「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a rope tester capable of a precise measurement by causing no vibration when a damage is detected even if a wire rope having a large friction coefficient is used.例文帳に追加

摩擦係数の高いワイヤロープを使用した場合でも、損傷部の検出時に振動を発生することがなく、良好な測定を行うことが可能なロープテスタを得る。 - 特許庁

To provide a testing method, in which some of same integrated circuit (IC) chips are tested, in parallel with asynchronous actions via two physical connections between a circuit tester and each chip.例文帳に追加

いくつかの同一の集積回路チップを、テスタと各チップとの間の２つの物理的接点を介して非同期動作で並列に試験する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transmitter, a receiver, and a testing circuit for performing input/output with a tester at a low speed and operating the inside of the circuit at a high speed.例文帳に追加

テスタとの入出力は低い速度で行いながら、回路内部を高速で動作させる送信装置、受信装置、テスト回路およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

When each comparison result is input to a NOR gate 71, a fail signal F1 for determining the measured device 1 is output and input to a tester measuring terminal 8.例文帳に追加

各比較結果がＮＯＲゲート７１に入力されることにより、被測定デバイス１を判定するフェイル信号Ｆ１が出力され、テスター測定端子８に入力される。 - 特許庁

To provide a through type eddy current tester easy in maintenance and capable of enhancing flaw detection precision by aligning precisely an inspected material with a detecting coil.例文帳に追加

被検査材と検出コイルとを精度良く調芯することにより探傷精度を高めることができると共に、メンテナンスが容易な貫通型渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester for a semiconductor integrated circuit capable of reducing the consumption power at a time when a judgement result of good or bad of an object to be tested is written into a memory.例文帳に追加

被試験対象の良否の判定結果をメモリに書き込むときの消費電力を低減することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To conduct a test of high-speed clock recovery operations on an LSI which is used on the reception side of digital communication by using a relatively low-speed and low-cost LSI tester.例文帳に追加

ディジタル通信の受信側で使用されるＬＳＩに対して、比較的低速の廉価なＬＳＩテスタを用いて高速のクロックリカバリ動作の試験をおこなうこと。 - 特許庁

Both ends of a current conducting tester 12 are connected between a positive side and powder supply side conductor pattern 3 and an earth side conductor pattern 4 on the board 1 to apply a voltage between the patterns 3 and 4.例文帳に追加

プリント基板１の正極側電源側導体パターン３と接地側導体パターン４との間に対して、通電試験器12の両端を接続して電圧を印加する。 - 特許庁

The clock generator generates a clock, on the basis of a digital signal generated by a digital signal generator, and an IC tester using the same is improved.例文帳に追加

本発明は、デジタル信号発生部のデジタル信号に基づいて、クロックを発生するクロック発生装置及びこれを用いたＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This device is provided with a scramble circuit 34 converting an address signal outputted from a tester 24 and error data to a desired form and a storage device 28 storing data after conversion.例文帳に追加

テスタ２４から出力されるアドレス信号やエラーデータを所望の形式に変換するスクランブル回路３４と、変換後のデータを記憶する記憶装置２８とを設ける。 - 特許庁

There are provided the improved IC tester for connecting the performance board connected electrically to a tested object electrically with a testing head to test the tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象と電気的に接続するパフォーマンスボードとテストヘッドを電気的に接続し、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a bit line reference potential VBL can be stably controlled independently of the drive capability of a tester driver at the time of a device evaluation test.例文帳に追加

デバイス評価テスト時にテスタドライバの駆動能力に関係なくビット線参照電位ＶＢＬを安定して制御可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a noise component contained in an electric signal acquired from a material to be tested by recovering the component generated from an inverter in a tester having the inverter.例文帳に追加

インバータを有する試験装置において、このインバータが発生するノイズ成分を回収し、被試験体から取得する電気信号に含まれるノイズ成分を低減する。 - 特許庁

The inspecting device is constitute to perform continuous inspection, by carrying LSI devices to sockets 3 and 4 disposed at inspection positions of an inspection board 2 provided on the LSI tester 1.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１上に設けられた検査ボード２の検査位置に設けたソケット３，４にＬＳＩデバイスを運搬して検査を連続して実施する構成を有する。 - 特許庁

To provide a luminous efficacy correction filter of spectral characteristic approximate to a reference measurement filter, and to provide a light distribution characteristic measuring system of a precise headlight tester employing the luminous efficacy correction filter.例文帳に追加

基準測定フィルターに近似する分光特性の視感度補正フィルターと該視感度補正フィルターを採用した高精度なヘッドライトテスターの配光特性測定系を得る。 - 特許庁

To provide a dynamic balance tester capable of being chucked by simple arrangement change even if the end of a propeller shaft is a flange yoke or a sleeve yoke.例文帳に追加

プロペラシャフトの端部がフランジヨークであっても、スリーブヨークであっても、簡単な段取り替えによって、チャッキングすることのできる動釣合い試験機を提供すること。 - 特許庁

According to the invention, a test using uncompressed actual data can be performed while the plurality of data input/output terminals are assigned to one determination circuit in a tester.例文帳に追加

本発明によれば、テスタ内の１つの判定回路に複数のデータ入出力端子を割り当てつつ、非圧縮の実データを用いたテストを行うことが可能となる。 - 特許庁

The notch part 64A for the optical path of the second repeating substrate 64 is supported in a position projected from a side part of the tester main body 10, in the repeating substrate storage unit 20.例文帳に追加

中継基板収容ユニット２０は、第２の中継基板６４の光路用切欠部６４Ａをテスタ本体１０の側方より突出する位置にて支持する。 - 特許庁

To provide a tester for a hybrid electric vehicle for efficiently conducting a driving test of a motor for a power to be carried in the vehicle.例文帳に追加

ハイブリッド電気自動車に搭載される動力用モーターの運転試験を高効率に行うことのできるハイブリッド電気自動車用試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a shelf structure in which a shelf member is easily handled and it can be taken out and inserted into a environment tester etc. by a user alone even in the case that the area of the shelf member is large.例文帳に追加

棚部材の取り扱いが容易であり、棚部材の面積が大きい場合にも、一人で取り出しや挿入をすることができる棚構造を提供する。 - 特許庁

To decrease the number of pins required for a test, to enable a test by an inexpensive tester or a simultaneous test of many chips, and to short a test time.例文帳に追加

この発明は、テストに必要となるピン数を削減し、廉価なテスタによるテスト又は多数チップの同時テストを可能とし、テスト時間の短縮を達成し得ることを課題とする。 - 特許庁

To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加

超多端子ＬＳＩのテストの選別テストを、被テストＬＳＩにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないＬＳＩテスタにより可能とする。 - 特許庁

To provide a communication control circuit, where an LSI tester can easily conduct the operating test of the communication control circuit, including a PHY(physical layer driver) circuit at a high-speed equal to that in an actual operation.例文帳に追加

ＰＨＹ回路を含む通信制御回路の動作テストをＬＳＩテスタ上で、容易に、実動作と同等の高速動作で行える通信制御回路を提供する。 - 特許庁

To provide a connector to be used for a helium leak tester which can be connected with sufficient airtightness, regardless of the kind of a communicating tube of an object to be inspected, and suppresses or prevents wear of a sealing ring.例文帳に追加

被検体の連通管の種類を問わず、気密性よく接続でき、シールリングの損耗を抑制又は防止するヘリウム式リークテスタに用いるコネクタを提供する。 - 特許庁

To provide a fast speed test pattern verifying apparatus for verifying without using an actual LSI tester or a device to be tested based on logic simulation data formed by a CAD.例文帳に追加

ＣＡＤで作成された論理シミュレーションデータを基にして、実際のＬＳＩテスタや被試験デバイスを用いずに検証する高速テストパターン検証装置を提供する。 - 特許庁

For the cover layer 3, the loss factor, which is measured by the Split-Hopkinson bar tester that is 14.0 m/s of its impact speed of hitting bar, is 0.2 MPa≤, 0.45 MPa≥.例文帳に追加

カバー層３では、打撃棒の衝突速度が１４．０ｍ／ｓであるスプリットホプキンソン棒試験機によって測定された損失係数が０．２以上０．４５以下である。 - 特許庁

To obtain an IC tester which analyzes and edits sorting data as an IC test result and which displays the tendency and cause of generating failures.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタにおいて、ＩＣテスト結果である分類データを解析及び編集し、ＦＡＩＬが発生する傾向や要因をグラフ等により表示することである。 - 特許庁

To develop a tester which can deal with a radioactive material as a test material, improving the stress uniformity and employing a non-contact image analyzing method.例文帳に追加

放射化材を試験材料とすることができ、応力の均一性が改良された、非接触による画像解析法を用いた試験機を開発することを課題とする。 - 特許庁

To provide a reproduction device tester facilitating the quality decision of operation of a reproduction device, and to provide an information extraction device for testing the reproduction device.例文帳に追加

再生装置の動作の良否判定を容易にする再生装置試験装置、及び再生装置試験用情報抽出装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A material tester 1 comprises a material testing machine body 2 and a control computer 3 while the control computer 3 is connected to a communication line 4 such as a LAN.例文帳に追加

材料試験装置１は材料試験機本体２と制御コンピュータ３から構成されており、制御コンピュータ３はＬＡＮなどの通信回線４に接続されている。 - 特許庁

As a probing unit 10, there are provided a movement control stage 11 on which a semiconductor wafer WF is placed, and a circuit board 12 for transmitting a signal to a tester 14.例文帳に追加

プローバー１０として、半導体ウェハＷＦを載置する移動制御ステージ１１が設けられ、テスター１４との信号伝達用に回路基材１２が配備されている。 - 特許庁

To provide an IC card testing technique for reducing the data transmitting time, and for speeding up test by reducing data transfer between a tester and an IC card to the minimum.例文帳に追加

テスタとＩＣカードとのデータ転送を最小限に抑えてデータ転送時間を削減し、試験の高速化を図ることができるＩＣカードの試験技術を提供する。 - 特許庁

The converter 22 converts the coordinate data obtained at the apparatus 10 into positional data having a CAD coordinate format usable in the tester 12.例文帳に追加

データ変換部２２は、ＩＣ不良解析装置１０で得られた座標データを、ＥＢテスタ１２で利用するＣＡＤの座標フォーマットで表現される位置データに変換する。 - 特許庁

The light emitting volume adjusting apparatus 1 measures the light emitting volume by using a light emitting volume tester 4 by setting a specified light emitting time period and making the light emitting apparatus 2 emit light.例文帳に追加

発光量調整装置１は、所定の発光時間を設定して発光灯装置２を発光させて、発光量テスタ４を用いて発光量を計測する。 - 特許庁

Thus the simultaneous measurement of semiconductor integrated circuits is realized, without using a tester having high-cost simultaneous measuring functions, thereby eliminating the waste.例文帳に追加

こうすることで、高額な同時測定機能を備えた試験装置を使用することなく半導体集積回路の同時測定を実現しかつ試験装置における無駄を削減する。 - 特許庁

In this IC tester, a quality decision circuit 247 decides the quality and outputs a quality decision signal to a basic control circuit 21 and a fault detection circuit 248.例文帳に追加

ＩＣテスタにおいて、良否判定回路２４７は、良否判定を行い、良否判定信号を基本制御回路２１と不良検出回路２４８に出力する。 - 特許庁

When performing the continuity confirmation test, the non-combined portion 5b of the reinforcement sheet 5 is rolled up to insert the probe of a tester in the test point 2a and the probe is brought into contact with the linear conductor 1.例文帳に追加

導通確認テストの際は補強シート５の非固着部分５ｂを捲り上げてテストポイント２ａにテスターのプルーブを挿入して線状導体１に接触させる。 - 特許庁

This apparatus for treating the froth is obtained by installing a reducer 17b reducing the pipe diameter in the course of a floss discharging pipe 17 connected to a froth discharging outlet 15d of a hermetically sealed pressurizing type flow tester 15.例文帳に追加

密閉加圧型フローテータ１５のフロス流出口１５ｄに接続されるフロス流出管１７の途中に管径を縮小するレデューサ１７ｂを設けたものである。 - 特許庁

A maintenance server 5 can browse the created maintenance information list via a leased line 11 to apply maintenance to the shield boxes 12 and the tester 13 on the basis of the result of browsing.例文帳に追加

この作成された保守情報リストは専用線１１を介して保守サーバ５から閲覧でき、閲覧結果に基づいてシールドボックス１２やテスタ１３の保守を行う。 - 特許庁

Thereafter, the valve 7 is closed, an operation for urging the water from the tester 6 to the pipe 1 and the pipe 2 and an operation for drawing the water from the pipe 1 and the pipe 2 are alternately repeated many times.例文帳に追加

次いでバルブ７を閉じ、動圧試験機６から水を主管１及び枝管２に押し込む操作と引き抜く操作とを交互に多数回繰り返して行う。 - 特許庁

To provide an adjusting method of a tire indoor travel tester capable of increasing the test accuracy by improving the variation in test result in a tire indoor travel test.例文帳に追加

タイヤ室内走行試験における試験結果のバラツキを改善し、試験精度を高めることが可能なタイヤ室内走行試験機の調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tester for confirming connection at a large number of electrical joints inexpensively at a very high rate.例文帳に追加

非常に高速で多くの電気的接続部分の電気的接続確認検査を安価に行うことができる電気接続部の接続確認試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of performing testing at an actually operating speed of the semiconductor memory device, and capable of reducing the number of input/output terminals of a tester required for connection.例文帳に追加

半導体記憶装置の実動作速度でテストを行い、且つ接続に要するテスターの入出力端子数を削減できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester of object detecting means and a testing vehicle for reducing a cost for testing the object detecting means, and improving the testing precision.例文帳に追加

物体検出手段の試験コストを低く抑えつつ、試験精度を向上させることが可能な物体検出手段の試験装置、及び試験車両を提供する。 - 特許庁

To provide an indoor water-permeability tester for an asphalt mixture that certainly connects a water-permeable cylindrical collar and a water-permeable cylindrical mold in a water tight state in a simply detachable manner.例文帳に追加

透水円筒モールドに透水円筒カラーを簡単に着脱させかつ確実に水密結合させるアスファルト混合物の室内透水試験器を提供する。 - 特許庁