「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for extending the life of a quartz oscillator used for a quartz-type thickness tester, in a thin-film-forming apparatus which employs the thickness tester to control a film thickness and a deposition rate, and to enable continuous film-forming over a long time.例文帳に追加

水晶式膜厚計により膜厚制御および成膜速度制御を行う薄膜形成装置において、この膜厚計に用いられる水晶振動子を長寿命化する方法を提供し、長時間にわたる連続成膜を可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of suppressing a reduction in number of simultaneous tests of a device to be measured to a minimum limit even in the case that number of input and output terminals of the device is more that of the terminals of a measuring circuit block of the tester.例文帳に追加

被測定デバイスの入出力端子数が半導体試験装置の測定回路ブロックの端子数より多い場合であっても、被測定デバイスの同時試験数の減少を最小限に抑えることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an adapter for a torque wrench tester constituted so that an angle drive shaft of a torque wrench having a plurality of kinds in sizes of different thickness (size) can be easily and surely engaged with a measuring input shaft of fixed size provided in the torque wrench tester.例文帳に追加

トルクレンチテスタに設けられている一定サイズの測定入力軸に対し、太さ（サイズ）の異なる複数種サイズのトルクレンチの角ドライブ軸を容易かつ確実に嵌入係合させることができるように構成したトルクレンチテスタ用アダプタの提供。 - 特許庁

To provide a tester unit and an inspection device capable of carrying out easily replacement work or the like for a repeating substrate connected to a tester, while shortening an optical path from a light source to an inspected object, and a repeating substrate storage unit used therefor.例文帳に追加

光源から被検査体までの光路長を短縮しながらも、テスタに接続される中継基板の交換作業などを容易に行うことができるテスタ装置、検査装置及びそれに用いる中継基板収容ユニットを提供すること。 - 特許庁

Further, the gripping devices 31, 32 are conveyed to the tester body 5 side by driving of a ball screw 42, while gripping the test piece TP by the gripping devices 31, 32, and the test piece TP is gripped by gripping devices 51, 52 provided on the tester body 5.例文帳に追加

さらに、把持装置３１，３２により試験片ＴＰを把持したままボールねじ４２の駆動により把持装置３１，３２を試験機本体５側に搬送し、試験機本体５に設けられた把持装置５１，５２で試験片ＴＰを把持する。 - 特許庁

When receiving information that the trouble has been dealt with, from the developer PC 400, the trouble management processing part 302 retrieves the corresponding tester PC 200 and transmits this information of the same effect to the tester PC 200.例文帳に追加

また、不具合管理処理部３０２は、開発者ＰＣ４００から不具合を対処した旨の情報などを受信した場合に、対応するテスト者ＰＣ２００を検索し、該テスト者ＰＣ２００に不具合を対処した旨の情報を送信する。 - 特許庁

To provide a method for estimating such a factor that a contact force between a pad of a semiconductor device and a probe of a tester is changed concerning a method for manufacturing the semiconductor device, a method for testing the semiconductor device, the tester of the semiconductor device, and the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置に関し、半導体装置のパッドと試験装置のプローブとの接触力が変化した要因を推定する方法の提供。 - 特許庁

To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

The predetermined period allows for a timing skew that could occur with the LSI tester; once the circuit element is determined by the logic simulation to have no problems, there is no possibility that it will later be determined as being faulty by the LSI tester under the influence of the timing skew.例文帳に追加

所定期間は、ＬＳＩテスタで生じるタイミングスキューを考慮した期間であり、論理シミュレーションにおいて問題なしと判定された場合には、後にＬＳＩテスタで、タイミングスキューの影響により異常と判定されることはない。 - 特許庁

After a wafer W is placed on a θ stage 21 arranged on an input side of a probing tester 3 to perform positioning the wafer W and the external appearance test of each semiconductor chip, this wafer W is placed on the probing tester 3 to perform the probing test.例文帳に追加

プロービングテスト装置３の入側に配置されたθステージ２１にウエハＷを載せて、このウエハＷの位置決めと各半導体チップの外観検査を行った後に、このウエハＷをプロービングテスト装置３に設置してプロービングテストを行う。 - 特許庁

This device comprises a tester model which simulates the circuit operation of the tester, DUT models with different delay quantities of internal operation which simulate the circuit operation of the test object, a selection means which selects one of the DUT models and connects it to the tester model, and a determination means which determines the DUT model based on the test program, and makes the selection means select it.例文帳に追加

本装置は、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A digital virtual test system including a semiconductor simulation model and an LSI tester simulation model includes a determination means for comparing and determining whether an address signal for accessing a memory function model in the semiconductor simulation model accesses a predetermined address in an address range of the memory function model or not to detect a defect of a test pattern using the LSI tester or the LSI tester simulation model.例文帳に追加

半導体シミュレーションモデルとＬＳＩテスタシミュレーションモデルを含むデジタルヴァーチャルテストシステムにおいて、半導体シミュレーションモデルのメモリ機能モデルをアクセスするアドレス信号が、メモリ機能モデルのアドレス範囲のうち所定のアドレスをアクセスしたかどうかを比較判定する判定手段を設けてＬＳＩテスタまたはＬＳＩテスタシミュレーションモデルを使用したテストパターンの不備を検出する。 - 特許庁

The maintenance method for the heat exchange plates of the plate-type heat exchanger includesan inspection process by using a leak tester for inspecting the existence of a penetration defect generated by damage in the heat exchange plates of the plate-type heat exchanger by using the leak tester; and the flaw inspection process for pinpointing the penetration defect, when the penetration defect is found by the inspection process using the leak tester.例文帳に追加

リークテスターを使用してプレート式熱交換器の熱交換板に損傷により生じた貫通欠陥部の有無を検査するリークテスター検査工程と、上記リークテスター検査工程により貫通欠陥部が発見された場合に、貫通欠陥部を特定する探傷検査工程とを有することを特徴とするプレート式熱交換器の熱交換板のメンテナンス方法。 - 特許庁

An LSI tester 2 sets a well voltage adjustment value so as to average each delay time of circuit blocks CB1-CB3.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ２は、回路ブロックＣＢ１〜ＣＢ３の各遅延時間が平均化されるようにウエル電圧調整値を設定する。 - 特許庁

By this constitution, the noise produced from the hydraulic pressure can be cut off and the oil pressure source integrated load tester can be installed in a narrow place.例文帳に追加

これにより、油圧源から発生する騒音を遮断することができると共に狭い場所でも設置可能となる。 - 特許庁

To realize a testing function at the same speed as that in an actual use on a semiconductor integrated circuit by means of a comparatively low speed tester.例文帳に追加

比較的低速のテスタにより高速の半導体集積回路について実使用と同じスピードでのテスト機能を実現する。 - 特許庁

Finally, a tester check is performed only once to discriminate a defective/non-defective product so that no check (S40) is necessitated before the trimming.例文帳に追加

最後に一回だけ、良品／不良品を判別するテスタ検査を行い、これにより、トリミング前の検査を不要とする（Ｓ４０）。 - 特許庁

To provide a headlight tester capable of measuring headlights of a test object, generally located higher than those of ordinary passenger cars.例文帳に追加

ヘッドライトが普通一般の乗用車のそれよりも高い位置に在る被試験体のヘッドライトを測定することができること。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of evaluating a complicated input pattern and shortening a non-defective or defective evaluating time of an IC to be tested.例文帳に追加

複雑な入力パターンでの評価ができて、被試験ＩＣの良否評価時間を短縮できるＩＣテスタを提供する。 - 特許庁

To reduce the load of a tester by simplifying and automating a test time in the case of confirming a yield of an SVP board.例文帳に追加

ＳＶＰボードの歩留まりの確認を行う場合の試験時間を簡略化・自動化し、試験者の負荷を軽減させること。 - 特許庁

To provide a smoke tester capable of stably performing atomization by stabilizing a distance from a surface of an ultrasonic vibrator to a liquid level.例文帳に追加

超音波振動子の表面から液面までの距離を安定化して、安定した霧化ができる加煙試験器を得る。 - 特許庁

To provide a roller for a vehicle tester and its manufacturing method, capable of measuring the braking force proximate to the value on a true road surface.例文帳に追加

真の路面における値に近い制動力を測定できる車輌用テスターのローラ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To accurately and quickly specify a defective joining part by moving an electrode of a tester along a sealing member applied onto the joining part.例文帳に追加

テスターの電極を接合部に施されるシール材に沿って移動させることで、接合不良部を正確に早く特定する。 - 特許庁

To provide an IC tester which performs an accurate test even when a pin of a test object is switched by a switch.例文帳に追加

スイッチにより、被試験対象のピンを切り替えても、正確に試験が行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

The support surface 56 is connected to the tester 22 by way of the chuck top 49, the pogo pin 60, the chuck lead plate 54, and an cable 55.例文帳に追加

支持面５６はチャックトップ４９とポゴピン６０とチャックリード板５４とケーブル５５を経由してテスタ２２につながっている。 - 特許庁

Moreover, the tester holds a simple keyboard 3, so that output data of the parallel DI interface 7 can be set through the LCD screen 2.例文帳に追加

さらに、簡易キーボード３を保持し、ＬＣＤ画面２にてパラレルＤＩインタフェース７の出力データを設定可能である。 - 特許庁

An electrode plate to which a base end of each probe is electrically connected is disposed on the probe side of the tester circuit.例文帳に追加

前記テスター回路の前記プローブ側に、当該各プローブの基端部がそれぞれ電気的に接続される電極板を設けた。 - 特許庁

The tester controller 40 outputs an address signal for specifying the logic pin number of the test unit 22 to the pin assign converter 90.例文帳に追加

テスタコントローラ４０が、ピンアサインコンバータ９０に、試験ユニット２２の論理ピン番号を指定するアドレス信号４６を出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which an input of high speed packet data is provided and the confirmation of operation can be performed by a low speed tester.例文帳に追加

高速パケットデータ入力を備え、低速テスタで動作確認をすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a valve element tester which readily allows an adapter to be mounted on a mounting block, in a space-saving manner.例文帳に追加

アダプタを省スペースでかつ容易に取り付け台に取り付けることができる弁体の試験装置を提供することである。 - 特許庁

To obtain a tester of a fire detector such as a flame detector for reducing a labor to be imposed on an inspector in inspection.例文帳に追加

炎検知器のような火災検知器の試験器であって、検査員の検査時の負担をできるだけ軽減できる試験器を得る。 - 特許庁

To securely transmit data measured in a rotating system to a stationary system wirelessly even during a low-speed rotation in a centrifugal load tester.例文帳に追加

遠心載荷試験装置において、低速回転時にも回転系で測定したデータを確実に無線で静止系に伝達する。 - 特許庁

A test by a memory tester for a normal SDR can be performed by providing an exclusive data input circuit having two DDR memories.例文帳に追加

ＤＤＲメモリが２つの専用データ入力回路を備えることで、通常のＳＤＲ用メモリテスタでテストが可能なる。 - 特許庁

To provide a hardness tester that properly maintains a distance between centers of impressions and a distance between the impression and an edge of a test piece.例文帳に追加

圧痕の中心間距離または圧痕と試験片の端縁との距離を適正に維持可能な硬度試験機を提供する。 - 特許庁

To execute high-speed testing of an LSI at low cost by preparation in a short time without using an expensive high-speed LSI tester or measuring jig.例文帳に追加

高価な高速ＬＳＩテスタや測定冶具を用いず且つ、短時間の準備で安価にＬＳＩの高速テストを実施すること。 - 特許庁

The offset voltage and the differential voltage of the differential buffer are evaluated by the tester based on a test pattern by using the test circuit.例文帳に追加

このテスト回路を用いて、テスタにより、テストパターンに基づいて、差動バッファのオフセット電圧と差動電圧の評価を行う。 - 特許庁

The expected value determining section 14 determines the input expected value of the digital data, and the determined result is outputted to the tester LT.例文帳に追加

期待値判定部１４は、入力されたデジタルデータの期待値判定を行い、その判定結果をテスタＬＴに出力する。 - 特許庁

To provide a tester of a turbo charger for easily testing and adjusting an egress pressure of a compressor to a predetermined value.例文帳に追加

容易にコンプレッサの出口圧力を所定値に調整して、試験することを可能にするターボチャージャの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of easily placing and tuning a test head body on a handler body and improving positioning accuracy.例文帳に追加

ハンドラ本体に対するテストヘッド本体の設置調整が容易で、位置精度が向上出来る半導体テスタ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detachable side-slip tester capable of being manufactured at low cost by providing a simple structure for the device as a whole.例文帳に追加

装置全体をより簡単な構造にして低コストで製造することができる分離式サイドスリップテスターを提供すること。 - 特許庁

To realize a semiconductor memory in which input/output of data can be performed in a DDR mode using a low speed tester.例文帳に追加

低速のテスタを用いてＤＤＲモードでデータの入出力を行なうことのできる半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

A DDS circuit is synchronized to the tester system clock because it is clocked by a DDS clock generated from the system clock.例文帳に追加

ＤＤＳ回路は、システム・クロックから発生するＤＤＳクロックによって駆動されるので、これはテスタのシステム・クロックに同期する。 - 特許庁

To provide a memory tester which offers a minimal hardware solution to an address problem in testing a packet-based memory device.例文帳に追加

パケットベースのメモリ素子の検査においてアドレス問題に対する最小のハードウエアによる解決法を提供するメモリテスタの提供。 - 特許庁

Then, the valve 7 is opened, water is filled from the tester 6 in the pipe 1 and the pipe 2, and the respective pipes are air bled.例文帳に追加

次いで、バルブ７を開き、動圧試験機６から水を主管１及び枝管２に満たして各管内のエアー抜きを行う。 - 特許庁

To determine, easily with a small measurement error, the distance between prescribed positions on a formed hollow, in a hardness tester.例文帳に追加

硬さ試験機において形成したくぼみの所定位置間の距離を容易に、且つ計測誤差を少なく求めることを可能にする。 - 特許庁