「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(215ページ目) - Weblio英語例文検索

The process of exchanging diagnostics information is coordinated or executed by SOAP modules 6a, 6b implemented in the remote testing device 4A and the devices to be tested 4B respectively.例文帳に追加

診断情報交換処理は、遠隔試験装置４Ａと被試験装置４Ｂのそれぞれに実装されているＳＯＡＰモジュール６ａ、６ｂにより調整又は実行される。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a semiconductor integrated circuit which is high in observability and capable of conveniently detecting the delay failure, the degeneration failure, etc.例文帳に追加

可観測性が高く、簡便に遅延故障や縮退故障等を検出することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle testing device applicable to a composite test of a brake test and a speed test of a vehicle and capable of stopping the rotation of drive rollers even when carrying out the brake test.例文帳に追加

車両のブレーキテストとスピードテストの複合試験に適用できて、ブレーキテスト時にも駆動ローラの回転の停止を可能にした車両試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of automatically securing a predetermined rise time (or fall time) in consideration of measurement conditions for the periphery of a DUT.例文帳に追加

ＤＵＴ周辺の測定条件にも配慮して、自動で所定の立ち上がり時間（または立ち下がり時間）を確保できる半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁

To provide a durability testing method for a pneumatic tire by generating a tire deteriorated with time falsely in a short time and performing durability test based on this.例文帳に追加

経時劣化したタイヤを擬似的にかつ短時間で作りだし、これに基づいて耐久試験を行うようにした空気入りタイヤの耐久性試験方法を提供する。 - 特許庁

(iii) With regard to the event risk not captured by the market risk management technique because it is beyond the 10-day holding period and 99 percent confidence interval, does the institution capture the impact of such events through appropriate techniques such as stress testing? (iv) In the case where the institution does not measure specific risks with the use of the internal model approach, does it use The Standardized Approach ? 例文帳に追加

（ⅲ）個別リスクについて内部モデル方式を用いて計測していない場合には、標準的方式を用いて計測しているか。 - 金融庁

An OS emulator 104 materializes the function of a target OS on a host OS 103, and operates an integrated application 105 developed for the target OS for testing the application 105.例文帳に追加

ＯＳエミュレータ１０４は、ホストＯＳ１０３上にターゲットＯＳの機能を実現し、ターゲットＯＳ向けに開発された組み込みアプリケーション１０５を検査のために動作させる。 - 特許庁

A battery testing part 50 periodically performs a battery load test which supplies a load current same as that in an abnormal alarm period to the battery power supply 36 to detect a battery voltage.例文帳に追加

電池試験部５０は定期的に電池電源３６に異常警報時と同等な負荷電流を流す電池負荷試験を行って電池電圧を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily performing timing correction at the leading end of the socket, which is electrically connected to an IC to be tested, with high accuracy.例文帳に追加

被試験ＩＣと電気的に接続するソケット先端におけるタイミング補正を高精度に且つ容易に行えるようにした半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing circuit for measuring a frequency capable of accurately measuring a frequency not locked in phase and a semiconductor integrated circuit having it.例文帳に追加

位相がロックされていない周波数の測定を高精度で行うことができる周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

By complying with the calling convention, proper operation of the computer program is achieved during testing even if an exception handler, or other program element that relies on compliance with the calling convention, is invoked.例文帳に追加

呼び出し規約に従うことで、呼び出し規約に応じて例外ハンドラまたは他のプログラム要素が生じても、テスト中、コンピュータプログラムの適切な動作が行われる。 - 特許庁

The composite member, for example, is used in an electric testing commercial scene as a high performance dynamic probe/sensor for a frequency signal or a complex mixed frequency signal.例文帳に追加

複合部材は、例えば周波数又は複雑な混合周波数信号のための高性能な動的プローブ／センサとして電気試験市場で用いることができる。 - 特許庁

When testing a frequency divider PS, a test control voltage signal TC and a RF test signal TS are supplied to input terminals IN1 and IN2 through a balun T1.例文帳に追加

分周器ＰＳのテスト時に、バランＴ１を介してテスト制御電圧信号ＴＣおよびＲＦテスト信号ＴＳが入力端子ＩＮ１、ＩＮ２に供給される。 - 特許庁

RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT, NONCONTACT IC CARD AND READER/WRITER HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE, AND METHOD FOR TESTING DEVICE HAVING SAME RANDOM-NUMBER GENERATING CIRCUIT INSIDE例文帳に追加

乱数生成回路、当該乱数生成回路を内蔵する非接触ＩＣカード及びリーダ／ライタ、並びに、当該乱数生成回路を内蔵する装置のテスト方法 - 特許庁

An external testing device 17 as a logic tester outputs a test start command to the automatic rewriting circuit 16, and then starts the operation test of the logic circuit 14.例文帳に追加

そして、ロジックテスタとしての外部の試験装置１７は、上記自動書換え回路１６に試験開始指令を出力した後、ロジック回路１４の動作試験を開始する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving a function to prevent probe card warpage, while keeping a moving function of a top plate, by improving a test head side holding structure.例文帳に追加

テストヘッド側保持構造を改良して、トッププレートの移動機能を保持したまま、プローブカード反り防止機能が向上された半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

The first electronic tag label testing part 15 divides the data into three, and the writing and reading of the respective divided data is respectively carried out to the electronic tag labels 20 by three readers 151A to 151C.例文帳に追加

第１電子タグラベル検査部１５はデータを三分割し、各分割データを３個のリーダ１５１Ａ〜１５１Ｃでそれぞれ電子タグラベル２０に書き込みと読み出しを行なう。 - 特許庁

To provide a battery testing device and a battery conveyance/storage case, inexpensive, and capable of preventing damage due to pressure rise inside a test chamber or a vessel.例文帳に追加

本発明は、安価で、試験槽内又は容器内の圧力上昇による破損を防止することができる電池試験装置、電池搬送・保管用ケースを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device which can cope with a change in standards, such as the arrangement, number, size, and PKG size of device pins in a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

試験対象の半導体装置のデバイスピンの配置、数、およびサイズならびにＰＫＧサイズなどの規格に変更があっても対応可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.例文帳に追加

本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁

In this grip structure, the grip is held by first and second chucks which are attached to a golf club testing machine and arranged at two points in the longitudinal direction of a cylindrical body.例文帳に追加

ゴルフ試打装置に取付けられ、円筒状本体の長さ方向２カ所に設けた第１および第２のチャック部で前記グリップを保持するグリップ構造である。 - 特許庁

To provide an electromagnetic-type actuator capable of estimating the lifetime and capable of setting the estimate life to a required value or above, and to provide a material testing apparatus.例文帳に追加

推定寿命を予測できるとともに、その推定寿命を要求される値以上に設定することが可能な電磁式アクチュエータおよび材料試験機を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing the operational margin of an information storage device having marked random variations, and an information storage device having the function of self-diagnosing the operational margin.例文帳に追加

ランダムばらつきが大きい情報記憶装置について動作余裕をテストする方法、及び動作余裕を自己診断する機能を有する情報記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for detection of signal generation, capable of testing objects to be measured whose multiplication and separation can not be properly performed.例文帳に追加

本発明は、多重化や分離が適切に行なえない被測定物の試験が可能な信号発生検出装置及び信号発生検出方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a clutch torque transmission capacity analysis device of an automatic transmission for dispensing with prototyping an automatic transmission for testing and analyzing torque transmission capacity of a clutch.例文帳に追加

テスト用の自動変速機を試作することを不要としつつ、クラッチのトルク伝達容量を解析する自動変速機のクラッチトルク伝達容量解析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a semiconductor integrated circuit in which the time required for manufacturing the semiconductor integrated circuit (including the time required for examinations) is shortened.例文帳に追加

半導体集積回路の製造（検査に要する時間を含む）に要する時間を短縮できる半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a disconnection detection device capable of testing a radio tag reader without performing actual operation or even when a noise source exists in the periphery.例文帳に追加

実動作を行わなくても、また、周囲にノイズ源が存在する状況であっても、無線タグリーダの試験を行うことができる断線検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elution testing method that allows measurement of an elution amount of a component having elution property from an inorganic substance such as steel making slag with higher accuracy in shorter time.例文帳に追加

製鋼スラグ等の無機物からの可溶出成分の溶出量をより高精度かつ短時間で測定することが可能な溶出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for reducing a shift of light emitting timing between light sources and reducing artifact in a diagnosis image in a biological testing apparatus having a plurality of light sources.例文帳に追加

複数の光源を有する生体検査装置において、光源間の発光タイミングのずれを低減し、診断画像中のアーチファクトを低減するための技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.例文帳に追加

試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

When the adjustment mode switch of the radar device is turned on, the radar device is shifted to self adjustment mode and is automatically calibrated through loopback test using the testing device.例文帳に追加

そして、レーダ装置の調整モードスイッチをＯＮすると、レーダ装置が自己調整モードに移行し、試験装置を介したループバック試験で自動的にキャリブレーションが行われる。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To generate test data meeting restrictions on testing of software, with practical temporal and spatial computational complexity even when the restrictions includes many character string variables.例文帳に追加

ソフトウェアのテストの制約が多数の文字列変数を含む場合でも，実用的な時間空間計算量で制約を充足するテストデータを生成できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.例文帳に追加

バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing rubber wear for accurately reproducing on a sample abrasion phenomenon occurring on a tire, and to provide a rubber-index calculation method which uses the test method.例文帳に追加

タイヤで起きている摩耗現象を精度良くサンプルで再現することが可能なゴム摩耗試験方法及びそれを用いたゴムインデックス算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing apparatus that reduces the time for analyzing a failure by displaying the number of failures in each area of a device to be tested.例文帳に追加

被試験対象デバイスの各領域におけるフェイル数を表示し、フェイルの解析にかかる時間を短縮することが可能な半導体メモリ試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide an environment testing device, capable of enhancing the acceleration properties of a test while ensuring the reproducibility of trouble produced in a test specimen under an actual use state.例文帳に追加

実際の使用状況下で試験体に生じる不具合の再現性を確保しつつ、試験の加速性を向上することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

The method and a system have the technical effect of automatically testing an overspeed protection system associated with a plurality of power plant machines of a power plant (100).例文帳に追加

本発明の実施形態は、発電プラント（１００）の複数の発電プラント機械に関連する過速度保護システムを自動的に試験する技術的作用を有する。 - 特許庁

The testing device 1 reads the operation information in time series, and when the operation data is read, an operation data output means 1c outputs the operation data to the target device 3.例文帳に追加

試験装置１では、操作情報を時系列に読み出し、操作データを読み出したときは操作データ出力手段１ｃが、操作データを対象装置３に出力する。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

The base sequence of any of the sequence numbers 1-4 (refer to the specification) or a part thereof is used for testing on the human pituitary or therapy of human pituitary-associated diseases.例文帳に追加

本発明は、配列番号１〜４のいずれかの塩基配列又はその部分の、ヒト下垂体に関する検査又はヒト下垂体関連疾患の治療のための使用である。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which the error of an uncorrectable pattern is corrected by adding the already uncorrectable pattern and one-bit fail bit, and to provide a testing method.例文帳に追加

既に訂正不可となっているパターンと、１ビットのフェイルビットの追加により、訂正不可となるパターンを誤り訂正する半導体装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.例文帳に追加

カード本体１１表面には、検査対象ウエハ上のＬＳＩチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ２１が実装される。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING CORROSIVE ENVIRONMENT OF MOBILE BODY, ITS DESIGN METHOD, CORROSION TESTING METHOD FOR MOBILE BODY MATERIAL, ITS SELECTING METHOD, SURFACE TREATED STEEL PLATE, AND ANTI-CORROSIVE STEEL MATERIAL例文帳に追加

移動体の腐食環境計測方法、その設計方法、移動体材料の腐食試験方法およびその選定方法、ならびに表面処理鋼板および耐食鋼材 - 特許庁