「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(216ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical transmission system for sufficiently and surely testing normality by expanding a test range based on a return test.例文帳に追加

折り返し試験による試験範囲を拡大することができるようにし、これにより正常性を十分かつ確実に試験することの可能な光伝送システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a screed and a method for testing gas sealability of the screed which enable economical test of gas sealability in a shorter time with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構成で、より短時間で経済的なガスシール性の検査を行うことを可能にしたスクリード装置及びスクリード装置のガスシール性検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of unifying the internal temperature of a thermostatic bath while evading the complicated operation at the time of inserting the testing device into the burn-in board.例文帳に追加

被試験デバイスをバーンインボードに挿入する際の作業の煩雑化を回避しつつ、恒温槽内部の温度の均一化を図ることのできる、バーンイン装置を提供する。 - 特許庁

This sample substrate for use in biological testing has a first member, defining at least one sample well and a second member including at least one sample well closure element.例文帳に追加

本発明のサンプル基板は、少なくとも１つのサンプルウェルを規定する第１の部材、および少なくとも１つのサンプルウェル閉鎖要素を備える第２の部材を有する。 - 特許庁

To provide a test facility of a smoke detector suitable for testing actual operation conditions of the smoke detector under conditions resembling actual smoke generation conditions.例文帳に追加

実際の煙発生状況に近い状況下において、煙感知器の実際の作動状況を試験することに適した煙感知器の試験設備等を提供する。 - 特許庁

To provide a user data load testing device which does not simply generate load data but can realize a load test fitting each service (bearer) operated by a 3GPP system.例文帳に追加

単に負荷データを生成するのではなく、３ＧＰＰシステムで運用される各サービス（ベアラ）に適応する負荷試験を実現可能なユーザデータ負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine capable of preventing favorably a dimension of a formed recess from being erroneously recognized when read, without requiring a long time for measurement.例文帳に追加

測定に時間をかけることなく、形成されたくぼみの寸法を読み取る際の誤認を好適に防止することができる硬さ試験機を提供することである。 - 特許庁

To provide a nondestructive pile-testing method which can detect a pile length and a pile defective portion with high accuracy, and can more correctly evaluate the soundness of a pile, and to provide a sensor press-fitting device.例文帳に追加

杭長及び杭欠損部を精度よく検出し、杭の健全性をより正確に評価できる非破壊の杭検査方法及びセンサー圧着装置を提供する。 - 特許庁

12.1. Conduct automation planning, research and development, testing of systems, contracts with firms, contracting, purchase and maintenance of equipment, design and maintenance of systems, user consultation, and the like; and例文帳に追加

12.1自動化計画，研究開発，システムの試験，企業との契約，機器の契約，購入及び維持，システムの設計及び維持，利用者相談その他同様の活動 - 特許庁

To provide a method of creating an indentation curve capable of precisely and efficiently creating the indentation curve in a short time, and a hardness testing method using the same.例文帳に追加

より短時間で精密かつ効率的に押し込み曲線を作成することができる押し込み曲線の作成方法と、それを利用した硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing presence/absence of abnormality of a decoder inside an LCD-driving IC by digital logic measurement instead of analog voltage measurement.例文帳に追加

ＬＣＤ駆動用ＩＣ内のデコーダの異常の有無を、アナログ電圧測定ではなく、デジタルロジック測定によってテストすることができるテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an abrasion tester having long service life capable of accurately performing an abrasion test using a small amount of a sample, and to provide an abrasion testing method that uses the tester.例文帳に追加

少ないサンプル量で正確に摩耗試験を行うことができる長寿命な摩耗試験機およびそれを用いる摩耗試験方法を提供することである。 - 特許庁

This attraction system is provided with an attraction device provided in a play zone for directing the play of testing courage which surprises the player and a portable item 40 carried and moved by the player.例文帳に追加

アトラクションシステムは、プレーゾーンに設けられ、プレーヤを驚かす肝試しのプレー演出を行うアトラクション装置と、プレーヤが携帯して移動する携帯アイテム４０とを含む。 - 特許庁

A vehicle aerodynamic force computation apparatus 10 is constituted of a computer, and data 20 on the coefficient of acceleration terms acquired by wind tunnel testing, etc. and others are stored in its storage part 18.例文帳に追加

車両空気力算出装置１０は、コンピュータで構成され、その記憶部１８には風洞実験等によって得られた加速度項係数のデータ２０等が記憶される。 - 特許庁

To provide a highly productive semiconductor chip testing apparatus capable of accurately and automatically accomplishing contact alignment of a semiconductor chip and a probe.例文帳に追加

半導体チップとプローブのコンタクト位置合わせを、高精度かつ自動で行うことができる生産性の高い半導体チップテスト装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of assuring a high output level applied to a DUT pin by means of a current RF output module and having no limitation in cable length.例文帳に追加

現状のＲＦ出力モジュールを使用してＤＵＴピンへの印加出力レベルが大きくとれ、ケーブル長の制約のない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device that saves the space for a probe device and prevents a tester for testing a wafer from decreasing in availability.例文帳に追加

プローブ装置の省スペース化を実現すると共に、ウェハをテストするテスタの稼働率の低下を防止することができる半導体検査装置を提供することである。 - 特許庁

To obtain not only pass/fail decision of an instrument to be tested but also a test result which enables evaluation of its immunity to interference waves, with a testing apparatus for performing immunity tests.例文帳に追加

イミュニティ試験を行う試験装置において、供試機器の合否判定だけでなく、妨害波に対する耐性を評価し得る試験結果が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加

ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for biochemical testing by which the number of biochemical substances contained in a test sample can be tested from a detected value of fluorescent intensity for each probe array element.例文帳に追加

各プローブアレイ要素ごとの蛍光強度の検出値から被検サンプルに含まれる生化学的物質の数量を検査し得る生化学的検査方法を提供すること。 - 特許庁

Correlation between an AE signal and drill workability (cutting resistance) is preliminarily found to evaluate and determine workability for a testing material based on an output of the AE wave.例文帳に追加

予めＡＥ信号とドリル加工性（切削抵抗）との相関を求めておき、ＡＥ波の出力信号に基づいて試験材の加工性を評価判定する。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

To provide a server process testing system whose constitution can be easily changed and extended corresponding to the change or addition of a test item.例文帳に追加

試験項目の変更や追加等に対応してその構成を容易に変更および拡張することができるサーバプロセス試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, this makes it possible to simultaneously carry out testing on plural drivers in the common driving circuit 20 and the segment driving circuit 30, and to shorten the test time.例文帳に追加

従って、コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０内の複数のドライバを同時に試験することが可能になり、試験時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a sling wire rope testing machine capable of precisely and easily confirming the strength of a sling wire to more safely perform sling work.例文帳に追加

玉掛けワイヤーの強度を精度良く、かつ、容易に確認することができ、より安全に玉掛け作業を行うことのできる玉掛けワイヤーロープ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a drainage testing device capable of reducing power consumption and downsizing the device and simply taking out the operation signal of a float switch to the outside.例文帳に追加

消費電力を小さくするとともに装置の小型化を図ることができ、また、フロートスイッチの作動信号を簡単に外部に取り出すことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

A volume gain testing device for measuring the gain of a volume circuit 1 for amplifying or attenuating an input signal and the volume circuit 1 are incorporated in an IC.例文帳に追加

入力信号を増幅し又は減衰させるボリューム回路１のゲインを測定するためのボリュームゲイン試験装置が、ボリューム回路１と共にＩＣの内部に内蔵される。 - 特許庁

To provide a testing apparatus that easily and inexpensively performs an operational test of a digital broadcast receiver, and to provide a program used therefor.例文帳に追加

本発明は、デジタル放送受信機の動作試験を低コストで容易に行うことができる試験装置及びこれに用いるプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing cartridge for a space laboratory for a manufacturing apparatus of a single crystal wherein heat is effectively transferred to a container and quality of the single crystal is improved.例文帳に追加

収容器に効果的に熱を伝えて、単結晶の製造品質の向上を図ることができる単結晶製造装置の宇宙実験用カートリッジを提供する。 - 特許庁

To provide a dynamic balance testing machine capable of chucking a propeller shaft at its end part constructed of either of flange yoke and a sleeve yoke by a simple level change.例文帳に追加

プロペラシャフトの端部がフランジヨークであっても、スリーブヨークであっても、簡単な段取り替えによって、チャッキングすることのできる動釣合い試験機を提供すること。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

At least one test connections is directed into the units of testing side loaded with the new piece of software in order to be able to test the new piece of software.例文帳に追加

当該ソフトウェアの新たな断片をテストできるようにするために、ソフトウェアの新たな断片がロードされたテスト側のユニットに向けられる１つ以上のテスト接続を備える。 - 特許庁

A lithography method includes a step of obtaining a temperature as a function of time, in a bake step after exposure for a different location on a testing substrate on which a chemistry amplification resist is coated.例文帳に追加

化学増幅型レジストがコーティングされた試験基板上の異なるロケーションについて、露光後ベークステップの中の、時間の関数としての温度を得るステップが含まれている。 - 特許庁

To provide an electrode part support structure of a tracking testing device for easily performing assembling and attaching work of the electrode part and easily adjusting a measuring condition and the assembling positional relationship.例文帳に追加

電極部分の組立や着脱作業が容易で測定条件や組立位置関係の調整が容易なトラッキング試験装置の電極部支持構造を提供する。 - 特許庁

When testing an analog signal concerning a device to be measured, changeover switches 36 and 38 are switched so as to connect the probe 32 to coaxial cables 16 and 18.例文帳に追加

被測定デバイスについてアナログ信号のテストを行う場合には、切換スイッチ３６、３８を、触針３２が同軸ケーブル１６、１８に接続されるように切り換える。 - 特許庁

An MLA 12 is placed in a pupil plane or an imaging plane of the objective lens 11, and an imaging element 13 is placed behind the MLA 12 and images the testing object formed by the objective lens 11.例文帳に追加

MLA１２は、対物レンズ１１の瞳面又は結像面に配置され、撮像素子１３は、MLA１２の背後に設置され、対物レンズ１１による被検物像を撮像する。 - 特許庁

To provide a clock generating device or the like for reducing power consumption during a normal operation when testing circuit blocks operated by clocks different from each other by a single test clock.例文帳に追加

互いに異なるクロックで動作する回路ブロックを単一のテストクロックでテストする場合に通常動作時の低消費電力化を図るクロック生成装置等を提供する。 - 特許庁

The waveform data stored in the memory 48 are selected by a load device 46 based on appearance frequency information 44 during the testing of each piece of the voice piece DB34.例文帳に追加

メモリ４８に記憶される波形データは、音声素片ＤＢ３４の各素片のテスト時の出現頻度情報４４に基づいてロード装置４６により選択される。 - 特許庁

To provide a method for judging an extension degree of a diabetic nephropathy by early detecting the diabetic nephropathy before judgment of a regular urine testing paper method or a clinical symptom is conducted.例文帳に追加

通常の尿試験紙法や臨床症状による判定がなされるより前に、早期に糖尿病性腎症を検出し進展度を判定する方法を提供する。 - 特許庁

The holding tray is operated using an obtained map to align each individual die, with respect to a test probe, in order to execute testing, by bringing the individual die into contact with the test probe.例文帳に追加

個別ダイと試験プローブとを接触させて試験を実施するために、各個別ダイを試験プローブに相対させるよう、得られたマップを用いて保持トレイを操作する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can increase the margin in the accuracy for the positioning of a probing stylus, in the wafer testing process of the manufacturing process of semiconductor devices.例文帳に追加

半導体装置の製造工程におけるウェハテスト工程でのプローブ針の位置合せにおける精度余裕を大きくすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitoring device, capable of obtaining test results of higher accuracy by performing a test using a reactive leakage current as a parameter.例文帳に追加

無効漏れ電流をパラメータとする試験を行うことにより、より高い精度の試験結果を得ることができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method realizing a precise leak test by completely filling pores in a selective separation layer of a porous film having asymmetric structure with leak testing liquid.例文帳に追加

非対称構造を有する多孔質膜の選択分離層の細孔中にリークテスト用の液体を完全に充填し、正確なリークテストを可能にする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can change the number of concurrently operable memory macros when testing in consideration of variation in a power supply voltage.例文帳に追加

本発明の目的は、試験時において同時動作可能なメモリマクロ数を電源電圧変動に配慮して変更することができる半導体装置を提供することである。 - 特許庁

A plurality of the first measurement modules receive the trigger signal through the trigger bus, and the IC tester for testing a to-be-tested object is modified.例文帳に追加

本発明は、複数の第１計測モジュールがトリガバスを介してトリガ信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁