「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

The present invention provides the improved IC tester capable of carrying out measurement by subtracting the off-set voltage from an output of a tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象の出力をオフセット電圧で減算して測定を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a determination method for a lamp of a vehicle under test and a headlight tester, capable of sufficiently analyzing centers of some lamps with different shapes which are at least commercially available.例文帳に追加

少なくとも現在市販されている異なる形状の幾つかのランプの中心を十分に解析することができること。 - 特許庁

To provide an IC tester can efficiently transfer a plurality of groups of data made of at least fail data and mask data.例文帳に追加

少なくともフェイルデータとマスクデータからなる複数組のデータ転送が効率的に行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

The memory tester 1 tests a DUT30 having memory cells and spare lines attached to those memory cells.例文帳に追加

メモリ試験装置１は、複数のメモリセルと、この複数のメモリセルに付随する複数のスペアラインとを備えるＤＵＴ３０の試験を行う。 - 特許庁

This facility uses a rotary encoder and a photoelectric sensor as digital sensors for measuring the data of the side slip tester 5 and the brake and speed tester 6 of a vehicle 4, and is equipped with a controller made of a computer for sending the digital data of the digital sensors to a control panel 1 for making judgement as to whether a test result is acceptable or not.例文帳に追加

車両４のサイドスリップテスタ５とブレーキ・スピードテスタ６のデータの測定にディジタルセンサであるロータリーエンコーダと光電センサを使用し、制御盤11内に前記ディジタルセンサのディジタルデータを入力し、前記テストの合否を判断するコンピュータからなるコントローラを備える。 - 特許庁

This electric channel self-inspection semiconductor testing system includes: a tester head; a plurality of parameter detection units; and a self-inspection controller, the tester head having a plurality of testing circuit boards inserted therein, the plurality of testing circuit boards being provided with a plurality of power channels, a plurality of I/O channels, and a plurality of drive channels.例文帳に追加

本電気チャネル自己検査式半導体試験システムは、試験ヘッド、複数のパラメータ検出ユニット、自己検査コントローラを包含し、該試験ヘッド内に複数の試験回路板が挿入され、それは複数の電源チャネル、複数の伝送チャネル、及び複数の駆動チャネルを具備する。 - 特許庁

While the device-test-conducting control device is conducting a predetermined test, the board handler section 30 carries, out of the chamber 40, a tester board 12 whose semiconductor devices 11 have been tested, and sets another tester board 12 in a vocant space in the chamber 40.例文帳に追加

ボードハンドラ部３０は、デバイステスト実施制御装置による所定のテストの実施中において、テストが終了した半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２をチャンバ４０から搬出するとともに、チャンバ４０における空き領域に新たなテスタボード１２をセットする。 - 特許庁

A rotating rod 20 provided in the insertion case 10 contains a storage case 22 storing a penetration tester 50 for penetration test after penetrating into the ground and a cylinder device 21 for pushing the penetration tester 50 out to the rear part of the storage case 22.例文帳に追加

そして挿入ケース１０内に回転ロッド２０を備え、回転ロッド内２０には地盤内に貫入されて貫入試験を行う貫入試験器５０を収納した収納ケース２２と、収納ケース２２の後方に貫入試験器５０を押し出すためのシリンダ装置２１を備える。 - 特許庁

Tester lands 14 on the upper surface of the wiring substrate 11, tester land connection lands 15 electrically connecting thereto, that are on the lower surface of the wiring substrate 11, connectors 16 on the upper surface of the wiring substrate 11, and probe connection lands 17 electrically connecting thereto, that are on the lower surface of the wiring substrate 11 are built.例文帳に追加

配線基板１１上面のポゴ座１４、これに電気接続する配線基板１１下面のポゴ座用接続ランド１５、配線基板１１上面のコネクタ１６、これに電気接続する配線基板１１下面のプローブ用接続ランド１７が形設されている。 - 特許庁

A cosmetics basic data recording system is created by attaching an IC tag having a sensor function to the tester counter and recording information on number of times at which the customer touches the tester counter, time and date on which the customer uses the selected cosmetics, and recording and totaling the information in a host computer through internet.例文帳に追加

センサ機能を有するＩＣタグをテスターカウンタに付けて、顧客がテスターカウンタに触れた回数、選択した化粧品を使用している時間、その日時の情報をパソコンに記録させ、インターネットを通してホストコンピュータに記録し集計する化粧品基礎データ収録システムとするものである。 - 特許庁

When the insulation resistance tester 101 becomes overranged, the switch 113 is set to a close position where resistances 111, 112 formed by using insulating sheath of electrical cable 117 are parallel-connected and shunted so as to prevent the insulation resistance tester 101 from being overranged, thus, measuring insulation resistance.例文帳に追加

絶縁抵抗計１０１がオーバーレンジになる場合には、スイッチ１１３を閉状態に切り替え、電気ケーブル１１７の絶縁被覆を利用して形成した抵抗１１１、１１２を並列接続して分流し、絶縁抵抗計１０１がオーバーレンジになるのを防いで絶縁抵抗の測定を行う。 - 特許庁

In a servo control material tester having a controller 10 with a servo control, a tester 20 having the actuator 22 placed on a test piece 23 and an input and output device/host computer 30, a stop command of a test is inputted from the input and output/host computer 30.例文帳に追加

サーボ制御部を有する制御部１０および試験片２３に載荷するアクチュエータ２２を有する試験機部２０および入出力装置／ホストコンピュータ３０を有するサーボ制御材料試験機において、入出力装置／ホストコンピュータ３０から試験の停止指示が入力される。 - 特許庁

When a tester easily operates the input-output device (CSL) 10 of the PC 1, the PC 1 executes the test instructed from the tester by transmitting and receiving test signals to and from the DUT 4 by controlling the operation of the TST 2 after decoding the subject matters of the test instructed to the testing system.例文帳に追加

試験者がＰＣ１の入出力装置（ＣＳＬ）１０を簡易に操作し、本システムに指示する試験内容をＰＣ１が解読処理した上で、ＴＳＴ２を動作制御してＤＵＴ４との間で試験信号を送受することにより、試験者が指示する内容の試験を実行する。 - 特許庁

To provide a headlight tester capable of improving workability and uniformity in quality, and suitable for improving mass-production and measuring accuracy, in assembling and manufacturing an installation base frame body for mounting optical components, assembled in a housing constituting a light receiving section of the headlight tester.例文帳に追加

ヘッドライトテスタにおける受光部を構成する筺体内に組み込まれる光学部品装着用取付基枠体の組立製造にあたって、作業性、品質の均一化をはかると共に、量産ひいては測定精度の向上に好適なヘッドライトテスタを提供すること。 - 特許庁

An LSI chip 2 can be inspected via wiring on a dicing line 4 from an LSI test chip 3 to an LSI chip 2 by probing an LSI test chip 3 by using a probing needle 103 of an LSI tester 101 and by using the LSI tester 101.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１０１をＬＳＩテスト用チップ３にプロービング針１０３でプロービングすることにより、そのＬＳＩテスタ１０１により、ＬＳＩテスト用チップ３から、ＬＳＩチップ２との間に結線されたダイシングライン４上の配線を通じて、ＬＳＩチップ２を検査することを可能にする。 - 特許庁

Thus, the next variation display can be started after the lapse of 1 ms corresponding to the determination time of the input signal in the tester 19, whereby an error caused in the preceding variation display is prevented from being recognized as an error of the next variation display by the tester by mistake.例文帳に追加

このように試験機１９における入力信号の確定時間に相当する１ｍｓの経過後に、次回の変動表示を開始できるので、前回の変動表示で発生したエラーを、次回の変動表示のエラーとして、試験機に誤って認識させてしまうことはない。 - 特許庁

To overcome such a problem that even if the number of circuit elements to be arranged is increased, all of them cannot be electrically tested because there is a limit of the number of channels for electric application or measurement, that the tester has, when a test element group where circuit elements are arranged is tested by using a parametric tester.例文帳に追加

パラメトリックテスターを用いて回路素子を配置した評価素子群を評価する場合、テスターの有する電気的な印加もしくは測定が可能なチャネル数に制限があり、配置する回路素子の数を増加させてもその全てを電気的に評価することが出来ない。 - 特許庁

To provide an inspection system, in which a circuit board itself can be inspected with the same tester without being affected by a device to be inspected, and which does not require an additional device to be designed and manufactured, when inspecting a circuit board used for inspecting a semiconductor integrated circuit device as the device to be inspected with a tester.例文帳に追加

被検査デバイスとしての半導体集積回路装置をテスタで検査する際に用いる回路ボードを検査するにあたって、同じテスタで回路ボード自体を被検査デバイスの影響を受けずに検査可能で、かつ、さらなる装置の設計および製造が不要な検査システムを提供する。 - 特許庁

In the DC test, a test signal for the DC test is output from the tester 20 and is input into each logic circuit 31, and an output signal output from each logic circuit 31 is returned to the tester 20 by time sharing in each semiconductor integrated circuit via the input/output terminals B1-Bm and F1-Fm.例文帳に追加

ＤＣ試験時には、テスタ２０からＤＣ試験用のテスト信号を出力させて各論理回路３１に入力させ、各論理回路３１から出力する出力信号を入出力端子Ｂ１〜Ｂｍ，Ｆ１〜Ｆｍを介して半導体集積回路毎に時分割でテスタ２０に戻す。 - 特許庁

The memory tester provided with an ALPG 2 which generates a test pattern for digital signals based on vector data VD is enabled to verify the function of a DUT 100a having an A/D-converting function by adding a D/A converter 4 to the inside or outside of the tester.例文帳に追加

デジタル信号のテストパターンをベクタデータＶＤに基づいて発生させるＡＬＰＧ２を備えるメモリテスタの構成に、テスタ内蔵の、または、テスタ外部に設けられたＤＡ変換器４を追加して、ＡＤ変換機能を有するＤＵＴ１００ａの機能の検証を行えるようにする。 - 特許庁

Probes located more on the center side among a plurality of probes, arranged in a card substrate, are connected to tester connection parts located on the center side of the card substrate among a plurality of tester connection parts provided in the card substrate, at intervals in the circumferential direction and in the radial directions of a virtual circle.例文帳に追加

カード基板に配置された複数のプローブを、中心側に位置するプローブほど、仮想的な円の周方向及び半径方向に間隔をおいてカード基板に備えられた複数のテスター接続部のうち、カード基板の中央側に位置するテスター接続部に接続させたことを特徴とする。 - 特許庁

The such-converted data signal and clock are performed data process by a main circuit 4, whereby when operations of the main circuit 4 are tested by a tester, a various-purpose logic tester operating in synchronism with the clock of a frequency f/N is directly connected to the main circuit 4, thereby inspecting it.例文帳に追加

このように変換されたデータ信号とクロックを主回路４でデータ処理を行うようにすることで、該主回路４の動作をテスタで検査するとき、周波数ｆ／Ｎのクロックに同期して動作する汎用のロジックテスタを主回路４に直接接続して検査することができる。 - 特許庁

In the testing system for radios for inspecting the performance of radios by using a tester for radios, a baseband signal generator for inspecting at least interfering waves and radio reception functions, including television reception function and GPS reception function have been incorporated into the tester for radios.例文帳に追加

無線機用テスタを用いて無線装置の性能を検査する無線機用テストシステムにおいて、前記無線機用テスタに、少なくとも妨害波、テレビ受信機能およびＧＰＳ受信機能を含む無線受信機能の検査を行うためのベースバンド信号発生器を組み込んだ。 - 特許庁

To provide a headlight tester for simulating and confirming illumination distribution of a headlight, or a vehicular headlight, photographing a shape image of the headlight, determining a coordinate position of the headlight by moving the headlight tester and automatically facing the headlight to the vehicle.例文帳に追加

車両前照灯であるヘッドライトの照射分布を模擬確認するヘッドライトテスターにおいて、ヘッドライトの形状映像を撮像し、ヘッドライトテスターを移動させすることにより前記ヘッドライトの座標位置を決定し、前記ヘッドライトを自動的に車両正対することを課題とする。 - 特許庁

The state of the IC tester 1 is sent to a server via a network L, the state is sent to a portable terminal carried by a maintenance person by radio, and the operation of a conveyance device in the IC tester 1 is controlled from the portable terminal.例文帳に追加

被試験対象を試験するＩＣテスタ１と、このＩＣテスタ１の状態をネットワークＬを介してサーバに送り、さらに保守者の持つ携帯端末に無線により送信し、また携帯端末からＩＣテスタ１内の搬送装置の動きを制御することを特徴とするものである。 - 特許庁

To shorten time which is taken for file deletion without increasing the burden of a worker or changing the structure of a controller 3 connected with an IC tester 1 in the case of deleting two or more files in which test procedures and data of the IC tester are stored.例文帳に追加

ＩＣテスタにおける試験手順やデータが記憶された２つ以上のファイルを削除する際に、作業者の負担を増やすことなく、また、ＩＣテスタ１に接続されている制御装置３の構成を変更することなく、ファイル削除にかかる時間を短縮することである。 - 特許庁

The test time can be shortened without using the expensive tester because the DUT of a test target is recognized on the basis of a holder 511, a test number recognition signal S511 recorded in ID data and the count number of a timing clock S540b of a tester 540 to perform a test.例文帳に追加

治具５１１やＩＤデータに記録された検査番号認識信号Ｓ５１１とテスター５４０のタイミングクロックＳ５４０ｂカウント数から検査対象のＤＵＴを認識して検査を行うため、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

When the mother board 10 is loaded on the tester head 20, and the test object LSI 1 is loaded on the mother board 10, and a vacuum pump connected to the discharge tube 23 is operated, the mother board 10 is adsorbed to the tester head 20, and the LSI 1 is adsorbed to the mother board 10.例文帳に追加

テスタヘッド２０上にマザーボード１０を搭載し、このマザーボード１０にテスト対象のＬＳＩ１を搭載して排気管２３に接続した真空ポンプを作動させると、マザーボード１０がテスタヘッド２０に吸着されると共に、このマザーボード１０にＬＳＩ１が吸着される。 - 特許庁

The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device making burn-in test or test by means of a tester more accurate and easier.例文帳に追加

バーンイン試験又はテスタによる試験の高精度化と容易化とを図ることができるようにした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The electric tester 50 is inverted and inserted to the casing 60 , so that a cord 52 is derived to a left side.例文帳に追加

さらに、電気テスター５０は反転させてケーシング６０に挿入することもできるため、コード５２を左側に導出させることも可能である。 - 特許庁

To independently implement BIST and BISR and test and repair by an external tester by an another instruction signal.例文帳に追加

別途の命令信号によりＢＩＳＴ及びＢＩＳＲの遂行と外部テスタによるテスト及びリペアが独立的に全て可能であるようにする。 - 特許庁

The data 16 is inputted to a data input part 20 of an EB tester 12 and then written in a hard disk as analysis data (A)34.例文帳に追加

状態データ１６は、ＥＢテスタ１２のデータ入力部２０に入力され、それから解析データ（Ａ）３４としてハードディスクに書き込まれる。 - 特許庁

When the pin switch S1 is operated, whether the output of an amplifier varies or not is automatically tested with a function tester 62.例文帳に追加

そして、このピンスイッチＳ１を操作したときに、実際にアンプの出力が変化するか否かをファンクションテスタ６２によって自動的に検査する。 - 特許庁

To provide a double data rate(DDR) memory in which a normal memory tester can be used at the time of a test and circuit constitution of a data input circuit is easy.例文帳に追加

テスト時に通常のメモリテスタを使用できるデータ入力回路の回路構成が容易なダブルデータレート（ＤＤＲ）メモリを提供する。 - 特許庁

The palette 14 rotates at a prescribed angle by driving a motor 46 so as to dispose an optical fiber connector 16 at the inspection position of a tester 50.例文帳に追加

パレット１４は、モータ４６を駆動することによって所定角度回転し、検査器５０の検査位置に光ファイバコネクタ１６を配置させる。 - 特許庁

To provide a test method, a tester, and a test system capable of obtaining a highly accurate test result of a magnetic responsive unit equipped with a test object.例文帳に追加

テスト対象物に備わる磁気反応ユニットの高精度なテスト結果を得ることができるテスト方法、テスタおよびテストシステムを提供する。 - 特許庁

When fluorescent photography is selected, a control part 44 starts a timer 46, the tester inputs the patient discrimination number, and fluorescent photography is conducted.例文帳に追加

蛍光撮影を選択した場合には、制御部４４はタイマ４６をスタートさせ、検者は患者識別番号を入力し蛍光撮影を行う。 - 特許庁

During irradiation of a semiconductor device of an inspection object with the spot light of a large diameter, a tester verifies an electric operation in a pertinent irradiation range.例文帳に追加

大径のスポット光による検査対象の半導体装置の照射中、テスタは該当する照射範囲の電気的動作の検証を行う。 - 特許庁

A test piece 4 clamped by the supply chuck 18 of a test piece feeder is carried to the position of the upper chuck 6 of a tester body.例文帳に追加

試験片供給装置の供給チャック１８に挟持された試験片４が試験機本体の上側チャック６の位置に搬送される。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility.例文帳に追加

汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To give a head/disc tester having a closed loop positioning system for correcting a thermal drift generated in positioning a magnetic head to a magnetic disc.例文帳に追加

磁気ディスクに対する磁気ヘッドの位置付けにおいて発生する熱ドリフトを補正する閉ループ位置付けシステムを持ったヘッド／ディスクテスターを与える。 - 特許庁

To provide a test technique for greatly reducing costs required for a test by reducing time where one semiconductor chip occupies an expensive tester.例文帳に追加

１つの半導体チップが高価なテスタを占有する時間を短縮してテストに要するコストを大幅に低減できるテスト技術を提供する。 - 特許庁

To provide a protective circuit for protecting a guard buffer connected to a guard line in a DC measuring circuit for an IC tester.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタ用のＤＣ測定回路内のガードラインに接続されたガードバッファを保護する保護回路を提供することである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a squelch circuit at a higher speed using a DC voltage by a low-speed tester.例文帳に追加

低速テスターによる直流電圧を用いてスケルチ回路をより高速テストをすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁