「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索

A pattern selector 12 selects any of pattern data 2-1∼2-n according to a pattern select signal 10 and outputs it as an output signal 6-1 to pin electronics, etc., of a semiconductor tester.例文帳に追加

パターンセレクタ１２は、パターンセレクト信号１０に従ってパターンデータ２-1〜２-nの何れかを選択し、これを出力信号６-1として半導体試験装置のピンエレクトロニクス等に出力する。 - 特許庁

The test voltage device 5A is a device integrated into a withstand voltage tester, for applying a DC voltage between the first external terminal 1a and the second external terminal 1b.例文帳に追加

この試験電圧装置５Ａは当該耐電圧試験器の中に組込まれており、前記第１外部端子１ａと前記第２外部端子１ｂとの間に直流電圧を印加する装置である。 - 特許庁

To achieve an IC tester for maintaining the compatibility with a synchronization by a trigger signal, and obtaining the synchronization between measurement modules without a restriction of the number of signal lines in a trigger bus.例文帳に追加

トリガ信号による同期の互換を維持しつつ、トリガバスの信号線数に制限を受けることなく、計測モジュール間の同期が図れるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

A LSI tester 20 inputs test data to an ASIC 13 based on an internal clock generated by a clock generating circuit 11 of a SDRAM 12, and takes out test result data from the ASIC 13.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ２０は、ＳＤＲＡＭ１２のクロック発生回路１１で生成する内部クロックに基づいて、テストデータをＡＳＩＣ１３に入力し、テスト結果データをＡＳＩＣ１３から取り出す。 - 特許庁

The tester can observe a result of latch by the latch circuits, and can judge easily whether the data signal and the strobe signal have correlation relation being suitable for the standard or not.例文帳に追加

テスタは、ラッチ回路のラッチした結果を観測することができ、データ信号とストローブ信号とが規格に適合した相関関係を有するか否かを判定することが容易となる。 - 特許庁

To make a tester for outputting a digital signal for test of high frequency unnecessary in a semiconductor device having a DAC, and realize tests in various test modes of high frequency.例文帳に追加

ＤＡＣを有する半導体装置において、高周波のテスト用ディジタル信号を出力するテスタを不要とし、かつ高周波の種々のテストモードでのテストを実現すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for evaluating cracks in a concrete pole, which can evaluate the cracks in the concrete pole in a short period of time easily and objectively, without depending on subjectivity of a tester who carries out the test.例文帳に追加

検査を行なう人間の主観によらず客観的に、容易に、且つ短時間でコンクリートポールのひび割れを評価することができるコンクリートポールのひび割れ評価装置を提供する。 - 特許庁

The frequency conversion circuit 12d generates a signal with an intermediate frequency from these signals and the tester 14c measures the modulation signal included in the signal with the intermediate frequency.例文帳に追加

周波数変換回路１２ｄは、これらの信号から中間周波数の信号を生成し、中間周波数の信号に含まれる変調信号をテスタ１４ｃで計測する。 - 特許庁

To provide a testing instrument with an upper plate having matched impedance circuit trace to transmit a test signal to a tester in a test at a position with high frequency in a printed board.例文帳に追加

プリント回路基板にある高周波数の場所におけるテストで、テスタにテスト信号を伝送するため、整合インピーダンス回路トレースを有する上端プレートを含むテスト用器具である。 - 特許庁

This tester for an automobile comprises a torque detector 11 coupled to an automotive engine 10 of a material to be tested, an AC dynamometer 12, an inverter 13, and an AC power source 14.例文帳に追加

この自動車用試験装置は、被試験体である自動車エンジン１０に連結されるトルク検出器１１と、ＡＣダイナモメータ１２と、インバータ部１３と、交流電源１４とを備えている。 - 特許庁

To provide a material tester unnecessary for marking a test piece with a gauge mark or the like even in a case that the displacement of a test piece is measured using the image taken by a camera.例文帳に追加

カメラで撮影した映像を使用して試験片の変位を測定する場合においても、試験片に対して標点等をマーキングすることが不要な材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a battery tester for a lead storage battery which is easy to reduce the size having a simple device configuration, capable of determining the quality, in a manner similar to that of the case where a discharge test is actually performed.例文帳に追加

簡易な装置構成で小型化が容易であり、実際に放電試験を行った場合と同様の良否判定を行える鉛蓄電池用バッテリテスタを提供する。 - 特許庁

When the test of a test object program is executed by a tester on the verification support system, a storage trigger event detection part 31 repeatedly determines the presence/absence of the recording trigger event.例文帳に追加

検証支援システムの上で試験者により試験対象プログラムの試験が実行されると、記憶契機事象検出部３１が記録契機事象の有無を繰り返し判断する。 - 特許庁

A closed type sprinkler head 18 is attached to fire-extinguishing equipment piping 10 through a T-shaped joint 15 equipped with a stagnation water preventing structure and a terminal tester 20 is provided on a terminal side.例文帳に追加

停滞水防止構造を備えたＴ型継手１５を介して消火設備配管１０に閉鎖型のスプリンクラーヘッド１８を取付けており、末端側に末端試験装置２０を設ける。 - 特許庁

To provide an operation tester for a smoke sensor that stably generates test smoke although having its whole structure simplified to be lightweight and low-cost, and further reduce running costs.例文帳に追加

全体構造を簡素化して軽量化と低コスト化を実現しながら、試験煙を安定して生成でき、しかもランニングコストを削減できる煙感知器用の作動試験器を提供する。 - 特許庁

To provide a capillary apparatus, capable of easily collecting a gingival groove liquid difficult to collect to measure a blood sugar value in a noninvasive manner, a tester, a measuring method and a monitoring method.例文帳に追加

採取の困難な歯肉溝液を容易に採取し、回収して、非侵襲的血糖値測定を行うことができるキャピラリー装置、試験装置、測定方法及びモニター方法を提供する。 - 特許庁

This can be designed as a tester which can be used for a circuit of various types of rated current as a format in which a plug having a plurality of breaker modules capable of exchange is inserted in a fuse terminal.例文帳に追加

交換可能な複数の遮断器モジュールを含むプラグをヒューズ端子に差し込む形式とし、各種定格電流の回路に対して使用できる試験器に設計することができる。 - 特許庁

The material tester is equipped with a support 10, a pair of upper and lower clamp arms 12 and 14, a guide rod 15, the holders 16 and 18 provided on the respective clamp arms 12 and 14 and a cam rod 20.例文帳に追加

試験機は、支持体１０と、一対の上，下クランプアーム１２，１４と、ガイドロッド１５と、各クランプアーム１２，１４に設けられた挟持具１６，１８と、カムロッド２０とを備えている。 - 特許庁

The operation tester for the smoke sensor includes a hood which covers the circumferential space of the smoke sensor, a smoking device 2 which generates the test smoke, a housing which houses the smoking device 2, and a column which supports the housing.例文帳に追加

煙感知器の周囲空間を覆うフードと、試験煙を生成する発煙装置２と、発煙装置２を収容するハウジングと、ハウジングを支持する支柱とを備えている。 - 特許庁

To unprecedentedly drastically shorten time for a test of a pattern memory for, for example, a performance test of a logic circuit using a tester.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば論理回路の動作の試験に適用して、パターンメモリの試験に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a leak tester that has a simple structure, does not require to install a special control device, does not leave a trace on a container when pressure is applied, and can prevent deformation of the container.例文帳に追加

簡素な構造で、格別の制御装置を設ける必要がなく、押圧時に容器に痕跡が残ることがなく、容器の変形を防止することができる漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory circuit in which relieving probability by a redundant cell is improved by reducing a compressibility in a test and a test time can be shortened by enabling simultaneous measurement by a tester.例文帳に追加

試験において圧縮率を下げて冗長セルによる救済確率を高くし，更に，テスタによる同時測定を可能にして試験時間を短縮できるメモリ回路を提供する。 - 特許庁

To shorten the time of inspecting a wafer and to improve the inspecting accuracy by accurately bringing the electrode formed on a tester probe in contact with the circuit electrode of an IC chip in a short time.例文帳に追加

テスタプローブに形成されたテスタ電極をＩＣチップの回路電極に短時間で正確に接触させ、ウェハ検査の時間を短縮すると共に、検査精度を向上させる。 - 特許庁

This device for selecting chip type electronic components is constituted of two contact deciding electrodes 11 and 12, an insulating reference member 14 set between those electrodes 11 and 12, and a tester 15 for decision.例文帳に追加

二つの接触判定電極１１，１２と、該電極１１，１２の間に設置された絶縁性の基準部材１４と、判定用のテスタ１５とからなるチップ型電子部品の選別装置。 - 特許庁

The crosslinked rubber has a Young's modulus of between 30 Mpa and 100 Mpa measured with a Sprit Hopkinson rod tester, the collision speed of the impact rod of which is 14.0 m/s.例文帳に追加

この架橋ゴムは、打撃棒の衝突速度が１４．０ｍ／ｓであるスプリットホプキンソン棒試験機によって測定されたヤング率が３０ＭＰａ以上１００ＭＰａ以下である。 - 特許庁

The wafer tester 1 has the sample chuck 2 for holding a wafer 13 on the holding surface 18 and a probe 50 for inspecting electric characteristics of the holding surface 18 and the surface of the wafer 13.例文帳に追加

ウェハ試験装置１は、保持面１８でウェハ１３を保持するサンプルチャック２と、保持面１８およびウェハ１３の表面の電気的特性を検査するプローブ５０とを有する。 - 特許庁

A second tool 10 for further precisely positioning the semiconductor device 8 to the tester 5 is assembled after the temperature difference between it and the tip of a driving arm 4 becomes 50°C or lower.例文帳に追加

半導体装置８をテスタ５に対してより精密に位置決めする第２の治具１０は、駆動アーム４の先端部との温度差が５０℃以下になってから組み付けられる。 - 特許庁

The portion in the bonding pad 4 is divided into a region 4a to which the gold wire 8 is to be bonded and a region 4b to which a probe of a thermal head tester is contacted.例文帳に追加

この帯状レジスト９ａにより、ボンディングパッド４内は、金線８がボンディングされる領域４ａと、サーマルヘッド試験装置のプローブを当接させる領域４ｂとに２分される。 - 特許庁

To provide an IC tester predicting beforehand a hardware function necessary during execution of a test program, and switching one by one its current-sending state or its small power-consumption state.例文帳に追加

テストプログラム実行中に必要なハードウェア機能を事前に予知してその通電状態または低消費電力状態を逐一切り替えることを可能とするＩＣテスタを実現する。 - 特許庁

In the tester, one image indicates thermal distribution on the inspected area of the bottle throughout a certain time interval, thereby allowing an operator to verify loss of stability within the glass process.例文帳に追加

一つの画像はある時間間隔に亘ってボトルの検査された部分の熱分布を示し、それによって、オペレータは、ガラスプロセス内での安定性の喪失を確認することができる。 - 特許庁

The optical pulse tester is effective for bidirectional OTDR measurement requiring an especially narrow measuring wavelength width and polarized wave OTDR measurement, and reduction of a measurement error is realized.例文帳に追加

本発明の光パルス試験器は、特に狭い測定波長幅が必要な双方向ＯＴＤＲ測定及び偏波ＯＴＤＲ測定に有効であり、測定誤差の低減を実現する。 - 特許庁

To execute a high-quality test in a short time, and execute the high- quality test without imposing a severe design convention on a designer and without requiring an expensive tester.例文帳に追加

高品質なテストを短時間で実行できるようにするほか、設計者に厳しい設計規約を課すことなく且つ高価なテスタを必要とすることなく高品質なテストを可能にする。 - 特許庁

To provide an IEEE1394 serial bus tester for facilitating the automation and the labor saving on the tests of products mounting IEEE1394 interface to dramatically reduce test costs.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４インターフェースを搭載した製品の検査の自動化と省力化を容易にして、検査コストを飛躍的に低減させるＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタを提供すること。 - 特許庁

An input switch signal 8 is set in a test mode by a test enable signal input from a test setting terminal 5, and a signal input from a tester 2 is input into an address control 9.例文帳に追加

テスト設定端子５から入力されるテストイネーブル信号によって入力切替スイッチ８はテストモードに設定し、テスター２から入力される信号はアドレスコントロール９に入力する。 - 特許庁

After performing wafer level burn-in, a WLBI mode is released, test data is read out from a memory core 2 by an external tester via a pin 10 under a test mode, and test data is compared with an expected value.例文帳に追加

ウェハレベルバーンインの実行後に、ＷＬＢＩモードを解除し、テストモード下で、ピン１０を介して、外部テスタがメモリコア２からテストデータを読み出し、テストデータと期待値とを比較する。 - 特許庁

Having seen Sakae Gozen leave, Masaoka returns to herself as mother and holds the dead body of Senmatsu, praising him for having performed the role of poison tester as she has taught him and mourns his tragic fate resulting from being the son of a samurai. 例文帳に追加

栄御前を見送った後、母親に返った政岡は、常々教えていた毒見の役を果たした千松を褒めつつ、武士の子ゆえの不憫を嘆いてその遺骸を抱きしめる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁

Thus, even in the case that the number of the same measurement L is increased, an increase in the number of the pins of the tester 30 can be settled without being proportioned with the number K of the DUT side output appropriable terminals.例文帳に追加

このため、同測数Ｌを増加させた場合であってもテスタ３０のピン数の増加をＤＵＴ側の出力専用端子の数Ｋに比例させずに済むことができる。 - 特許庁

A cured product of the composition has a water drain off time of ≤30 min when it is measured by a mirror plane structured draining tester with a 700 mm long, a 700 mm wide, and a slant degree of 3°.例文帳に追加

熱硬化性樹脂組成物の硬化物は、縦７００ｍｍ、横７００ｍｍ、斜度３°の鏡面構造の排水性試験器で測定したときの、排水時間が３０分以下である。 - 特許庁

To provide a creep tester constituted so as to perform a creep test for a material used in a machinery operated in a high temp. dry steam atmosphere by forming a test environment simulating the high temp. dry steam atmosphere.例文帳に追加

高温、乾き蒸気雰囲気中で作動する機器に使用される素材を、同雰囲気を模擬する試験環境にしてクリープ試験ができるようにしたクリープ試験機に関する。 - 特許庁

The tester further includes an inertial load providing motor 20 which transmits the rotating force to one of the drums 4 and 5 and a control device body 19 which controls the rotation of the motor 20.例文帳に追加

また、いずれか１つのドラム４又は５に回転力を伝達する慣性負荷付与モータ２０及び同モータ２０の回転を制御する制御装置本体１９を設けた。 - 特許庁

At this time, data are compressed by a data compression circuit 54 making bits of the prescribed number simultaneously being made an object of replacement by the redundant circuit as a unit and are outputted to the memory tester 200.例文帳に追加

このとき、冗長回路により同時に置換の対象とされる所定数のビットを単位として、データ圧縮回路５４によりデータを圧縮し、メモリテスタ２００に出力する。 - 特許庁

To realize an IC tester capable of shortening the inspection time by making the number of measurement time into once at the test mode of L level and H level, without having to use expensive current-impressing/high voltage measurement means.例文帳に追加

高価な電流印加／高電圧測定器を使用することなく、Ｌレベル及びＨレベルテストモードでの測定回数を１回として検査時間を短縮できるＩＣテスタを実現する。 - 特許庁

To provide an abrasion tester capable of stably performing an abrasion test in such a state that a rotary body is brought into contact with a fixed piece in spite of having a relatively simple constitution.例文帳に追加

比較的簡単な構成でありながら、回転体と固定片とを接触させた状態での摩耗試験を安定して行うことのできる摩耗試験装置を提供すること。 - 特許庁

When the value of VccD is a predetermined value or lower, a contact resistance value between the semiconductor chip and the tester is determined to be a predetermined value or more, and the contact resistance measurement is performed again.例文帳に追加

VccDの値が所定値以下である場合は、半導体チップとテスタとの間の接触抵抗値が所定値以上であると判断し、接触抵抗測定を再度行うようにする。 - 特許庁