「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an IC tester and a contact check method conducting contact check despite AC coupling by a testing object and a capacitor.例文帳に追加

被試験対象とキャパシタによりＡＣカップリングされていても、コンタクトチェックが行えるＩＣテスタ及びコンタクトチェック方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

Type the name of one of the images, such as "rose", in the Tester application.Click the getFlower button and the IDE shows you information about the invocation in the browser.例文帳に追加

「rose」など、いずれかのイメージの名前をテスターアプリケーションに入力します。 「getFlower」ボタンをクリックすると、IDE によって、呼び出しに関する情報がブラウザに表示されます。 - NetBeans

The IDE opens the tester page in your browser, if you deployed a web application to GlassFish.For the Tomcat Web Server and deployment of EJB modules, the situation is different:例文帳に追加

GlassFish に Web アプリケーションを配備した場合、テスターページがブラウザで開きます。 Tomcat Web サーバーの場合および EJB モジュールを配備している場合、状況は異なります。 - NetBeans

Also a tester 3 is set which inputs a predetermined signal to the semiconductor devices 1 and detects a signal outputted from the semiconductor devices 1.例文帳に追加

また、半導体装置１に所定の信号を入力し半導体装置１から出力された信号を検出するテスタ３が設けられている。 - 特許庁

To separately control and test semiconductor devices under test in a semiconductor device tester for testing the semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの試験を行う半導体デバイス試験装置において、試験の対象となる半導体デバイスを個々に制御し、試験できるようにする。 - 特許庁

A memory 128 is provided, and the measurement data of the IDDQ test in the plurality of times are accumulated in the memory 128, and transferred in batch to an LSI tester.例文帳に追加

また、メモリ１２８が設けられおり、このメモリ１２８に、複数回のＩＤＤＱテストの測定データを蓄積し、一括してＬＳＩテスタに転送する。 - 特許庁

To provide a voltage generator capable of diagnosing relays, without having to individually open and close each relay, and to provide an IC tester that uses the voltage generator.例文帳に追加

各リレーを個別に開閉することなく、リレーの診断を行える電圧発生装置及びこれを用いたＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

A marking result transmission means 1d transmits the results masked by the marking means 1c to a second client 4 arranged on the side of a tester.例文帳に追加

採点結果送信手段１ｄは、採点手段１ｃによって採点された結果を、試験実施者側に配置された第２のクライアント４に対して送信する。 - 特許庁

The test device comprises a monitoring function for detecting the abnormal potential of a tester 1, in parallel with the measurement characteristics of an electronic device 3 to be measured.例文帳に追加

電子デバイス試験装置に、テスター１の異常電位の検出を被測定対象電子デバイス３の特性測定と並行してモニターする機能を設ける。 - 特許庁

To propose an environment tester which tests a board having a power feeding adapter in a test tank in a high thermal efficiency condition.例文帳に追加

通電のためのアダプタが取り付けられた基板を、熱効率の良い状態で試験槽内で試験を行うことのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

The aging testing device performs the high- and low-temperature tests on a plurality of magnetic disk devices by means of an external tester while performing uniform temperature control by forming high- and low- temperature environments through program control.例文帳に追加

プログラム制御にて高低温環境を作り、外付けしたテスタにて複数の磁気ディスク装置に均一な温度制御をしながら試験する装置。 - 特許庁

To provide an optical pulse tester capable of omitting individual adjustment of an APD and detecting return light of weaker test light.例文帳に追加

ＡＰＤの個別調整を省略できるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。 - 特許庁

When the harmonic curved line Z is straight, color adjustment or correction of the tester are considered proper, but not considered proper when the curved line is not straight.例文帳に追加

この融和曲線Ｚが直線の場合は、試験機の色の調整・校正が適正と判断し、一方、直線でないときは、適正でないと判断する。 - 特許庁

To provide an aircraft leg drop tester for implementing a drop test without a trouble if an aircraft leg is a small leg having a small requirement of a plumb load.例文帳に追加

重錘荷重の要求値が小さい小型脚の場合も支障なく落下試験を実施することができる航空機脚落下試験装置を提供する。 - 特許庁

A chip used as a measuring object is selected by switching a signal route connecting an LSI tester to each chip of the wafer 20 by a chip select part 60.例文帳に追加

チップセレクト部６０にて、ＬＳＩテスタとウエハ２０の各チップを結ぶ信号経路を切り替えることによって、測定対象となるチップを選択する。 - 特許庁

To provide a hardness tester equipped with a sample moving means having extremely little possibility of exerting an influence on measurement even when loading the heavy weight.例文帳に追加

大荷重を負荷する時にも、測定に影響を及ぼす恐れが極めて少ない試料移動手段を備える硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

To provide an electronic component tester capable of securing a high test precision while intending to increase the effect of test operation.例文帳に追加

試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a power source tester and a power source test method on vehicle-mounted electrical equipment for appropriately checking a phenomenon owing to a power source voltage.例文帳に追加

電源電圧に起因する現象確認を適切に行うことができる車載電装品の電源試験装置および電源試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI tester and a test system capable of improving an operating rate by forecasting a test ending time on a wafer basis with high accuracy.例文帳に追加

高精度でウェハ単位でのテスト終了時刻予測を行うことにより稼働率を高めることができるＬＳＩテスタおよびテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a LAN tester which can conduct a cable continuity test and a reverse-connection confirmation test only at one end and enables a simple operation test including a HUB.例文帳に追加

一方端だけでケーブル導通試験や逆接続確認試験ができ、さらに、ＨＵＢを含めた簡易動作試験も可能なＬＡＮテスタを提供する。 - 特許庁

Oscilloscope, infrared night-vision device, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, tachograph, material testing machine, emergency stop time measuring device, and vibration testing device 例文帳に追加

オシロスコープ、赤外線暗視装置、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、回転速度計、材料試験機、急停止時間測定装置及び振動試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A coin tester storage part 201 where coin testers 211 and 221 are stored is provided in the deep side of a top surface opening portion of the paper money storage part 151.例文帳に追加

紙幣収納部１５１の上面開口部分における奥側には、コインテスタ２１１，２２１を収納するコインテスタ収納部２０１が設けられている。 - 特許庁

A setup value/hold value of flip-flop connected to each pin is acquired with a commercial tester function for calibrating a real operation clock for functional test.例文帳に追加

又、市販のテスタ機能によりピン毎に接続されているフリップフロップのセットアップ値、ホールド値を得て、実動作クロックの校正をして機能試験を行う。 - 特許庁

Operations of mass-produced semiconductor devices 20-22 are tested at block frequencies of respective blocks, based on the test vectors set for the respective blocks by using the tester 15.例文帳に追加

ブロック毎に属するテストベクタに基づいて、テスタ１５がブロック毎のブロック周波数での半導体装置の量産品２０乃至２２の動作をテストする。 - 特許庁

A communication tester is provided with a test item management section 11 which stores test items and the acceptance/rejection determination of the test items by associating the date and time of the acceptance/ rejection determination.例文帳に追加

通信テスタに、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定と、その合否判定の日時とを対応付けて記憶するテスト項目管理部１１を設ける。 - 特許庁

Next, the technique of the present invention matches the pattern for the data output path, inverting the appropriate data outputs to obtain the expected tester data.例文帳に追加

次に、本発明の技術による回路は、パターンをデータ出力経路に一致し、予期されるテストデータを獲得するよう適切なデータ出力を反転する。 - 特許庁

To provide a vibration tester capable of enlarging the maximum loading size of a sample while maintaining the vibration frequency to be tested in a high range.例文帳に追加

試験可能な振動の周波数を高い状態で維持させつつ供試品の最大搭載サイズを拡大することが可能な振動試験機を提供する。 - 特許庁

To attain a bidirectional optical module that has less optical axis deviation against a force imparted to a housing and that can be miniaturized, and also to materialize an optical pulse tester.例文帳に追加

筐体に力が加わっても光軸ずれが少なく小型化も図れる双方向光モジュールおよび光パルス試験器を実現することにある。 - 特許庁

To provide a cathode cartridge in an electric plating tester with which the side surfaces of a substrate and the peripheral surface of the plating surface can be blocked from a plating liquid.例文帳に追加

被めっき物の側面とめっき面の周面をめっき液から遮断することができる電気めっき試験器の陰極カートリッジを提供する。 - 特許庁

A heat-insulation space 3 is provided in a box body 1 of the battery tester, and a resistor 4 to be used as the load of battery discharge is arranged in the heat-insulation space 3.例文帳に追加

バッテリ試験機の箱体１内に遮熱空間３を設け、バッテリ放電の負荷として用いる抵抗体４を遮熱空間３内に配置する。 - 特許庁

To enable anybody to easily inspect a motor power line, by eliminating the necessity of checking the electric continuity by connecting a tester by cutting off the power line.例文帳に追加

パワーラインを切ってテスタを繋ぎ導通チェック等を行う必要をなくし、誰でも簡単にモータパワーラインの点検を行うことができるようにすることにある。 - 特許庁

To provide a wire bonder and a wire-bonding method, which can inspect the interval between chips without needing a separated exclusive eternal appearance tester.例文帳に追加

別途専用の外観検査装置を必要とせずにチップ間隔を検査できるワイヤボンディング装置およびワイヤボンディング方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Also, the tester 1 is provided with a function for displaying the testing result of each sensor 2-1-2-n in a batch by using an LCD or an LED.例文帳に追加

また、この場合、試験器１は、ＬＣＤやＬＥＤなどを用いて個々の感知器２−１〜２−ｎの試験結果をまとめて表示する機能をも有している。 - 特許庁

To provide a light fastness tester capable of accurately testing even a material sensitive to humidity like ink jet recording paper, and a humidifying method therefor.例文帳に追加

インクジェット用記録紙のような湿度に敏感な素材でも、正確な試験ができるような耐光性試験機およびその加湿方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and effective means for removing stray light capable of performing simply actual adjustment work, in an optical transceiver module in an optical pulse tester.例文帳に追加

光パルス試験器の光送受信モジュールにおいて低コストかつ効果的で実際の調整作業も簡単な迷光除去のための手段を提供する。 - 特許庁

In the case of testing the airtightness of the electronic endoscope 10, a tester is connected to one of the two ventilation connectors 16 to make a test.例文帳に追加

電子内視鏡１０の気密性の検査を行う場合には、２つの通気コネクタ１６のうちのいずれかにテスターを接続して検査を行えばよい。 - 特許庁

This friction tester 10 allows friction test for a multitude of pad test pieces to be performed accurately and efficiently under the same conditions.例文帳に追加

これにより、本実施形態の摩擦試験機１０では、同一条件で多数のパッド試験片の摩擦試験を的確、かつ効率的に行うことができる。 - 特許庁

Test data and expected value data from a memory tester 100 are given to and recorded in a nonvolatile memory 141 of the microcomputer 110 with a built-in nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリ内蔵マイコン１１０の不揮発性メモリ１４１に、検査データと期待値データとをメモリテスター１００から与えて記録しておく。 - 特許庁

Therefore, by monitoring the latch signal by connecting a tester device 7 to the output circuit 6, for example, instantaneous power interruption of an electric system can be detected.例文帳に追加

これにより、例えば出力回路６にテスタ装置７を接続してラッチ信号をモニタすることにより、電気系統の瞬断を検出することができる。 - 特許庁

A device tester 10 is provided with an analog signal generator 12 and an analog signal analyzer 14 and further is provided with a transmitter 20 and a receiver 22.例文帳に追加

デバイス試験装置１０に、アナログ信号発生器１２とアナログ信号解析器１４とが設けられ、更に、送信器２０と受信器２２とが設けられている。 - 特許庁

Since the tester of the present invention has the cone-shaped identer, the film having relatively high impact resistance is able to be broken to evaluate the impact resistance.例文帳に追加

一方、本発明のものは、円錐形であるため、比較的高い耐衝撃性を有するフィルムをも破壊することができ、耐衝撃性の評価が可能である。 - 特許庁

To provide a method for inspecting an ABS function for improving an ABS performance inspection in a brake tester with an ABS inspecting function.例文帳に追加

本発明は、ＡＢＳ検査機能付きのブレーキテスタにおいて、ＡＢＳ機能検査の改善を図ったＡＢＳ機能検査方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method capable of testing characteristics of thin-type-display drivers when their output changes while reducing the test time.例文帳に追加

試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an electronic component tester, capable of securing high testing accuracy and of increasing the efficiency of testing operations.例文帳に追加

試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This invention relates to the improvement in the test head of the IC tester loaded with a performance board and the DUT board electrically connected to an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、パフォーマンスボートと、被試験対象に電気的に接続するＤＵＴボードとを搭載するＩＣテスタのテストヘッドに改良を加えたものである。 - 特許庁