisfied.例文帳に追加

基板に形成された半導体チップについて、試験スペックを満たすか否かを判定する電気的選別試験のみでは得られない正確且つきめ細かな良品/不良品判定を行う。 - 特許庁

To provide a software development support system by which content of a design specification is easily and surely reflected on both of a program as an object for development and a test specification by associating the software development support system with technique of test first.例文帳に追加

テストファーストの手法に対応させることにより、設計仕様書の内容を開発対象としてのプログラム及びテスト仕様書の双方に容易かつ確実に反映させることを可能とするソフトウエア開発支援システムを提供する。 - 特許庁

In a status transition table design support portion 230, a test path generation portion 232 generates a test path including a series of test cases to be executed as a status transition test, based on information accepted by an operation specification information input acceptance portion 231.例文帳に追加

状態遷移表設計支援部230では、動作特定情報入力受付部231が受け付けた情報に基づいて、状態遷移テストとして実行されるべき一連のテストケースからなるテストパスがテストパス生成部232によって生成される。 - 特許庁

To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

Facility symbol information extracted from a display device document or the like is extracted, and a test specification of a full-point test and simulation data to be inputted to a display device are automatically generated.例文帳に追加

表示装置ドキュメントなどから抽出した設備シンボル情報を抽出し、全点試験の試験仕様書と表示装置への入力する模擬データを自動生成する。 - 特許庁

To constitute so as to agree with a specification and to test an integrated circuit with a very little cost, and to test a lot of circuits requiring little external labor.例文帳に追加

規格に合致しごく僅かなコストで集積回路をテストできるように構成し、また、外部での手間をほとんどかけずにそのような回路を多数、テストできるようにする。 - 特許庁

To improve the efficiency in test process control by consistently and continuously executing the work from the preparing and approving work of a test specification to the control of a schedule and the registration of a result.例文帳に追加

テスト仕様書の作成・承認作業からスケジュール管理、成果物の登録に至るまでを一貫性をもって連続的に行ない、テスト工程管理の効率化を図る。 - 特許庁

Simultaneously, a power supply voltage and a test signal are supplied to the semiconductor chip B under conditions severer than the conditions determined by the specification and a burn-in test is implemented.例文帳に追加

これと同時に、半導体チップBに仕様で定められた条件よりも過酷な条件で電源電圧とテスト信号とを供給し、バーンイン試験を行う。 - 特許庁

例文

Manufacture process information J1 is transmitted from a manufacture process host 11 to a wafer test host 21 and the wafer test host 21 refers to a correspondence chart 212, and decides a wafer specification code J2.例文帳に追加

製造プロセスホスト11よりウェハテストホスト21へ製造プロセス情報J1を送信し、ウェハテストホスト21は対応表212を参照し、ウェハスペックコードJ2を決定する。 - 特許庁




  
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