「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(212ページ目) - Weblio英語例文検索

These vehicles are not-for-sale, and for purposes such as research, testing, and training purposes in order to more clearly understand customer preferences. 例文帳に追加

これらの自動車は，販売用ではなく，消費者の趣向をより明確に理解するための例えば研究，試験及び訓練目的のものである。 - 経済産業省

Private business, therefore, better evaluates risks, analyzes consumer preferences and expectations, thus testing the technologies for potential commercial success.例文帳に追加

したがって，民間事業者はリスクを評価し，消費者の選好及び期待を分析することで，その技術の潜在的な商業的成功を測っている。 - 経済産業省

The three Ministries have also been disclosing the results of the testing by reporting to the relevant councils and by posting numerical data on the websites of the three Ministries. 例文帳に追加

これらの試験の結果については、これまで、関係審議会への報告や、数値データの３省ホームページへの掲載等を通して公表してきている。 - 経済産業省

To provide a semiconductor testing device for preventing a fall of a performance board by using an inexpensive sensor to detect a small inclination of a test head.例文帳に追加

安価なセンサを使用してテストヘッドの小さな傾きを検出し、パフォーマンスボードの落下を防止することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a thermal fatigue testing device that can check the thermal fatigue behavior of a rotary member in fluid with complicated temperature fluctuation.例文帳に追加

本発明の目的は、複雑な温度変動をする流体中にある回転部材の熱疲労挙動が調べられる熱疲労試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide technique capable of easily testing a circuit board for outputting the drive signal of an image formation section, such as a liquid crystal panel in a projector.例文帳に追加

プロジェクタにおいて液晶パネルなどの画像形成部の駆動信号を出力するための回路基板の検査を容易に行う技術を提供する。 - 特許庁

To reduce the warpage of a probe card substrate by uniformizing the structure for mounting the probe card substrate and its reinforcing member to a probe card holding member with respect to a semiconductor device testing apparatus whose several probe needles are brought into contact with semiconductor devices of a semiconductor wafer, and to provide a semiconductor device testing method using it.例文帳に追加

複数のプローブ針を半導体ウエハの半導体素子に接触させる形式の半導体素子試験装置とそれを用いた半導体素子試験方法において、プローブカード基板と、それに対する補強部材を、プローブカード保持部材に取り付ける構造を均一化し、プローブカード基板の反りを軽減する。 - 特許庁

When acquiring design data of a design object circuit having a function corresponding to a customer need, this circuit testing device 100 generates a circuit testing mechanism 110 enabling failure detection corresponding to whether an object circuit 102 designated as a test object is an OR circuit or an AND circuit, in the design object circuit.例文帳に追加

回路試験装置１００は、顧客ニーズに応じた機能を備えた設計対象回路の設計データを取得すると、この設計対象回路のうち、試験対象に指定された対象回路１０２がＯＲ回路かＡＮＤ回路かに応じて、故障検出を可能にするための回路試験機構１１０を生成する。 - 特許庁

This testing device is characterized, by installing the actuators 21, 31 having projection-shaped protruding portions 22, 32 on the rotating drum mechanism parts 20, 30 installed in the rough road running testing device 1, and controlling by extending and retracting the protruding portion 22, 32 by the actuators 21, 31, to form the projection parts on the surfaces of the rotating drum mechanism part 20, 30.例文帳に追加

悪路走行試験装置１に設けられた回転ドラム機構部２０、３０には、凸形状の突起部２２、３２を有するアクチュエータ２１、３１を設け、このアクチュエータ２１、３１により突起部２２、３２を伸縮制御して、回転ドラム機構部２０、３０の表面に凸部を形成してなることを特徴とする。 - 特許庁

A testing device main body 4 which is fitted to a drill 1 by a fitting member 3 and mounted on the fitting member 3 to be able to move in the axial direction of the drill 1 is provided, and the testing device main body 4 is rotated during the operation of the drill 1 and has a rotary plate 6 with a reagent surface for receiving the boring powder.例文帳に追加

ドリル削孔機１に取付け部体３をもって取付けられ、ドリル軸方向に移動可能に前記取付け部体３に搭載された検査装置本体４とを備え、前記検査装置本体４が、前記ドリル削孔機１の削孔時に回転して削孔粉を受ける試薬面付き回転板６を有している。 - 特許庁

A diode 11 is provided in a current-carrying path from a PWM converter 2 over to a storage battery 3 and an inverter 4, a normally-closed contact 12 is connected in parallel to this diode 11, the output voltage of the PWM converter 2 is reduced on testing the battery 3, and also the normally- closed contact 12 is open when testing the storage battery 3.例文帳に追加

ＰＷＭコンバータ２から蓄電池３およびインバータ４にかけての通電路にダイオード１１を設け、このダイオード１１と並列に常閉接点１２を接続し、蓄電池３の試験に際しＰＷＭコンバータ２の出力電圧を低減するとともに常閉接点１２を開放作動する。 - 特許庁

A testing vehicle 5 passed through moving linearly on a road within a measuring area is photographed by a camera for photographing the measuring area, the parameter as to the photographing condition of the camera is calculated on the basis of a photographed image of the testing vehicle 5, and a speed of the vehicle or the like is measured using the calculated parameter.例文帳に追加

計測領域内の道路上を直線的に移動ながら通過する試験車両５を、計測領域を撮影するカメラで撮影し、その試験車両５の撮影画像に基づいて、カメラの撮影条件に関するパラメータを算出するとともに、算出したパラメータを用いて車両の速度などを計測する。 - 特許庁

The dynamo-electric type vibration testing device executes external force calculation processing, using a displacement amount xs of the testing object mounting part obtained from a displacement sensor 131, an acceleration value (d^2xs/dt^2) obtained from an acceleration sensor 133, and a current value I of a driving coil 125 obtained from an ammeter 135.例文帳に追加

また、動電式振動試験装置１では、変位センサ１３１から得られる試験体載置部の変位量ｘｓ及び加速度センサ１３３から得られる加速度値（ｄ^２ｘｓ／ｄｔ^２）、及び電流計１３５から得られる駆動コイル１２５の電流値Ｉを用いて外力算出処理を実行する。 - 特許庁

This semiconductor testing device has a semiconductor testing circuit 101 having a driver 110 for making and outputting a test signal corresponding to a test pattern to a test object device 20, replica drivers 120 and 130 for generating a comparison signal by synthesizing the test signal and a reference signal and resistances 122a, 122b, 132a and 132b.例文帳に追加

本発明にかかる半導体試験装置は、試験パターンに対応する試験信号を生成し試験対象装置２０に出力するドライバー１１０と、試験信号と基準信号とを合成した比較信号を生成するレプリカドライバー１２０，１３０および抵抗１２２ａ，１２２ｂ，１３２ａ，１３２ｂとを備えた半導体試験回路１０１を有する。 - 特許庁

To allow a testing apparatus to perform measurement easily and quickly even if there are a plurality of signals for measuring a frequency by applying to the testing apparatus of an integrated circuit that is operated by the signal of each kind of operation reference obtained by dividing for example a reference signal by each kind of dividing ratio.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば基準信号を各種分周比で分周して得られる各種動作基準の信号で動作する集積回路の試験装置に適用して、周波数を測定する信号が複数存在する場合でも、簡易かつ短い時間で測定することができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing method which can perform a stable and accurate test even if an external signal is inputted to perform a test without connecting a crystal oscillator and shorten a test time without being affected by an oscillation start time in a testing method for measuring the current consumption of an inverter in a constant current type oscillation circuit.例文帳に追加

定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。 - 特許庁

Also, by attaching the bar-code labels 3 to materials used in respective works or containers for them, a tool, testing equipment or a device and reading the bar-code labels 3 in working, the manufacturing method for the electric rotary machine coils (including at least either the materials to be used, the manufacturing method, a testing method or work conditions) is recorded and managed.例文帳に追加

また、各作業で用いられる使用材料若しくはその容器，工具、又は試験器具若しくは装置にもバーコードラベル３を付け、作業の際にそれらのバーコードラベル３を読み取り、電気回転機コイルの製作手法（使用材料，製作方法，試験方法又は作業状況の少なくとも何れか含む）を記録管理する。 - 特許庁

The radio base station device 4 of the present invention sends a monitor/control signal to a monitor device 1 loop back to the radio-side interface in the radio base station device 4 and uses a testing call for the monitor/control signal set in the radio base station device 4 to has a function capable of monitoring and control from a testing monitor device 7.例文帳に追加

本発明の無線基地局装置４は、監視装置１への監視・制御信号を無線基地局装置４内部で無線側インタフェースに折り返し、無線基地局装置４内に設定した監視・制御信号用の試験用呼を使って、試験用監視装置７から監視、制御ができる機能を保有する。 - 特許庁

A base station apparatus 10, having function parts 1A, 1B, 1C for performing general communication treatment has a test function part 11 for testing states of the function parts 1A, 1B, 1C, by receiving a request for inquiry about the state of the base station apparatus 10, and the function part 11 conducts testing of the function parts 10A, 10B, 10C.例文帳に追加

一般の通話処理を行う機能部１Ａ、１Ｂ、１Ｃを持つ基地局装置１０が、基地局装置１０の状態問い合わせ要求を受けてその機能部の状態について試験する試験機能部を備えて、試験機能部１１により前記機能部１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの試験を行う。 - 特許庁

To easily form an alignment mark that can be recognized by an existing wafer prober for a semiconductor device, that has a plurality of semiconductor elements being arranged for sealing and is positioned by image recognition for testing, its trial manufacturing method, and its testing method.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体素子が連なった状態で封止され、画像認識により位置決めされて試験に供される半導体装置、半導体装置の試験製造方法及び半導体装置の試験方法に関し、既存のウェーハプローバで認識可能なアライメントマークを容易に形成することを課題とする。 - 特許庁

The genom DNA or mRNA originating from the mites or the fungi collected from testing samples are used as templates, and a nucleic acid probe for detection and discrimination of the mites and fungi that can be hybridized to the testing DNA area that is amplified using mite gene specific primer set and fungi gene specific primer set is used.例文帳に追加

検査対象から採取したダニ類及びカビ類由来のゲノムDNA又はmRNAを鋳型とし、ダニ遺伝子特異的プライマーセット及びカビ遺伝子特異的プライマーセットを用いて増幅された検出対象DNA領域に対してハイブリダイズ可能である、ダニ類及びカビ類の検出及び識別用核酸プローブを使用する。 - 特許庁

To make it possible to increase the testing efficiency by simultaneously making a plurality of testings in one time contact doing no damage to terminal pads in a semiconductor integrated circuit in order to test the wafer status in the circuit wherein the pin numbers required by the testing items are notably differentiated.例文帳に追加

試験項目により必要とされるピン数が大きく異なる半導体集積回路をウェハ状態で試験するに際し、半導体集積回路の端子パッドを痛めることなく、１回の接触で同時に複数の試験を行い、試験効率をあげることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a trace element testing and analyzing method and a trace element testing and analyzing pretreatment device for conducting microwave irradiation and ultrasonic treatment concurrently, by effective treatment for analyzing trace amounts of elements in various solid product or materials, and for precisely conducting test and analysis by decomposing these, in a short time.例文帳に追加

様々の固体製品または材料中の微量元素を分析する上でより効果的な前処理によるマイクロウエーブ照射と超音波処理を同時に行い、短時間で精度良く分解して試験分析を行う微量元素試験分析方法および微量元素試験分析前処理装置を提供する。 - 特許庁

In this IC testing system, the chip arrayals to be tested at one time in a wafer prober 200 are made to correspond to the positions on rectangular coordinates for transmitting respective coordinates as character string data to an IC testing device 300, where the location data comprising the character string data are converted into the chip map data to generate the chip map using these chip map data.例文帳に追加

ウェハプローバにおいて一度に試験するチップの配列を直交座標上の位置に対応させ、各座標を文字列データとしてＩＣ試験装置に伝送させ、ＩＣ試験装置ではチップマップ変換手段により文字列データから成るロケーション・データをチップマップデータに変換し、このチップマップデータを使ってチップマップを作成する。 - 特許庁

In a tire wear test method using a wear testing device 10 making an inspected tire 14 run on an infinite running surface 16, the wind below the temperature of the circumference of this tire wear testing device 10 is sent in at least one direction toward the tread surface of the running inspected tire 14 from a blower device 20.例文帳に追加

被験タイヤ１４を無限走行面１６上に走行させるタイヤ摩耗試験機１０を使用して行うタイヤ摩耗試験方法において、送風装置２０から走行する被験タイヤ１４のトレッド表面に向かって、該タイヤ摩耗試験機１０の周辺の温度以下の風を少なくとも一方向より送る。 - 特許庁

In a seeming state to the measurement device where measurement testing of the plurality of semiconductor devices and the virtual device is executed by using the preset number of input/output pins, measurement testing of the plurality of semiconductor devices is carried out simultaneously by using the predetermined number of input/output pins associated with the semiconductor devices.例文帳に追加

測定装置に、複数の半導体装置及び仮想デバイスの測定試験をそれぞれ予め設定された本数の入出力ピンを用いて行うと見せかけた状態で、複数の半導体装置の測定試験を、それぞれの半導体装置に関連付けられた所定本数の入出力ピンを用いて同時に行う。 - 特許庁

The display testing device successively generates a pattern switching on one part per once imaging out of a pixel group of a display equivalent to one pixel of a camera, and uses a display testing method for detecting the defect of a region equivalent to each pixel of the camera from image data for imaging each pattern.例文帳に追加

本発明は、カメラの１画素に相当するディスプレイの画素群のうち一度の撮像につき１箇所のみ点灯するパターンを逐次生成し、各パターンを撮像した画像データからカメラ各画素に相当する領域の欠陥を検出するディスプレイ試験方式を使用することを特徴とするディスプレイ試験装置に関する。 - 特許庁

In the deposition amount stabilizing process, a plurality of primary color toner images for testing are formed by image forming means, and control parameters of the image forming means are corrected so as to bring the results of the detection of the amount of toner deposited on the primary color toner images for testing closer to a corresponding target value of a deposition amount.例文帳に追加

また、付着量安定化処理では、複数のテスト用１次色トナー像を作像手段によって形成し、それらテスト用１次色トナー像に対するトナー付着量を検知した結果をそれぞれに対応する付着量目標値に近づけるように、作像手段の制御パラメータを補正する。 - 特許庁

This method for rating the sensitizing potential of the testing specimen comprises incubating together with the testing specimen antigen presenting cells selected from the dermal Langerhans cells, mononucleocytic cells and dendritic cells of human or mammal and detecting a gene encoding CD86 or CD54 expressed in the cells.例文帳に追加

ヒト又は哺乳類動物の皮膚ランゲルハンス細胞、単核球細胞及び樹状細胞から選ばれる抗原提示細胞を被検物質と共にインキュベートし、当該細胞内に発現されたＣＤ８６又はＣＤ５４をコードする遺伝子を検出することを特徴とする被検物質の感作性の評価方法。 - 特許庁

This system includes the exhalation bag capable of connecting the exhalation bag to the test tube by a hollow needle to transfer the expiration to the test tube, allows selection between the transfer of the expiration to the test tube and the direct connection to the testing device without transfer, and is applicable to the plural different types of testing devices.例文帳に追加

呼気バッグと検査管とを中空針で連結して呼気を検査管に移転可能とした呼気バッグを含み、呼気を検査管に移転するか若しくは移転せず直接検査装置に接続するかの選択を可能とし、複数の異なるタイプの検査装置に適応可能としたことを特徴とする。 - 特許庁

The ultrasonic flaw detector 1 which tests a weld line (object to be tested), disposed in a pipe arrangement (suspected body) 2 non-destructively, comprises the ultrasonic testing section 4 which moves on the pipe arrangement 2, while emitting ultrasonic waves; and a position measuring section, which specifies the position of the ultrasonic testing section 4 in relation to the pipe arrangement 2.例文帳に追加

超音波探傷装置１は、配管（被検体）２に配された溶接線（検査対象物）を非破壊的に検査する超音波探傷装置であって、超音波を発して配管２上を移動する超音波探傷部４と、超音波探傷部４の配管２に対する位置を特定する位置計測部とを備えている。 - 特許庁

To execute required tests, even with a small-capacity tester by forming a common testing electrode such that when it is brought into contact with a tested printed circuit board, independent wiring networks will not form an electrically closed circuit through the common testing electrode.例文帳に追加

被検査電極よりも大きなピッチの検査用電極を有し、小容量のテスターにより被検査プリント基板について所要の検査を実施することができ、設計および製造が容易なプリント基板検査用治具基板を提供すること、並びに当該検査用治具基板を用いるプリント基板検査方法を提供すること。 - 特許庁

Article 64 (1) Whenever the competent minister deems it necessary to enforce this Act, he/she may have the Accredited Testing Laboratory Operator submit reports on its operations, or have the officials of the competent ministry enter the Accredited Testing Laboratory Operator's office and inspect the conditions of the operations, books, documents and other materials. 例文帳に追加

第六十四条　主務大臣は、この法律を施行するため必要があると認めるときは、登録試験事業者に対し、その業務に関し報告をさせ、又はその職員に登録試験事業者の事務所に立ち入り、その業務に関し、業務の状況若しくは帳簿、書類その他の物件を検査させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The semiconductor integrated circuit is provided with a plurality of I/O cells 9, and each of the I/O cells 9 is provided therein with at least part of a test circuit comprising a selector 2 for testing and the like so that test information such as control signals for testing can be supplied in parallel through signal wires 10 to the I/O cells 9.例文帳に追加

複数のＩ／Ｏセル９を備えた半導体集積回路において、各Ｉ／Ｏセル９内部にテスト用セレクタ２等からなるテスト回路の少なくとも一部を設け、各Ｉ／Ｏセル９へ信号線１０を介してテスト用制御信号等のテスト情報を並列に供給し得るように構成した。 - 特許庁

A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.例文帳に追加

被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁

To evaluate delay destruction characteristics in a shorter time as compared with a constant load testing method because the adverse effect on environment and the human body is reduced, the sealing capacity of hydrogen into steel is excellent and the identification of the limit amount of diffusible hydrogen due to a low strain speed testing method becomes possible and to reduce the number of samples to be prepared.例文帳に追加

環境および人体への悪影響が軽減され、鋼中への水素の封入能力が優れ、しかも、低ひずみ速度試験法による限界拡散性水素量の同定が可能となるので、定荷重試験法に比べて、短時間で評価でき、しかも用意するサンプル数も少なくて済む。 - 特許庁

To provide a weatherability testing machine capable of performing a weatherability evaluation test in a more markedly short time than a conventional testing machine utilizing ultraviolet irradiation and imparting a weatherability evaluation test results higher in correlation with outdoor natural exposure than those of the conventional methods that use irradiation of radicals formed by remote plasma.例文帳に追加

従来の紫外線照射を利用した試験装置よりも格段に短時間で耐候性評価試験が実施可能であり、従来のリモートプラズマにより生成したラジカルの照射を用いた方法よりも屋外自然曝露との相関性が高い耐候性評価試験結果を与える耐候性試験装置を提供する。 - 特許庁

In this case, the input/output circuit for non-inspection outputs the non-inspection data supplied to the probing pad from the testing apparatus to the internal circuit via the internal bus for non-inspection, and outputs the response data for non-inspection based on such output to the testing apparatus via a transfer circuit, input/output circuit for inspection and probing pad.例文帳に追加

このとき、非検査用入出力回路は、テスト装置からプロービングパッドに供給された非検査用データを内部回路に非検査用内部バスを介して出力し、これに基づく非検査用応答データを、トランスファー回路、検査用入出力回路、プロービングパッドを介してテスト装置に出力する。 - 特許庁

To provide an absolute humidity-based temperature and humidity adjusting control system and a testing apparatus pertaining to acceleration or deterioration of substances that can help enhance the working efficiency by eliminating mistaken setting of temperature and humidity in a testing tank and increase the stability of humidity by accelerating humidity transition.例文帳に追加

この発明は、物質の劣化、促進に関わる試験装置において、試験槽内の温度及び湿度の設定値の設定ミスを無くして作業効率を向上し、湿度移行を早めて湿度安定性を向上することができる絶対湿度による温湿度調整コントロールシステム及び試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

This testing device for testing a device to be tested is equipped with a test module for supplying test data to a device under test, a test program storage part for storing a plurality of test programs for realizing respectively a plurality of test sequences, and a control device for controlling operation by the test module by performing the test program.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに試験データを供給するテストモジュールと、複数の試験シーケンスをそれぞれ実現する複数の試験プログラムを格納する試験プログラム格納部と、試験プログラムを実行することによりテストモジュールによる動作を制御する制御装置とを備える。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of enhancing reliability of a testing objective circuit, in a device for carrying out a burn-in test for a semiconductor integrated circuit of a testing object, and to provide a semiconductor integrated circuit device capable of dispensing with preparing separately a circuit for the burn-in test in an outside.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路に対してバーンイン試験を行う装置において、試験対象回路の信頼性をより向上できるようにしたバーンイン装置を提供し、バーンイン試験用の回路を別途外部に用意する必要をなくした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To perform a test by using a tensile-testing apparatus that is universally used for a fine test piece regarding a tool for testing the strength of micro junction such as the solder junction section of electronic components and a conductive pattern junction section formed on a printed circuit board and a bond section.例文帳に追加

本発明は電子部品のはんだ接合部やプリント回路基板上に形成された導体パターン接着部などのマイクロ接合および接着部の強度を試験するための治具に関し、微細な試験片に対して汎用されている引張試験装置を用いて試験を行ないうるようにすることを課題とする。 - 特許庁

In the semiconductor testing system wherein a plurality of semiconductor test units equipped respectively with a semiconductor testing device, a test management processor and the cooling device communicate with the host computer, and the cooling device includes a heat exchanger controlled by a controller, a two-way communication means is provided between the controller and the host computer.例文帳に追加

夫々が半導体試験装置、試験管理プロセッサ、冷却装置を備える複数の半導体試験ユニットがホストコンピュータと通信すると共に、前記冷却装置がコントローラにより制御される熱交換器を備える半導体試験システムにおいて、 前記コントローラと前記ホストコンピュータ間に双方向通信手段を設ける。 - 特許庁

The circuit 2 inputs the information systems I1 to IK and the testing system P and corrects errors on the basis of them, and then it outputs first stage first to K-th information systems I1-C1 to 1K-C1 and a delay-testing system PD to a second stage decoding circuit 3.例文帳に追加

第１段復号回路２は情報系列Ｉ１〜ＩＫと検査系列Ｐとを入力とし、それら情報系列Ｉ１〜ＩＫと検査系列Ｐとを基に誤り訂正を行い、第１段訂正第１〜第Ｋ情報系列Ｉ１＿Ｃ１〜ＩＫ＿Ｃ１と遅延検査系列ＰＤとを第２段復号回路３に出力する。 - 特許庁