「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

Consequently, the address data of the output register 32 are read out to an external tester, etc., through an input/output pad, and it can be checked whether or not the input address data themselves are correct.例文帳に追加

これにより、出力レジスタのアドレスデータが入出力パッドを通して外部のテスターなどに読み出され、入力アドレスデータそのものを正しいかどうかチェックできる。 - 特許庁

To test a high-speed clock recovery operation with respect to an LSI used by the receiving side of a digital communication, using an LSI tester which is relatively low-speed and inexpensive.例文帳に追加

ディジタル通信の受信側で使用されるＬＳＩに対して、比較的低速の廉価なＬＳＩテスタを用いて高速のクロックリカバリ動作の試験をおこなうこと。 - 特許庁

The pressure P2 inside of the chamber 10 is detected by a leak tester 20, and then the pressure P3 inside of the chamber 10 after the lapse of a predetermined time is detected.例文帳に追加

リークテスター２０により、チャンバ１０の内部の圧力Ｐ２が検出されたのち、所定の時間の経過後におけるチャンバ１０の内部の圧力Ｐ３が検出される。 - 特許庁

An abrasion detection device 80 for measuring a resistance value between the guide block 54 and the tester base 68 with the guide pin 69 inserted into the guide hole 59 is provided.例文帳に追加

そして、ガイド孔５９にガイドピン６９が貫挿された状態での、ガイドブロック５４とテスタベース６８との間の抵抗値を測定する摩耗検出装置８０を設けた。 - 特許庁

To provide a power measuring instrument for modulated signal and a wireless unit tester, capable of measuring power with high accuracy, even when the magnitude of crest factor fluctuates.例文帳に追加

クレストファクタの大きさが変動する場合であっても、パワー測定を高確度で行なえる変調信号のパワー測定装置および無線機テスタを実現することにある。 - 特許庁

To provide a calibration board capable of calibrating an electronic component tester attached with a socket of a type with a contact terminal getting into a housing.例文帳に追加

コンタクト端子がハウジング内に入り込んでいるタイプのソケットを装着した電子部品試験装置のキャリブレーションを行うことを可能とするキャリブレーションボードを提供する。 - 特許庁

On the one surface of the probe substrate, fixing parts are provided, having screw holes opening upward, and on the other surface of the probe substrate, probes to be connected to a tester are provided.例文帳に追加

プローブ基板の一方の面には、頂部に開放するねじ穴を有する固定部が設けられ、他方の面にはテスタに接続されるプローブが設けられている。 - 特許庁

To provide a non-destructive tester capable of more accurately detecting exfoliated portions of a coating by removing an effect of variations in measured data by reducing heating irregularity.例文帳に追加

加熱ムラを低減することで、測定データのばらつきの影響を排除し、コーティングの剥離部分をより正確に検出可能な非破壊検査装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which an operation test can be performed using original reference voltage obtained after minute adjustment without largely complexing a tester.例文帳に追加

テスタを大幅に複雑化させることなく、微調整後に得られる本来の基準電圧を用いて動作試験を行うことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A technology is disclosed that independent states of a test by the external tester, BIST, and BISR are set in accordance with the another instruction signal and performed automatically.例文帳に追加

本発明は別途の命令信号に応じて外部テスタによるテスト、ＢＩＳＴ及びＢＩＳＲの独立的な状態を設定して自動に行なう技術を開示する。 - 特許庁

The external tester is subsequently indicated to impress a normal load and overcurrent load on each voltage level of a selective card throttle.例文帳に追加

外部テスタは次に、選択されたカード・スロットの各電圧レベルに公称負荷と過電流負荷を印加するよう、選択されたカード・スロットにあるテスト・アダプタ・カードに指示する。 - 特許庁

The signal tester 312 mainly judges and identifies information come from the modem or communication installation 311 and a data line, such as a data signal wire 60, for example, a RS 232.例文帳に追加

信号検査装置３１２は主にモデムまたは通信設備３１１及びデータ信号ワイヤ６０例えばＲＳ２３２などのデータラインからきた情報を判断・識別する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device that saves the space for a probe device and prevents a tester for testing a wafer from decreasing in availability.例文帳に追加

プローブ装置の省スペース化を実現すると共に、ウェハをテストするテスタの稼働率の低下を防止することができる半導体検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of impressing a proper off-set voltage without setting the off-set voltage by a test program, and capable of suppressing an overrange.例文帳に追加

オフセット電圧をテストプログラムで設定することなく、適切なオフセット電圧を与えることができ、オーバーレンジを抑制できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

The IC tester controls the length of the period of the digital clock in the digital testing part by the number of frequencies and makes it synchronize with the analog clock of the analog testing part.例文帳に追加

本装置は、デジタル試験部におけるデジタルクロックの周期長を、周期数により制御し、アナログ試験部のアナログクロックに同期させることを特徴とする装置である。 - 特許庁

The transmission-reception circuit 16 is used for restoring or reshaping signals received from the semiconductor wafer 2 via the capacitive or inductive bond, and sending them to a tester 12.例文帳に追加

送受信回路１６は、容量性結合又は誘導性結合を介して半導体ウエハ２から受信した信号を復元又は整形して、テスタ１２に送る。 - 特許庁

In burn-in testing or testing a USB function 5 by means of a tester, the communication data D1 held by the nonvolatile memory 7 are given to the USB function 5 via a selector 8.例文帳に追加

バーンイン試験時又はテスタによるＵＳＢファンクション５の試験時には、不揮発性メモリ７が保持する通信データＤ１をセレクタ８を介してＵＳＢファンクション５に与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester for improving the process efficiency of a controller, the synchronization accuracy of a control, and the total test efficiency.例文帳に追加

制御装置の処理効率を高め、更には制御の同期精度を高めることで、全体の試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DETECTING DEFECT, IMAGE SENSOR DEVICE AND MODULE, IMAGE PROCESSING APPARATUS, DIGITAL IMAGE-QUALITY TESTER, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検出装置、イメージセンサデバイス、イメージセンサモジュール、画像処理装置、デジタル画像品質テスタ、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、およびコンピュータ読取可能な記録媒体 - 特許庁

Acceleration information handled by a feedforward system 2 is previously stored in a target acceleration generator 14 in an engine bench tester for automatically calculating throttle opening θ.例文帳に追加

スロットル開度θを自動演算するエンジンベンチ試験器に対し、フィードフォワード系２で扱う加速度情報を目標加速度発生器１４に予め記憶させておく。 - 特許庁

A plurality of the first measurement modules receive the trigger signal through the trigger bus, and the IC tester for testing a to-be-tested object is modified.例文帳に追加

本発明は、複数の第１計測モジュールがトリガバスを介してトリガ信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The tester 100 has input ports 105, 115 having an input terminal for receiving test signals from a probe 300 and a power output terminal for feeding power, respectively.例文帳に追加

試験機器１００の入力ポート１０５、１１５の各々は、プローブ３００からの試験信号を受ける入力端子と、電力を供給する電源出力端子を有する。 - 特許庁

To provide an optical pulse tester in which the preliminary amplification of an electric signal is not required, whose costs can be reduced and which can perform a high-accuracy measurement.例文帳に追加

電気信号の予備的な増幅が不要であって、コストの低減が可能であり、精度の高い測定を行うことができる光パルス試験器を提供すること。 - 特許庁

After the printed board 100 is heated by a furnace 2, each probe is pressed to each pad in a detection part 3 and a resistance value between the pads is measured by using a tester 70.例文帳に追加

プリント基板１００は、加熱炉２により加熱された後、検査部３においてパッドに対してプローブが押し当てられて、パッド間の抵抗値がテスタ７０により測定される。 - 特許庁

To provide a digital protective relay wherein relay calculation, the verification of sequence logic, and comprehensive performance test can be carried out by simulating a system failure without any special tester.例文帳に追加

特別な試験器をなくとも系統故障時の模擬による、リレー演算やシーケンスロジックの検証や総合動作試験が実施可能なディジタル保護リレーを提供する。 - 特許庁

To realize a pulse light tester capable of setting a suitable distance range by detecting a far end position of the testing optical fiber even there is a variation of noise floor level.例文帳に追加

ノイズフロアレベルの変動があったとしても、被測定光ファイバの遠端位置を検出し、最適な距離レンジを設定する光パルス試験器を実現することにある。 - 特許庁

The identification result of presence/absence of the specific character string is stored in the external tester 2, thereby determining the normality of the electronic mail such as garbled characters and the lack of characters.例文帳に追加

外部試験器２に特定の文字列の有無の識別結果を蓄積することにより文字化け、文字の欠落等の電子メールの正常性を判断することが可能となる。 - 特許庁

The probe card including a plurality of probes to be brought into contact with electrodes to be inspected and power supply channels for electrically connecting the probes to the tester and an inspection apparatus are disclosed.例文帳に追加

検査対象物の電極に接触させる複数のプローブと、当該プローブとテスタとを電気的に接続する電源チャネルとを備えたプローブカード及び検査装置である。 - 特許庁

To provide an ejection tester keeping excessive pressure from acting on an acceleration tube even where a sabot and a flying object are separated from each other by a sabot stopper, and preventing the sabot from scattering.例文帳に追加

サボーと飛翔体をサボーストッパーで分離しても、加速管に過大な圧力が作用せず、しかもサボーの飛散を防止できる射出試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize an integrated circuit which reduces the time for DC performance test, tests even with a tester having no testing circuit necessary for DC performance test.例文帳に追加

ＤＣ特性試験に要する時間を短縮でき、ＤＣ特性試験に必要な測定回路を有さないテスタでも試験が行える集積回路の実現を目的とする。 - 特許庁

To provide a measuring instrument equipped with test probes, which allows measurement with a tester by an operator singly and can adjust the spacing between a pair of test probes easily.例文帳に追加

作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供する。 - 特許庁

The effective frequency of scanning motion is increased, and simultaneously the memory capacity can be increased by multiplexing two or more state data to each tester memory position 42, 44.例文帳に追加

複数の状態データを各テスタメモリ位置(42及び44)に多重化することによって、スキャン動作の実効周波数を高くし、同時にメモリ容量を大きくすることができる。 - 特許庁

To provide a vacuum circuit breaker vacuum tester capable of shortening a test period, figuring out a decreased level of vacuum degree, and being applied to existing vacuum circuit breakers.例文帳に追加

試験時間の短縮化および真空度の低下度合いの把握が図れるとともに既設の真空遮断器にも適用可能な真空遮断器真空試験器を提供する。 - 特許庁

On an operation/display device, limit periods on consumption articles are previously input thereinto while automatically displaying operating periods and remaining periods according to the service conditions of this tester.例文帳に追加

操作・表示装置上で消耗品の限度時間を入力しておくとともに、装置の使用状態にしたがって稼動時間と残り時間を自動的に表示する。 - 特許庁

By means of this improved IC tester, a test signal is given to a test object, and the test object is tested according to an output from itself.例文帳に追加

本発明は、被試験対象に試験信号を与え、被試験対象の出力により被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a probe device for electric circuit inspection capable of connecting easily a connector to the terminal of a tester, when inspecting circuit operation of an inspection object having the connector.例文帳に追加

コネクタを有している被検査物の回路動作の検査を行う時に、コネクタとテスタの端子の接続が容易に行える電気回路検査用プローブ装置の実現。 - 特許庁

The surge tester 100 controls surge electric power impressed on the testing object 2 based on the value of a surge current impressed on the testing object 2 and the input signal.例文帳に追加

サージ試験装置１００は、被試験対象２に印加するサージ電力を、被試験対象２に印加されたサージ電流の値及び入力信号に基づいて制御する。 - 特許庁

At the time, as each read out data is simultaneously outputted from each corresponding output terminal, when all output terminals are not connected to a tester, efficiency is low.例文帳に追加

このとき、読み出される各データは、対応する出力端子からそれぞれ同時に出力されるため、全ての出力端子をテスタに接続しなければならず効率が悪い。 - 特許庁

When an operator inputs a start instruction from an input unit 1, a controller 2 checks if the test operation of an IC tester 4 has paused or not upon receipt thereof.例文帳に追加

オペレータが入力装置１から起動指示を入力すると、それを受けた制御部２がＩＣ試験装置４の試験動作が一時停止中か否かを確認する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can test an internal memory at high speed by using a PLL prepared inside by an external clock from an external low speed tester.例文帳に追加

外部の低速なテスタからの外部クロックにより内部に設けられたＰＬＬを使用して、内部メモリを高速にテストできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

In the back-fill molded body in the anode material, breaking strength by a Kiya hardness tester is ≥50 kgf/cm2 or density is ≥1.5 g/cm3.例文帳に追加

この流電陽極材のバックフィル成形体は、木屋式硬度計による破壊強さが５０ｋｇｆ／ｃｍ^2以上であるか、密度が１.５ｇ／ｃｍ^3以上である。 - 特許庁

In a high side type migration tester 1, when a lead wire L1 and a lead wire L2 are connected, an output voltage from an operation amplifier A5 is equal to a voltage of a current terminal Tc1.例文帳に追加

ハイサイド型マイグレーションテスター１では、リード線Ｌ１及びリード線Ｌ２が接続されている場合、オペアンプＡ５の出力電圧は、電流端子Ｔｃ１の電圧と等しい。 - 特許庁

To provide a micro-indentation tester capable of performing the calibration of an apparatus accurately, simply, and easily and capable of performing measurement accurately and simply.例文帳に追加

装置の校正を正確で且つ簡単・容易に行うことができると共に、測定を正確且つ簡単に行えるようにした微小押し込み試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which enables easy testing of variation in an output clock frequency of a built-in clock generator, outside an LSI chip, by a digital tester.例文帳に追加

内蔵されたクロックジェネレータの出力クロック周波数の変動をＬＳＩチップ外部でデジタルテスタにより容易に試験できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and its inspection method capable of measuring a high-accuracy semiconductor integrated circuit with high accuracy, by using a low-price low-accuracy IC tester.例文帳に追加

低価格で低精度のＩＣテスタを使用して、高精度の半導体集積回路を高精度に測定することができる半導体検査装置及びその検査方法を得る。 - 特許庁