Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
To provide a semiconductor testing device which is provided with a means to detect a change in an element related to a calibrating operation and in which a calibration control operation related to the replacement of a board can be performed precisely.例文帳に追加
キャリブレーションに係る要素の変化を検出する手段を備えて、ボード交換に係る校正管理を的確に行える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To carry out calibration of a consumption sensor allowing restoration to a comparison standard without interrupting operation of a testing base by means of an economical and simple system.例文帳に追加
経済的にかつ簡単な形式で、検査台運転を中断することなしに、比較基準に戻すことのできる消費量センサのキャリブレーションを可能にするようにする。 - 特許庁
To provide a test module used for verifying proper arrangement of a light-emitting device on an electronic assembly, by testing light color and light intensity on the light-emitting device.例文帳に追加
発光デバイス上で色及び光度試験を実施することにより、電子アセンブリ上の発光デバイスの適正な配置を検証するために用いられるテストモジュールを提供する。 - 特許庁
Article 71-2 The Director of the Prefectural Labour Bureau or the designated testing institution shall inform in writing a person who have passed the examination of that fact. 例文帳に追加
第七十一条の二 都道府県労働局長又は指定試験機関は、免許試験に合格した者に対し、その旨を書面により通知するものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
At testing, the tristate buffers 7A and 7B are in an off-state, the input and output terminals 1A and 1B are connected to the scan passes 3_1-3_m and 3_m+1-3_n respectively to input test data.例文帳に追加
テスト時、3ステートバッファ7A,7Bをオフ状態にし、入出力端子1A,1Bをそれぞれスキャンパス3_1 〜3_m ,3_m+1 〜3_n に接続してテストデータを入力する。 - 特許庁
To provide a structure of a sample container release mechanism of a thermal shock testing apparatus, in which locking/unlocking operations are easily carried out, and a sample container can be fixed stably.例文帳に追加
熱衝撃試験装置の試料容器の脱着機構において、ロック/アンロックの操作が簡単で、且つ安定して試料容器を固定できる構成を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus for testing light stability, which can easily carry out an exchanging work and a dimmer control for a light source and can effectively carry out a test under a high temperature and a low temperature conditions.例文帳に追加
光源の交換及び調光が容易で、高温及び低温の条件下での試験を効率的に実施することが可能な耐光性試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for a communication protocol with which an internal variable on the communication protocol of a device to be tested is estimated and the communication protocol is evaluated on the basis of the estimated result.例文帳に追加
被試験装置の通信プロトコルに関する内部変数を推定し、この推定結果に基づいて通信プロトコルを評価する通信プロトコルの試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a can leakage testing method for detecting, with high accuracy and in a short period of time, a very small amount of leakage out of a can with contents hermetically sealed therein under a negative pressure.例文帳に追加
内容物が陰圧状態で密封されている缶詰の微小リークを高精度で短時間に検出できる缶詰のリーク試験方法を提供すること。 - 特許庁
To keep sufficiently water tight at a fitting part in a formwork frame for a testing sample of a solidifier such as concrete composed of compressively fitting a bottom plate to a bottom part of a cylindrical body.例文帳に追加
筒状体の底部に底板を圧嵌したコンクリート等の固結材供試体用型枠において、その嵌合部分で十分水密が保たれるようにする。 - 特許庁
Normally, discrimination is carried out for abnormality of the testing object by a first abnormality discrimination means predicting the abnormality on the basis of data of change with time in the status information.例文帳に追加
通常は、状態情報の経時変化データに基づいて異常を予測する第1異常判定手段で被検対象の異常について判定を行う。 - 特許庁
To provide an eddy current testing method capable of confirming adhesion when pressing a probe to a surface to be tested even if a curvature radius of the surface to be tested is unknown.例文帳に追加
被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.例文帳に追加
本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a friction testing device without generation of a deviation in the parallelism between a specimen and a friction element and a fluctuation in the contact pressure between them, and providing a proper and reliable evaluation.例文帳に追加
試験片と摩擦子との間の面間の平行度の狂いや面圧変動の発生がなく、適正且つ信頼性の高い評価を行える摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁
The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加
そして、サブルーチンが呼び出され(S2)、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁
The information to be stored includes a serial number, a wafer ID, a lot ID, a date code, chip records, testing data, and performance information, but not limitted to these.例文帳に追加
記憶される情報には、シリアル番号、ウェーハID、ロットID、日付コード、チップ履歴、試験データ及び性能情報などが含まれるが、これらに限られるわけではない。 - 特許庁
The load testing device 202 is configured so that pseudo monitor data 206 can be included in the pseudo agent 203 so that the test can be executed without installing any actual monitored device 106.例文帳に追加
負荷試験装置202は、実際の監視対象装置106が無くても試験が実施できるよう、疑似エージェント203内に疑似監視データ206を持つよう構成する。 - 特許庁
A first mathematical equation relating a measured value by a testing implement to a measured value by a reference implement concerning independent ports 1, 2 is decided while ignoring a signal leakage between the ports.例文帳に追加
独立ポート1、2について、ポート間の信号の漏洩を無視して試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第1の数式を決定する。 - 特許庁
To provide a testing method of a CMOS integrated circuit whereby the fault current of the CMOS integrated circuit having a high static power current and a high variation thereof can be detected.例文帳に追加
静止電源電流が大きくそのバラツキも大きいCMOS集積回路の欠陥電流を検出可能なCMOS集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a vibration testing installation capable of vibrating a subject to evaluate the effect of vibration he/she may receive while he/she is walking or running.例文帳に追加
被験者が歩行時や走行時に受ける振動の影響を評価するためにこの被験者に効果的に振動を加えることができる振動試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection device and an inspection method for a fare adjustment program for easily testing the fare adjustment program, and for easily developing the highly reliable fare adjustment program.例文帳に追加
容易に精算プログラムをテストすることができ、信頼性の高い精算プログラムを容易に開発することができる精算プログラムの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a wireless connection confirmation testing device that discriminates whether or not a communication opposite party is a terminal to be tested, so as to reduce interference on other communication.例文帳に追加
通信相手が試験をされるべき端末であるかを判断することで他の通信への干渉を低減させることのできる無線接続確認試験装置を得ること。 - 特許庁
The test circuit for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, whereby the taking a terminal for testing the SDRAM 101 outside of the SIP101 is dispensed with.例文帳に追加
ASIC100内に、SDRAM101のテスト回路を設けることにより、SDRAM101のテストのための端子をSIP102の外部に出す必要がなくなる。 - 特許庁
The fretting corrosion testing apparatus 1 includes a base 12; a first fixture 87; a second fixture 90; a driving part 14; a load sensor 59; and a control unit 20.例文帳に追加
フレッチング腐食試験装置1はベース12と第1の固定具87と第2の固定具90と駆動部14と荷重センサ59と制御装置20を備えている。 - 特許庁
The Basel Committee should raise capital requirements for complex structured credit instruments and off-balance sheet vehicles, require additional stress testing, and enhance their monitoring. 例文帳に追加
バーゼル委員会は、複雑な仕組み商品及びオフバランス関連会社に関して所要自己資本を引き上げ、追加的なストレス・テストを要求し、モニタリングを強化すべき。 - 財務省
Also, a testing circuit 5 which decides an external bit output according to the analytical results and does not perform a control output to the device 6 in the case of a wrong output is provided.例文帳に追加
また、解析結果による外部ビット出力を判定して、誤出力であった場合には、現場機器6へ制御出力をしない検定回路5を設ける。 - 特許庁
To provide a concrete compressive strength testing device having a simple structure capable of performing a highly accurate compressive strength test by applying a required compressive load to a concrete specimen.例文帳に追加
コンクリート供試体に所要の圧縮荷重を加えて高精度の圧縮強度試験を行うことができる簡易型構造のコンクリート圧縮強度試験装置を得る。 - 特許庁
To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a change or addition in test items, measuring instruments, devices under test, or the like occurs.例文帳に追加
試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide a reproduction device tester facilitating the quality decision of operation of a reproduction device, and to provide an information extraction device for testing the reproduction device.例文帳に追加
再生装置の動作の良否判定を容易にする再生装置試験装置、及び再生装置試験用情報抽出装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
The semiconductor device is provided, between a plurality of chips 2 formed on a wafer 1, with a test circuit including a TAP 3 for accessing an objective circuit 5 in a chip externally and testing the circuit 5.例文帳に追加
ウエハ1上に形成された複数のチップ2間にチップ内のテスト対象回路5に外部からアクセスしてテストを行うTAP3を含むテスト回路を備える。 - 特許庁
A material tester 1 comprises a material testing machine body 2 and a control computer 3 while the control computer 3 is connected to a communication line 4 such as a LAN.例文帳に追加
材料試験装置1は材料試験機本体2と制御コンピュータ3から構成されており、制御コンピュータ3はLANなどの通信回線4に接続されている。 - 特許庁
To provide a weather/light resistance testing machine capable of finely adjusting the surface temperature of a sample while adjusting the temperature in a tank and the temperature of a black panel.例文帳に追加
槽内温度調整及びブラックパネル温度調整を行いつつも試料表面温度の微調整をすることができる耐候光試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a temperature regulator for genetic testing, which rapidly and precisely regulates the temperature of a vessel packed with a sample and causes no enlargement of equipment.例文帳に追加
試料が充填された容器が迅速かつ精密に温度調節されるとともに、機器の大型化を招かない遺伝子検査用温度調節装置を提供する。 - 特許庁
With the fretting corrosion testing equipment, a male terminal 2 and a female terminal are made in and out of contact with each other to have fretting corrosion and electric resistance between the male terminal 2 and the female terminal is measured.例文帳に追加
フレッチング腐食試験装置は雄端子2と雌端子を互いに接離させてフレッチング腐食させ雄端子2と雌端子の電気的な抵抗を測定する。 - 特許庁
To provide an IC card testing technique for reducing the data transmitting time, and for speeding up test by reducing data transfer between a tester and an IC card to the minimum.例文帳に追加
テスタとICカードとのデータ転送を最小限に抑えてデータ転送時間を削減し、試験の高速化を図ることができるICカードの試験技術を提供する。 - 特許庁
Shift registers SR_B and SR_C which operate in the test mode are formed in non-testing blocks B and C, by the use of flip-flops which operate ordinarily in an ordinary mode.例文帳に追加
通常モード時に通常動作を行うフリップフロップを用いて、テストモード時に動作するシフトレジスタSR_BおよびSR_Cを非試験ブロックBおよびCに構成する。 - 特許庁
The photosynthesis activity evaluation system of coral 1 is constituted, such that the salt water W and the coral C are confined in a testing vessel 2, to which an anode electrode 5 and a cathode electrode 6 are protruded.例文帳に追加
サンゴの光合成活性評価装置1は、海水W及びサンゴCを内部に閉じ込める試験容器2の内部に、陽極5と陰極6とが突出する。 - 特許庁
To provide a testing system capable of providing a test environment in which a wireless communication apparatus can be tested as if the test were performed in a place where the wireless communication apparatus is actually used.例文帳に追加
無線通信機器が実際に使用される場所で試験が実際的に行われるような試験環境を提供することができる試験システムを提供する。 - 特許庁
To provide a startup range monitor system inspection testing device capable of measuring a discrete characteristic, a plateau characteristic or the like without exerting an influence on an operation processing function of an operation processing part.例文帳に追加
演算処理部の演算処理機能に影響を及ぼさずにディスクリ特性、プラトー特性等を測定することができる起動領域モニタ検査試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a wiring board on which pads are formed as test pads or jumpers by printing or applying a conductive material, and to provide its testing method.例文帳に追加
配線基板上に、導電性材料の印刷,塗布によりテストパットまたはジャンパとしてパットを形成するようにした、配線基板およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor memory that makes it possible to reduce test time after manufacturing and reduces cost by using an inexpensive test system, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加
製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁
A holding device, to which the sample fiber is attached and the holders are connected by a holder connector, is detached from the slider mechanism 51 to be mounted on testing apparatus.例文帳に追加
試料繊維が取り付けられ、ホルダ連結具によってホルダが連結された把持装置がスライダ機構51から取り外されて試験装置に対して装着される。 - 特許庁
To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.例文帳に追加
サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a radio base station testing device by which accurate reception characteristics can be grasped, even when a transmission output end and a reception input end are used in common.例文帳に追加
送信出力端と受信入力端とが共用されている場合であっても、正確な受信特性が把握できる無線基地局試験装置を提供する。 - 特許庁
When testing the transmission/reception of radio waves concerning the device to be measured, the changeover switches 36 and 38 are switched so as to connect the probe 32 to the antenna 26 for measurement.例文帳に追加
被測定デバイスについて電波の送受信のテストを行う場合には、触針32が測定用アンテナ26に接続されるように切換スイッチ36、38を切り換える。 - 特許庁
To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加
試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
Because a command order error occurs when receiving a symbol stop command 33 before the reception of a stop symbol designation command 32, the game machine outputs an error signal 53 to the testing machine.例文帳に追加
停止図柄指定コマンド32の受信前に図柄停止コマンド33を受信すると、コマンド順番エラーとなるので、エラー信号53を試験機へ出力する。 - 特許庁
A vibration-testing apparatus 1 includes a waveform generating device 6, a hydraulic vibration exciting device 3, a sample 2, a measuring device 5, and a control device 4 for controlling the movement of the hydraulic vibration exciter 3.例文帳に追加
振動試験装置1は、波形発生装置6、油圧加振機3、供試体2、計測装置5、油圧加振機3の動きを制御する制御装置4を備える。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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