「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(221ページ目) - Weblio英語例文検索

This testing device 10 is constituted of a cuboidal casing 11, and a semiconductor device attaching jig 12 provided in an upper face of the casing 11.例文帳に追加

半導体評価試験装置１０は、直方体状の箱体１１と、該箱体１１の上面に設けられた半導体装置装着用冶具１２とから構成されている。 - 特許庁

In this way, a time change to a testing time is carried in a necessary part without changing the time of the system as a whole, so that a test can be carried out without any influence on the on-line action.例文帳に追加

このようにして、システム全体の時刻を変更せずに、必要な一部を試験用の時刻に変更し、オンライン動作に影響を与えずに試験が行える。 - 特許庁

To provide a combination test method capable of testing easily a receiver for inputting a signal including a desired amount of jitter, even when an output signal from a transmitter is at a high speed.例文帳に追加

送信装置の出力信号が高速でも所望量のジッタを含む信号を入力する受信装置のテストを簡易に行える組合せ試験方法の提供。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

To provide a liquid vessel type thermal shock testing device, capable of efficiently recovering a heating medium liquid evaporated from a high-temperature liquid vessel, and capable of restraining the running cost of the heating medium liquid.例文帳に追加

高温液槽から蒸発する熱媒液を効率よく回収し、熱媒液のランニングコストを抑制した液槽式熱衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING POWER SUPPLY, METHOD FOR SUPPLYING POWER, TESTING DEVICE EMPLOYING THE SAME, POWER UNIT WITH EMULATION FUNCTION AND METHOD FOR EMULATING POWER SUPPLY ENVIRONMENT例文帳に追加

電源の評価方法、電源評価装置、電源の供給方法、それらを用いた試験装置、エミュレート機能付きの電源装置、電源環境のエミュレート方法 - 特許庁

To acquire UL synchronization of a terminal by a mobile internet measuring device and execute analysis, without having to add additional testing function to the terminal or to use a base station.例文帳に追加

端末機に別途のテスト機能を付与せず、また、基地局を使用しないで、携帯インターネット計測器で端末機のＵＬ同期を取得して分析できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of performing testing at an actually operating speed of the semiconductor memory device, and capable of reducing the number of input/output terminals of a tester required for connection.例文帳に追加

半導体記憶装置の実動作速度でテストを行い、且つ接続に要するテスターの入出力端子数を削減できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

A material and a method for chemically and/or physically controlling a conductive domain and reagent deposition in the use of a multispecific testing method is disclosed.例文帳に追加

多重特異的試験法で使用するための導電性ドメインと試薬沈積の化学的および／または物理的制御のための材料と方法が提供される。 - 特許庁

To provide a testing method of evaluating (determining) the staining capacity of cosmetics for discriminating cloth hard to adhere the cosmetics from cloth easy to remove the cosmetics if the cosmetics adhere.例文帳に追加

化粧品が付着しにくい布帛やあるいは付着しても落ちやすい布帛を見分ける化粧品汚染性能を評価（判定）する試験方法を提供する。 - 特許庁

To prevent occurrence of cracks at solder joint portions caused by 1,000 cycle heat shock testing at -40 to 150°C in a mounted structure using a lead-free solder.例文帳に追加

鉛フリーはんだを用いた実装構造体において、−４０〜１５０℃のヒートショック×１０００サイクル試験によってはんだ接合部分にクラックが発生するのを防止する。 - 特許庁

To provide a portable endoscope apparatus capable of preventing damage of a light source unit due to increase in an internal pressure and testing airtightness of the light source unit after the assembling.例文帳に追加

内圧上昇による光源ユニットの破損を防ぐとともに、光源ユニットの組立後の気密性を検査することができる携帯型内視鏡装置を提供する。 - 特許庁

The present invention provides an on-chip circuit and a testing method which evaluate transistor electric charge transfer performance and electric charge storage capability of a DRAM cell in an real operating environment.例文帳に追加

本発明は、実動作環境におけるＤＲＡＭセルのトランジスタ電荷転送性能および電荷保持能力を評価するオン・チップ回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a remote testing apparatus for a protective device in which an artificial readout error does not occur and by which an operator need not go to a distant place for a test.例文帳に追加

人為的読取り誤差が発生することがなく、また、試験のために作業者が遠隔地まで出向く必要がない保護装置の遠隔試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for changing a hardware logic of a gate array held by a test module corresponding to the properties of a device under test (DUT), and performing a proper test to the DUT.例文帳に追加

テストモジュールが有するゲートアレイのハードウェア論理をＤＵＴの性質に応じて変更し、当該ＤＵＴに適切な試験を実行する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a preparation method and its system for testing BSE, which have such advantages that abnormal prions can be rapidly and accurately detected, and a lot of specimens can be treated.例文帳に追加

異常プリオンを迅速かつ的確に検出可能ならしめる、検体が大量でも対応可能である、等の利点を持つＢＳＥ検査前処理方法及びシステムを提供。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

After the abnormal parts of the inside face of can are detected by an image analysis section 5 from each image by the first to the third imaging sections, and an inspection section 6 conducts testing and deciding and selects the cans.例文帳に追加

第一乃至第三撮像部による各画像から画像解析部５で缶内面の異常部を検出し、検査統括部６で検査判定し選別する。 - 特許庁

To obtain a circuit and method for testing a microcomputer capable of performing test operation free from the influence of the delay of an input signal by eliminating adjusting operation to be performed in debugging.例文帳に追加

デバッグ時に行う調整作業をなくし、入力信号の遅延に影響を受けないテスト動作を行えるマイクロコンピュータのテスト回路およびテスト方法を得る。 - 特許庁

The display part 6 displays an image of the shot phosphor layer 16 and displays a guide providing the inspection standard for testing a beam spot to the phosphor layer.例文帳に追加

表示部６は、撮影した蛍光体層１６の画像を表示するとともに、蛍光体層に対するビームスポットを検査するための検査基準を与えるガイドを表示する。 - 特許庁

To provide a shock absorber of favorable performance exerting a sufficient damping amount as well on the elongation side as the contraction side and integrated into a pseudo seismic testing device.例文帳に追加

伸び側と縮み側のいずれの側においても充分な減衰量を得ることが出来、これにより擬似地震試験装置に組み込まれる好適なショックアブソーバを提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a gear pair capable of obtaining precise test results by faithfully reproducing the meshing in an actual machine in an actual usage state.例文帳に追加

実機上での使用状態に忠実な歯車対の噛合い状態を再現し、高精度の試験結果を得ることができる歯車対の試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a remote supervisory system that can quickly conduct supervision of general information processing terminals and supervision of a fault state for reliability testing or the like at a low cost.例文帳に追加

一般的な情報処理端末の監視や信頼性試験の異常状況監視等を、早急にローコストで行うことが可能な遠隔監視方式を得る - 特許庁

To provide a carrying system of a vessel which can cope with troubles such as discharging mistake of a defective product and failure of a testing apparatus without stopping a carrying line of a vessel.例文帳に追加

容器の搬送ラインを停止することなく不良品の排出ミスや検査装置の故障等のトラブルに対処することが可能な容器の搬送システムを提供する。 - 特許庁

A method of testing a braking device 31 in a drivetrain 10 of the vehicle V which includes at least one tractive element 23 coupled to a traction motor 22 is provided.例文帳に追加

トラクションモータ（２２）に連結された少なくとも１つの牽引要素（２３）を備える、車両（Ｖ）の駆動系（１０）内のブレーキ装置（３１）を検査する方法を提供する。 - 特許庁

The moving picture distribution testing device includes: a moving packet simulator for simulating a packet loss by each moving picture stream sectioned by refresh; a moving picture frame header detection section; and a frame prediction type detection section.例文帳に追加

リフレッシュによって区切られた動画ストリーム毎にパケット損失をシミュレートする動画パケットシミュレータと、動画フレームヘッダ検出部と、フレーム予測タイプ検出部と、を備える。 - 特許庁

The detector power supply 4 includes a second test part 41 for testing the operation of a second auxiliary power supply Bt2 when receiving the test signal from the disaster prevention receiver 1.例文帳に追加

感知器電源４には、防災受信機１から試験信号を受信したときに第２の予備電源Ｂｔ２の動作試験を行う第２試験部４１が設けられている。 - 特許庁

The printing testing machine is characterized by having the warm wind generater by the compressed air for hitting the warm wind on the printing face which is not completely dried immediately after printing.例文帳に追加

及び印刷直後の未乾燥の印刷面に温風を当てるための、圧縮空気による温風発生装置を備えることを特徴とするグラビアインキの印刷試験機。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor capable of continuously using hardware without replacing it, even when a failure occurs in a storage part, and capable of reducing warranty cost.例文帳に追加

記憶部に故障が発生した時でもハードウェアを交換することなしに継続して使用することができ、ワランティコストの削減が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing method for accelerating the deterioration in an electrophotographic photoreceptor used in an image forming apparatus, such as a laser printer or copying machine, and a device for executing the method.例文帳に追加

レーザープリンター・複写機等の画像形成装置に使用される電子写真用感光体の劣化加速試験方法及び該方法を実施する装置に関する。 - 特許庁

To provide a method for rating the sensitizing potential of a testing specimen more easily and in high accuracy using cultured cells easy to handle and available stably.例文帳に追加

取扱いが容易であり安定して入手可能な培養細胞を用いて、被検物質の感作性をより簡便に且つ精度良く評価できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor capable of reducing the test pattern storage media cost and the communication cost in the transmission of a test pattern and shortening the time of a test pattern.例文帳に追加

テストパターン記憶メディアコストおよびテストパターン伝送時の通信コストの軽減、テストパターンの時間短縮を図ることができる半導体試験方法および装置を得る。 - 特許庁

To provide a method for testing a collision of a vehicle which can further simulate by data at the time of the collision of real vehicles by using an MDB(moving deformable barrier).例文帳に追加

ＭＤＢ（ムービング・デフォーマブル・バリア）を用いた上で実車同士の衝突時のデータにより一層近似させることができる車両衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a file system managing apparatus and a method for managing a file system which can perform testing processing of a storing apparatus more efficiently and activate a navigation apparatus quickly.例文帳に追加

記憶装置の検査処理を効率化してナビゲーション装置を高速に起動することが可能な「ファイルシステム管理装置及びファイルシステム管理方法」を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing instrument for vehicle travel capable of reproducing the desired road face conditions, by forming a prescribed thickness of water film or the like, on a flat level to carry out travel test.例文帳に追加

フラットベルト上に所定厚さの水膜を形成する等して所望の路面状況を再現し、走行試験を行える車両走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a plurality of test modes, in which a set test mode is reliably determined, and to provide a method for testing the semiconductor device.例文帳に追加

複数のテストモードを有する半導体装置において、設定されたテストモードを確実に判定できる半導体装置及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a selection device, a delay device and a testing apparatus which can effectively utilize a writable memory and can make devices or apparatuses small in size.例文帳に追加

書き換え可能なメモリを有効に利用でき、また、デバイスあるいは装置のサイズを小型化することのできる選択デバイス、遅延デバイス及び試験装置を提供する。 - 特許庁

This is a testing method for a morbid state of a wound in which an exudate is brought into contact with collagen gel containing a fibroblast and the contraction degree of the collagen gel is measured.例文帳に追加

創部の浸出液を、線維芽細胞を含むコラーゲンゲルに接触させ、該コラーゲンゲルの収縮程度を測定することを特徴とする創傷の病態の検査方法。 - 特許庁

A testing tank 21 is connected to an end part of a suspension wire 5 suspending an excavator through a suspension hole 1a formed in the hull 1 from the derrick 3.例文帳に追加

デリック３から船体１に形成された吊り下げ孔１ａを介して掘削装置を吊り下げる吊り下げワイヤー５の端部に、試験用タンク２１を連結する。 - 特許庁

To determine whether or not a semiconductor redundant memory cell is selected without requiring an input/output terminal for testing or a test circuit for a defective memory cell.例文帳に追加

テスト用の入出力端子や不良メモリセル用のテスト回路を必要とすることなく、半導体冗長メモリセルが選択されたか否かを判断できるようにする。 - 特許庁

To provide a slide testing method and machine capable of accurate evaluation of a seizure surface pressure, and of evaluation of conformability and abrasion resistance.例文帳に追加

焼付き面圧を正確に評価することができるとともに、なじみ性及び耐摩耗性を評価することができる摺動試験方法及び摺動試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for cold criticality tests which make it possible to shorten testing time at lower costs and to find a highly accurate reactor cycle efficiently.例文帳に追加

低コストで試験時間を短縮することができるとともに、高精度の炉周期を効率よく求めることができる冷温臨界試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an iodine removing efficiency testing method utilizing a gas chromatograph capable of enhancing detection precision using a non-radioactive isotope element, and to provide an iodine removing filter.例文帳に追加

非放射性同位元素を使用し、検出精度を高めることができるガスクロマトグラフを利用したよう素除去効率試験方法及びよう素除去フィルタを提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus 1 tests a plurality of devices to be tested 20a-20d in parallel using a test pattern P1 generated by a pattern generating section 11.例文帳に追加

半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を用いて複数の被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験を並行して行うものである。 - 特許庁