「Test specification」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test method and a test device for a semiconductor integrated circuit device including a high-speed input/output device, capable of quickly performing high-speed I/O test exceeding 1 GHz by simple board configuration without alteration of test system for each I/O specification.例文帳に追加

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置に関し、簡単なボード構成によって迅速に１ＧＨｚを越える高速Ｉ／Ｏのテストを、各Ｉ／Ｏ仕様毎にテスト・システムを変更することなく行う。 - 特許庁

For every function configuring a test pattern to execute a security attack designated by a specification unit 702, an attack object is specified.例文帳に追加

特定部７０２にて指定されたセキュリティ攻撃を実行する試験パターンを構成する機能ごとに、攻撃対象を特定する。 - 特許庁

To efficiently perform an operation verify test required and enough for detecting the error of a specification latent in an object to be tested.例文帳に追加

被テスト対象物に潜在する仕様の誤りを検出するのに必要十分な動作検証テストを効率よく行う。 - 特許庁

To provide a testing arrangement supplying test signal of proper voltage accordingly to the specification of the input terminal of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスの入力端子の仕様に応じて適切な電圧の試験信号を供給する試験装置を提供する。 - 特許庁

Characteristic administration for each chip corresponding to the test result can be done easily, and a plurality of specification certificates can be enabled in accordance with the actual performance.例文帳に追加

検査結果に対応したチップ毎の特性管理が容易になり、実力に応じた複数の仕様保証等が可能となる。 - 特許庁

To provide a method for designing a proper random vibration test specification by finding a shortening rate of a test time by using a peculiar accumulated fatigue calculation method, while applying correspondingly a linear damage rule.例文帳に追加

直線被害法則に準じながらも、独自の蓄積疲労計算方法を用いて試験時間の短縮率を求め、適正なランダム振動試験仕様を設計する方法を得る。 - 特許庁

Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.例文帳に追加

その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップＡに仕様で定められた条件で電源電圧と第１のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁

A quality judging specification value for an avalanche proof level test carried out as substitution for the PBSOA proof level test for securing a PBSOA proof level is determined based on a sample of the testing objective semiconductor element.例文帳に追加

試験対象半導体素子のサンプルから、ＲＢＳＯＡ耐量を保証するＲＢＳＯＡ耐量試験の代替として行うアバランシェ耐量試験の合否判断の規格値を決定する。 - 特許庁

In this test circuit, a determination circuit 13 conducts a function test for determining whether timing in an inclined portion of a waveform in an analogue signal ANS of a measured device is within a specification range or not.例文帳に追加

このテスト回路では、判定回路１３は、被測定デバイスのアナログ信号ＡＮＳの波形の傾斜部分のタイミングが規格範囲内にあるかどうかを判定するファンクションテストを行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

The self-diagnostic processing portion 23 obtains the vehicle side steering wheel specification information from a test device 40, and collates that with ECU side steering wheel information stored in a steering wheel specification information memory portion 25.例文帳に追加

この自己診断処理部２３は、テスト装置４０から車両側ハンドル仕様情報を取得し、これをハンドル仕様情報記憶部２５に記憶されているＥＣＵ側ハンドル仕様情報と照合する。 - 特許庁

To create a software function test specification, a software structure and a program according to contents described in a software function specification so as to improve software development efficiency and software product quality.例文帳に追加

ソフトウェア機能仕様書に記載した内容に応じてソフトウェア機能試験仕様書と、ソフトウェア構造と、プログラムを作成することで、ソフトウェア開発の効率向上とソフトウェア製品の品質向上を図る。 - 特許庁

The design support server 3 is equipped with a DB which associates and stores classification of a product, information about a sales area and specification information and a DB which associates and stores the specification information and test information.例文帳に追加

設計支援サーバ３は、製品の種別及び販売地域の情報と規格情報を関連付けて記憶するＤＢと、規格情報と試験情報を関連付けて記憶するＤＢと、を備える。 - 特許庁

Requested specification (such as area, the number of pins, test time, priorities and restricted weighting information) of a system LSI and VC information, etc., are included in the designing request.例文帳に追加

設計要求には、システムＬＳＩの要求仕様（面積，ピン数，テスト時間，優先制約重み情報など）や、ＶＣ情報がある。 - 特許庁

To provide a wrapping paper in which an article to be wrapped is hardly deposited, and also which is suitable for the specification of a potassium permanganate consumption (elution test).例文帳に追加

被包装物が付着し難く、なおかつ、過マンガン酸カリウム消費量（溶出試験）の規格に適合する包紙を提供する。 - 特許庁

Then the description data necessary for the operation test are extracted from the design manual file 21 on the basis of the format specification and test specifications for an application are generated by using the extracted description data (step S2).例文帳に追加

次に、書式指定に基づいて設計書ファイル２１から動作テストに必要な記述データを抽出し、抽出された記述データを用いて、このアプリケーション用のテスト仕様書を生成する（ステップＳ２）。 - 特許庁

Classes includes a procedure class, a test class, a measurement class, a datapoint class, a parameter class, a DUT (data use technology) class, a test system class, a specification class, a run procedure class, a result class, a plug-in class, an exec class, as well as other classes.例文帳に追加

クラスは、プロシージャクラス、試験クラス、測定クラス、データポイントクラス、パラメータクラス、ＤＵＴクラス、テストシステムクラス、仕様クラス、起動プロシージャクラス、結果クラス、プラグインクラス、ｅｘｅｃクラス、およびその他のクラスを含む。 - 特許庁

To enable to appropriately perform an end-product test, electric specification test or the like of a produced semiconductor package without polluting surroundings because only a small amount of solder or the like are removed.例文帳に追加

半田等をわずかしか除去しないので周囲を汚染するようなことがなく、製造された半導体パッケージの最終製品検査、電気的特性試験等を適切に行うことができるようにする。 - 特許庁

A trigger specification is defined based on parts executed in an existing hardware for operating a DUT 14 and the test program.例文帳に追加

ＤＵＴ１４を動作させるための既存ハードウエアおよびテストプログラムのどの部分が実行されているかに基づいてトリガ仕様が定義される。 - 特許庁

To test an interface by its own device, for example, when an operation specification of an interface is different from that of a connection partner device.例文帳に追加

本来の接続相手先装置との間でインターフェースの動作仕様が異なる場合に、例えば自装置のみでインターフェース試験を可能にする。 - 特許庁

To generate a system test specification to be executed to software comprising a plurality of software components while the software components are combined.例文帳に追加

複数のソフトウェア部品で構成されているソフトウェアに対して、ソフトウェア部品が組み合わされた状態で実施されるシステムテスト仕様を生成する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device having an ability of ESD protection satisfying the specification of surge test in correspondence with miniaturization of process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路を得られるようにする。 - 特許庁

Therefore, even though a function block that operates in accordance with a test condition is not set, a test case generating part 131 acquires information about a function block that operates in accordance with the test condition from the function block specification information storing part 111 and can automatically generate a test case in which a plurality of function blocks operate in association with one another.例文帳に追加

このため、試験条件に関連して動作する機能ブロックが設定されていなくても、テストケース生成部１３１は、機能ブロック仕様情報記憶部１１１より関連して動作する機能ブロックに関する情報を取得して、複数の機能ブロックが関連して動作するテストケースを自動的に生成することができる。 - 特許庁

In a method for testing the real page number bits in a cache directory 304, a specification 306 of a cache is retrieved in order to test the real page number bits of the cache directory associated with the cache to be tested.例文帳に追加

テスト対象のキャッシュに関連付けられたキャッシュ・ディレクトリの実ページ番号ビットをテストするために、当該キャッシュの仕様が検索される。 - 特許庁

To provide a lubricating composition which can be suited to requirements of a TO-4 specification and can drastically improve the evaluation of scuffing of FZG (gear test).例文帳に追加

ＴＯ−４仕様書の必要条件に適うことができ、ＦＺＧ（歯車試験）のスカッフィングの評価を著しく改善し得る潤滑油組成物。 - 特許庁

In the case of compiling a test program by an intermediate code group compiler, an intermediate code to be linked with the common program is inserted into the position of the program specification command.例文帳に追加

中間コード群コンパイラによってテストプログラムをコンパイルする際に、プログラム指定コマンドの位置に共通プログラムにリンクさせる中間コードを挿入する。 - 特許庁

To provide a material tester capable of controlling the operation of a tester main body by simply constructing a test executing program corresponding to the testing specification.例文帳に追加

試験仕様に応じた試験実行プログラムを簡易に構築して試験機本体の作動を制御することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To generate test data allowing intensive detection of trouble having high occurrence frequency, and allowing unique specification of a variable causing the trouble.例文帳に追加

発生頻度の高い不具合を重点的に検出することが可能で、不具合の原因となる変数を一意に特定することが可能なテストデータを生成する。 - 特許庁

To generate a test case and a system state transition system whose scale is suppressed while dealing with diverse phenomena or a complicated operation specification reflecting a real system.例文帳に追加

現実のシステムを反映する複雑な動作仕様や多様な事象を取り扱いつつ、規模を抑えたシステム状態遷移系ならびにテストケースを生成する。 - 特許庁

To provide an optimum-specification decision apparatus, for a leaf spring, by which an optimum leaf spring can be selected without performing a repetitive test by actually using a hearing mechanism part.例文帳に追加

実際に軸受機構部を使って繰り返しテストをしなくても、最適な板ばねが選択できる板ばねの最適仕様決定装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that it is impossible to perform specification of nonconformity spots which aims at failure analysis or test development, and observation of its information by a limited number of terminals, in a test circuit which inputs an expected value to a semiconductor integrated circuit and performs comparison inside.例文帳に追加

半導体集積回路に期待値を入力し内部比較するテスト回路で、不良解析やテスト開発を目的とする不一致箇所の特定や、その情報を限られた端子で観測することができない。 - 特許庁

To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference.例文帳に追加

所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁

The air bag base fabric comprising a synthetic fiber woven fabric is a noncoated air bag base fabric which has not lower than 2 class of hole opening of a test piece in a melt-proof property test measured by a method defined in the specification.例文帳に追加

合成繊維織物からなるエアバッグ基布において、本文中に規定する方法で測定された防融性試験による試験片の穴あきが２級以上であることを特徴とするノンコートエアバッグ基布。 - 特許庁

To realize a test circuit which detects the number of clocks between signals of an operation instruction during measurement, can judge whether an operation specification is satisfied or not, and can detect easily contravention to the operation specification, and a semiconductor memory using the circuit.例文帳に追加

測定中に動作命令の信号間のクロック数を検出し、動作スペックが満たされているか否かを判断でき、動作スペック違反を容易に検出できる試験回路及びそれを用いた半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element test method and a test device capable of preventing air discharge during application of a high voltage without using a method of increasing the distance between the electrodes of a semiconductor element or a method of using an expensive prober, when wafer test is performed with the specification maximum voltage.例文帳に追加

ウエハテストで仕様最大電圧の試験を行うときに、半導体素子の電極間の距離を広げる方法や高価なプローバを使用する方法を用いずに、高電圧印加時の空気放電を防止することができる半導体素子試験方法および半導体素子試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory inspection apparatus in which a test can be performed with the minimum specification value of an address cycle by preventing existence of an useless setting period in a test cycle without using a high speed control means by inexpensive and simple circuit constitution.例文帳に追加

安価で簡単な回路構成により、高速な制御手段を用いずに、テストサイクル内に不要な設定期間の存在をなくし、アドレスサイクルの最小仕様値で試験可能な半導体メモリ検査装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, in a plurality of test programs which are described by different programming languages and run for inspecting the same LSI, their respective specification files are compared with each other, whereby the presence or absence of difference between respective test programs can be accurately and rapidly checked.例文帳に追加

また、異なるプログラミング言語で記述され、同一のＬＳＩを検査する複数のテストプログラムそれぞれのスペックファイルを比較することにより、各テストプログラム間に差異があるかどうかを正確かつ迅速に確認することができる。 - 特許庁

Test specification data 110 in which expected value information are written on a Web screen JSP 1 shows that expected value information is written in a cell in a region 1400.例文帳に追加

Ｗｅｂ画面ＪＳＰ１の期待値情報書き込み後のテスト仕様書データ１１０において、領域１４００内のセルに期待値情報が書き込まれていることがわかる。 - 特許庁

To provide a method of finding an accurate plane strain fracture toughness value of low alloy steel such as that in a turbine rotor, using a test piece remarkably smaller than a conventional specification.例文帳に追加

タービンロータなどの低合金鋼の正確な平面ひずみ破壊靭性値を、従来の規格よりも相当小さな試験片により求める方法を提供する。 - 特許庁

The test bench is automatically generated by retrieving and then connecting a verifying device based upon port information of a DUT only through DUT specification and processing an unconnected port.例文帳に追加

ＤＵＴ指定のみで、ＤＵＴのポート情報を元に検証装置の検索と接続、そして、未接続ポートの処理を行いテストベンチを自動生成を行う。 - 特許庁

To achieve efficient automatic software test by extracting a true error image from real images inconsistent with correct images even when a specification change occurs.例文帳に追加

仕様変更が発生しても正解画像と実画像と不一致なものから真の誤り画像を抽出することにより効率的なソフトウェアの自動試験を可能とさせる。 - 特許庁

By visually editing the input or output object and the input or output information according to operation on test items or a verification order, a test specification and a manual can be created.例文帳に追加

前記入力対象または出力対象と前記入力情報または出力情報を試験項目の操作または検証の順番に従ってビジュアル的に編集していく事によって試験仕様書およびマニュアルを作成することができる - 特許庁

This elevator controller is provided with a BKRAM 20 storing program of a site remodelling plan or specification data from the outside and a program part controlling an elevator and a test using test conditions related to the program or data in the BKRAM.例文帳に追加

エレベーターの制御装置において、外部から現地改造案のプログラム又は仕様データを記憶するＢＫＲＡＭと、前記ＢＫＲＡＭ内のプログラム又はデータと関連するテスト条件を使用して、エレベーターの制御とテストを制御するプログラム部を備える。 - 特許庁

This test mode setting circuit for setting into a test mode by an combination of input voltages to a plurality of IO cells is provided with a special IO cell of which the threshold voltage is heightened above the H-level input voltage of the standard IO cell registered in its specification.例文帳に追加

複数のＩＯセルへの入力電圧の組み合わせでテストモードへと設定するテストモード設定回路において、閾値電圧を仕様書に記載された標準ＩＯセルＨレベル入力電圧よりも高く設計した特殊ＩＯセルを設ける。 - 特許庁