「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(210ページ目) - Weblio英語例文検索

The electrode patterns for testing are extended beyond cutting-off lines L to the material substrate exclusive of the substrate for the display element and are connected to common electrodes (4 and 7).例文帳に追加

テスト用電極パターンは、切り取りライン（Ｌ）を越えて表示素子用基板の外の材料基板に延設され、共通電極（４，７）に接続される。 - 特許庁

The simulation testing apparatus 1 performs simulated travel according to a corrected travel prescribed value, so that travel nearly agreeing with the train information of an actual train becomes possible.例文帳に追加

模擬試験装置１は補正された走行規定値に従って模擬走行するので、実列車の列車情報とほぼ一致した走行が可能になる。 - 特許庁

To provide a tool for leak test for rapidly and certainly performing sealing to an testing object portion of the pipe to which a flange is attached.例文帳に追加

フランジが取り付けられた配管の検査対象部分に対する封止を、短時間で確実に実施可能とする漏洩検査用治具を提供することである。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control device 10 that functions as a network address translating device for translating a network address of a communication device.例文帳に追加

試験装置９００は、通信装置のネットワークアドレスを変換するネットワークアドレス変換装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A test method for an electronic component for realizing the optimization of a testing period is composed of selecting earliest measurement day (Dm) by a first test day (D0).例文帳に追加

テスト期間の最適化を実現する電子部品のテスト方法は、最初のテスト日（Ｄ０）から最先の測定日（Ｄｍ）を選択することから成る。 - 特許庁

To provide a testing device for brake performance evaluation for automatically returning a brake pedal to the origin when a brake stepping operation is stopped.例文帳に追加

ブレーキ踏み込み動作を停止させた場合に、ブレーキペダルを自動的に原点復帰させることのできるブレーキ性能評価試験装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device, an algorithmic pattern generator has an address generation part and a scrambler, which has a plurality of the scramble memory.例文帳に追加

半導体試験装置であって、アルゴリズミックパターン発生器はアドレス発生部とスクランブラを有し、該スクランブラは複数のスクランブルメモリを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a pin electronic card capable of outputting two outputs in a condition assigned in one tester pin.例文帳に追加

１つのテスタピンに指定された条件で２つの出力を出力することができるピンエレクトロニクスカードを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module capable of testing with high accuracy the connecting state of an internal connection between semiconductor devices, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置間の内部結線の接続状態をより高精度に試験することが可能な半導体モジュールおよび半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus capable of shortening the writing time of format data and improving throughput and provide its method.例文帳に追加

フォーマットデータの書き込み時間を短縮し、スループットの向上を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To generate a circuit description for testing a circuit to be tested through simple processing without requiring large-scaled work, such as the table-type database generating work.例文帳に追加

テーブル形式のデータベース作成等の大がかりな作業を必要とすることなく、簡単な処理で、対象回路のテスト用回路記述を生成する。 - 特許庁

By using a surfactant to stabilize the colloidal particles when the testing liquid is in contact with other substances, the colloidal particles are increasingly stabilized.例文帳に追加

試験液を他の物質に接触させた際の該コロイド粒子を安定させるために界面活性剤を使用する事でコロイド粒子の安定化を増加させる。 - 特許庁

To provide a method for cleaning a substrate treatment apparatus which dislikes foreign matter, such as manufacturing apparatuses or testing apparatuses for semiconductors and flat panel displays.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイなどの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system which allows a person in charge of development or trouble correction of a software to efficiently identify correction places and contents when testing the software.例文帳に追加

ソフトウェアの試験の際、開発担当者や不具合修正者が修正箇所や修正内容を効率よく特定できるシステムを提供する。 - 特許庁

To provide test result data with a high degree of freedom for a user of a semiconductor integrated circuit testing device and to reduce cost on the utilization.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置のユーザがより高い自由度で試験結果データを利用することができると共に、当該利用に関するコストを低減する。 - 特許庁

The projecting parts 50a are lighted on and off with a driving frequency of several hundred Hz higher than the frequency of a commercial AC power supply to emit testing light.例文帳に追加

商用交流電源の周波数より高い数百ヘルツ以上の駆動周波数にて投光部５０ａを明滅させて検査光を発射する。 - 特許庁

To provide a testing implement for chromatography, allowing quick examination, and capable of precluding a chromatograph carrier from being corroding by a hemocyte in blood, even when a time lapses.例文帳に追加

迅速な検査が可能であり且つ時間が経過しても血液中の血球がクロマトグラフ担体を侵食することがないクロマトグラフィー用試験具を提供する。 - 特許庁

Nitrogen gas N2 or dry air pressurized in the object 1 to be tested is applied by closing a valve V1 to open valves V3, V5 after testing the helium leakage.例文帳に追加

ヘリウムリークテスト終了後、バルブＶ１を閉にし、バルブＶ３、Ｖ５を開にして、被試験体１の内部に加圧された窒素ガスＮ２または乾燥空気を加える。 - 特許庁

To easily debug a program for testing a semiconductor for a semiconductor device operating, based on packet data such as a packet transfer type memory device.例文帳に追加

パケット転送型メモリデバイスのようにパケットデータに基づいて動作する半導体デバイスに対する半導体試験用プログラムを容易にデバッグできるようにする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MOUNTING STRUCTURE, ITS MOUNTING METHOD, ITS TESTING METHOD, ITS QUALITY DISPLAYING METHOD, ITS TRANSPORTING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、その実装構造、その実装方法、その試験方法、その品質表示方法、その運搬方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a corrosion-proof testing device for performing safely a corrosion test by salt water, hydrofluoric acid, sulfuric acid or nitric acid in the air, hydrogen or oxygen.例文帳に追加

空気・水素・酸素中において、塩水・フッ化水素酸・硫酸・硝酸による腐食試験が安全にできる耐腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

The high pressure control oil O makes flow from the port of the testing solenoid valve 21 into the main steam stop valve 21, and the main steam stop valve 2 is opened.例文帳に追加

動作試験にあたり、蒸気弁閉指令が出力され、第１ソレノイド２３が励磁し、主蒸気止め弁２への高圧制御油Ｏを遮断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software.例文帳に追加

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method for evaluating the rigidity and long-term heat resistance of a brake piston made of a resin in a high temperature atmosphere.例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの高温雰囲気中における剛性、長期耐熱性を評価する試験装置並びにその試験方法を提供する。 - 特許庁

A system 30 for testing a digital circuit by the scanning chain includes a tester 21, and the circuit 24 under the test as the whole or portion thereof.例文帳に追加

走査チェーンによってディジタル回路をテストするためのシステム３０は、テスター２１、およびその全てあるいは部分としてテスト中回路２４を含んでいる。 - 特許庁

The high production or cost reduction of the semiconductor device is attained by performing an element test of the semiconductor element 20 with this element testing device 1.例文帳に追加

このような素子試験装置１を用いて、半導体素子２０の素子試験を行うことにより、半導体装置の高生産または低コスト化が実現する。 - 特許庁

SEALABILITY TESTING DEVICE OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN, AND SEALABILITY TEST METHOD OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN USING THE DEVICE例文帳に追加

接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験装置及びこれを用いた接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験方法 - 特許庁

The apparatus and method are particularly useful for digital signal processing in communications and for performing digital transition timing testing on a device under test.例文帳に追加

装置および方法は、通信におけるデジタル信号処理および試験対象デバイスについてデジタル遷移タイミング試験を実行するのに特に有効である。 - 特許庁

The level acceptable by the consumer is set by providing the method for testing complex embrittlement by assuming the wearing, the washing, the drying in the sun, and the chlorine bleaching.例文帳に追加

洗濯、洗濯、日干乾燥や塩素漂白を想定した複合脆化試験の方法を提案し消費者が許容し得るレベルを設定する。 - 特許庁

When simultaneously testing a plurality of semiconductor memories, operation of a defective semiconductor memory is prevented from affecting the tests of the other semiconductor memories.例文帳に追加

複数の半導体メモリを同時に試験するときに、正常に動作しない半導体メモリの動作が他の半導体メモリの試験に影響することを防止できる。 - 特許庁

Each semiconductor chip region is provided with a testing bonding pad 3 in at least any side out of the sides of the polygons adjacent to each other, respectively.例文帳に追加

各半導体チップ領域はそれぞれ互いに隣接する多角形の辺のうちの少なくともいずれかの辺に試験用ボンディングパッド３を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing increase in cost and degradation in signal waveform, by preventing crossing of connection wires at a test head.例文帳に追加

テストヘッドにおける接続線の交差を解消することで、コストの上昇や信号波形の劣化を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In the electronic beam-testing system, electron beams are applied to a semiconductor integrated circuit device to be analyzed for acquiring potential contrast to be analyzed.例文帳に追加

被解析対象物である半導体集積回路装置に、電子ビームを照射して解析のための電位コントラストを取得する電子ビームテストシステムである。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing in a destructive or undestructive way an artificial femur head having a blind bore which receives the edge of an artificial thigh bone rod.例文帳に追加

人工大腿骨ロッドの端部を受けるブラインド穴を有する人工大腿骨頭を、破壊的または非破壊的に試験する装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a scalable and appropriately priced network testing apparatus capable of more realistically emulating network traffic and network volume.例文帳に追加

ネットワークトラフィック及びネットワーク量のより現実的なエミュレーションを行うことができるスケーラブルで且つ手ごろな価格のネットワーク試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a filtering device for filtering data transmitted from a terminal to a server.例文帳に追加

試験装置９００は、端末からサーバへ送信されるデータをフィルタリングするフィルタリング装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a dynamic cone penetration testing and sampling machine capable of concurrently performing penetration test and sampling in the same test hole.例文帳に追加

同一試験孔にて貫入試験でもサンプリングでも同時進行的に実施することができる動的コーン貫入試験機兼サンプリング機を提供する。 - 特許庁

To record history of game states accurately without grouping state signals in testing game machines with a plurality of game states changing simultaneously.例文帳に追加

複数の遊技状態が同時に変化し得る遊技機を試験する際に、状態信号をグループ化することなく遊技状態の履歴を正確に記録する。 - 特許庁

To provide a method for testing a gene for predicting the risk of glaucoma onset from a relationship between a glaucoma associated gene and glaucoma onset.例文帳に追加

緑内障関連遺伝子と緑内障発症の関係から、緑内障の発症リスクを事前に予知するための遺伝子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and its adjusting method capable of adjusting the timing with high accuracy, and in a short time.例文帳に追加

高精度のタイミング調整が可能であり、且つ短時間でタイミング調整を行うことができる半導体試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of accurately detecting the temperature change in a transmission path in which a signal is transmitted and performing the calibration.例文帳に追加

信号が伝送される伝送経路での温度変化を正確に検出して校正を行うことが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To stabilize the resistance between the electrode of a semiconductor device and the electrode of a testing substrate and suppress and adverse effect due to high frequency current and voltage.例文帳に追加

半導体装置の電極と試験基板の電極間の抵抗値を安定させ、かつ高周波の電流や電圧による悪影響を抑制する。 - 特許庁

To provide a test device for lens array capable of testing a lens array having an eccentric lens in which the optical axis position deviates from the geometrical center of lens.例文帳に追加

光軸位置がレンズの幾何学的な中心からずれている偏心レンズを有するレンズアレイの検査を行うことが可能なレンズアレイの検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus with a low failure rate, a minimum calibration time, and high accuracy through the use of a calibration wafer having a short circuit.例文帳に追加

ショート回路を有するキャリブレーションウェハを用い、故障率が低く、キャリブレーション時間が最小で、精度の高い半導体試験装置を実現する。 - 特許庁