「Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an ophthalmological photographing apparatus capable of improving handleability for a tester and reducing observation/imaging burdens for a testee by providing the degree of freedom of selection for invalidating only some functions corresponding to the skill of the tester or the like among a plurality of automatic operation functions included in an automatic photographing mode.例文帳に追加

自動撮影モードに含まれる複数の自動動作機能のうち、検者の熟練度等に応じて一部の機能のみを無効とする選択自由度を持たせることで、検者にとっては使い勝手を向上することができ、被検者にとっては観察／撮影負担を軽減することができる眼科撮影装置を提供すること。 - 特許庁

The AND or OR circuit 24 or 25 generates one signal which can detect abnormality even when the abnormality exists in only one output buffer 21 from the compared results and inputs the signal to a circuit 50 for comparing expected value of LSI tester on a tester side from a test result outputting terminal 13 to judge the normal/ abnormal state of the DC tests.例文帳に追加

ＡＮＤ回路又はＯＲ回路は前記比較結果から前記出力バッファ中１個でも異常があるとこれを検出し得るひとつの信号を作成し、これをテスト結果出力端子からテスタ側のＬＳＩテスタ期待値比較回路に入力して、ＤＣテストの正常異常を判定させる。 - 特許庁

A minute plane on which an indentation can be produced by a Rockwell hardness tester is provided in a part between a cutting edge and a cutting edge, and the indentation is formed on the surface by the Rockwell hardness tester so as to confirm the adhesion strength between the base metal and the coating film of each physically deposited cutting tool.例文帳に追加

切れ刃と切れ刃の間の部分に、ロックウェル硬さ計による打痕が可能な微小な平面を設けることにより、この面にロックウェル硬さ計による圧痕を打痕することにより、母材とコーティング被膜との密着強度を物理蒸着された個々の切削工具について確認可能とする。 - 特許庁

A tester section 11 generates a strobe signal, determines normal/ defective conditions of a memory cell bit, when the number of defective bits are numbers in a range in which relieving can be performed in the row direction, the tester section 11 artificially makes a Y line in the column direction defective by generating a dummy strobe signal, and generates a relieving code of the column direction.例文帳に追加

テスター部１１はストローブ信号を発生してメモリセル・ビットの良／不良を判定し、不良ビット数がロウ方向で救済できるで範囲内であった場合、上記テスター部１１は、ダミーのストローブ信号を発生することによって擬似的にカラム方向のＹライン不良にして、カラム方向の救済コードを発生する。 - 特許庁

The semiconductor inspection jig is provided with an inspection jig 103 having a socket for mounting an IC to be tested, and a tester head 101 having a plurality of signal pins brought into contact with a plurality of contactors of the inspection jig, and has the structure in which an insulation member 102 intervenes between the inspection jig 103 and the tester head 101.例文帳に追加

被試験ＩＣを載置するためのソケットを有する検査治具１０３と、検査治具の複数の接触子と接触する複数の信号ピンを有するテスタヘッド１０１とを備える半導体検査治具であって、検査治具１０３とテスタヘッド１０１との間に絶縁部材１０２を介在させた構造を有する。 - 特許庁

To provide a heating tester capable of closing an air chamber formed by a tester body and a base tube by a wall face of a small-size heat sensor, properly maintaining a distance between a heat sensing part and a heat generation part, and preventing a scorch of a ceiling face or heating deformation of the small-size heat sensor caused by overheating.例文帳に追加

試験器本体と台筒で形成された空気室を小型熱感知器の壁面で閉鎖することができ、感熱部と熱生成部との距離を適度に保つとともに、過剰加熱による小型熱感知器の加熱変形や天井面の焦げつきを防止することができる加熱試験器を提供することを目的とする。 - 特許庁

With this constitution, since a plurality of response signal output terminals DOi (i=1, 2, 3,..., n) of the semiconductor device 1 can be connected in common to one terminal of the LSI tester, the number of terminals of the LSI tester can be reduced, and the number of semiconductor devices which can be tested in parallel together can be increased.例文帳に追加

これにより、複数の半導体デバイス１の応答信号出力端子ＤＯｉ（ｉ＝１，２…ｎ）をＬＳＩテスタの１個の端子に共通接続することができるので、ＬＳＩテスタの端子数を削減し、１台のＬＳＩテスタにより１度にパラレルテストできる半導体デバイス個数を増やすことができる。 - 特許庁

A meter for measuring a temperature in the weatherproof optical tester, is the thermometer for the weatherproof optical tester as the black panel thermometer or the black standard thermometer, and has the liquid crystal display on the front side and a reflection means for reflecting the light received on the back side of a body and illuminating the liquid crystal display.例文帳に追加

耐候光試験機において温度を測定するための計器であって、表側に液晶表示部を有し、かつ、本体の裏面方向から受けた光を反射して当該液晶表示部を照らす反射手段を有するブラックパネル温度計又はブラックスタンダード温度計であることを特徴とする耐候光試験機用温度計。 - 特許庁

The system is provided with a set value acquiring means for acquiring a set value set to the virtual tester means from the virtual tester means on the test program, and a converting means for converting the set value from the set value acquiring means into wide use format data easily performing conversion on the test program.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムに基づいて、仮想テスタ手段に設定された設定値を、仮想テスタ手段から取得する設定値取得手段と、この設定値取得手段からの設定値を、テストプログラムに変換が容易に行える汎用フォーマットデータに変換する変換手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.例文帳に追加

語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In this clamp mechanism for the IC tester which presses a performance board to be mounted on the test head of the IC tester, the board pressing portion which presses the performance board comprises a pair of counterposed pressing plates, and these pressing plates are united in a slidable way complementarily with a uniting means.例文帳に追加

ＩＣテスタのテストヘッドに搭載されるパフォーマンスボードを押しつけるＩＣテスタのクランプ機構において、パフォーマンスボードを押さえるボード押さえ部は、対向配置された一対の押さえプレートを含み、これら押さえプレートは連結手段により相補的に摺動可能に連結されたことを特徴とするＩＣテスタのクランプ機構。 - 特許庁

A high-speed test signal transmission control part 24 generates a predetermined high-speed test signal to be transmitted to the semiconductor device 4 based on an instruction from the LSI tester 3, and outputs the generated high-speed test signal to a second driver 25 in predetermined timing based on the output instruction from the LSI tester 3.例文帳に追加

高速テスト信号送信制御部２４は、ＬＳＩテスタ３からの指令に基づき、半導体装置４に送信すべき所定の高速テスト信号を生成し、ＬＳＩテスタ３からの出力指令に基づいて所定のタイミングで、その生成する高速テスト信号を第２ドライバ２５に出力する。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

To provide a voltage measuring method which can effectively prevent the deterioration of a measurement accuracy when it is applied to a case where e.g. the ON-resistance of a photo-MOS relay is measured by an IC tester and when a voltage is measured, by driving a current in a state that an object to be inspected is driven by a drive source in the IC tester.例文帳に追加

本発明は、電圧測定方法に関し、例えばＩＣテスタによりフォトモスリレーのオン抵抗を測定する場合に適用して、ＩＣテスタにおいて、駆動源により検査対象を駆動した状態で、電流駆動により電圧を測定する場合に、測定精度の劣化を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

This apparatus is configured to output the data indicating at least the physical strength of the tester to at least paper or a display according to the lit lamps 4, the data of the touch sensor 1 where the tester touches and the data of the age, gender and the like of the tester.例文帳に追加

体験者が操作する複数のタッチセンサ１と、各タッチセンサ１を特定するランプ４と、タッチセンサをタッチしたことに応じてランプ４を点灯するようにするとともに、体験者の年齢や性別などのデータに応じ、ランプ４で複数のタッチセンサ１のどれを操作するか体験者に指示し、光ったランプ４と体験者がタッチしたタッチセンサ１からのデータと体験者の年齢や性別などのデータに応じて体験者の少なくとも体力を示すデータを少なくとも紙あるいはディスプレイに出力するようにした。 - 特許庁

To facilitate the analysis of a faulty circuit by specifying a part at which a failure has occurred, one point of failure examination at measurement on a device though the use of a tester.例文帳に追加

デバイスのテスタ測定時に不良調査ポイントの一つである不良発生箇所の特定を行うことで、故障回路の解析を容易にすることを課題とする。 - 特許庁

To obtain a material tester capable of detecting the development of a crack in a film material low in rigidity such as a coating film or the like to automatically stop a load mechanism.例文帳に追加

塗膜等の低剛性の膜体に亀裂が発生したことを検知して、負荷機構を自動的に停止することのできる膜体試験用材料試験機を提供する。 - 特許庁

Therefore, an expensive chip tester is made unnecessary and the inspection time of the chip to be tested is shortened by simultaneous parallel inspection, whereby a considerable cost reduction effect is obtained in the chip test.例文帳に追加

これにより、高価なチップテスターが不用になり、また同時並列検査によって被テストチップの検査時間も短縮し、チップテストにおいて大幅なコスト削減効果が得られる。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

To easily make clear a mutual relation among a printed circuit board, a test jig and a tester pin number to facilitate trouble analysis for the printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板と、テスト治具と、テスタピン番号の相互関係を容易に明確にすることによりプリント回路基板の故障解析を容易に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.例文帳に追加

被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁

This makes it possible to prevent an overrange due to an induction voltage or incapable measurement from occurring when performing continuity test or electrical resistance measurement on an apparatus by using this digital tester.例文帳に追加

これにより、ディジタルテスタによる機器の導通テストや電気抵抗測定の際に、誘導電圧のためにオーバーレンジになったり、測定不能になったりするのを防止できる。 - 特許庁

To provide a measuring device such as a leak tester capable of guaranteeing measurement accuracy, while reducing a user load, preventing surely a failure, and thereby reducing repair cost.例文帳に追加

ユーザーの負担を軽減しつつ、測定精度を保証できるとともに、故障を確実に防止して修理費用を削減できるリークテスタなどの測定装置を提供する。 - 特許庁

To realize an IC tester for outputting an IQ-modulation signal, which has high relative accuracy of an I-signal and a Q-signal and which can curb a high cost component.例文帳に追加

Ｉ信号、Ｑ信号の相対精度が高く、高価格部品を抑制できるＩＱ変調信号を出力するＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

LVDS transmitter 4 is connected to a digital output terminal of a general purposed LSI tester 1 and its output is applied to an LVDS signal input 3a of an ASIC 2.例文帳に追加

汎用のＬＳＩテスタ１のデジタル出力端子にＬＶＤＳトランスミッタ４を接続し、この出力をＡＳＩＣ２のＬＶＤＳ信号入力部３ａに入力する。 - 特許庁

To provide an automatic transmission (A/T) tester which can check for effect on A/T under the vibrations generated by the operation of the engine in the performance test of the A/T.例文帳に追加

Ａ／Ｔの性能試験において，エンジンの運転により発生した振動によってＡ／Ｔが受ける影響について確認できるＡ／Ｔ試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation system capable of evaluating the input-output characteristics, simply and accurately in a short time and a compact charge/discharge tester incorporating the system.例文帳に追加

簡便で精度が高く、かつ、短時間で入出力特性が評価可能な評価システム及びこのシステムを組み込んだコンパクトな充放電試験装置を提供する。 - 特許庁

As long as at least one sensor portion 30 is mounted on grounding equipment or a tester, a display 23 is lit and an interlock signal continues to output.例文帳に追加

接地器具や試験器等に少なくとも１つのセンサ部３０が取付けられている限り、表示器２３が点灯され且つインターロック信号の出力が継続される。 - 特許庁

To provide a strength measuring jig having a small dimension and constituted so as to measure the tensile strength of a test piece capable of being adapted even to a strength tester having only a push-in function.例文帳に追加

小さな寸法で、かつ押し込み機能しか持たない強度試験機にも適用できる試験片の引張り強度を測定するための強度測定用治具を得る。 - 特許庁

A nearly box shape casing 60 is attached to a base 10 of the game machine checking device, and then, a main body part 51 of the electric tester 50 is stored in a casing 60.例文帳に追加

遊技機検査装置の台座１０に略箱状のケーシング６０を取り付けて、同ケーシング６０に電気テスター５０の本体部５１を着脱可能に収容する。 - 特許庁

In this state, a voltage is generated between output terminals to measure a leak current between output terminals by a voltage generating and current measuring circuit included in an LSI tester.例文帳に追加

この状態で、ＬＳＩテスタに含まれる電圧発生電流測定回路により出力端子間に電圧を発生させ出力端子間のリーク電流を測定する。 - 特許庁

To shorten the test time for outputting the test results for plural test objects in ECU(electronic control unit) to the tester side so as to improve test efficiency.例文帳に追加

ＥＣＵ（電子制御ユニット）における複数の検査対象に対する検査結果を検査テスタ側に出力する際の検査時間を短縮し検査効率を向上すること。 - 特許庁

The devices (A-C)2-1 to 2-3 are respectively cascaded to the ATM tester 1 via transmission path cables 100-103, and execute the transmission of an ATM cell for testing.例文帳に追加

装置（Ａ〜Ｃ）２−１〜２−３各々は伝送路ケーブル１００〜１０３を介してＡＴＭ試験器１に縦続接続されており、試験用ＡＴＭセルの伝送を行う。 - 特許庁

To confirm the high-frequency signal output operation of an output circuit of a semiconductor device by using a general-purpose tester capable of performing only measurement at a low frequency.例文帳に追加

低周波数での測定のみが行える汎用テスタを使用して、半導体装置の出力回路の高周波信号出力動作を確認可能にすること。 - 特許庁

This invention is achieved by improving an IC tester which provides an object to be tested with a test pattern and compares output of the object to be tested with an expected value to perform tests.例文帳に追加

本発明は、被試験対象に試験パターンを与え、被試験対象の出力と期待値とを比較し、試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a power generator tester for easily testing whether a power generator fully exhibits its performance in operation and objectively testifying the execution of test.例文帳に追加

発電機が充分に性能を発揮して運転できるか否かを容易に試験できると共に、試験実施を客観的に証明できる発電機試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a hardness tester capable of performing acceptance determination to a test result suitably through visual sensation, and determining easily a cause of an unacceptable case.例文帳に追加

試験した結果に対する合否判断を、視覚を通じて好適に行うことができ、不合格の場合の原因を判断しやすい硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Confirmation of the braking force (a braking test) can be performed with a brake tester for imaging the operation by the braking indication with a camera 24 to allow confirming with a monitor 26 without need to get out the vehicle.例文帳に追加

この制動力の確認（ブレーキ検査）はブレーキテスタで実施でき、ブレーキ指示による作動をカメラ２４で撮影しモニタ２６で降車することなく確認できる。 - 特許庁

To provide a low temperature tension tester that minimizes entering of heat from outside and stably conducts a test even in an extreme low temperature state of 30 K or lower.例文帳に追加

外部からの熱侵入を極力排除し、３０Ｋ以下の超低温状態でも安定して試験を行うことができる低温引張試験機を提供する。 - 特許庁

To realize a switching circuit, requiring no high-speed analog arithmetic circuit with proper off-isolation characteristic at high frequency and an IC tester using it.例文帳に追加

高周波でのオフアイソレーション特性がよく、高速のアナログ加算回路を必要としないスイッチ回路及びこれを用いたＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

The crosslinked rubber 1 has a loss factor of between 0.01 and 0.45 measured with a Sprit Hopkinson rod tester, the collision speed of the impact rod of which is 14.0 m/s.例文帳に追加

この架橋ゴム１は、打撃棒の衝突速度が１４．０ｍ／ｓであるスプリットホプキンソン棒試験機によって測定された損失係数が０．０１以上０．４５以下である。 - 特許庁

To provide an electron beam tester, capable of easily correcting the effects of potential contrast which occurs in an electric component and speedily measuring the voltage of the electric component.例文帳に追加

電気部品に生じた電位コントラストの影響を容易に補正し、電気部品の電圧測定を速やかに行うことができる電子ビームテスタを提供すること。 - 特許庁

An external testing device 17 as a logic tester outputs a test start command to the automatic rewriting circuit 16, and then starts the operation test of the logic circuit 14.例文帳に追加

そして、ロジックテスタとしての外部の試験装置１７は、上記自動書換え回路１６に試験開始指令を出力した後、ロジック回路１４の動作試験を開始する。 - 特許庁