「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an overcurrent tester which can efficiently execute the operation test of equipment operating with an overcurrent such as a breaker for wiring, etc., and can be manufactured at low cost.例文帳に追加

配線用遮断器などの過電流で動作する機器の動作試験を効率よく実施でき、かつ、安価に実現可能なこと。 - 特許庁

A request state (request) transmitted from the PHY chip 11 and a grant state (grant) received by the tester 13 are omitted.例文帳に追加

その時、ＩＥＥＥ１３９４ＰＨＹチップ１１から送信されるリクエストステート(request)及び、テスタ１３の受信するグラントステート(grant)を省略する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can perform a disturbance test having good timing accuracy even when a low speed tester is used.例文帳に追加

低速テスタを使用した場合であってもタイミング精度がよいディスターブテストを行うことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

OPERATING PROCEDURE PREPARING DEVICE, ITS PREPARING RULE EXPRESSION METHOD, ITS PREPARING RULE TESTER, AND ITS PREPARING RULE EDITOR例文帳に追加

操作手順作成装置、操作手順作成ルール表現方法、操作手順作成ルール試験装置、及び操作手順作成ルール編集装置 - 特許庁

To realize an IC tester which can output at least many voltages and which can output the voltages with high precision.例文帳に追加

少なくとも、多くの電圧出力ができると共に、高精度の電圧出力が行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing a testing object wherein a specific voltage is output with respect to an input voltage.例文帳に追加

本発明は、入力電圧に対して、比電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The test circuit 100 performs the test of the circuit to be tested, and outputs the test result for a tester.例文帳に追加

本発明におけるテスト回路１００は、テスト対象回路のテストを行ってテスタに対してテスト結果を出力するテスト回路である。 - 特許庁

To prevent a reflected wave from a tester from getting on a signal wire reinputted to an internal circuit through an external input-output terminal.例文帳に追加

外部入出力端子を経由して内部回路に再入力される信号線にテスタからの反射波が乗ることを防止する。 - 特許庁

The abrasion detection device 80 lights an alarm lamp 81 according to a change of the resistance value between the guide block 54 and the tester base 68.例文帳に追加

摩耗検出装置８０は、ガイドブロック５４とテスタベース６８との間の抵抗値の変化によって、警報ランプ８１を点灯させる。 - 特許庁

To perform high-speed data transfer by fully utilizing a burst property of collection memory in collecting fail data of DUT by memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでＤＵＴのフェイルデータを収集する際に、収集メモリのバースト性を充分に活用して高速なデータ転送を行う。 - 特許庁

The bottle 12 after passing through a bent part ER smoothly advances in the direction of a leakage tester 40 on the round conveyor 30 to make a leakage test.例文帳に追加

折曲部ＥＲを円滑に通過したボトル１２は、Ｒコンベア３０上をリークテスタ４０の方向に進み、リークテストが行われる。 - 特許庁

To provide a configuration of a semiconductor device capable of executing an efficient operation test in accordance with the performance level of a memory tester to be used.例文帳に追加

使用するメモリテスタの性能の高低に対応して、効率的な動作テストを実行可能な半導体装置の構成を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester in which a fail memory can store a fail signal relating always it to an address which is actually made fail.例文帳に追加

フェイルメモリがフェイル信号に常に実際にフェイルになったアドレスを関連付けて記憶することが可能なＩＣテスタを提供する。 - 特許庁

The oil-based inkjet ink K, which is put in a container 2 of a preservation stability tester, is subjected to a preservation stability test by introduction of oxygen.例文帳に追加

この油性インクジェットインクＫは保存安定性試験器の容器２に入れて酸素導入による保存安定性試験に供される。 - 特許庁

To provide a terminal board for signals in which proper connection of signal lines can be visually confirmed without using measuring instruments such as a tester and the like.例文帳に追加

テスタ等の計測器を使用しなくても信号線の適正な接続が視覚的に確認できる信号用端子台を提供する。 - 特許庁

When the rotating rod 20 is directed to the horizontal direction, the penetration tester 50 is pushed out by the cylinder device 21 to provide for penetration test.例文帳に追加

そして、回転ロッド内２０が横方向に向いたら、シリンダ装置２１により貫入試験器５０を押し出して貫入試験を行う。 - 特許庁

The curable composition can form a cured product satisfying the following index formulas (1) and (2) in a loading-unloading test with a micro hardness tester.例文帳に追加

微小硬度計による負荷−除荷試験において、下記指標式（１）及び（２）を満たす硬化物を形成しうる硬化性組成物。 - 特許庁

This floor mat has a hard cotton layer having 60-98 surface hardness measured with an F type hardness tester and antifungal and/or antimicrobial properties and containing 20-60 wt.% of heat bonding fibers and has ≤120s water permeability.例文帳に追加

Ｆ型硬度計による表面硬度６０〜９８の硬綿層を有し、透水性が１２０秒以下の家畜用床マット。 - 特許庁

The tester insertion hole 70 is formed corresponding to nearly the rear side of a lance 26, and a tapered guide surface 72 is formed in its deep part.例文帳に追加

テスタ挿入口７０は、ランス２６のほぼ後方に対応して形成され、奥にはテーパ状の誘導面７２が形成される。 - 特許庁

In the optical pulse tester, improvements for a light source for radiating light and the bi-directional module having a light-receiver for receiving incident light are made.例文帳に追加

光を出射する光源と、入射光を受光する受光部とを有する双方向光モジュールに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a tester for an air spring for a railroad vehicle to test the characteristic of the multidegree of freedom of the air spring.例文帳に追加

鉄道車両用空気ばねの多自由度の特性を試験することができる鉄道車両用空気ばねの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compression tester for a wet powder capable of simply evaluating the compression characteristics such as viscosity, rheological characteristics or the like of the wet powder.例文帳に追加

湿潤粉体の粘性やレオロジー特性等の圧縮特性を簡易に評価可能な湿潤粉体圧縮試験機の提供。 - 特許庁

A circuit board 5 inside the tester is arranged at the outside of the heat-insulation space 3 so that it does not receive the radiation heat from the resistor 4.例文帳に追加

試験機内部の回路基板５は、抵抗体４からの放射熱を受けることがないよう、遮熱空間３の外側に配置する。 - 特許庁

To provide a tension test holder with which a synthetic resin tester can be prevented from being dechucked using a simple device and operation.例文帳に追加

簡易な装置および操作により合成樹脂製の試験片のチャック切れを防止できる引張試験用掴み具を提供すること。 - 特許庁

A memory tester distributes test pattern data generated by a pattern generation part 10 into a plurality of DUTs, and outputs the data from a driver 30 individually.例文帳に追加

メモリテスタは、パターン発生部１０で生成した試験パターンデータを複数のＤＵＴに分配し、ドライバ３０から個別に出力する。 - 特許庁

The IC tester is characterized by providing an arithmetic unit 34 for obtaining timing errors, using inputted cycle information and the timing information.例文帳に追加

本装置は、周期情報とタイミング情報とを入力し、タイミングエラーを求める演算部を設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The test results are once stored in the RAM 23, and then collectively output to the tester 100 side from the ECU side 10.例文帳に追加

この検査結果は一旦、ＲＡＭ２３内に格納された後、ＥＣＵ１０側からまとめて検査テスタ１００側に出力される。 - 特許庁

An acquisition part 21 acquires measured data by an abnormal sound tester 15 for the sound generated by the engine, in which the test object camshaft is assembled.例文帳に追加

取得部２１は、検査対象のカムシャフトが組み付けられたエンジンが発する音の異音テスター１５による測定データを取得する。 - 特許庁

To obtain a prober and a probing inspection method in which a tester and a probe card can be used efficiently and total cost of probing inspection can be reduced.例文帳に追加

テスタ及びプローブカードを効率的に使用でき、プロービング検査全体のコストを低減できるプローバ及びプロービング検査方法の実現。 - 特許庁

This airtightness tester 10 is a device for checking the airtightness of a gap between a plughole 14 and a plug tube 16.例文帳に追加

気密試験装置１０は、プラグ穴１４及びプラグチューブ１６間の隙間が気密性を保持しているか否かを調べる装置である。 - 特許庁

The light emitting lamp apparatus 2 and a light emitting volume tester 4 are installed inside a dark box 3 and connected to the light emitting volume adjusting apparatus 1.例文帳に追加

発光灯装置２と発光量テスタ４は暗箱３の内部に配置されていて発光量調整装置１に接続されている。 - 特許庁

The test system is acquired by improving a test system for testing the test object for inputting the TMDS signal by the IC tester.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To achieve high speed operation test in a low speed tester device which can obtain detailed test result.例文帳に追加

この発明は、詳細なテスト結果を得ることが可能で、低速なテスタ装置において高速な動作テストを達成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a signaling method, semiconductor device and its manufacturing method, and a tester system for properly transmitting/receiving signal by electromagnetic induction, while keeping the area required for arrangement of an inductor as small as possible.例文帳に追加

インダクタを配置するための必要面積を小さく保ちつつ、電磁誘導で信号の送受信を良好に行う。 - 特許庁

To suppress magnetic noise of an eddy current flaw tester for inspecting a flat plate of magnetic material and to improve the S/N ratio of an ECT signal.例文帳に追加

磁性材の平板を検査する渦電流探傷試験装置の磁気ノイズを抑制し、ＥＣＴ信号のＳ／Ｎ比を改善する。 - 特許庁

DEVICE, SYSTEM, AND METHOD FOR PROCESSING SIGNAL BETWEEN TESTER AND PLURALITY OF DEVICES TO BE TESTED BY ONE-TIME TOUCHDOWN OF PROBE AT HIGH TEMPERATURE例文帳に追加

高温かつプローブの１回のタッチダウンで、テスターと複数の被試験デバイスとの間で信号を処理するための装置、システム、及び方法 - 特許庁

This invention solves the problem that the prober must be set up when the tester or a test program is developed.例文帳に追加

本発明によれば、テスタまたはテストプログラム開発時に、プローバをセットアップしなければならないという問題を解消することができる。 - 特許庁

In one embodiment, the method includes a step for connecting the tester to the devices to be tested by at least one multi-chip module.例文帳に追加

一実施形態では、この方法は、テスターと被試験デバイスとを少なくとも一つのマルチチップモジュールによって接続するステップを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of testing its own circuit operating at a high speed by using a general low speed LSI tester.例文帳に追加

一般的な低速ＬＳＩテスターを用いて、高速動作する自己の回路を試験できるようにした半導体装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, a tester can easily confirm a modified bug in the built software by using the bug management system.例文帳に追加

これにより、テスターはバグ管理システムを使用することで、ビルドされたソフトウェアにおいて修正されたバグを容易に確認することが可能になる。 - 特許庁

To provide a layout designing apparatus for a semiconductor integrated circuit which makes it possible to observe a desired signal line by using an electron beam tester.例文帳に追加

電子ビームテスタを用いた所望の信号線の観測を可能とする半導体集積回路のレイアウト設計装置を提供する。 - 特許庁

The wafer inspection device 1 includes a tester 2, a prober 3, a stage 4, a probe card 5, a magnet 7, a performance board 8, and a test head 9.例文帳に追加

ウェハ検査装置１は、テスタ２と、プローバ３と、ステージ４と、プローブカード５と、磁石７と、パフォーマンスボード８と、テストヘッド９と、を備える。 - 特許庁

A transmitter tester 4 measures the output level of the semiconductor device by the following frequency every time the trigger of the processing device 2 is inputted.例文帳に追加

送信機テスタ４は、処理装置２のトリガが入力される都度、次の周波数での半導体デバイスの出力レベルを測定する。 - 特許庁

To provide a calibration method for a semiconductor tester capable of reducing costs, simplifying working contents, and shortening working hours.例文帳に追加

コストの低減、作業内容の簡素化、作業時間の短縮が可能な半導体試験装置のキャリブレーション方法を提供すること。 - 特許庁

To realize a semiconductor tester for causing the power supply voltage of an arbitrary group to selectively correspond to an arbitrary channel.例文帳に追加

任意のチャンネルに任意のグループの電源電圧を選択的に対応させることを可能とする半導体試験装置を実現する。 - 特許庁