「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

The pattern inspection device 100 has a light irradiator 1, an image pickup part 2 for inspection, a tester 3, an image pickup part 4 for adjustment, a focus adjuster 5, a light amount adjuster 6, and a memory 7.例文帳に追加

パターン検査装置１００は、光照射手段１と、検査用撮像手段２と、検査手段３と、調整用撮像手段４と、フォーカス調整手段５と、光量調整手段６と、メモリ７とを備える。 - 特許庁

To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁

An output signal from an output buffer BUF1 of the test output data TOUT0 is monitored by connecting a tester to an input/ output terminal P0, and the signal is inputted into input circuits (BUF2, FF3).例文帳に追加

テスト出力データＴＯＵＴ０の出力バッファＢＵＦ１からの出力信号を入・出力端子Ｐ０にテスタを接続して監視するとともに、その信号を入力回路（ＢＵＦ２，ＦＦ３）に入力する。 - 特許庁

The tester simultaneously generates a plurality of pieces of test data in accordance with all of a plurality of pieces of telemeter data from the each control station to be supervised to thereby simultaneously display test data at the entire telemeter data display positions of the display part.例文帳に追加

試験器は、各被監視制御所からの複数のテレメータデータの全てに対応して複数の試験データを同時に発生させることにより、表示部の全テレメータデータ表示位置に同時に試験データを表示させる。 - 特許庁

The tester for performing dual management includes qualitative detection section (1) that checks an application of an appropriate agent, and a checking section (2) or an infiltration adjusting section that performs a management of an application quantity.例文帳に追加

定性検出部（１）によって適正な薬剤が塗布されたことを確認し、確認部（２）又は浸潤調整部によって塗布量の管理を行なえるものとする、２元管理が可能なテスターを提供する。 - 特許庁

Additionally, the tester 2 changes a program to the characteristic measurement test program after the accept/reject decisions of all semiconductor chips on the wafer, and measures the concrete characteristic value of the semiconductor chip of a chip address, that is specified by the test conditions.例文帳に追加

テスタ２は、ウエハ上の全ての半導体チップの合否判定後に、プログラムを特性測定テストプログラムに切り替え、テスト条件で指定されたチップアドレスの半導体チップの、具体的な特性値を測定する。 - 特許庁

In a fourth step, a test of a semiconductor memory determined as defective memory operation using the test pattern converted to the signal pattern by a semiconductor memory tester, is performed and reappearance of the occurrence of the defective operation is verified.例文帳に追加

第４ステップでは、半導体メモリテスタにより信号パターンに変換されたテストパターンを用いてメモリ動作不良と判定された半導体メモリのテストを実施し、上記動作不良発生の再現を検証する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection circuit capable of simultaneously inspecting a large number of terminals of inspection objects of a semiconductor device with a small number of measurement units of an LSI tester, in an inspection for AC characteristics of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのＡＣ特性の検査において、ＬＳＩテスタの少数の測定ユニットで半導体デバイスの多数本の検査対象端子を同時に検査することができる半導体検査回路を提供する。 - 特許庁

To provide a new method and a device for reducing the complicity and hardware of an IC tester and simultaneously reducing test circuit overhead in an integrated circuit without sacrificing DFT and BIST functions.例文帳に追加

ＩＣテスタの複雑性及びハードウエアを低減すると同時に集積回路中の試験回路オーバーヘッドをＤＦＴ及びＢＩＳＴ機能を犠牲にすることなく低減する為の新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This torsion tester measures a torsion and a rotational angle of a junction, when the torsion is given on the solder junction of connectors 1a, 1b solder-jointed to substrates 13a, 13b.例文帳に追加

本発明に係るねじり試験機は、基板１３ａ，１３ｂにはんだ接合されたコネクター１ａ，１ｂのはんだ接合部にねじり力を加えた場合の該ねじり力と該接合部の回転角度を測定するものである。 - 特許庁

The tester has a comparator circuit 14 for reading out data just after writing from the pattern memory 3 and comparing them with written data, to thereby make a diagnosis of the pattern memory 3 as well at data writing into the pattern memory 3.例文帳に追加

本発明は、パターンメモリ３から書き込んだ直後のデータを読み出して書き込んだデータとの間で比較する比較回路１４を設け、パターンメモリ３へのデータの書き込み時、併せてパターンメモリ３を診断する。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

Pulse light of 1.55 μm wavelength band outputted from an optical pulse tester 100 enters an optical fiber 200 principally comprising quartz glass and added with OH group into core region and propagates through the optical fiber 200.例文帳に追加

光パルス試験器１００から出力された波長１．５５μｍ帯のパルス光は、石英ガラスを主成分としコア領域にＯＨ基が添加された光ファイバ２００に入射し、この光ファイバ２００を伝搬する。 - 特許庁

External terminals connected to the screening tester are made large in both pitch and diameter, so no special pin-pitch conversion adapter etc., is necessary for a screen test and positioning at a probe need not be specially high in precision.例文帳に追加

スクリーニングテスタと接続される外部端子はピッチと径が共に大きくされているのでスクリーニングテストに特別なピンピッチ変換アダプタ等を必要とせず、プローブに対する位置決めにも特に高精度を要しない。 - 特許庁

In the test board for the semiconductor tester, signal wiring suitable for each method for a DC test and a function test is used and the signal wiring is switched, in response to a test method by providing a switching circuit.例文帳に追加

半導体テスター用テストボードにおいて、DCテストとファンクションテストのそれぞれの手法に適した信号配線を用い、切り替え回路を備えることにより、テスト手法に応じ信号配線の切り替えを行う。 - 特許庁

To provide a control system reducing a load on a controller that controls objects to be controlled, and to provide a semiconductor tester for shortening test time by being equipped with the relevant control system.例文帳に追加

制御装置が制御対象を制御する負荷を軽減することができる制御システム、及び当該制御システムを備えることで試験時間の短縮を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The above softened top parts of the solder bumps 30 are flatly pressed with the planar tip of the tester needle 60, and the heights of the top parts of the solder bumps 30 from the surface of a circuit board body 10 are adjusted.例文帳に追加

それと共に、テスター針６０の平面状をした先端で前記の軟化させたはんだバンプ３０の頂部を平押して、そのはんだバンプ３０の頂部の回路基板本体１０の表面からの高さを整える。 - 特許庁

The IC tester 23 comprises a number of DC electric characteristic measuring modules (DS measuring module) 11, and has a control part for executing a measuring program 29 for performing the requested characteristic measurement.例文帳に追加

ＩＣテスタ２３は、多くの直流電気特性測定モジュール（ＤＣ測定モジュール）１１を備え、これらの測定モジュールを用い、要求される特性測定を行うための測定プログラム２９を実行する制御部を有する。 - 特許庁

To measure an output current of a driver in a short time while using an existing LSI tester in inspection of a semiconductor integrated circuit including the driver for outputting a driving current corresponding to the gradation of an image to a display.例文帳に追加

画像の階調に対応する駆動電流をディスプレイに出力するドライバを含む半導体集積回路の検査において、既存のＬＳＩテスタを利用しながら、ドライバの出力電流を短時間に測定する。 - 特許庁

A contact brought into contact with an electrode on a semiconductor device 200 is provided on a film substrate 70 and a line pattern on the film substrate 70 and a wiring pattern on a side of a tester board 101 are directly connected by pressure welding.例文帳に追加

半導体デバイス２００の電極と接触させる接触子をフィルム基板７０上に設け、フィルム基板７０の線路パターンとテスタボード１０１側の配線パターンとを圧接により直接接続する。 - 特許庁

To provide a contactor for eliminating a cleaning process implemented each time a final test is repeated several times, and improving the productivity of the semiconductor integrated circuit, and a test method and a tester of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

最終試験を所定回数繰り返す毎に行うクリーニング工程を不要とし、半導体集積回路の生産性を向上できるコンタクタ、半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

A pump and a versatile adsorption vacuum tester for water absorption piping vacuum state diagnosis comprise a vacuum meter 1 and a vacuum meter holder 8 that is fixed and integrated with a coil-like hose 2, an airtight sucker 3, and a magnet disk 4.例文帳に追加

真空計１とコイル状ホース２、機密性吸着盤３、４マグネット盤が固着一体化された真空計ホルダー８とで構成された、ポンプ、吸水配管真空状態診断汎用吸着真空検査器。 - 特許庁

On the basis of the transmit power value specified by the 3GPP standard or user settings, a terminal tester sets a transmit power value for each of a plurality of channels included in an uplink radio data signal of a terminal.例文帳に追加

端末テスタは３ＧＰＰ規格で規定されている送信電力値又はユーザの設定に基づいて、端末の上り無線データ信号に含まれる複数のチャネルに対してそれぞれ送信電力値を設定する。 - 特許庁

The photosensitive resin printing plate material is characterized by the condition that the dynamic hardness of the surface of the photosensitive resin for forming a peelable image measured with a ultra micro hardness tester DUH201 is 0.02-0.04.例文帳に追加

超微小硬度計ＤＵＨ２０１で測定した剥離画像形成用感光性樹脂の表面のダイナミック硬さが０．０２〜０．０４であることを特徴とする剥離画像形成用感光性樹脂版材。 - 特許庁

When used in an IC tester for measuring voltage by rapidly changing over multiple terminals, the voltage can be correctly measured, and it is not necessary to wait for the temperature of the package to be set constant, whereby a test time can be reduced.例文帳に追加

高速で多数の端子を切り替えて電圧を測定するＩＣテスタに用いると正確に電圧を測定でき、またパッケージの温度が一定になるのを待つ必要がないので、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide an inverter tester capable of preventing malfunction in controlling a test body or in a measuring apparatus due to noises and malfunction in controlling the test body or in a measuring apparatus due to circulating current.例文帳に追加

ノイズの影響による供試体の制御や計測装置の誤動作や、循環電流の影響による供試体の制御や計測装置の誤動作を防止することができるインバータ試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the labor and costs of the conversion processing of a test program to be shared between different kinds of equipment by realizing the conversion processing inside an IC tester being a target without preliminarily operating any conversion processing.例文帳に追加

本発明の課題は、異機種間で共有化するテストプログラムの変換処理を事前に行わず、ターゲットとなるＩＣテスタ内部でテストプログラムの変換処理を実現して変換処理の手間とコストを低減することである。 - 特許庁

To make it possible to acquire FBM (Fail Bit Map) data at the actual operating speed (high speed operation) of a mounted memory even without providing an external memory for storing the FBM data in between a tester, with respect to a semiconductor device having a plurality of memories.例文帳に追加

複数のメモリを有する半導体装置に関し、テスタとの間にＦＢＭデータ格納用の外部メモリを設けなくとも、搭載メモリの実動作速度（高速動作）でのＦＢＭデータを取得できるようにする。 - 特許庁

In this constitution, the electric defect position data at an IC memory obtained in a semiconductor IC tester, can be converted to the real coordination, and the defect position data can be compared with defect data of productive process.例文帳に追加

この構成により、半導体ＩＣ試験装置にて取得したＩＣメモリの電気的な不良位置の情報を実座標に変換することができ、製造プロセスの欠陥データと比較することが可能となる。 - 特許庁

To provide an operation tester for a flame detector that can reproduce an artificial light source having the same spectral ratio as fire flames without using an infrared bandpass filter having a transmission characteristic for a carbon dioxide resonance radiation band.例文帳に追加

炭酸ガス共鳴放射帯に透過特性を有する赤外線バンドパスフィルターを用いずに、火災による炎と同じ分光比率の擬似光源を再現可能な炎感知器の作動試験器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester that can stabilize a test by suppressing expansion and contraction of probe needles after contact between the probe needles and a sample and setting an appropriate pressure of contact between the probe needles and the sample.例文帳に追加

プローブ針と試料との接触後におけるプローブ針の伸縮を抑制してプローブ針と試料との接触の圧力を好適に設定し、安定した試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor inspection device which can realize inspection in an environment close to the actual use condition of a product, without requiring preparation of an expensive LSI tester, in inspecting a semiconductor device for radio communication.例文帳に追加

無線通信用の半導体装置を検査する際に、高価なＬＳＩテスタを用意する必要がなく、製品の実使用状態に近い環境で検査を実現することができる半導体検査装置を得る。 - 特許庁

The soft resin layer 13 has Martens hardness of 0.1-70 N/mm^2 measured by a super-microhardness tester under an atmosphere of 20°C of temperature and 50% of relative humidity, and also has a self-restoration nature.例文帳に追加

軟質樹脂層１３は、超微小硬さ試験装置により温度２０℃、相対湿度５０％の雰囲気下で測定したときのマルテンス硬度が０．１〜７０Ｎ／ｍｍ^２であり、かつ自己修復性を有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester which prevents ink marks made by an inker on a semiconductor chip discriminated as being defective from being scattered or flowing over to other semiconductor chips, and prevents discrimination between defective semiconductor chips and nondefective ones from becoming difficult.例文帳に追加

インカーにより不良判定された半導体チップに付されたインクマークが他の半導体チップに飛散したり流れ半導体チップの良否判定を困難にするのを防止する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of making fine position control according to the type of a performance board in the case of moving a test head, having good positioning accuracy and simply performing the operation.例文帳に追加

テストヘッドを移動させる場合に、パフォーマンスボードの種類などに応じて微妙な位置調節が可能であり、位置合せの精度が良く、しかもその作業を簡便に行なうことが可能な、半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The polymer emulsifier including a (meth)acrylic polymer having a midpoint temperature of 40-170°C by a flow tester 1/2 method and a weight-average molecular weight of 1,500-100,000 is used.例文帳に追加

フローテスター１／２法による中点温度が４０℃以上１７０℃以下である（メタ）アクリル系重合体を含み、その（メタ）アクリル系重合体の重量平均分子量が１，５００〜１００，０００である高分子乳化剤を用いる。 - 特許庁

A semiconductor device tester e7 which can perform burn-in test of a wafer 401 not yet diced into chip size comprises a circuit substrate 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retaining plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３，フィルム３０５，位置決め板３０７，押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

To obtain a logic synthesis apparatus, an automatic arranging and wiring apparatus, and a semiconductor integrated circuit which can automatically insert a special cell for observing a desired signal through an EB tester by leading it out to a top layer.例文帳に追加

所望の信号を最上位層に引き出し、ＥＢテスタで観測するための特殊セルを自動で挿入することができる論理合成装置、自動配置配線装置および半導体集積回路を得ること。 - 特許庁

A dummy pattern adding means 12 adds dummy pattern data having a dummy pattern in regard to an unused tester pin to the individual test pattern 7 added a variety test pattern 3 for preparing a dummy pattern added test pattern 8.例文帳に追加

ダミーパターン追加手段１２は、未使用テスタピンに対するダミーパターンを有するダミーパターンデータを、品種テストパターン３が付加された個別テストパターン７に対して追加し、ダミーパターン追加テストパターン８を作成する。 - 特許庁

For a probe wafer 2, a buffer 5 for latching an input/output signal is formed between a pad 3 for contacting to an electrode of a semiconductor integrated circuit(IC) 1 and a tester 4 for electrical inspection of the IC1.例文帳に追加

プローブウェハ２に半導体集積回路（ＩＣ）１の電極と接触をとるためのパッド３とＩＣ１の電気検査を行うテスタ４との間に入出力信号をラッチするためのバッファ５を形成する。 - 特許庁

A registration apparatus includes a display information registering means 21 for registering display presence/absence information regarding a network load tester 1, and the display presence/absence information designating presence/absence of display for each of setting items included in a setting file.例文帳に追加

登録装置は、設定ファイルに含まれる設定項目のそれぞれについて表示の有無を指定する表示有無情報をネットワーク負荷試験機１に登録する表示情報登録手段２１を備える。 - 特許庁

To provide means which does not use a tester for applying light uniformly, when measuring a property difference between amplifiers due to property variation in MOSFET, in an imaging device where a fixed amplifier is allocated to each pixel.例文帳に追加

画素毎に固定した増幅器が割り当てられる撮像素子において、MOSFETの特性バラつきによる各増幅器の特性差を測定する際に、光を均一に当てるテスタを用いずに測定する手段を提供する。 - 特許庁

To provide a door open/close tester having a simple and inexpensive constitution, mitigating a shock by reducing an open/close speed of a door before and after an open position and a close position of the door, and installed at and separated from the door.例文帳に追加

簡便で安価な構成で、扉の閉鎖位置と開放位置の前後で扉の開閉速度を減速して衝撃を和らげ、扉から位置を離して設置することができる扉開閉試験装置を提供する。 - 特許庁

In worker calling devices 10-12, a file representing the condition of each burn-in tester in the storage portion 21 of the server 20 is read, and a worker is called out by a display and a buzzer, when calling-out of the worker is necessary.例文帳に追加

作業者呼出装置１０〜１２では、サーバ２０の記憶部２１にあるバーンイン試験装置毎の状態を表すファイルを読み込んで、作業者の呼出が必要な場合、表示装置とブザーで作業者を呼び出す。 - 特許庁