「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(209ページ目) - Weblio英語例文検索

By the pressing operation of a touch panel 22a on an input screen, an optional reference testing force for calibrating the output of the load cell 18 is input.例文帳に追加

入力画面上でのタッチパネル２２ａの押圧操作により、ロードセル１８の出力をキャリブレーションするための任意の基準試験力を入力する。 - 特許庁

TEST PIECE FOR EVALUATING INTERFACIAL ADHESIVENESS, MOLDING METHOD THEREOF AND TESTING METHOD FOR EVALUATING INTERFACIAL ADHESIVENESS OF REINFORCING FIBER AND RESIN例文帳に追加

界面接着性評価用試験片、界面接着評価用試験片の成形方法、および強化繊維と樹脂との界面接着性を評価する試験方法 - 特許庁

The movable frame is in a lowered position during the running characteristic testing and absorbs noise from the vehicle as it is set around the drive wheels of the vehicle.例文帳に追加

可動フレーム部は、走行特性試験中には下降位置にあり、車両の駆動輪の周囲に設置されて車両からの騒音を吸収する。 - 特許庁

To provide a sheet cushion simulation system which can grasp the vibratory behavior of a sheet cushion in its design stage without repeating trial manufacture and testing.例文帳に追加

試作と試験を繰り返すことなく、設計段階でシートクッションの振動挙動を把握することができるようなシートクッションシミュレーションシステムを提供する。 - 特許庁

By providing a start timing displaying section and a gradient-starting countdown area informing gradient starting of a car speed mode, a testing under usual driving perception is achieved.例文帳に追加

また、スタートタイミング表示部と車速モードの勾配開始を知らせる勾配開始カウントダウンエリアを設けることで、通常の運転感覚での試験を可能とした。 - 特許庁

To provide a memory test circuit capable of testing a memory having a data width larger than that of a CPU data bus without increasing the number of test cycles.例文帳に追加

ＣＰＵのデータバスの幅よりも大きなデータ幅を有するメモリに対し、テストサイクル数を増大させずに試験をすることができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

A computer implemented method, a data processing system and the processor are provided for thermal throttling control for testing of real-time software.例文帳に追加

リアルタイム・ソフトウェアを試験するためのサーマル・スロットリング制御のための、コンピュータによって実施される方法、データ処理システム、およびプロセッサを提供する。 - 特許庁

To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product.例文帳に追加

ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。 - 特許庁

To accurately measure devices and improve delivery quality by adapting to the case that semiconductor testing apparatuses change in a short period with the passage of time.例文帳に追加

半導体試験装置の短期間の経時における変化が発生する場合に対応し、デバイスを正確に測定し、出荷品質を向上させる。 - 特許庁

To shorten the test time without using an expensive tester at the time of testing a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行うに際し、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which enables mask/ disable operation only with control of only one mask/disable terminal during the testing time.例文帳に追加

試験の際に１つのマスク／ディセーブル端子の制御のみでマスク／ディセーブル動作をおこなうことができる半導体記憶装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

In the gas sensor testing apparatus, the gas volume per gas sensor 11 can be reduced in comparison with an apparatus having a large gas room containing the whole of the sensor.例文帳に追加

このガスセンサ検査装置１は、センサ全体を収容する大型ガス室を有する装置に比べて、１個のガスセンサ１１あたりのガス容積を縮小できる。 - 特許庁

In this system, the failure diagnosing is performed by exchanging diagnostic information between the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B through a communication network.例文帳に追加

通信ネットワークを介して遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂとの間で診断情報を交換することにより故障診断を行う。 - 特許庁

The sequencer 15 controls so that a transmitting circuit 18 periodically forms a cycle start packet by linking with a cycle timer-monitor 17 on the basis of the testing signal.例文帳に追加

シーケンサ１５は、そのテスト信号に基づき、送信回路１８がサイクルタイマ／モニタ１７と連係して周期的にサイクル・スタート・パケットを生成するように制御する。 - 特許庁

In one aspect, the air permeability is at least 0.01 cubic feet per minute (CFM) per square foot as determined by ASTM D 737 testing.例文帳に追加

１つの態様では、空気透過度は、ＡＳＴＭ Ｄ ７３７試験で決定して、１平方フィート当たり０．０１立方フィート毎分（ＣＦＭ）以上である。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as a grammar checking device for checking grammar in a script included in communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データに含まれるスクリプトの文法をチェックする文法チェック装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

For testing of the semiconductor module 1, probes 22 of the tester 30 are electrically connected to the internal electrodes 16 via through-holes 17.例文帳に追加

また、半導体モジュール１の検査の際には、スルーホール１７を通じて、検査装置３０のプローブ２２が内部電極１６と電気的に接続される。 - 特許庁

One or more verifying scenarios are provided for testing configuration and performance of the management software at a simulated environment of the client end.例文帳に追加

１個または数個の検証シナリオがクライアントエンドのシミュレートされた環境においてマネージメントソフトウェアの構成および性能をテストするために提供される。 - 特許庁

To provide a testing device for drug elution, capable of accurately predicting drug discharge behavior in designing or evaluating a percutaneous application type preparation.例文帳に追加

経皮適用型製剤を設計または評価するに際し、薬物の放出挙動を的確に予測することが可能な薬物溶出試験装置を提供する。 - 特許庁

The printer 1 transmits data for testing a communication environment to the information communication terminal 2, and receives a frame returned from the information communication terminal 2.例文帳に追加

プリンタ１は、情報通信端末２に通信環境試験用データを送信し、情報通信端末２が折り返し送信したフレームを受信する。 - 特許庁

To shorten a designing time and a testing time by using arranging name in data used in a weighing control operation and fixing a weighing control operation program.例文帳に追加

秤量制御演算で使用するデータに配列ネームを用い、秤量制御演算プログラムを固定化させることにより設計時間、試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a driver testing system for effectively preventing a driver having taken a component such as alcohol prohibited in driving an automobile from performing the driving task.例文帳に追加

アルコール等の運転時の禁止成分を摂取した運転者による運転職務の遂行を効果的に防止する運転者検査システムを提供する。 - 特許庁

To detect soldering inferiority of constituent components and half-insertion inferiority of connectors by giving the optimum excitation stress to mobile electronic equipment without using a special testing device.例文帳に追加

特別な検査装置を用いずに、携帯電子機器へ最適な加振ストレスを与えて、構成部品の半田付け不良やコネクターの半挿し不良を検出する。 - 特許庁

To provide a method capable of testing easily and inexpensively an airtight layer formed by bonding a reclaimed material to an inner wall face of an existing steel underground tank.例文帳に追加

既存の鋼製地下タンクの内壁面に更生材を貼り付けて形成した気密層を容易かつ安価に試験できる方法を提供する。 - 特許庁

To accelerate a testing speed by suppressing influences of a time-lag in a timing edge generation circuit even when a rate signal becomes fast.例文帳に追加

レート信号が高速になった場合でも、タイミングエッジ発生回路のタイムラグの影響を抑制して、試験速度の高速化を図ることを目的とする。 - 特許庁

A collision testing device 1 has actuators 4A, 4B, 4C, 4D and 4E which move vehicle structural members of a vehicle toward a side of a mounting section 3 where a dummy DM is placed.例文帳に追加

衝突試験装置１は、ダミーＤＭが載置される載置部３側に向かって車両構造部材を移動させるアクチュエータ４Ａ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄ，４Ｅを備えている。 - 特許庁

The testing machine and the like are not required by constitution of multiplying the induced voltage coefficient value with the number of revolution to calculate the induced voltage.例文帳に追加

また、前記誘起電圧係数値と回転数を乗算して誘起電圧を算出することができるように構成することにより試験機等を不要とした。 - 特許庁

A closed circuit from a testing power source to loads (various kinds of circuit components) is stably formed through the clip 25 and the terminal pin 13.例文帳に追加

鰐口クリップ２５及び端子ピン１３を通じての試験用電源からプリント基板２３上の負荷（各種の回路部品）への閉回路が安定的に形成される。 - 特許庁

After the test, only a region of a wiring sheet section 20 excluding the terminal 25 for testing is separated, thus obtaining the sheet mount chip 60 as KGD.例文帳に追加

このテストののち、テスト用端子２５を含まない配線シート部２０の領域のみ切り離すことにより、ＫＧＤとしてのシートマウントチップ６０を得ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is not easily placed in test mode even when high voltage noise is input to a terminal also used for testing.例文帳に追加

この発明は、テスト兼用端子に高電圧のノイズが入力された場合でも容易にテストモードに入ることのない半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shorter test time and a reduction of a circuit area in a comparator test circuit and a semiconductor integrated circuit for testing a plurality of comparators.例文帳に追加

複数のコンパレータをテスト対象とするコンパレータテスト回路及び半導体集積回路において、テスト時間の短縮と回路面積の縮小を提供する。 - 特許庁

To perform an operation margin test in case that a duty ratio varies while dispensing with the need for changing the duty ratio of an input clock signal in testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験の際に、入力クロック信号のデューティ比を変更する必要なく、デューティ比が変動した場合の動作マージン試験を行う。 - 特許庁

To provide a method for testing the capability of irreversibly inhibiting an enzyme having a medicine-metabolizing function of a substance easily and in a good accuracy.例文帳に追加

物質が有する薬物代謝能力を有する酵素を不可逆的に阻害する能力を簡易に且つ精度良く検定する方法の開発 - 特許庁

At the time of performing an arithmetic operation by an electronic circuit in an equivalence testing device, an Euler method and a backward Euler method are alternately performed in each micro-sampling time interval ΔT.例文帳に追加

等価試験装置内の電子回路による演算を、微小サンプリング時間間隔ΔT毎にオイラー法と後退オイラー法を交互に行うものである。 - 特許庁

To provide a testing device or the like for synchronizing an output signal from an electronic device with an expected value signal of the output signal, and comparing the signals properly.例文帳に追加

電子デバイスの出力信号と出力信号の期待値信号を同期させ、これらの信号を適切に比較する試験装置等を提供する。 - 特許庁

To obtain a concrete testing method capable of easily determining the segregation of concrete without the need for time and effort with clear criteria for the determination.例文帳に追加

手間をかけずに簡単にコンクリートの材料分離を判定することができ、しかも、その判定基準が明確であるコンクリートの試験方法を提供する。 - 特許庁

The deterioration acceleration testing device 1 includes a fuel cell 100, an AC impedance measuring device 200, an AC current applying device 300, and a control part 400.例文帳に追加

劣化加速試験装置１は、燃料電池１００と、交流インピーダンス測定装置２００と、交流電流印加装置３００と、制御部４００と、を備える。 - 特許庁

AIR FILTER FOR GAS TURBINE, AND WASHING METHOD AND WASHING SYSTEM FOR THE SAME, AND SERVICE LIFE PREDICTION TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

ガスタービン吸気用フィルタ、ガスタービン吸気用フィルタの洗浄方法、ガスタービン吸気用フィルタの洗浄システム、及び、ガスタービン吸気用フィルタの寿命予測試験方法 - 特許庁

To provide a method for testing unvulcanized carcass ply by which drawing drag of a ply cord and positional relation between the cord and rubber or the like are evaluated by the unvulcanized carcass ply.例文帳に追加

未加硫カーカスプライでプライコードの引抜き抗力や、コードとゴムの位置関係等を評価できる未加硫カーカスプライの試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce time and cost until the productization of automatic product testing solutions, by abolishing needs for special design of special hardwares, mounting and maintenance.例文帳に追加

特殊なハードウェアの特殊な設計、実装およびメンテナンスの必要性をなくし、自動製品試験ソリューションの製品化までの時間およびコストを削減する。 - 特許庁

To provide a device for automatically testing stored urine capable of improving operationality of a device by a patient and securely conducting a desired test.例文帳に追加

患者による装置の操作性を向上させることができ、所望の検査を確実に行うことができる自動蓄尿検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus used for performing the adhesion test or evaluation of marine organisms can simply remove air bubbles without increasing cost.例文帳に追加

簡便にかつコストが増大することなく気泡を除去することができる海生生物の付着試験又は評価を行うための試験装置を提供すること。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a switching device of a layer 7 for relaying communication data based on information on the layer 7.例文帳に追加

試験装置９００は、レイヤ７の情報に基づいて通信データを中継するレイヤ７スイッチ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A solid heavy object or a liquid heavy object such as muddy water or seawater is put into the testing tank 21 as the test load, and the load test is executed.例文帳に追加

その後、試験用タンク２１内に個体の重量物あるいは泥水や海水などの液体の重量物を入れて試験荷重として荷重試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the transfer quantity of pattern files inside to the minimum to reduce the test time of semiconductors.例文帳に追加

内部におけるパタンファイルの転送量を最小限に抑え、半導体の試験時間を軽減することを可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁