「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(218ページ目) - Weblio英語例文検索

A piping pattern, conducting to the bump body via the anisotropic conductive rubber plug 13, is formed on an epoxy resin substrate 15 in the inside and is connected to a testing device.例文帳に追加

エポキシ樹脂基板１５には、異方導電性ゴムプラグ１３を介してバンプ本体に導通する配線パターンが内部に形成され、配線パターンは試験装置に接続される。 - 特許庁

To provide a transmission timing variable circuit which adds desired transmission jitters to the transmission timing of a transmitter for testing propriety of reception timing of a receiver in the radio communication.例文帳に追加

無線通信における受信機の受信タイミングの適正さを試験するために送信機の送信タイミングに所望の送信ジッタを付加する送信タイミング可変回路の提供。 - 特許庁

To provide a drop-testing apparatus for an aircraft leg, with which the drop test of a relatively small aircraft leg can be performed with high accuracy, regarding many types by using existing apparatus.例文帳に追加

既存装置を利用して相対的に小型の航空機脚を、多くの機種について高精度に落下試験することができる航空機脚落下試験装置を提供する - 特許庁

To simplify the whole constitution of a device for testing the performance and characteristics of a hydraulic motor extremely and to enable the device to execute the tests in energy saving manner.例文帳に追加

油圧モータの性能や特性の試験を行うための装置の全体構成を極めて簡略化し、かつその試験を省エネルギ的に実行できるようにする。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

Thus, air for testing is injected while monitoring an air pressure inside the air pipe 1A by using the test jig and the test adjustment of this heat sensing unit 1C is performed.例文帳に追加

これにより、試験治具を用いて空気管１Ａ内の空気圧を監視しながら試験用の空気を注入し、熱感知ユニット１Ｃの試験調整ができる。 - 特許庁

To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.例文帳に追加

テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing embedded-type time domain reflectivity that specify faults in the wirings in a printed circuit substrate with minimum cost, and in minimum time.例文帳に追加

プリント回路基板の配線の故障を最小限のコストと時間で特定する埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Maintaining the total mass flow through several parallel turbine inlet control valves (28) constant also minimizes turbine power changes during inlet control valve (28) testing.例文帳に追加

平行タービン入口制御弁（２８）を通る全質量流量を一定に保ち、入口制御弁（２８）試験中のタービン出力変化も最小限に抑えられる。 - 特許庁

A photosynthesizer 27 synthesizes the first optical signal and the second optical signal P2, and outputs the optical signal obtained by the synthesis as an optical signal P3 for testing.例文帳に追加

光合成器２７は、第１光信号Ｐ１と第２光信号Ｐ２とを合成し、その合成によって得られた光信号を試験用光信号Ｐ３として出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a method for testing the same, which use a clock signal gating technique capable of reducing a power consumption in a test operation.例文帳に追加

テスト動作時の消費電力を低減することのできるクロック信号ゲーティング技術を利用した半導体集積回路およびそのテスト方法の提供を図る。 - 特許庁

To provide a sorting machine of an acoustic input product for testing a lot of acoustic input products at high speed and performing sorting work based on the test results.例文帳に追加

高速に多量の音響入力製品をテストして、検査結果による分類作業を行うことができる音響入力製品の選別装置に提供すること。 - 特許庁

A bit error map for testing a semiconductor memory is formed, the prescribed data value A is written in a memory cell, successively read out, and compared with a written data value.例文帳に追加

半導体メモリのテストのため、ビットエラーマップが形成され、その際、所定のデータ値がメモリセル内に書き込まれ、続いて、読み出され、書き込まれたデータ値と比較される。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a frequency characteristic measuring device capable of easily performing frequency characteristic evaluation test of a vibration sensor for testing in any heating state.例文帳に追加

試験用の振動センサを、簡単に、任意の加熱状態において周波数特性評価試験を行うことができる周波数特性の測定装置を提供すること。 - 特許庁

On the other hand, when the vehicle is moved against the chassis dynamometer before and after the running characteristic testing, the movable frame is moved to the raised position above the silencer body.例文帳に追加

また、一方、走行特性試験の前後で車両がシャシダイナモメータに対して移動される際には、可動フレーム部は防音装置の本体上方の跳ね上げ位置へ移動される。 - 特許庁

To provide a coated steel pipe in which a leakage test of the coated steel pipe can be easily performed and which is capable of more easily and positively mounting testing ports thereto than before.例文帳に追加

被覆鋼管の漏れ試験を容易に実施できると共に，従来よりも容易且つより確実に試験用ポートを取付けることが可能な被覆鋼管を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor testing device capable of judging the output signal of an IC to be measured in each phase by one test cycle without using a pin multiplex.例文帳に追加

本発明は、ピンマルチプレクスを使用せずに、１回の試験サイクルで各位相における被測定ＩＣの出力信号を判定できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of dispensing with use of an expensive transmission cable for a high-frequency characteristic and prevention of a mixed noise, when distributing a clock from a clock board.例文帳に追加

クロックボードからのクロック分配の際に、高周波特性やノイズ混入防止のために高価な伝送ケーブルを使用する必要がない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a signal wiring system of an electronic circuit, which is easy in a remodeling work, superior in terms of economy, reduces induced noise between signals and easily monitors signal at testing.例文帳に追加

改造工事が容易で、経済性に優れ、信号間誘導ノイズが削減され、試験時の信号モニタが容易な電子回路の信号配線方式を提供する。 - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

To generate destruction without causing the deformation of a rubber test piece quickly in a rubber destructive testing machine for generating destruction such as cutout in the rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片に対して欠け等の破壊を生じさせるゴム破壊試験機において、短時間でゴム試験片の変形を促すことなく破壊を生じさせるようにする。 - 特許庁

By this scanning, a signal component of low frequency originating in the swell of the surface of the magnetic recording medium is separated from the signal emitted from the testing head.例文帳に追加

この走査により、感熱素子を有する検査ヘッドから出力された信号から、磁気記録媒体表面のうねりに起因する低周波の信号成分を分離する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for testing whether or not a power shut-off circuit normally operates even while suppressing increase in wiring area.例文帳に追加

配線領域の増大を抑制しつつも、電源遮断回路が正常に機能しているかを試験することのできる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ex-vivo test kit for testing the effectiveness of a reverser in the blood, serum, or plasma of a patent containing the reversers of multidrug resistance.例文帳に追加

多重薬剤耐性のリバーサ−を含む患者血液、血清又は血漿中の当該リバーサ−の効果を検査するためのｅｘ−ｖｉｖｏ検査キットを提供する。 - 特許庁

To obtain a method and device for monitoring static damage, capable of readily testing the presence or absence of the static damage caused, when a processing is effected by use of ions of ion implantation, etc.例文帳に追加

イオン注入等のイオンを用いる加工を行う際に生ずる静電破壊の有無を容易に検査可能な静電破壊モニタリング方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

To reduce cost required for a test by enabling a high-speed LSI test by an inexpensive testing device, and to test also a semiconductor device on a mounting substrate.例文帳に追加

安価な試験装置により高速なＬＳＩの試験を可能として試験に要するコストを削減し、また、実装基板上の半導体装置の試験も可能とする。 - 特許庁

To provide a material testing device capable of accurately capturing a moment of breakage without taking time and labor of forming a thin film pattern of a conductor on a surface of a test piece.例文帳に追加

試験片の表面に導体の薄膜パターンを形成するような手間をかけず、破損の瞬間を正確に捉えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To attain suppression of expansion of circuit scale, reduction of a test time, and reduction of the number of pin terminals when testing the propriety of a connection between semiconductor chips including through-electrodes.例文帳に追加

貫通電極を備える半導体チップ間の接続の良否をテストするにあたり、回路規模の拡大の抑制、テスト時間の短縮、および、ピン端子数の削減を図る。 - 特許庁

To provide equipment for testing electrical characteristics of a semiconductor device package with a first connector terminal formed on under surface and a second connector terminal formed on upper surface.例文帳に追加

下面に第１連結端子が形成され、上面に第２連結端子が形成された半導体素子パッケージの電気的特性を検査する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reliably and easily confirming the operations in a low-speed operation and high-speed operation of a test waveform creating part for outputting waveforms for test.例文帳に追加

試験用波形を出力する試験用波形生成部の、低速動作や高速動作における確実な動作の確認が容易な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which enables easy testing of variation in an output clock frequency of a built-in clock generator, outside an LSI chip, by a digital tester.例文帳に追加

内蔵されたクロックジェネレータの出力クロック周波数の変動をＬＳＩチップ外部でデジタルテスタにより容易に試験できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The element substrate 91 has a plurality of testing terminals 80, 81, 82, source lines 6, gate lines 3, the connection terminal 7, TFT elements, pixel electrodes and a driver IC 40, etc.例文帳に追加

素子基板９１は、複数の検査用端子８０，８１，８２、ソース線６、ゲート線３、接続用端子７、ＴＦＴ素子、画素電極、ドライバＩＣ４０等を有している。 - 特許庁

At this contacting moment, the contacting thrust and a thrust consisting of an inertia force of the piston itself and an inertia force of the testing probe are eased from becoming excessive.例文帳に追加

これにより当接される瞬間、当接押圧力とピストン自身の慣性力と検査用プローブの慣性力からなる押圧力が過大になることが緩和される。 - 特許庁

To provide a cylinder cover for protecting depredation of an impactor and a cylinder, when the impactor dashed down to an auto-body rebounds to encounter the cylinder of a catapult during the period of testing runtime.例文帳に追加

試験実行時に車体に叩きつけたインパクタが跳ね返り射出器のシリンダーに衝接してインパクタ，シリンダーが損傷するのを防止するためのシリンダーカバーを提供する。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a conveying carrier tool for a semiconductor device testing device loadable with a plurality of kinds of BGA (Ball Grid Array) type semiconductor devices, though having a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成でありながら、複数の品種のＢＧＡ型半導体装置を搭載することが可能な半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具を提供する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as the communication monitoring device for appropriately monitoring communication data transmitted and received by a specified terminal.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の端末が送受信する通信データを適切に監視する通信監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a timing signal generator capable of easily analyzing the cause of an edge signal generation error in a short time, and a semiconductor testing apparatus including the generator.例文帳に追加

エッジ信号の発生エラーの原因を短時間且つ容易に解析することができるタイミング信号生成装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, testing questions are downloaded to the computer 3 capable of carrying out the game play from the database 17 provided in an authentication server 13 which is included in the Web server system 5.例文帳に追加

そして、前記Ｗｅｂサーバシステム５に含まれる認証サーバ１３に備えられたデータベース１７よりテスト問題が前記ゲーム遊戯が実行可能なコンピュータ３にダウンロードされる。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control device 10, which functions as a route information managing device managing route information for transmitting and receiving communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データを送受信するための経路情報を管理する経路情報管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a method for testing lateral pressure of an optical fiber capable of accurately measuring light transmission losses in periodic macro bents of the optical fiber, and an instrument therefor.例文帳に追加

光ファイバの周期的なマクロベントに対する光伝送損失をも正確に測定可能な光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置を提供すること。 - 特許庁

To execute an application testing device for efficiently make the various tests of an application in a controller without performing the function changing operation of a shadow block in the controller.例文帳に追加

コントローラ内のシャドウブロックの機能変更操作をしないでコントローラ内部のアプリケーションの多様な試験を効率よく実施するできるアプリケーション試験装置を実現する。 - 特許庁

To efficiently conduct a test by an inexpensive facility, and to quickly obtain a test result, when testing a light resistance of an optical component for coping with a specified short wavelength light source.例文帳に追加

特定の短波長光源に対応する光学部品の耐光性試験を行う場合に、廉価な設備で効率的な試験を行い、迅速に試験結果を得る。 - 特許庁