「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

Also, this tester comprises an inspection magnet 101 for operating the reed switches 201 provided in the position indicator 100 and is equipped with an inspection magnet moving body 3 capable of moving lengthwise of the position indicator 100.例文帳に追加

また、位置指示装置１００内に設けられているリードスイッチ２０１を動作させる検査磁石１０１を有し、位置指示装置１００の長手方向に移動可能な検査磁石移動体３を備える。 - 特許庁

The tester 1000S confirms the communication state of 100 Mbps according to whether or not an echo answer message replied to the echo request message arrives through a port 200S and displays the result.例文帳に追加

試験器１０００Ｓは、エコー要求電文に応答するエコー応答電文がポート２００Ｓを介して到来するか否かによって、１００Ｍｂｐｓにおける疎通状態を確認し、その結果を表示する。 - 特許庁

To easily measure a differential signal with immunity to noise without the need for complicated processing in spite of a simple configuration employing one comparator in the case that the comparator of an IC tester measures signals from a differential device.例文帳に追加

ＩＣテスタの比較器において、差動デバイスの測定をする場合に、１つの比較器による単純な構成で、複雑な処理をすることなく簡単に、ノイズに対しても影響がなく測定可能にする。 - 特許庁

To provide a substrate tester and a test condition setting method capable of selecting a test condition suited to a substrate even when surface pattern information of the substrate is unobtainable in advance.例文帳に追加

基板表面のパターンの情報が事前に得られなくても、基板に適した検査条件を選択することができる基板検査装置および検査条件設定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A pin name information setting part 11 sets and stores a device pin name and a tester pin number to be displayed, and a pattern ranking when outputting a file as pin information necessary for generating a sequential pattern.例文帳に追加

ピン名情報設定部１１は、シーケンシャルパターンの発生に必要なピン情報として、表示されるデバイスピン名、テスタピンナンバ、ファイル出力時のパターン順位等を設定し、それらの情報を記憶する。 - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

To obtain an apparatus and a method for inspecting a semiconductor capable of alleviating an operator's working load and enhancing an efficiency by interlocking a handler to a tester and substantially automating a rechecking work.例文帳に追加

ハンドラーとテスターを連動化し、再検査作業をほぼ自動化してオペレータの作業負担を軽減すると共に、効率化を図ることができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester for generating a flat-top pulse, as needed, by realizing high-speed direct measurement by on/off control of an electronic load part, by synchronizing it with a test pattern signal.例文帳に追加

テストパターン信号に同期して電子負荷部をオンオフ制御することにより高速直流測定が実現でき、必要に応じてフラットトップパルスを発生させることができるＩＣテスタを提供すること。 - 特許庁

The IC tester 1 adds the measurement number characteristic to each lot to the measurement result to be transmitted to the auto-handler 2 and transmits the result, and produces a measurement result file storing measurement data of each IC.例文帳に追加

ＩＣテスタ１は、オートハンドラ２へ送信する測定結果に、ロット毎に固有な測定番号を追加して送信し、それとともに、ＩＣ毎の測定データを格納した測定結果ファイルを作成する。 - 特許庁

In the vibrating/exciting tester for driving a linearly extending or contracting actuator and exciting a test piece according to arbitrary exciting characteristics, a disturbance absorbing weight member 11 is mounted at a movable portion of the actuator.例文帳に追加

直線状に伸縮するアクチュエータを駆動し、被試験体を任意の加振特性で加振する振動／加振試験機において、アクチュエータの可動部に外乱吸収用の錘部材１１を取り付ける。 - 特許庁

To enable measuring skewness between data being minute which is not satisfied by measurement accuracy of a tester device and to measure skewness between data of the worst case in a plurality of operation cycle.例文帳に追加

本発明は、テスタ装置の測定精度を上回るような極微小のデータ間スキュー測定を可能とし、複数の動作サイクルにおけるワーストケースのデータ間スキューを測定することを課題とする。 - 特許庁

An LSI tester 111 acquires the core number and the version number of the used IP, referring to the register block 106, and acquires the test pattern 114, referring to the test vector table 115.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１１１は、レジスタブロック１０６を参照して、利用されているＩＰのコア番号及びバージョン番号を獲得し、それによりテストベクタテーブル１１５を参照してテストパタン１１４を獲得する。 - 特許庁

The airtightness tester 10 contains an upper elastic ring 40 arranged in the plug tube 16; a lower elastic ring 42 arranged in the plughole 14; and a ring diameter extending mechanism 45 for extending the outer diameter of each ring.例文帳に追加

気密試験装置１０は、プラグチューブ１６に配置する上弾性体リング４０と、プラグ穴１４に配置する下弾性体リング４２と、各々のリング外径を拡径するリング拡径機構４５を備える。 - 特許庁

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加

ＩＣの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Three units, such as a signal tester 312 of a signal, a receiver 313 of a telephone mail, and a register 314 of the telephone mail are annexed to a general modem or communication installation 311 of a telephone mail box.例文帳に追加

電話メールボックスの一般的なモデムまたは通信設備３１１に、信号の信号検査装置３１２、電話メールの受信器３１３、電話メールのレジスタ３１４など三つのユニットを追加する。 - 特許庁

The test circuit 100 is provided with a first clock generator 101, a second clock generator 102, the circuit 103 to be tested, a built-in self test circuit 104 for performing the test, and a tester synchronization circuit 105.例文帳に追加

テスト回路１００は、第１のクロックジェネレータ１０１と、第２のクロックジェネレータ１０２、テスト対象回路１０３と、テストを行う組み込み自己テスト回路１０４と、テスタ同期回路１０５を備える。 - 特許庁

The torsion tester is equipped with a means for giving a torsion on the solder junction, a torque sensor 4 for detecting the torsion, and an angle meter for measuring the rotational angle.例文帳に追加

このねじり試験機は、上記はんだ接合部にねじり力を加える手段と、該ねじり力を検出するトルクセンサー４と、上記回転角度を測定する角度計３と、を具備するものである。 - 特許庁

To provide a hologram print tester in which a plurality of hologram images can be viewed at the same time from one observing direction, upon testing a hologram print in which different images emerge depending on the direction of sight.例文帳に追加

見る方向によって異なる像が浮かび上がるホログラム印刷を検査する際に、ひとつの視線方向から同時に複数のホログラム像を観察できるシンプルなホログラム印刷検査器を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1 in an integral manner, and a redundancy system 20 which performs redundancy operations using the result of testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０とを備える。 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加

簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Tester channels 301 to 30n are given serial patterns output from scan data memories SDM in synchronous with a cycle clock and primary patterns output from pattern memories so as to generate test patterns.例文帳に追加

テスタチャネル３０１〜３０ｎは、サイクルクロックに同期してスキャンデータメモリＳＤＭから出力されるシリアルパターンと、パターンメモリから出力されるプライマリパターンとを与えられて、テストパターンを発生していく。 - 特許庁

This epoxy resin composition consisting of (A) an epoxy resin, (B) a curing agent and (C) a filler is characterized by having the following characteristic shown by (1) in its melt viscosity curve by a flow tester.例文帳に追加

エポキシ樹脂（Ａ）、硬化剤（Ｂ）、充填材（Ｃ）からなるエポキシ樹脂組成物であって、フローテスターによる溶融粘度曲線において、次（１）に示す特徴を有することを特徴とするエポキシ樹脂組成物。 - 特許庁

To provide a pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, a substrate having a semiconductor device, a method of testing the semiconductor device and a tester for testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターを提供する。 - 特許庁

Then, measurement information 34 of each port stored in the whole system measurement information file 47 is designated by a port unit 49, physical IF module unit 50, and tester unit 51 so as to be edited.例文帳に追加

そして、システム全体測定情報ファイル４７に記憶された各ポートの測定情報３４を、ポート単位４９、物理ＩＦモジュール単位５０、試験機単位５１で指定して、編集可能としている。 - 特許庁

A parallel control signal is inputted from an LSI (large scale integrated circuit) tester 51 into a parallel input terminal 12 of this local oscillation signal generation device 50 in order to inspect an oscillation frequency variable region of VCO 1.例文帳に追加

ＶＣＯ１の発振周波数可変域を検査するために、ＬＳＩテスタ５１よりパラレル制御信号を局部発振信号発生装置５０のパラレル入力端子１２に入力する。 - 特許庁

To provide a level device for a light reception part of a headlight tester to solve a problem in work execution, and, at the same time, to easily secure the same level with respect to a vehicle under test.例文帳に追加

施工上の問題点を解消できる反面、被試験車両に対して同等の水準を容易に確保することができるヘッドライトテスタの受光部用水準装置を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor processor is provided with a tester for inspecting a semiconductor device, a display unit 25, a control unit 21, an IC (Integrated Circuit) tag reader 29, and an auxiliary storage 23 for storing authority imparted to each operator.例文帳に追加

半導体処理装置は、半導体装置を検査するテスタと、表示部２５と、制御部２１と、ＩＣタグリーダ２９と、各オペレータに与えられた権限を記憶する補助記憶部２３とを備える。 - 特許庁

By giving a test function to the alarm device like this, the test can be executed automatically inside the dwelling unit without executing the test by an inspector by connecting an external tester from the outside of the dwelling unit.例文帳に追加

このように、警報装置に試験機能を持たせることにより、点検員が住戸外から外部試験器を接続して試験を行うことなく、住戸内で自動的に試験を実施することができる。 - 特許庁

During measurements using this leak tester 2, all of selector valves 6, 8, 10, 20, 22, 24,... are first opened and a pressurized gas is introduced from a pressurized gas source 4 into workpieces W1, W2, W3,... and a master M.例文帳に追加

リークテスタ２を用いた測定時には、まず全ての開閉弁６，８，１０，２０，２２，２４，…が開かれて、加圧気体源４から各ワークＷ１，Ｗ２，Ｗ３，…およびマスタＭ内に加圧気体が導入される。 - 特許庁

A top of probe pin 110 of a probing tester is put in contact with a pad of an electrode pattern 102a, and a prescribed signal is received through the probe pin 110 to measure the characteristics for each element.例文帳に追加

プロービング検査装置のプローブピン１１０の先端を、電極パターン１０２ａのパッド部に当接させ、プローブピン１１０を介して所定の信号を授受することで、素子毎に特性を測定する。 - 特許庁

The guide hole 59 is provided on a guide block 54, and the guide pin 69 to be engaged with the guide hole 59 is provided on a tester base 68, and an insulating layer 60 is provided on the inner circumferential surface 59a of the guide hole 59.例文帳に追加

ガイドブロック５４にガイド孔５９を、テスタベース６８にガイド孔５９と係合するガイドピン６９を設けるとともに、ガイド孔５９の内周面５９ａに絶縁層６０を設けた。 - 特許庁

After deciding a type, a stage, and a color blindness correction spectral characteristic curve using a color blind tester, a basic chip is dyed and a membrane system is designed based on the spectral characteristic curve.例文帳に追加

色覚検査器を使って、その種別や段階、そして色盲補正スペクトクル特性曲線を決定した後、基片の着色を行い、スペクトクル特性曲線に基づいて膜系を設計する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that is capable of executing, at high frequencies, a disturb test which requires a long time for testing, when a burn-in tester which can supply only clocks with low frequencies is used.例文帳に追加

低周波数のクロックしか供給できないバーンインテスタを用いた場合であっても、テストに長時間を要するディスターブテストを、高周波数で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

Failure display by a failure diagnostic tester uses the date/time data to show a failure occurrence sequence of individual failure points about each electronic control unit, so that the cause of the failure is easily specified.例文帳に追加

故障診断テスタによる故障表示において日時データにより各電子制御装置に関わる個々の故障個所の故障発生順序が示され、故障原因の特定が容易になる。 - 特許庁

At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).例文帳に追加

非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁

In order to achieve the purpose, in this invention, using a device waveform which is the characteristic of an optical pulse tester 10, an OTDR waveform prediction part 12 calculates a prediction waveform to be measured in the optical pulse tester 10 when an event is measured in an object 100 to be measured, a difference calculation part 13 compares the prediction waveform and an actual measured waveform, and thus the event is detected.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本願発明は、光パルス試験器１０の特性である装置波形を用いて、ＯＴＤＲ波形予測部１２が被測定対象１００でイベントが測定された場合に光パルス試験器１０で測定されるべき予測波形を算出し、差分算出部１３が予測波形と実際の測定波形とを比較することで、イベントを検出することを特徴とする。 - 特許庁

A system for performing the function test of the microcomputer by impressing a test signal by a tester to the microcomputer and detecting its expected value is provided with a test synchronizing signal generation circuit 1 generating the timing of detecting an input signal asynchronously inputted to the reference clock of the microcomputer as a test synchronizing signal, and the test synchronizing signal by the circuit 1 is supplied to the tester.例文帳に追加

マイクロコンピュータにテスタによるテスト信号を印加し、その期待値を検出することによりマイクロコンピュータのファンクションテストを行うものにおいて、マイクロコンピュータの基準クロックに対して非同期に入る入力信号を検出するタイミングをテスト同期信号として発生するテスト同期信号発生回路１を設け、テスト同期信号発生回路１によるテスト同期信号を前記テスタに供給する。 - 特許庁

To more enhance the reproducibility of a test by effectively eliminating an unstable element like friction resistance when dropping a holding part for holding a test object while corresponding even to a test large in dropping height without bringing about the scaling-up of a tester, in a drop tester for performing a drop impact test by dropping the test object on a landing surface in a free fall state.例文帳に追加

試験対象物を自由落下状態で落下させて着地面に衝突させることで落下衝撃試験を行う落下試験装置について、試験対象物を保持した保持部の落下時における摩擦抵抗のような不安定要素を有効に解消して試験の再現性をより高めることを可能とし、また装置の大型化を招かずに落下高さの高い試験にも対応することを可能とする。 - 特許庁

In the testing method of the semiconductor integrated circuit for detecting a short between pins of the semiconductor integrated circuit having a plurality of pins, the IC tester or the semiconductor integrated circuit generates a pulse or step signal in a desired pin of the semiconductor integrated circuit, and the IC tester determines a short between pins based on the waveform from the pin of the semiconductor integrated circuit adjacent to the desired pin.例文帳に追加

本発明は、複数のピンを有する半導体集積回路のピン間ショートを検出する半導体集積回路の試験方法において、ＩＣテスタまたは半導体集積回路が、半導体集積回路の所望ピンにパルスまたはステップ信号を発生し、ＩＣテスタが、所望ピンに隣接する半導体集積回路のピンからの波形によりピン間ショートの判定を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

Within the unit, a high-frequency return tester 11, a power attenuator 12, an error rate monitoring section 14, respective switchers and a return control section 13 are provided for diagnosing a reserve transmitter 6 and a reserve receiver 8.例文帳に追加

装置内に予備送信機６及び予備受信機８を診断するための、高周波折り返し試験機１１、電力減衰器１２、誤り率監視部１４、各切替器及び折り返し制御部１３を設ける。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

This heating tester for heat sensor has a container provided with an opening for storing hot water, a lid equipped with a hole and freely movable between the bottom of the said container and the said opening, and a supporting means for supporting the said container.例文帳に追加

湯を収容し、開口を具備する容器と、透孔を具備し、上記容器の底と上記開口との間で移動自在である蓋と、上記容器を支持する支持手段とを有する熱感知器の加熱試験器である。 - 特許庁

In a test by tester handler, the defective mode stored in the nonvolatile memory circuit for a defective product is read out during defect analysis, a defective product having a defective mode required for analysis is selected.例文帳に追加

テスタ・ハンドラによる試験において、上記不良解析時に不良製品について不揮発性記憶回路に記憶された不良モードを読み出して、解析に必要な不良モードを持つ不良製品を選別する。 - 特許庁

The environment tester 1 is provided with an opening 15, and inside an internal tub 10a, the shelf member composed of a plurality of divided shelf members 25 and 26 and a shelf member support part 12 projecting inwardly the internal tub 10a are provided.例文帳に追加

環境試験器１は開口１５を有し、内部槽１０ａの内部には、複数の分割棚部材２５、２６からなる棚部材と、内部槽１０ａ内部に突出する棚部材支持部１２とが設けられている。 - 特許庁