「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

To inexpensively realize a high performance head inspection by providing a dynamic electric test part and a static electric test part to which an external magnetic field can be applied in an electric tester in a magnetic head inspection device mounting a recording device and a magnetoresistive reproducing device.例文帳に追加

記録素子と磁気抵抗効果再生素子を搭載した磁気ヘッドの検査装置として、エレキテスター内に動的エレキテスト部と外部磁界印加可能な静エレキテスト部を備え、ヘッドの高性能検査を安価に実現する。 - 特許庁

A differential signal VRx1 between a test pattern signal VRx being an output from an input buffer 10 and an external reference voltage Vref applied by an LSI tester, and the like is applied to CDR12 to generate a clock signal CLK2.例文帳に追加

入力バッファ１０の出力であるテストパタン信号ＶＲｘとＬＳＩテスタ等より印加される外部基準電圧Ｖｒｅｆとの差動信号ＶＲｘ１がＣＤＲ１２に印加され、クロック信号ＣＬＫ２が生成される。 - 特許庁

The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.例文帳に追加

マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁

The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.例文帳に追加

本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a water permeability tester capable of accurately obtaining measurement results of a hardly water permeable rock bed material under a condition of high restraining pressure, high pore water pressure and a relatively low hydraulic gradient, the same as at a deep underground part.例文帳に追加

難透水性岩盤材料を対象とし、地下深部と同様の高い拘束圧、高い間隙水圧そして比較的低い動水勾配の条件下で精度良く測定結果を得ることができる透水試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a thermostatic tank for a material tester suppressing such a phenomenon that the load cell above the tank is heated by the high temp. air in the tank to generate a temp. drift even if the interior of the tank is heated to high temp. and capable of reducing heat loss at the same time.例文帳に追加

槽内を高温に加熱しても、その高温の空気が槽の上方のロードセルを加熱して温度ドリフトを生じることを抑制し、同時にヒートロスを少なくすることのできる材料試験機用の高温槽を提供する。 - 特許庁

ARTICLE RECOGNITION METHOD, COMPONENT TRANSFER METHOD, ARTICLE RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNT MACHINE EQUIPPED WITH THE ARTICLE RECOGNITION DEVICE, COMPONENT TESTER FOR THE SAME, DISPENSER FOR THE SAME, MOUNT SUBSTRATE INSPECTION DEVICE FOR THE SAME, AND PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTION DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

物品認識方法、部品移載方法及び物品認識装置、並びに同物品認識装置を備えた表面実装機、同部品試験装置、同ディスペンサ、同実装基板検査装置及び同印刷基板検査装置 - 特許庁

To provide a cytoscopy education support system capable of improving the cell classification ability of a tester who performs cytoscopy, without having an instructor spend much time teaching, a central device, a terminal unit and a computer program.例文帳に追加

指導者が指導に多くの時間を割くことなく、細胞検査を実行する検査者の細胞分類能力を向上させることができる細胞検査教育支援システム、中央装置、端末装置及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

This has no need of heating/cooling the adapter 3 having a high heat capacity and therefore allows the thermal load on the tester and hence the capacity of temperature control mechanisms to be reduced, thus intending to miniaturize the apparatus and reduce the cost owing to the reduction.例文帳に追加

熱容量の大きなアダプタ３を加熱冷却する必要がないので、試験装置にかかる熱負荷を小さくできるので、温度制御機構の容量を小さくでき、その分、装置の小型化、低コスト化を図ることができる。 - 特許庁

As a result, each of the ADSL circuits on the user side and the ADSL circuits within the station is led in to the circuit test interface 15, and a tester is connected to the circuit test interface 15, thus each circuit test can be implemented.例文帳に追加

この結果、ユーザ側のＡＤＳＬ回線および局内側のＡＤＳＬ回線それぞれを回線試験インタフェース１５まで引き込み、回線試験インタフェース１５に試験器を接続してそれぞれの回線試験を実施可能としている。 - 特許庁

In the electronic component tester testing electronic components under a prescribed temperature environment, a carrier 18 for mounting a lead frame 11, in which the plurality of electronic components 12 with built-in light emitting elements 14 are prepared is held by a socket 9.例文帳に追加

電子部品の試験を所定の温度環境下で行う電子部品試験装置において、発光素子１４を内蔵した電子部品１２が複数作り込まれたリードフレーム１１が装着されたキャリア１８をソケット９に保持させる。 - 特許庁

To provide an inspection method or the like of a semiconductor device capable of inspecting efficiently the semiconductor device from the viewpoint of a tester, when a plurality of kinds of semiconductor devices are formed on one silicon wafer.例文帳に追加

本発明は、一枚のシリコンウエハに複数種類の半導体デバイスを形成した場合において、テスターの観点から、各当該半導体デバイスを効率良く検査することができる半導体装置の検査方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a shear tester for a rock-bed discontinuous surface with relative displacement prevented from occurring between upper and lower shear boxes while offset load and stress prevented from concentrating at a shear test piece.例文帳に追加

上側せん断箱と下側せん断箱との相対的な位置のズレを防止すると共に、せん断供試体への偏重荷重及び応力集中を防止することができる岩盤不連続面のせん断試験装置を提供する。 - 特許庁

The toner for electrophotography whose 1/2 melting temperature measured by a flow tester is ≤115°C is used in the image forming method including at least the non-contact fixing method as an image fixing method.例文帳に追加

画像の定着方法として少なくとも非接触定着法を含む画像形成方法で使用されるトナーにおいて、フローテスターで測定した１／２溶融温度が１１５℃以下であることを特徴とする電子写真用トナー。 - 特許庁

To provide a high quality electrostatic tester for acquiring information sufficient to grasp the path of electrostatic discharge when electrostatic discharge test is performed and easily identifying the location of dielectric breakdown at its occurrence.例文帳に追加

静電気放電の試験実施時に、静電気放電の経路を把握するのに十分な情報を得ることができ、絶縁破壊が発生した場合にはその位置を容易に同定可能である高品質な静電気試験器を提供する。 - 特許庁

To provide a friction test method and a friction tester capable of measuring stably a friction coefficient at a dry time by solving a problem of generation of a denatured layer of rubber having high adhesion generated on the surface of a rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片の表面に発生する粘着力の高いゴムの変成層の発生の問題を解決し、ドライ時の摩擦係数の安定した測定を行うことが可能な摩擦試験方法及び摩擦試験機を提供する。 - 特許庁

At the time of inspecting the contact in this transporting device, a test work WT is placed on the levitation table 12 with its electric conductive surface positioned below, and a tester T is connected with the obverse surface of the levitation table 12 and the test work WT.例文帳に追加

かかる搬送装置の接触検査に際し、テストワークＷＴを導電性面側を下にして浮上テーブル１２に搭載するとともに、浮上テーブル１２の表面部とテストワークＷＴとにテスタＴを接続する。 - 特許庁

Moreover, the tester includes a cover 2 at the position facing a body 1 for hiding a gripped part of the banknote 100, and the central part of the cover 2 is provided with a see-through part 3 on which a lens is mounted for magnifying the part of the gripped banknote 100.例文帳に追加

また、本体１と対向する位置に、紙幣１００の把持された部分を覆うカバー２を有し、カバー２の中央には紙幣１００の把持された部分を拡大するレンズが取付けられた透視部３が設けられている。 - 特許庁

As a result, the tester 101 receives the system information unique to the power transmission and distribution system Ki from the information processor 102-i mounted on the power transmission and distribution system Ki and outputs the received system information on a display screen.例文帳に追加

この結果、テスタ１０１は、送配電系統Ｃｉに取り付けられた情報処理装置１０２−ｉから送配電系統Ｃｉ固有の系統情報を受信し、受信された系統情報を表示画面に出力する。 - 特許庁

To one of the GND terminals 14a, 14b, 14c provided in each of terminal blocks 15a, 15b, 15c that a device 12 to be measured equips, a GND forth line 5 and a GND sense line 6 from a semiconductor tester 10 are connected.例文帳に追加

被測定デバイス１２が備える回路ブロック１５ａ、１５ｂ、１５ｃそれぞれに設けられたＧＮＤ端子１４ａ、１４ｂ、１４ｃの１つに、半導体テスタ１０からのＧＮＤフォースライン５とＧＮＤセンスライン６とを接続する。 - 特許庁

Besides, verification data, which is encrypted for a secret key storing part 124, is input from an external device such as a memory tester, and a CPU 112 verifies whether the verification data is identical with data in the secret key storing part 124 or not.例文帳に追加

また、メモリテスタ等の外部装置から秘密鍵記憶部１２４のための暗号化された検証データを入力し、ＣＰＵ１１２がその検証データと秘密鍵記憶部１２４内のデータとが一致するか否かを検証する。 - 特許庁

To provide a method for testing vibration that substitutes a small mechanical piston cylinder for an electro-dynamic vibration tester of a vibration generation source and uses compressed air capable of easily generating a large excitation force, as power, and a device therefor.例文帳に追加

振動発生源である動電型振動試験機の代わりに、小さな機械系ピストンシリンダを用い、大きな加振力を簡単に発生できる圧縮空気を動力とする振動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

The tester processor 10 skips an actual pass decision and an actual fail decision which correspond to the pass value and the fail value, it calculates a next measuring position, and it executes an AC parametric test using a binary search method with reference to a DUT 100.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、これらのパス値およびフェイル値に対応する実際のパス判定、フェイル判定をスキップして、次の測定位置を計算して、ＤＵＴ１００に対するバイナリサーチ法を用いたＡＣパラメトリック試験を実施する。 - 特許庁

To provide a leakage tester for an endoscope which permits an imperfect water tightness of the closed condition of a check valve installed on the outer wall of the endoscope to be sensed and can more completely prevent a water leakage accident.例文帳に追加

内視鏡の外壁部に設けられた逆止弁の閉状態の水密性が不完全な場合にそれを検出することができ、内視鏡の水漏れ事故をより完全に防止することができる内視鏡用リーケージテスタを提供すること。 - 特許庁

To provide a sensitivity tester, capable of testing the sensitivity of a fire sensor with an easy input operation for recording a test result of each fire sensor and with a reduced fire sensor test time.例文帳に追加

火災感知器の感度を試験する場合、火災感知器毎の試験結果を記録するための入力作業が容易であり、また、火災感知器を試験する時間が短い感度試験器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

Thereby processing efficiency can be improved and specification of a defective level which cannot be relieved is made possible by performing defect analysis and defect relieving discrimination processing independenlty of the tester and a defect analyzing device.例文帳に追加

このように、不良解析及び不良救済判定処理をテスタ及び不良解析装置から独立して行うことで、処理効率を向上させることができ、また不良救済不可となった不良レベルの特定が可能である。 - 特許庁

To provide a continuity tester and its method for a semiconductor wafer for preventing damages to a wafer or an error in measurement, by making the temperatures uniform on a test stage.例文帳に追加

検査用ステージの温度の均一化を図ることにより、半導体ウエハの破損や測定ミスを防止することができる半導体ウエハの導通検査装置及びこれに用いられる導通検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test without using a tester can be made, by constructing test circuits on a probe card or on a wafer in which semiconductor chips to be tested are formed and by electrically connecting the test circuits respectively to the semiconductor chips to be tested for performing the test.例文帳に追加

プローブカードもしくはテストされる半導体チップが形成されるウエハ上にテスト回路を構成し、テスト回路とテストされる半導体チップとを電気的に接続してテストを行なうことで、テスタを用いることなくテストを行なえるようした。 - 特許庁

To provide a device hardly influenced by a noise or the like, capable of executing a high-speed test of a semiconductor device, concerning an external test auxiliary device suitable for improvement of measuring performance of a tester or for extension of its function.例文帳に追加

本発明はテスタの測定性能の向上やその機能の拡張を図る上で好適な外部試験補助装置に関し、ノイズ等の影響を受けにくく、かつ、半導体装置の高速試験を可能とする装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

Moreover, the inspection method for ISPs includes a step for connecting the ISP to the tester module for inspecting the ISP to determine whether it is conforming, and a step for performing the electric and image test of the ISP, while irradiating the ISP via the lens with a light or interrupting the light.例文帳に追加

また、ＩＳＰの検査方法は、ＩＳＰの良否を検査するテスターモジュールにＩＳＰを接続させる段階と、レンズを介して前記ＩＳＰに光を照射または遮断しながら、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行う段階と、を含む。 - 特許庁

To provide an automatic drive controller in a vehicle tester that can make the actual vehicle speed follow a vehicle speed variation pattern at a high accuracy and alter the accelerator pedal opening with an operation approximated to an accelerator pedal operation by an actual human being.例文帳に追加

実車速を車速変化パターンに高精度で追従させることが可能であって、現実の人間のアクセルペダル操作に近似した操作でアクセルペダル開度を変更することが可能な車両試験器における自動運転制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rope running inspection device for inspecting a running state of a wire rope, and to provide a rope rupture detection device capable of being used for a rope rupture detecting operation periodically performed so as to inspect the rupture of the wire rope without damaging a rope tester.例文帳に追加

ロープテスターに損傷を与えずにワイヤロープの破断を点検できるようにワイヤロープの走行状態を点検するロープ走行点検装置および定期的に行うロープ破断検出運転に使用し得るロープ破断検出装置を提供する。 - 特許庁

The in-circuit tester 11 is equipped with a first measurement circuit 17 for measuring the measuring object, a second measurement circuit 25 for measuring the contact resistance of a power supply pin 13, a controller unit 24, and a relay circuit 23 for performing a changeover of the individual circuits.例文帳に追加

インサーキットテスタ１１は、測定対象物を測定する第１測定回路１７、電源ピン１３の接触抵抗を測定する第２測定回路２５、制御装置２４、及び、前記各回路の切り替えを行うリレー回路２３を備えている。 - 特許庁

This tyre durability tester 1, comprising a rotating drum 2 for rotatively running a pneumatic tyre T, is equipped with a smell sensor 4 for detecting a smell emitted from the pneumatic tyre T rotatively running on the rotary drum 2, when it goes out of order.例文帳に追加

空気入りタイヤＴを回転走行させる回転ドラム２を有するタイヤ耐久試験装置１において、回転ドラム２上を回転走行する空気入りタイヤＴが故障した際に生じる臭いを検知する臭いセンサー４を備えている。 - 特許庁

To provide an ultrasonic propagation method which enables the propagation of a sheet wave between a probe and a test target even if the thickness or surface angle of the test target is varied, also to provide an ultrasonic propagation device using it and an ultrasonic tester.例文帳に追加

験体の厚みや表面の角度が変動しても探触子と試験体との間に板波を伝搬させることの可能な超音波伝搬方法並びにこれを用いた超音波伝搬装置及び超音波試験装置を提供すること。 - 特許庁

In an image sensor tester using clocks having a plurality of frequencies for performing an imaging test of a device to be measured via the performance board and a probe card, the generation circuit of clocks having the plurality of frequencies is arranged on the performance board or the probe card.例文帳に追加

複数の周波数のクロックを用い、パフォーマンスボードおよびプローブカードを介して被測定デバイスの撮像試験を行うイメージセンサテスタにおいて、前記複数の周波数のクロック発生回路を前記パフォーマンスボード又はプローブカード上に配置した。 - 特許庁

On receiving a variation pattern specifying command 31 for the next variation display, after waiting for 1 ms since the pattern display device error signal 53 is turned off, the respective pattern variation now signals 51, 54 are turned on, and the start of the next variation display is informed to the tester 19.例文帳に追加

次の変動表示の変動パターン指定コマンド３１を受信すると、図柄表示装置エラー信号５３のオフ後１ｍｓウエイトした後で、各図柄変動中信号５１，５４がオンされ、次の変動表示の開始が試験機１９へ報させる。 - 特許庁

To provide a high-speed tension tester capable of applying an impactive tensile load to a test piece under an intended speed, and capable of preventing observation of a state of the test piece during a test by a high-speed camera or the like from being disturbed.例文帳に追加

試験片に対して意図する速度のもとに衝撃的引張荷重を加えることができ、また、試験中における試験片の様子を高速度カメラ等により観察することを妨げることのない高速引張試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a distinguishing method for supporting force characteristic, a software, and storage medium for realizing a distinguishing device for a supporting force, a dynamic loading tester, and a distinguishing device for the supporting force, flexibly adaptable for various measuring points.例文帳に追加

本発明は、支持力特性判定装置、動的載荷試験装置、その支持力特性判定装置を実現する支持力特性判定方法、ソフトウエアおよび記憶媒体に関し、多様な測定点に柔軟に適応することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester having, in pin electronics, a terminating device that can terminate an output signal with improved waveform quality even if the current drive capacity of the output pin of DUT is small and is capable of measuring the timing of DUT precisely.例文帳に追加

ＤＵＴの出力ピンの電流駆動能力が小さい場合においても良好な波形品質で終端可能で、ＤＵＴのタイミング測定が精度良く測定可能な終端装置をピンエレクトロニクスに備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation information collecting system which can evaluate a content of a game in real time when a player and a tester think that the content of the game is "proper" or "improper" during a play.例文帳に追加

本発明は、プレイヤやテスターがゲームのプレイ中にゲームの内容が「良い」と思った時や「悪い」と思った時に、そのゲームのコンテンツについての評価を簡単な操作でリアルタイムに行うことができる評価情報収集システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

This device is acquired by improving a light pulse tester for measuring an optical fiber to be measured by return light of pulsing light, emitted to the optical fiber to be measured, displaying the measurement result on a display screen, and preserving the measurement result as the file.例文帳に追加

被測定光ファイバに出射したパルス光の戻り光によって被測定光ファイバの測定を行ない、測定結果を表示画面に表示し、測定結果をファイルとして保存する光パルス試験器に改良を加えたものである。 - 特許庁

To reliably detect a pseudo-contact between a print circuit board and a substrate part 2x mounted on the print circuit board, a crack in the substrate part 2x and the like in an in-circuit tester 1 performing an open test for a print substrate 2 either from the front or back side.例文帳に追加

プリント基板２のオープン検査を表裏いずれかの面より行うインサーキットテスタ１において、プリント配線板と当該プリント配線板に搭載された基板部品２ｘとの擬似接触や基板部品２ｘのクラックなどを確実に検出する。 - 特許庁

This paper sheet, treatment equipment is provide with a pretreatment machine 10 for supplying loose paper sheets to a tester after cutting a big belt and a small belt in turns from a bundle charged, and a concentrated control table 410 for controlling the pretreatment machine 10.例文帳に追加

紙葉類処理装置は、投入された束から大帯および小帯を順に切除してバラの紙葉類を検査機へ供給する前処理機１０、およびこの前処理機１０を制御する集中制御卓４１０を備えている。 - 特許庁

The period of an invalid state of this modified test signal can be adjusted, and the setup time/holding time of the signal for the memory can be measured by monitoring variation timing of this non-synchronous control signal PTX by an external tester.例文帳に追加

この修飾テスト信号の無効状態の期間を調整することができ、応じてこの非同期制御信号ＰＴＸの変化タイミングを外部のテスタでモニタすることにより、メモリに対する信号のセットアップ時間／ホールド時間を測定することができる。 - 特許庁