「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

The conduction tester 2 is equipped with a blade element 21, a red display lamp 22 and a blue display lamp 23 for informing of the fact when a current flows from a voltage side pole to a grounding side pole of the blade element 21.例文帳に追加

導通検査器(2)は、ブレード要素(21)とブレード要素(21)の電圧側極から接地側極に電流が流れたときに報知する赤色表示灯(22)、青色表示灯(23)を備えている。 - 特許庁

In order to solve this problem, a history FIFO is provided in the memory tester and in order to consider the sum of the delays of the pipelines according to the position of the history FIFO, its depth is adjusted.例文帳に追加

これを解決するため、履歴ＦＩＦＯがメモリテスタ中に設けられ、パイプライン遅延の合計をその履歴ＦＩＦＯの位置に応じて考慮するためにその深さが調整される。 - 特許庁

The IC tester 1 transfers the produced measurement result file and classification result file to a host computer 3 in each lot, and the host computer 3 memories and controls transferred both files.例文帳に追加

そして、ロット毎に、ＩＣテスタ１は、作成した測定結果ファイル及び分類結果ファイルをホストコンピュータ３に転送し、ホストコンピュータ３は、転送された両ファイルを記憶・管理する。 - 特許庁

To indirectly measure a capacitance value without using an expensive capacitance value measuring tester outside an LSI when the capacitance value of a capacitive element formed in the LSI is measured.例文帳に追加

ＬＳＩに形成されている容量素子の容量値を測定する際に、ＬＳＩ外部の高価な容量値測定テスタを用いることなく、間接的に容量値測定を行う。 - 特許庁

To provide a connection device for inspection of an electronic device capable of easily and accurately inspecting the electronic device and a system connected with the device by a tester and obtaining inspection results with high reliability.例文帳に追加

テスターによる電子機器やこれにつながる系統の検査が容易かつ正確に行え、信頼性の高い検査結果が得られる電子機器の検査用接続装置を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

In the semiconductor tester including the plurality of digitizers configured to convert a plurality of signals to be measured outputted from a DUT into digital signals and to capture them in a memory on the basis of a trigger signal, the semiconductor tester includes a common trigger control circuit for inputting the trigger signal whose phase is adjusted to a proper timing relation to a clock which drives each digitizer.例文帳に追加

ＤＵＴから出力される複数の被測定信号をデジタル信号に変換してトリガ信号に基づきメモリに取り込むように構成された複数のデジタイザを有する半導体試験装置において、前記各デジタイザを駆動するクロックに対して適切なタイミング関係に位相調整されたトリガ信号を入力する共通のトリガ制御回路を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a very epoch-making film evaluation tester and a film evaluation testing method capable of evaluating the characteristics of a thin film as much as several ten μm or less, measuring the wear resistance in a short time by a very simple operating procedure without scattering of a propellant injected on a subject, lessening a measurement error, attaining good reproducibility and miniaturizing the tester.例文帳に追加

数十μｍ以下の薄い皮膜の特性でも評価することができ、被験体に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法を提供すること。 - 特許庁

The tester for the fire detector includes: an IC tag reader for reading the identifier from the IC tag T1 that stores the identifier for specifying the fire sensor and is provided on the fire sensor; and an antenna 25 for the IC tag reader that is formed on the tester for the fire sensor in the substantially annular shape.例文帳に追加

また、火災感知器を特定する識別子を格納しているＩＣタグＴ１であって、上記火災感知器に設けられているＩＣタグＴ１から、上記識別子を読み出すＩＣタグ用リーダと、上記ＩＣタグ用リーダのアンテナ２５であって、上記火災感知器の試験器に略環状に形成されているリーダ用アンテナ２５とを有する火災感知器の試験器である。 - 特許庁

The selective circuit 12 outputs control signals C1-Cn inputted to terminals DC1-DCn by an LSI tester to the internal circuit 11 and outputs response signals O1-On, outputted by the internal circuit 11 in response to the control signals C1-Cn to the LSI tester from terminals DO1-DOn.例文帳に追加

選択回路１２は、選択信号ＣＳによって半導体デバイス１が選択されているときにのみ、ＬＳＩテスタから端子ＤＣ１〜ＤＣｎに入力された制御信号Ｃ１〜Ｃｎを内部回路１１に入力し、また制御信号Ｃ１〜Ｃｎに従って内部回路１１から出力された応答信号Ｏ１〜Ｏｎを端子ＤＯ１〜ＤＯｎからＬＳＩテスタに出力する。 - 特許庁

A data read out from the ROM 103 is converted from parallel data into serial data by the transmitter 105 to be transmitted to the data converter 108, the converted 108 converts the received serial data into the parallel data, corrects the data, when necessary, to be supplied to an LSI tester driver 109, and supplies it to the semiconductor integrated circuit 102 via a tester channel 110.例文帳に追加

外付けＲＯＭ１０３から読み出したデータをデータ転送器１０５でパラレルデータからシリアルデータに変換してデータ変換器１０８に転送し、データ変換器１０８は受け取ったシリアルデータをパラレルデータに変換し、このデータを必要に応じて補正した上でＬＳＩテスタドライバ１０９に供給し、これをテスタチャネル１１０を経由して半導体集積回路１０２へ供給する。 - 特許庁

The planarization gauge 301 comprises a rear flat surface 303 functioning as the system reference flat surface 119 of the automatic semiconductor tester, a front flat surface 305 which is in parallel and opposed to the rear flat surface 303 and functions as the system reference flat surface 119 of the automatic semiconductor tester, and optical targets 417 arranged on the front flat surface 305.例文帳に追加

また、プラナリゼーションゲージ３０１は、半導体自動試験装置のシステム基準平面１１９として機能する後部平坦面３０３と、後部平坦面３０３に平行でその反対側を向き、半導体自動試験装置のシステム基準平面１１９として機能する前部平坦面３０５と、前部平坦面３０５上にある光学ターゲット４１７とを含む。 - 特許庁

For instance, the apparatus is a test system provided with: a tester configured to test a set of components and generate test data for the set of components, wherein the components are manufactured based on a manufacturing process; and a diagnostic system configured to receive the test data from the tester, and identify the characteristic of the manufacturing process of the components by automatically analyzing the test data.例文帳に追加

例えば、一組のコンポーネントを試験し、該一組のコンポーネントに対する試験データを生成するように構成されたテスターであって、該コンポーネントは製造プロセスに基づいて製造される、テスターと；該テスターから該試験データを受け取り、該試験データを自動的に分析することによって、該コンポーネントの該製造プロセスの特徴を識別するように構成された診断システムと、を備える、試験システム。 - 特許庁

The semiconductor device includes a SRAM 12 being a test object circuit, an input terminal 13 to which a tester clock signal Tc1 is input from the outside, a BIST circuit 11 performing a logical test of the SRAM 12 for each cycle of the tester clock signal Tc1, and an output terminal 15 outputting a test result signal Ts indicating a test result in the BIST circuit 11 to the outside.例文帳に追加

テスト対象回路であるＳＲＡＭ１２と、外部からテスタクロック信号Ｔｃｌを入力する入力端子１３と、テスタクロック信号Ｔｃｌのサイクル毎にＳＲＡＭ１２の論理的なテストを行うＢＩＳＴ回路１１と、ＢＩＳＴ回路１１におけるテスト結果を表すテスト結果信号Ｔｓを外部に出力する出力端子１５と、を備える。 - 特許庁

To provide a heat radiation performance tester on an enclosure for removing variable factors by natural environment or an installation location, and variable factors caused by internal heat generation distribution independently of time for testing.例文帳に追加

試験のための時期によらず、また自然環境や設置場所に起因する変動要素、内部発熱分布による変動要素を排除することができる筐体の放熱性能試験装置を提供する。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The present tester is characterized in comprising a display unit provided on a casing and a display processing unit which displays, on the display unit, all test conditions, test items, discrimination conditions and test results.例文帳に追加

本テスタは、筐体に設けられる表示部と、試験条件、試験項目、判定条件、試験結果の全てを表示部に表示させる表示処理部とを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide an optical pulse tester which can measure the time sequential variation of the intensity, etc., of reflected light returning from an optical fiber to be measured by simultaneously using optical pulses having a plurality of different wavelengths.例文帳に追加

同時に複数の波長の光パルスを使用して被測定光ファイバから戻ってくる反射光の光強度などの時系列的変化を測定することができる光パルス試験器を実現する。 - 特許庁

Also, the CPU 10, when decoding the data Dn and obtaining branch instructions, reads data from a branch destination address Ab by the branch instructions instead of an address from which the data has to be next read, and makes the tester 2 inspect them.例文帳に追加

また、CPU10は、データDnをデコードして分岐命令が得られた場合、次にデータを読み出すべきアドレスに代えて、前記分岐命令による分岐先アドレスAbからデータを読み出してテスタ2に検査させる。 - 特許庁

If the failure part is not specified, pseudo delay failure simulation is carried out, and a determining section 208 determines error coincidence between a compared result by tester measurement and a pseudo delay failure simulation result.例文帳に追加

故障箇所が特定されていない場合、擬似遅延故障シミュレーションを実行して、判断部２０８により、テスター測定による比較結果と擬似遅延故障シミュレーション結果とのエラー一致性を判断する。 - 特許庁

Each tester listens to and analyzes link pulses sent out of network constitution equipment to detect and display a communication function, and expects an echo request message in the state corresponding to the detected communication function.例文帳に追加

各試験器は、ネットワーク構成機器から送出されるリンクパルスを聴取し、解析して通信機能を検知し、表示すると共に、検知した通信機能に応じた状態でエコー要求電文を待つ。 - 特許庁

To provide a subtraction method capable of efficiently conducting subtraction, by using mRNAs derived from a tester in a very small amount, and capable of cloning a gene of which the expression level is fluctuated under a specified condition.例文帳に追加

微量試料に由来するｍＲＮＡを用いてサブトラクションを効率的に行い、特定の条件下で発現量の変動する遺伝子をクローン化することが可能なサブトラクション方法を提供すること。 - 特許庁

A skew value of each pin of the tester is calculated from a result h measured by the test pattern f and the test program g created, and a test program i for an actual test is created by reflecting the skew value in the original test program c.例文帳に追加

生成したテストパタンｆとテストプログラムｇで測定した結果ｈから、テスタの各ピンのスキュー値を算出し、それを元のテストプログラムｃに反映させ、本テスト用のテストプログラムｉを生成する。 - 特許庁

The IC tester comprises a means by which, when the mounting board is replaced whether the board is replaced or not is recognized by deciding whether wiring length data is reaquired or not after the mounting board is replaced.例文帳に追加

搭載基板が交換された場合、当該搭載基板の交換後に配線長データの取り直しが実行されたかどうかを判定して基板交換の有無を認識する手段を有する。 - 特許庁

This spectral analyzer 220 receives a response characteristic signal (f(t))217 from a magnetic head 205 to determine its frequency spectrum and then transmits this frequency spectrum to the tester process controller 235.例文帳に追加

スペクトラム分析器２２０は、磁気ヘッド２０５から応答特性信号（ｆ（ｔ））２１７を受け取って、その周波数スペクトラムを判定し、この周波数スペクトラムをテスタプロセス制御部２３５に送信する。 - 特許庁

The tester 20 has an integrated circuit test controller 21 and a memory 22 storing integrated circuit test programs for running the controller 21 to test integrated circuits.例文帳に追加

集積回路試験装置20は、集積回路試験制御部21と、集積回路試験制御部21に集積回路の試験を行わせる集積回路試験プログラムが記憶されている記憶部22を有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing a connection test of an LSI internal part even when the number of external terminals is larger than the number of pins of a tester for performing a test of an internal logic circuit.例文帳に追加

外部端子数が内部論理回路のテストを行うテスタのピン数より多い場合であってもＬＳＩ内部の接続テストを可能にする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.例文帳に追加

実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ１、インターリーブ演算レジスタ２が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数Ｌ、インターリーブ用演算変数Ｉを個々に格納する。 - 特許庁

This heat-resistant shock-absorbing foam includes a foam having spherical bubbles, the shock absorbing rate of which is 60% or more at 40% compression ratio by a pendulum type impact tester.例文帳に追加

本発明の耐熱性衝撃吸収発泡体は、球状気泡を有する発泡体を含み、振り子試験における衝撃吸収率が、圧縮率４０％において６０％以上である。 - 特許庁

The subtracter 5 subtracts the output of the distortion correction element generating part 9 from the output of the filter part 3 to input the input signal from which nonlinear distortion is removed, into the tester part 10.例文帳に追加

減算器５で前記第１のフィルタ部３の出力から前記ひずみ補正要素発生部９の出力を減算して、非線形ひずみを取り除いた入力信号を試験機部１０に入力する。 - 特許庁

To provide a data converter for inspection of a semiconductor integrated circuit that suppresses an increase in the number of tester channels necessary in an inspection when a high-speed operation semiconductor integrated circuit is inspected.例文帳に追加

高速で動作する半導体集積回路を検査する際に、検査に必要なテスタチャネル数の増加を抑えた半導体集積回路の検査におけるデータ変換装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加

テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pressure measurement device and a pressure test method capable of easily and precisely testing a fine pressure measurement device while effectively utilizing a conventional pressure tester.例文帳に追加

従来の耐圧試験機を有効に利用しながら、微小圧力測定装置を容易、且つ精確に試験することのできる圧力測定装置、及び圧力試験方法を提供することである。 - 特許庁

An insulating film on the wire in which the failure signal is predicted to be propagated, is etched to expose the wire, then the electronic beam is applied from the electronic beam tester to analyze the failure.例文帳に追加

故障信号が伝播していると推定される配線上の絶縁膜をエッチングして当該配線を露出し、その上で、電子ビームテスタにより電子ビームを照射して故障解析を実行する。 - 特許庁

To provide an ice making method and an ice making device for an on-ice friction tester which does not require a side wall to keep water and is advantageous to produce an ice board whose quality of ice is constant.例文帳に追加

水をためるための側壁を不要とし、さらに、氷質にむらのない氷盤を製作する上で有利な氷上摩擦試験機における製氷方法および製氷装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optional waveform generator wherein low-frequency characteristics such as offset voltage drift in a low-frequency band, gain drift, and integral linearity error, are improved, and a tester equipped with the generator.例文帳に追加

低周波領域におけるオフセット電圧ドリフト、ゲインドリフト、積分直線性誤差等の低周波特性が改善された任意波形発生装置、及び当該装置を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

In the case where visual determination can not be performed by the image photographed by the automatic tester 2, a second camera 32 is separately newly used by receiving a HOME key to photograph the image of the printed board 4.例文帳に追加

そして、自動検査装置２で撮影された画像によって目視判断できない場合には、HOMEキーを受け付けて、別途新たに第二カメラ３２を用いてプリント基板４の画像を撮影する。 - 特許庁

In the leak tester, a support rod 22 is inserted in the center part of the upper wall of a chamber 1 with the longitudinal direction set vertically, and the support rod 22 is supported on the upper wall of the chamber vertically movably and fixably.例文帳に追加

チャンバ１の上壁の中央部には、支持棒２２がその長手方向を垂直にして挿通しており、支持棒２２は上下動可能にかつ固定可能に、チャンバ上壁に支持されている。 - 特許庁

After the input of a series of digital data is completed, the held data in the circuits 2, 3, 5 can be output to an external tester as a maximum value, a minimum value and a variance value of the digital data, respectively.例文帳に追加

一連のディジタルデータの入力完了後、回路２，３，５の各保持データを、夫々ディジタルデータの最大値、最小値、及び分散値として外部のテスターに出力可能に構成されている。 - 特許庁

To provide an inspecting apparatus effective in terms of cost and general versatility, by solving the problem wherein the efficiency is low when LSI tester is not in operation, while an LSI device to be inspected is being transported.例文帳に追加

被検査対象のＬＳＩデバイスを運搬している時間はＬＳＩテスタが稼動していない為に効率が良くないという課題を解消し、コスト面や汎用面にて有効な検査装置を提供する。 - 特許庁

That is, the test results for the plural test objects in the ECU 10 are once stored in the RAM 23 and then collectively output to the tester 100 side by a communication circuit 70.例文帳に追加

即ち、ＥＣＵ１０における複数の検査対象に対する検査結果は一旦、ＲＡＭ２３内に格納され、通信回路７０を利用することでまとめて検査テスタ１００側に出力される。 - 特許庁

When a failure part is found during the irradiation, the spot light is switched to the spot light of a small diameter, the semiconductor device of the inspection object is irradiated, and an electric operation in a small range is verified by the tester.例文帳に追加

この照射中、不良箇所を見つけた場合には、小径のスポット光に切り替えて、検査対象の半導体装置に照射し、テスタによるより小範囲の電気的動作の検証を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor IC device which allows measurement of the operating speeds of its internal elements, using a tester whose operating speeds is lower than that of the semiconductor IC device to be measured.例文帳に追加

被測定半導体集積回路装置の動作速度より動作速度の遅いテスターを用いて、内部素子の動作スピードを測定することが可能な半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加

プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁

To provide a veneer magnetism tester for magnetic characteristic testing of magnetic steel sheet which can measure magnetic characteristics according to the actual use condition of a magnetic steel sheet in veneer magnetic characteristic testing.例文帳に追加

単板磁気特性試験に際し、電磁鋼板の実使用条件に則した形で磁気特性を測定することができる電磁鋼板の磁気特性試験用の単板磁気試験器を提供する。 - 特許庁