「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(213ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus includes: the second measurement module for testing the to-be-tested object, and outputting a code to a plurality of the signal lines in the trigger bus; and the third measurement module for testing the to-be-tested object, inputting the code from a plurality of the signal lines in the trigger bus, and implementing an operation corresponding to the code.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験すると共に、トリガバスの複数の信号線にコードを出力する第２計測モジュールと、被試験対象を試験すると共に、トリガバスの複数の信号線からコードを入力し、コードに対応した動作を行う第３計測モジュールとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

To simplify a system construction in testing and evaluating tested devices, to reduce maintenance cost by making maintenance easy, to reduce development cost by making easy development of boards for the tested devices, to shorten a development period, to measure correctly signals for testing and examining the tested devices, and to decrease down time.例文帳に追加

被試験デバイスの試験及び診断における装置構成を簡単にし、メンテナンスを容易にしてメンテナンス費を削減し、被試験デバイスのボードの開発を容易にして開発コストを削減し開発期間を短縮し、被試験デバイス試験用及び診断用の信号を正確に測定し、ダウンタイムを低減することである。 - 特許庁

To provide a stress-testing method and a stress-testing apparatus for greatly improving the evaluation of a light material such as a compound material by allowing a stress state to be solved in a state of including the lamination structure of a shell-like specimen and end face treatment and obtaining the temperature dependency of the amount of permeation of helium.例文帳に追加

殻状供試体の積層構造や端面処理を含んだ状態で応力状態を解明可能にし、合わせてヘリウム透過量の温度依存性を求めて、複合材料等の軽量材料の評価を格段に向上させることができる応力試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The substrate for the adhesive skin patch comprises a hydroentangled nonwoven fabric containing a fiber having a tensile strength of 1-4 cN/dtex, measured according to JIS L1015:1999 (testing method for chemical staple fibers), and a knot strength of 1-4 cN, measured according to JIS L1015:1999 (testing method for chemical staple fibers).例文帳に追加

本発明の貼付薬用基材は、ＪＩＳ Ｌ１０１５：１９９９（化学繊維ステープル試験方法）に規定される引張強さが１〜４ｃＮ／ｄｔｅｘで、かつＪＩＳ Ｌ１０１５：１９９９（化学繊維ステープル試験方法）に規定される結節強さが１〜４ｃＮである繊維を含む水流絡合不織布からなる。 - 特許庁

This testing method is pref. performed by a flowability testing apparatus having the trough-shaped member 2 equipped with marks at least at two places in the length direction thereof, a support structure 3 for holding the trough-shaped member 2 to an angularly adjustable inclined posture and a sample container 22 housing a predetermind vol. of the liquid material being the sample.例文帳に追加

この試験方法は、長さ方向の少なくとも２箇所に標点を備える樋状体と、これを角度調節可能な傾斜姿勢に維持する支持構造体と、試料である所定容量の液状材料を収容する試料容器とを有する流動性試験装置によって、好適に実施することができる。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

To provide a weathering light testing method for precisely controlling the temperature in a test tank and uniformizing the radiation luminous intensity from a light source over a wide humidity region to enable energy saving operation in a weathering light testing machine for irradiating the sample with predetermined light under a predetermined temperature and humidity condition.例文帳に追加

所定の温度及び湿度のもとで所定の光を試料に照射する耐候光試験機において、試験槽内の温度を精度良く制御すると共に、広範な湿度域において、光源からの放射照度を均一にして、省エネルギーで運転可能な耐候光試験方法及び耐候光試験機を提供する。 - 特許庁

The method for evaluating whether the testing specimen is an activating agent or an inhibitor for the sensitizing substance or the method for screening comprises incubating a MIP-1-expressing cell with both the sensitizing substance and the testing substance and then detecting the MIP-1 released from the cell.例文帳に追加

本発明はさらに、MIP-1を発現する細胞と、感作性物質と被験物質とを一緒にインキュベートし、該細胞から放出されたMIP-1分子を検出することを特徴とする、該被験物質が該感作性物質に対する活性化剤又は抑制剤であるか否かを評価する方法又はスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

The sequential processing 15 decides appearance order of items to be converted into testing values inside the transaction record 13, the item to be converted into the testing value is determined by algorithm with the appearance order as an argument and is replaced, and is outputted as a set of the pseudo call and result-verifying information 17.例文帳に追加

順次処理１５は試験用の値に変換すべき項目それぞれのトランザクション記録１３内での出現順を判定し、試験用の値に変換すべき項目を、出現順を引数とするアルゴリズムで決定して置き換え、擬似呼及び結果検証用情報１７のセットとして出力する。 - 特許庁

When testing a function group 3 to be tested on a computer 1, a parameter required for testing the function group 3 by an automation program 2 is read from a parameter configuration file 5, the read parameter is input when executing the function group 3, and the execution result is output as a log file 6.例文帳に追加

コンピュータ１上にて被試験関数群３を試験する場合、自動化プログラム２によって被試験関数群３を試験するために必要なパラメータがパラメータ構成ファイル５から読み込まれ、被試験関数群３が実行される際に読み込まれたパラメータが入力され、実行結果がログファイル６として出力される。 - 特許庁

In an embodiment, the data management method includes the steps of: testing for the presence/absence of the controller module 340 through a first data port using the processor 330; and testing for the presence/absence of the controller module 340 through a second port if the controller module 340 is not found through the first port.例文帳に追加

一実施形態において、データ管理方法は、プロセッサ３３０を用いて、第１のデータ・ポートを通じてコントローラ・モジュール３４０の有無をテストするステップと、第１のデータ・ポートを通じて、コントローラ・モジュール３４０が見つけられない場合には、第２のデータ・ポートを通じて、コントローラ・モジュール３４０の有無をテストするステップと、を含む。 - 特許庁

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

To provide an inductor recognizing method for recognizing an inductor in the layout of a semiconductor device, a layout testing method capable of automatically verifying a design standard, etc., in the inductor by utilizing the inductor recognizing method, and a method for manufacturing a semiconductor device by using the layout testing method.例文帳に追加

半導体装置のレイアウトにおけるインダクタを認識するためのインダクタ認識方法、このインダクタ認識方法を利用して自動的にインダクタにおける設計基準などの検証を行なうことが可能なレイアウト検査方法、このレイアウト検査方法を用いた半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The pin holes are arranged at positions where their heights in the optical axis directions of the illuminating optical system and the light-receiving optical system from the testing surface differ from each other, and a scanning arrangement (15b) for moving the relative positions of the testing surface with respect to the pin holes in a predetermined direction vertical to the optical axis directions is provided.例文帳に追加

前記ピンホールは、前記被検面からの前記照明光学系および前記受光光学系の光軸方向の高さが互いに異なる位置に配置され、前記被検面と前記ピンホールとの相対位置を、前記光軸方向と垂直な所定の方向に移動させる走査装置（１５ｂ）を備える。 - 特許庁

To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.例文帳に追加

冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

A low-temperature testing device for testing a sample in vacuum or low-temperature state is composed, so that at least a part where a sample 1 is placed in a sample stage 2 in that the sample 1 is placed is formed by a light-transmitting material and light 10 is applied fro the side of the sample stage to the sample.例文帳に追加

真空中かつ低温状態で試料の試験を行う低温試験装置において、上記試料１が載置される試料ステージ２の少なくとも試料が載置される部分を透光性材料で形成し、上記試料に上記試料ステージ側から光１０を照射するように構成した。 - 特許庁

The government set up the "Council on Studying Public Testing/Research Organizations' Possible Roles for Pushing Ahead with Regional Innovations" in July 2010 in order to examine what kind of roles public testing/research organizations should play from the viewpoint of pushing ahead with regional innovation on the nationwide scale.例文帳に追加

また、我が国全体として地域イノベーションを推進する観点から、公設試験研究機関がどのような役割を果たしていくべきかについて検討するため、2010年７月に「地域イノベーション推進のために公設試験研究機関が果たすべき役割に関する検討会」を設置し、報告書をとりまとめた。 - 経済産業省

While there has been previous surveys conducted to determine the number of individuals undergoing hepatitis testing, new surveys and further research are required to determine the true extent of hepatitis testing at the current time.例文帳に追加

しかしながら、肝炎ウイルス検査体制の整備及び普及啓発を効果的に実施するためには、施策を行う上での指標が必要であり、このため、従前から実施している肝炎ウイルス検査の受検者数の把握のための調査に加えて、肝炎ウイルス検査の受検率について把握するための調査及び研究が必要である。 - 厚生労働省

The antenna testing system comprises the antenna accommodating apparatus 2 to accommodate the antennas 1a-1h for receiving which are subjects of the performance test and a testing apparatus 3 to perform the performance test of the antennas 1a-1h for receiving while the antennas 1a-1h for receiving are accommodated in the antenna accommodating apparatus 2.例文帳に追加

アンテナ検査システムは、性能検査の対象である受信用アンテナ１ａ〜１ｈを収容するアンテナ収容装置２と、受信用アンテナ１ａ〜１ｈがアンテナ収容装置２に収容されている際に、受信用アンテナ１ａ〜１ｈの性能検査を行うための検査装置３とによって構成される。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of improving its control performance by reducing to the utmost an error generated while a test force is controlled, and determining automatically a parameter value in feedback control, concerning the material testing machine for controlling a load mechanism by a feedback control system.例文帳に追加

フィードバック制御系により負荷機構を制御する材料試験機において、試験力制御を行っている状態において発生する誤差を可及的に小さくしてその制御性能を向上させることができ、併せて、フィードバック制御におけるパラメータの値を自動的に決定することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a sanitary washing device, having excreta determination functions for preventing functional/performance troubles from occurring in the sanitary washing device by integrating an excreta testing device and the sanitary washing device, and at the same time efficiently branching water, required fro maintaining the functions of the excreta testing device by the sanitary washing device.例文帳に追加

排泄物測定装置と衛生洗浄装置を一体化すると共に、排泄物測定装置の機能維持のために必要な水を衛生洗浄装置より効率的に分岐することにより、衛生洗浄装置に機能・性能的な弊害が発生しない排泄物測定機能付き衛生洗浄装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microchip holder and a liquid leakage preventive tool for a microchip having excellent X-Y-directional and Z-directional (vertical-directional) positioning characteristics for the microchip such as a cell chip, capable of immobilizing easily the cell chip, capable of preventing easily a testing liquid from being leaked, and capable of setting a using amount of the testing liquid to the minimum.例文帳に追加

細胞チップのようなマイクロチップのＸ−Ｙ方向及びＺ方向（垂直方向）の位置決め性に優れ、細胞チップを容易に固定でき、試験液の漏れを簡単に防止できて、試験液の使用量を最少限に設定できるマイクロチップホルダー及びマイクロチップ用液漏れ防止具の提供を目的とする。 - 特許庁

In this connection, a system is indicated, where an overpressurized container equipped with an inlet port aperture which can be closed for storing at least one package, and a device for setting and maintaining a gas inlet port for feeding the testing gas, a gas outlet port for evacuating the testing gas, and for setting and maintaining overpressuring.例文帳に追加

本発明による装置は、この点に関し、閉鎖可能な入口開口部を備えた少なくとも１個のパッケージを収容するための過圧容器、ならびに試験気体を供給するための気体入口、試験気体を排出するための気体出口、および過圧を設定し維持するための装置を示す。 - 特許庁

To provide a testing method of the characteristic of a vibrator capable of effectively detecting a crack and a chipping which are caused in a vibrator chip and cause adverse effect on the vibration characteristic without the need for using an optical inspection apparatus and an image processing apparatus needing troublesome adjustment and high cost in the case of testing the vibration characteristic of the vibrator chip.例文帳に追加

振動子片の振動特性を試験するに際し、調整が面倒でかつコストがかかる光学的検査装置ならびに画像処理装置を用いることなく、振動特性に影響を与えうる振動子片の割れ，欠けを効果的に検出することができる振動子試験法を提供する。 - 特許庁

The output 13 of a boundary scan adaptive device 1 for testing is put to LO to control the outputs of the buffers 7 and 8 to enable so that the outputs 23 and 24 of the adaptive device 2 are connected to the inputs 13 and 14 of the adaptive device 1, thereby accomplishing the testing of the connection state of the outputs 23 and 24.例文帳に追加

試験用バウンダリースキャン対応デバイス１の出力１３をＬＯとしバッファ７及び８の出力をイネーブルに制御することで、対応デバイス２の出力２３及び２４と、対応デバイス１の入力１３及び１４が接続し、出力２３及び２４の接続状態の試験を行うことができる。 - 特許庁

Two or more resist layers 21, 22 and 23 are peeled with an exclusive peeling solution to form the stair-shaped testing electrode, whereby a semiconductor circuit inspection tool 100 having a wiring layer 11a and the testing electrode 41a formed on the insulating base material 1 is obtained.例文帳に追加

複数のレジスト層２１、２２及び２３を専用の剥離液で剥離して階段状型の検査電極を形成し、導体層１１をパターニング処理して配線層１１ａを形成して、絶縁基材１上に配線層１１ａ及び検査電極４１ａが形成された半導体回路検査治具１００を得る。 - 特許庁

To provide a compact tool for testing a feather jig for underwater, hardly requiring time for preparation when testing the swimming posture of the feather jig for the underwater, convenient for carrying, hardly causing overflow of water to the exterior of a container, capable of lasting the swimming posture of the feather jig for the underwater, and enabling the swimming posture to be observed from the whole direction and the whole angle.例文帳に追加

水中用毛ばりの遊泳姿勢をテストする際、準備に時間を要すること無く、コンパクトで持ち運びに便利で、また、水が容器外にあふれ出すことも無く、更に水中用毛ばりに遊泳姿勢を持続させ、更にその遊泳姿勢を、全方向、全角度から確認することを可能とすることを提供する。 - 特許庁

The maximum traveling time required for a testing bolus to pass each of the scanning stations of a given number is determined by demarcating scanning stations 56, 58, 60 along a peripheral vessel structure 64, initially injecting the contrast medium in a patient, and passing the testing bolus in the peripheral vessel structure 64.例文帳に追加

末梢脈管構造（６４）に沿って所与の数の走査ステーション（５６、５８、６０）を画定し、造影剤を患者に初期注入して末梢脈管構造にテスト用ボーラスを通過させて追跡することにより、テスト用ボーラスが所与の数の走査ステーションの各々を通過して走行するのに掛かる最大走行時間を決定する。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

ARTICLE RECOGNITION METHOD AND ITS SYSTEM, SURFACE MOUNTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SYSTEM, COMPONENT-TESTING ARRANGEMENT, DISPENSER, MOUNTED SUBSTRATE INSPECTION DEVICE AND PRINTED BOARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

物品認識方法及び同装置、並びに同装置を備えた表面実装機、同部品試験装置、同ディスペンサ、同実装基板検査装置及び同印刷基板検査装置 - 特許庁

This testing method of ASIC (application specific integrated circuit 100 executes a test routine 128 in an incorporated memory 120 or an external memory by using an incorporated processor 110 in the ASIC.例文帳に追加

ＡＳＩＣ（１００）のテスト方法であって、ＡＳＩＣ内の組込みプロセッサ（１１０）を用いて、組込みメモリ（１２０）または外部メモリ中のテストルーチン（１２８）を実行する。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing the load of a testpiece from becoming zero upon interruption of a test and preventing undesired test force from acting on the testpiece upon resumption of the test.例文帳に追加

試験中断時に供試体の負荷がゼロとなることがなく、また、試験再開時に供試体に不所望な試験力が作用することがない材料試験機の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can load various chips to be driven with a high voltage higher than supply voltage, and can achieve testing of a plurality of chips of different voltages within a short period of time.例文帳に追加

供給電圧よりも高電圧で駆動する種々のチップを搭載でき、電圧の異なる複数のチップを短時間でテスト可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of a polymer electrode type fuel cell for comprehending a deteriorating phenomenon of a polymer electrolyte generated during an operation of the fuel cell, and securing performance of the fuel cell.例文帳に追加

燃料電池運転時の高分子電解質の劣化現象を事前に把握して燃料電池の性能を保証するための燃料電池の試験方法を提供する。 - 特許庁

In order to perform inspection, while the conveyer is moving the component, the probe is mounted on the stage that is made to move synchronously with the component throughout the testing area, and facilitates inspection.例文帳に追加

コンベヤが部品を移動させている間に検査を行うために、プローブは検査領域に亘り部品と同期的に運動させるステージに取り付けられて、検査を促進する。 - 特許庁

The method for impact response testing comprises the step of elastically telescopically mounting an impact hammer 4 to a cylindrical body 5 via a compression spring in a direction of an axial center of the body 5 (directions of arrows A, B).例文帳に追加

筒状の本体５に圧縮バネ１０を介して打撃ハンマー４を当該本体５の軸心方向（矢印Ａ、Ｂ方向）に弾性的に進退自在に取り付ける。 - 特許庁

To provide a testing device for efficiently regulating and acquiring phase shift generated when propagating a rising signal and a falling signal output by DUT.例文帳に追加

ＤＵＴが出力する立上り信号及び立下り信号を伝播する際に生じる位相のずれを効率良く調整して取得する試験装置を提供する。 - 特許庁

To enhance an efficiency of analyzing a fault in a test/evaluating environment or a market in developing and product guaranteeing or testing at debugging or fault occurring time.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

To provide a more rapid and accurate testing and analysis method by providing a method for preparing a sample for use in an assay.例文帳に追加

アッセイにおいて使用するためのサンプルを調製するための方法を提供することによって、より迅速かつ正確な試験および分析の方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an abrasion testing device for appropriately simulating the degree of abrasion that differs depending on the structure of the groove pattern of a tire and further the usage condition when being mounted on a loaded vehicle.例文帳に追加

タイヤの溝パターンや構造、さらには実車搭載時の使用態様により異なる摩耗度合いを良好にシュミレートできる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

An engine testing device 10 comprises: a dynamometer 14 for applying a load to an engine 12 to be tested; and a control device 20 that controls the engine 12 and the dynamometer 14.例文帳に追加

エンジン試験装置１０は、試験対象であるエンジン１２に負荷を与えるダイナモメータ１４と、エンジン１２及びダイナモメータ１４を制御する制御装置２０とを備える。 - 特許庁

A displacement detector 60 which detects a moving amount of the load transmission shaft 36 corresponding to the testing force applied by the load mechanism is connected to the load transmission shaft 36.例文帳に追加

この負荷伝達軸３６には、負荷機構により与えられた試験力に応じた負荷伝達軸３６の移動量を検出する、変位検出器６０が接続されている。 - 特許庁