「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

This wiring tester includes an insertion blade Lt for a supply voltage bondable to a supply voltage pole of the plug socket, an insertion blade Et for grounding bondable to a grounding pole, and an insertion blade Nt for power source grounding bondable to a power source grounding pole.例文帳に追加

配線試験器は、コンセントの電源電圧極に結合可能な電源電圧用差込刃Ｌｔと、接地極に結合可能な接地用差込刃Ｅｔと、電源接地極に結合可能な電源接地用差込刃Ｎｔとを含む。 - 特許庁

This fatigue tester is constituted of an exciter 2 having an up and down vibrated excitation part 8, the oblong sample attaching stand 3 attached to the upper part of the exciter 2 and a clamp 4 for fixing one end of a sample 40 to one end of the sample attaching stand 3.例文帳に追加

上下に振動する加振部８を有する加振機２と、該加振機２の上部に取り付けた横長の試料取付台３と、該試料取付３台の一端に試料４０の一端を固定するクランプ４により構成する。 - 特許庁

An LSI tester connected to a terminal 12 decides a microcomputer as acceptable when an output from the terminal 12 is '1' about all memory addresses and decides as unacceptable when even one memory address is '0'.例文帳に追加

端子１２に接続されているＬＳＩテスタにより、端子１２からの出力がすべてのメモリアドレスについて”１”であればマイクロコンピュータは良品と判定され、１つのメモリアドレスでも”０”であれば不良品であると判定される。 - 特許庁

To provide a temperature controller maintaining test quality by providing a correct test temperature environment, also maintaining reliability of a tester and a handler, and providing easily and inexpensively the optimum test temperature environment for an IC chip.例文帳に追加

正しいテスト温度環境を提供することによりテスト品質を維持し、テスター乃至ハンドラーの信頼性も維持し、ＩＣチップに最適なテスト温度環境を簡単に且つ安いコストで提供できる温度制御装置を提供する。 - 特許庁

If not paused, it does not start a failure information displaying process, but if paused, it reads displaying conditions from test programs of the IC tester 4 and takes in displaying conditions to be inputted by the operator.例文帳に追加

このとき、一時停止中でなければ不良情報表示の処理を起動しないこととし、一時停止中であればＩＣ試験装置４の試験プログラムから表示条件を読み込むと共にオペレータが入力する表示条件を取り込む。 - 特許庁

The output values of the shift registers 200, outputted from the indeterminate mask device 220, are compressed by an MISR 230, and a tester compares its output values with the output expectation values of the test data to detect the defects of the LSI 105.例文帳に追加

不定マスク器２２０から出力されるシフトレジスタ２００の出力値をＭＩＳＲ２３０で圧縮し、この出力値と、テストデータの出力期待値とをテスタが比較することにより、ＬＳＩ１０５の不良を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit tester and its adjusting method, which enable reduction of its circuit scale by reduction of the number of comparators, prevention of increase of its power consumption as well, and moreover cost reduction.例文帳に追加

コンパレータの数を削減することで回路規模を小さくすることができるとともに、消費電力の増大も招かず、しかもコストを低減することができる半導体集積回路試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

When initially setting up a tester 500, the preamplifier 514 of a magnetic property measuring device 502 is connected to an emulator 1 to input signals emulating the resistance and resistance change of the magnetoresistive element to use as the standard.例文帳に追加

テスター５００の初期設定時に、磁気特性測定装置５０２のプリアンプ５１４にエミュレータ１が接続され、エミュレータから、標準となる磁気抵抗効果素子の抵抗値及び抵抗変化をエミュレートした信号が入力される。 - 特許庁

The expression (I): (T_1-T_30)≥40 (°C), wherein T_1 or T_30 respectively denotes a temperature at which the melt viscosity of the block copolymer resin becomes 1.0×10^4 Pa s when the applied voltage is 1 MPa or 30 MPa in a flow tester.例文帳に追加

（Ｔ_1−Ｔ_30）≧２０（℃） （Ｉ） 式中、Ｔ_1又はＴ_30は、それぞれ、フローテスターにおいて印加圧力を１ＭＰａ又は３０ＭＰａとした場合に、ブロック共重合体樹脂の溶融粘度がいずれも１．０×１０^4Ｐａ・ｓになる温度を示す。 - 特許庁

The sheet 1 comprising the foaming composition for filling that is obtained by mixing a polymer with an organic peroxide and azodicarbonamide and has viscosity measured at 120°C under pressure of 500 MPa by a flow tester in a range of 1,050-4,950 Pa s is produced.例文帳に追加

ポリマー、有機過酸化物およびアゾジカルボンアミドを配合して、フローテスターにおいて、温度１２０℃、圧力５００ＭＰａで測定される粘度が、１０５０〜４９５０Ｐａ・ｓである充填用発泡組成物からなるシート１を作製する。 - 特許庁

The connection unit 4 comprises a sensor attachment subunit 41 to which the smoke sensor 2 is attached, and a connection base subunit 42 for connecting the sensor attachment subunit 41 to the tester 1 by switching to any direction selected from two or more directions.例文帳に追加

接続部４は、煙感知器２が取り付けられる感知器取付部４１と、感知器取付部４１を、２以上の方向から選択された任意の方向に切り替えて試験装置１に接続する接続基部４２とを備える。 - 特許庁

To provide a method and device capable of performing more accurate electrical calibration regardless of the magnitude of the non-equilibrium state of a bridge, in a measuring instrument based on an active four-gauge method, and too provide a material tester which uses them.例文帳に追加

アクティブ４ゲージ法に基づく測定装置において、ブリッジの不平衡状態の大きさにかかわらず、より正確な電気的校正を行うことのできる方法と装置、およびこれらを用いた材料試験機を提供する。 - 特許庁

To perform precise inspection by shortening an electric path between an electrode on the rear surface of a substrate and a tester when inspecting a semiconductor device equipped with an electrode on both surfaces of the substrate (for example, a power semiconductor device) in wafer state.例文帳に追加

基板の両面に電極を備えた半導体デバイス（例えばパワー半導体デバイス）をウエハ状態のままで検査する場合に、基板の裏面の電極とテスタとの間の電気経路を短くすることで、精度良く検査する。 - 特許庁

To provide an artificial leak device capable of providing the relation between atmospheric pressure-converted leak quantity and change of detected pressure without determining a work capacity in an air leak tester and precisely and easily changing the leak quantity.例文帳に追加

エアリークテスタにおいて、ワーク容積を求めずに大気圧換算漏れ量と検出圧力の変化との関係を得ることができ、しかも漏れ量を正確にかつ簡単に変更することができる擬似漏れ装置を提供する。 - 特許庁

The tester body 10 has a pattern generator 12, a waveform rectifier 16, a signal correction circuit 40 and a measuring part 32 and in the signal correction circuit 40, a frequency controlling part 42 and an output signal correction part 44 are included.例文帳に追加

テスタ本体１０は、パターン発生器１２、波形整形器１６、信号修正回路４０及び測定部３２を有し、信号修正回路４０には、周波数制限部４２と出力信号修正部４４とが含まれる。 - 特許庁

An OBIRCH device M scans a sample T placed on a tester board 4 with laser beams and allows current to flow, detects a change in the resistance of the sample T by a change in current, and detects defects.例文帳に追加

ＯＢＩＲＣＨ装置Ｍは、テスターボード４の上に載置された試料Ｔにレーザビームを走査しながら照射するとともに電流を流し、電流の変化により試料Ｔの抵抗値変化を検出して、欠陥の検出を行う。 - 特許庁

To provide a ping tester, capable of receiving test information required for carrying out ping test from a maintenance person to execute the ping test, using the test information without forcing the maintenance person to operate complex operations.例文帳に追加

保守員に煩雑な操作を強いることなく、ｐｉｎｇ試験を行うために必要となる試験用情報を保守員から受け付け、その試験用情報を用いてｐｉｎｇ試験を実行することが可能なｐｉｎｇ試験機を提供する。 - 特許庁

In the sensor, because the terminal 5 is projected from the case 8 of the terminal 3, inspection can easily be performed by connecting the projecting terminal 5 with a tester in the case of inspection when manufactured or the like.例文帳に追加

この検知器によると、検査用端子５を速結端子３のケース８から突出させたので、製造時検査などにおいては、その突出した検査用端子５をテスターに接続することで容易にこの検査を行うことができる。 - 特許庁

In the rewritable recording medium, document information wherein bending moment at 15° by a tapered stiffness tester is ≥4, and all angles of externals are ≥120° can be repetitively recorded by rewriting.例文帳に追加

テーバー式剛度試験機による１５度での曲げモーメントが４以上であり、外形のすべての角が１２０度以上であることを特徴とする文書情報を繰り返し書き替え記録することができる書き替え可能な記録媒体。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus that reduces the number of unusable tester pins even when a pin multiplex function is used, and also reduces the number of processes for creating data necessary for generation of a test signal.例文帳に追加

ピンマルチプレクス機能を用いる場合であっても使用不可となるテスタピンの数を減らすことができ、且つ試験信号の生成に必要なデータ作成の作業工数を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of decreasing the number of input terminals of an LSI tester required for output measurement to be less than the number of output pins, and performing an adjacent leak measurement without changing connection of a probe.例文帳に追加

出力測定に必要なＬＳＩテスターの入力端子の数を出力ピン数よりも減少させ、かつ、プローブの接続を変更しなくても隣接リーク測定を行うことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor tester for implementing the automatic calibration of a test execution section at a predetermined interval at which a stable measurement operation is ensured, the automatic calibration is implemented in parallel with overhead factors other than the automatic calibration.例文帳に追加

安定した測定動作を保証する所定の周期でテスト実行部の自動校正を行う半導体テスト装置において、前記自動校正を、自動校正以外のオーバーヘッド要因と並行に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

The IC tester which tests an object under test is improved in such a way that the object is mounted on a performance board and that a signal is transferred via the POGO pin of a POGO pin block connected to the performance board.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をパフォーマンスボードに搭載し、このパフォーマンスボードに接続するポゴピンブロックのポゴピンを介して信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide an electrically connecting device capable of sufficiently securing the connection area to the tester on one surface of the wiring substrate even in the case of expanding of the probe area to the external area of the reinforcing plate because of enlarged probe substrate.例文帳に追加

プローブ基板の大型化によりそのプローブエリアが補強板の外方領域へ張り出す場合であっても、配線基板の一方の面上にテスタへの接続エリアを充分に確保することができる電気的接続装置を提供する。 - 特許庁

This tester is characterized in that it is composed of a voltage divider resistor part for generating a plurality of voltages by dividing the voltage, and a plurality of multiplexors for outputting the selecting voltages of the voltage divider resistor part and outputting the reference voltage of the liquid crystal driver.例文帳に追加

本装置は、分圧により、複数の電圧を発生する分圧抵抗部と、この分圧抵抗部の電圧を選択し、液晶駆動ドライバの基準電圧を出力する複数のマルチプレクサとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

By measuring the timing in an amplitude change point of the composed waveform, a time until the signal outputted from the driver 21-2n of the tester pin of the time confirmation target arrives at the short terminal 2S, i.e., the skew is accurately measured.例文帳に追加

この合成波形の振幅変化点のタイミングを測定することによって、時間確認対象となるテスタピンのドライバ２１〜２ｎから出力された信号がショート端に到達するまでの時間すなわちスキューを正確に計測する。 - 特許庁

To provide a tester for earth leakage breaker capable of performing the operational test of an earth leakage breaker without operating a measurement start button by merely bringing the measurement terminals thereof (single core measurement cord) into contact with the measurement points of the earth leakage breaker.例文帳に追加

漏電遮断器の測定点にテスタの（１芯の測定コードの）測定端子を接触させるだけで、測定開始ボタンを操作することなく漏電遮断器の動作テストを行える漏電遮断器テスタを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hybrid wireless terminal tester with simple configuration that conducts a communication test of the CDMA 1x(1xMC) system and a communication test of the CDMA 1xEV-DO system through the same wireless transmission path (the same RF channel).例文帳に追加

ＣＤＭＡ １ｘ（１ｘＭＣ）方式の通信試験と、ＣＤＭＡ １ｘＥＶ−ＤＯ方式の通信試験を、同一の無線伝送路（同一のＲＦチャネル）で行うハイブリッド無線端末テスタを簡単な構成で実現する。 - 特許庁

A guide block 54 is provided with the guide hole 59, and a tester base 68 is provided with the guide pin 69 to be engaged into the guide hole 59, and the guide pin 69 is provided with an air introduction port 70 communicated with a pneumatic circuit 81 through an air pipe 73.例文帳に追加

ガイドブロック５４にガイド孔５９を、テスタベース６８にガイド孔５９と係合するガイドピン６９を設けるとともに、ガイドピン６９にエア配管７３を介して空圧回路８１に連通するエア導入口７０を設けた。 - 特許庁

Further, a LSI tester 25 is provided with test patterns 29a, 29b being original data of the ROM code previously loaded for inspection, parity bits 30a, 30b corresponding to the test patterns 29a, 29b, and a comparison operation part 31.例文帳に追加

さらにＬＳＩテスタ２５には、検査のために予めローディングされたＲＯＭコードの元データであるテストパターン２９ａ、２９ｂと、テストパターン２９ａ、２９ｂに対応したパリティビット３０ａ、３０ｂと、比較演算部３１が設けられている。 - 特許庁

A gripping block (1), a grip fixture (2) held in the gripping block (1), the cutter (3) held in the gripping block (1) so as to be movable vertically, and a tensile tester 9 connected to the grip fixture (2), are provided to the bonding strength testing machine for the bonding wire.例文帳に追加

把持ブロック(1)と、把持ブロック(1)内に保持されたグリップ冶具(2)と、垂直方向に移動可能に把持ブロック(1)内に保持されたカッタ(3)と、グリップ冶具(2)に連結された引張試験機(9)とをボンディングワイヤの接合強度試験装置に設ける。 - 特許庁

As a result, the number of test items to be test NG can be reduced, thereby reducing the number of test items to be visually confirmed by a tester and performing an effective test to determine whether or not degradation is generated.例文帳に追加

この結果、検証ＮＧとなる試験項目数を減らすことができるので、試験者が目視確認を行う試験項目数を減らすことができ、デグレードが発生しているか否かを効率的に検証することが可能になる。 - 特許庁

To provide an analytical method for a scan test circuit in which a flip-flop having a nonconformity in a shift operation in a flip-flop chain of the scan test circuit is specified in a short time even without using a special analyzer such as an EB tester or the like.例文帳に追加

ＥＢテスタ等の特殊な解析装置を用いなくても、スキャンテスト回路のフリップフロップチェーンにおいてシフト動作に不具合のあるフリップフロップを短時間で特定可能なスキャンテスト回路の解析方法を提供する。 - 特許庁

To maintain safety of a human body even if a part of the human body should plunge into a slide area, during a slide motion of a hold part as to a load tester equipped with a slide mechanism that allows the hold part to slide with a load cell held thereon.例文帳に追加

荷重計を保持する保持部をスライドするスライド機構を備えた荷重試験機において、保持部のスライド動作中に、万が一人体の一部がスライド範囲に突入しても、人体の安全性を維持することを目的とする。 - 特許庁

A direct-current control voltage is applied directly to an input point Q1 of VCO 14 by an LSI tester 10, by paying attention to a potential ability of the VCO which is a component of a PLL circuit built in an LSI which is an inspection object.例文帳に追加

検査対象のＬＳＩに内蔵されるＰＬＬ回路の構成要素であるＶＣＯの、潜在的な能力に着目し、このＶＣＯ１４の入力点Ｑ１に、ＬＳＩテスタ１０が、直接に直流制御電圧を印加する。 - 特許庁

Provided is a core base paper for a cardboard sheet that shows the maximum value of ultrasonic wave transmission intensity T of at least one of a surface 1a and a rear face 1b measured by using a dynamic penetrability tester during a measurement time of 0.1-1.0 second.例文帳に追加

表面１ａ及び裏面１ｂの少なくとも一方の動的浸透性試験器を用いて測定した超音波伝達強度Ｔが、測定時間０．１〜１．０秒の間に最大値を示す段ボールシート用の中芯原紙とする。 - 特許庁

To provide a boundary scan test circuit capable of suppressing increase of the number of test patterns or a test time by an LSI tester, even when the number of boundary scan cells is increased following increase of the number of pins on a printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板におけるピン数の増加にともないバウンダリスキャンセルの数が増加した場合であっても、ＬＳＩテスタによるテストパターン数やテスト時間が増加するのを抑止することができる、バウンダリスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a sequence monitor for semiconductor testing device which has the function of accurately and easily indicating the transition variations of power on/power off, in a specified plurality of tester pins by a unit of pin group.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるシーケンスモニタ機能において、所定の複数テスタピンをピングループ単位として的確容易にパワーオン／パワーオフの遷移ばらつきを表示する機能を備える半導体試験装置のシーケンスモニタを提供する。 - 特許庁

Since the ID intrinsic to a chip is stored without loading a memory dedicated to the ID and fusion is performed by making a current flow to the fuse, data are written by using an LSI tester without using a device dedicated to fuse blowing.例文帳に追加

ＩＤ専用のメモリを搭載することなくチップ固有のＩＤを記憶させることができ、ヒューズに電流を流して溶断するので、ヒューズブロー専用の装置を用いることなく、ＬＳＩテスタを使ってデータを書き込むことができる。 - 特許庁

To inexpensively provide a drop and impact tester capable of subjecting an object to be tested to free fall, while maintaining a fixed dropping attitude and collide with a collision surface and obtaining accurate measurement data.例文帳に追加

本発明は、試験物の落下姿勢を一定に保った状態で自由落下させて衝突面に衝突させることができ、正確な測定データを得ることができる落下衝撃試験装置を安価に提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test method of a magnetic head, and a magnetic head tester in which test data is written without being affected by thermal drift even if servo information is not set to a magnetic disk or even if servo following is not performed.例文帳に追加

磁気ディスクにサーボ情報を設定しなくても、あるいはサーボフォローイングをしなくても熱ドリフトに影響されずにテストデータの書込ができ、磁気ヘッドの検査が可能な磁気ヘッドのテスト方法および磁気ヘッドテスターを提供することにある。 - 特許庁

At inspection of the IC, the anisotropic conductive sheet 1 is interposed between the IC 4 to be inspected and a tester side electric circuit substrate 5, and the IC 4 is pressed, whereby terminals 4a of the IC and electric pads 5a of the electric circuit are electrically connected.例文帳に追加

ＩＣの検査時には、異方導電性シート１を被検査ＩＣ４とテスタ側電気回路基板５との間に介在させてＩＣ４を押圧し、ＩＣ端子４ａと電気回路の電極パッド５ａを電気的に接続する。 - 特許庁

This tester is characterized by being equipped with a separation part for separating a measured signal outputted by the device under test into two or more and the plurality of time measuring parts for performing time measurement on signals into which the signal is separated by the separation part.例文帳に追加

本装置は、被試験対象が出力する被測定信号を複数に分離する分離部と、この分離部が分離した信号の時間測定を行う複数の時間測定部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

When performing the product inspection of the A/T 2, the characteristic value stored in the recording medium 16 is read by a completion inspection tester 18 and transmitted to the ECU 3 integral with the A/T by the CAN communication, the characteristic value being written in the ECU 3.例文帳に追加

Ａ／Ｔ２の完成品検査時には、完検テスタ１８が記録媒体１６に記憶されている特性値を読み込んでＡ／Ｔ一体ＥＣＵ３にＣＡＮ通信で送信し、この特性値がＥＣＵ３に書き込まれる。 - 特許庁