「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

A tester 6 is used to apply an inspection voltage between the detecting terminals 2 and 3 and to inspect whether or not a current flows therethrough.例文帳に追加

テスター６により検出用端子２及び３に検査電圧を印加して電流が流れるか否かを検査する。 - 特許庁

The LSI tester 111 executes a test program 113 using the acquired test pattern 114, and tests the LSI 101.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１１１は獲得したテストパタン１１４を用いてテストプログラム１１３を実行し、ＬＳＩ１０１のテストを行う。 - 特許庁

The tester for the wireless device which inputs a communication command program output from the external control PC is improved.例文帳に追加

外部制御ＰＣから出力される通信コマンドプログラムを入力する無線機用テスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

Driving characteristics of a device under test (DUT) of the domain parts 23 of the array substrate 22 are electrically tested with an array tester body 47.例文帳に追加

アレイテスタ本体47でアレイ基板22の表示領域部23の被検査対象デバイスの駆動特性を電気的に検査する。 - 特許庁

The generated internal pulse monitor signal PLSMON is outputted to a tester 22 for detecting the pulse width of the internal pulse signal PLS.例文帳に追加

生成された内部パルスモニター信号PLSMONは、内部パルス信号PLSのパルス幅を検出するテスタ２２に対して出力される。 - 特許庁

To enable an efficient and automatic test using an optical tester even if a back is subjected to mirror finishing.例文帳に追加

裏面が鏡面化処理された場合であっても、光学式検査装置による効率的な自動検査を可能とすること。 - 特許庁

A plurality of devices (DUTs) 101-104 to be measured are serially connected to an inspection device (memory tester) 105.例文帳に追加

検査装置（メモリーテスター）１０５に対して複数の被測定デバイス（ＤＵＴ）１０１〜１０４がシリアルに接続されている。 - 特許庁

In this invention, the IC tester for testing a test object having a plurality of output pins is improved.例文帳に追加

本発明は、複数の出力ピンを有する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A tester 1 inspects leakage from an empty can 2 configured by heat sealing an aluminum foil cover 4 to one opening of a cylinder 3.例文帳に追加

テスター１は、円筒３の一方の開口部にアルミ箔蓋４がヒートシールされてなる空缶２の漏洩を検査する。 - 特許庁

To provide a door inside handle tester in which quality test of a manufactured door inside handle can be carried out quickly.例文帳に追加

製造されたドアインサイドハンドルの品質テストをより迅速に行うことができるドアインサイドハンドルテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an impact tester improved especially with respect to the return of a placing needle (indicator) indicating the graduations on a scale plate.例文帳に追加

衝撃試験機の改良に関し、特に、目盛り盤上で目盛りを指し示す置き針（指示針）の復帰に関する。 - 特許庁

To provide a leak tester holder which can reduce the time and the burden for forming a groove part in a work seal base.例文帳に追加

ワークシール基台に溝部を形成するための時間と手間とを軽減することができるリークテスタ用治具の提供。 - 特許庁

To provide an analog differential circuit tester for measuring/analyzing the characteristics of an analog differential circuit disposed within an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に配設されるアナログ差動回路の特性を測定、解析するアナログ差動回路試験装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, a configuration process of the FPGA 500 is executed by an interchangeable ROM 310 or a CPU 150 controlling the tester.例文帳に追加

またＦＰＧＡ５００のコンフィグレーションを交換可能なＲＯＭ３１０またはテスタを制御するＣＰＵ１５０から行なう。 - 特許庁

To reduce an overhead time of an LSI tester to effectively utilize an expensive test system resource.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのオーバーへッド時間を削減することができ、それにより高価なテスト系リソースの有効活用を図ること。 - 特許庁

To provide a method for operating an SDRAM by which the error of software can quickly be estimated with a comparatively inexpensively tester.例文帳に追加

比較的安価なテスタでソフトエラーを迅速に評価することができるＳＤＲＡＭの動作方法を提供する。 - 特許庁

Sebum inspection is carried out by pressing a tester against two positions on, e.g. the forehead or cheek of a subject, 20 minutes after the subject has washed her face.例文帳に追加

皮脂の検査は、テスターを、例えば額、頬等の２箇所に洗顔２０分後に押し当てることにより行う。 - 特許庁

For example, the internal circuit 300 can be operated and tested while using an inexpensive LSI tester of low clock frequency.例文帳に追加

例えば、クロック周波数が低い低コストのＬＳＩテスタを用いて、内部回路３００を高速で動作させ試験できる。 - 特許庁

The IC tester for testing an object to be tested for outputting a multi-stage voltage is added with improvements.例文帳に追加

本発明は、多段階電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The output from the indeterminate mask device 230 is outputted to an MISR 240 and is outputted as an output value to a tester.例文帳に追加

不定マスク器２３０からの出力はＭＩＳＲ２４０に出力され、出力値としてテスタに出力される。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of outputting a high voltage by using a source part for outputting a low voltage.例文帳に追加

低電圧を出力するソース部を用いて、高電圧を出力できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a method capable of measuring a leak current stably and quickly while using a precise tester now in use.例文帳に追加

精度の良い現行のテスターを用いつつ、安定したリーク電流の測定を短時間で可能とする方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING JIG PROBE POSITION WITHIN PRINTED CIRCUIT BOARD TESTER JIG BASED ON DESIGN OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路基板の設計に基づいてプリント回路基板テスタ治具内の治具プローブ位置を決定する装置および方法 - 特許庁

To provide a penetration tester capable of obtaining accurate test data by getting loss caused by the resistance of soil.例文帳に追加

土の抵抗による損失等を求めることにより正確な試験データを得ることができる貫入試験機の提供。 - 特許庁

An original FBM 27a is made on the basis of the result of the prescribed test performed by using an LSI tester 2.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ２を用いて行われた所定の検査の結果に基づいて、オリジナルのＦＢＭ２７ａが作成される。 - 特許庁

A tester observes an image projected to a monitor, operates a focus knob, and arranges focus index images Fb and Fc in a row.例文帳に追加

検者はモニタに映出された像を観察し、フォーカスノブを操作してフォーカス指標像Ｆｂ、Ｆｃを一列に並べる。 - 特許庁

To provide an underwater tester for a lining which tests any defects on the lining in water, by remote control from above the water surface.例文帳に追加

水中のライニングの欠陥を、水面上からの遠隔操作で検査するライニングの水中検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester generating a clock different from a reference clock without using a variable delay circuit.例文帳に追加

可変遅延回路を用いることなく、基準クロックとは異なるクロックを発生する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The calibration modules (19 and 119) modify the final value in the port (20 and 120) of the calibration module in response to commands from the device tester.例文帳に追加

デバイステスターからのコマンドに応答して、校正モジュール(19,119)が校正モジュールのポート(20,120)における終端値を変化させる。 - 特許庁

The tester 36 controls the prober 32 and the light source 34 to execute defective pixel inspection of each solid-state imaging element on the wafer.例文帳に追加

テスタ３６は、プローバ３２及び光源３４を制御して、ウェハの各個体撮像素子の欠陥画素検査を行う。 - 特許庁

To provide a surface pressure durability tester for solar battery panels which can maintain uniform surface pressure, while shortening the testing time.例文帳に追加

試験時間の短縮と共に均一な面圧の維持できる太陽電池パネルの面圧耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SWITCHING A PLURALITY OF CALL SIGNALING PROTOCOL STACKS AT VOICE QUALITY TESTER AND APPARATUS USING THIS METHOD例文帳に追加

音声品質テスターにおいて複数の通話シグナリングプロトコルスタックを切り替える方法及びこの方法を使用する装置 - 特許庁

To provide a combustion tester having an inexpensive lightweight heat shield exhibiting excellent heat insulation and cooling performance.例文帳に追加

軽量かつ低コストで断熱性および冷却性能に優れた熱遮蔽体を備えた燃焼試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a testing cost and a testing time by using an inexpensive analog tester in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路装置において、廉価なアナログテスタを用いて検査コストを低減し且つ検査時間を短縮する。 - 特許庁

To realize an IC tester and testing modules capable of performing failure analysis and repair work rapidly.例文帳に追加

迅速に、故障解析ができ、修理作業が行えるＩＣテスタ及び試験モジュールを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an impact tester in which a piston rod can be securely restored even when a test piece is not broken.例文帳に追加

試験片が破壊されない場合でもピストンロッドを問題なく復帰可能な衝撃試験機を提供することにある。 - 特許庁

To confirm the operation of an LCD array tester and to check inspection accuracy with excellent reproducibility without using a golden sample.例文帳に追加

ゴールデンサンプルを用いることなく、ＬＣＤアレイテスタの動作の確認及び検査精度のチェックを再現性良好に行う。 - 特許庁

An antireflection film is rubbed using a rubbing tester according to an eraser rubbing method and a steel wool method to form a sample.例文帳に追加

ラビングテスタを用い、消しゴム擦り法およびスチールウール法に従って、反射防止フィルムを擦り、試料を作成する。 - 特許庁

The memory tester 100 compares the signals output to the outside and decides whether the microcomputer part is operated normally.例文帳に追加

メモリテスター１００はその外部に出力された各信号を比較し、マイコン部が正常に動作したかを判定する。 - 特許庁

The semiconductor tester 105 loaded with the test program tests the semiconductor chip 101, based on the test program.例文帳に追加

テストプログラムをローディングされた半導体テスター１０５は、そのテストプログラムに基づいて半導体チップ１０１のテストを行う。 - 特許庁

VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁

Electric resistance data from the tester 17 can be transmitted, or subjected to A/D conversion and stored in a computer or the like.例文帳に追加

また、テスター１７の電気抵抗データは送信したり、Ａ／Ｄ変換してコンピュータなどに記憶させることが容易である。 - 特許庁

To discover the nonconformity of a testing program and the fault of the communication system, etc., between a tester and a probe or handler in early stages.例文帳に追加

テスト用プログラムの不具合や、テスタとプローバやハンドラとの間の通信系統等の故障を早期に発見する。 - 特許庁

To reduce the development period of a test pattern and the LSI test time, and to eliminate the necessity for an expensive analogue/digital mixed tester.例文帳に追加

テストパターンの開発期間およびＬＳＩのテスト時間を短縮し、高価なアナログデジタル混在用テスタを不要にする。 - 特許庁

The slider tester 10 includes a disk 11, a movable table 12, a table driving mechanism 13 and a guide member 14.例文帳に追加

スライダ試験機１０は、ディスク１１と、移動テーブル１２と、テーブル駆動機構１３と、ガイド部材１４などを含んでいる。 - 特許庁