Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
To provide a material testing machine eliminated in the setting a gain prior to a test in a material testing machine having a motor as a drive source, automatically optimized in gain accompanied by the advance of the test and capable of performing more accurate control even if there is noise in the detection value of a control quantity and processing such as filtering or the like is applied.例文帳に追加
モータを駆動源とする材料試験機において、試験に先立ってゲインを設定する必要がなく、かつ、そのゲインを試験の進行に伴って自動的に最適化され、なおかつ、制御量の検出値にノイズがあったり、フィルタなどの処理が施されていても、より正確な制御を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加
モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁
The device for testing the semiconductor integrated circuit includes a pattern data generating means which generates test pattern data for testing a write operation in a memory of the semiconductor integrated circuit; and a write means which writes the test pattern data into a storage area of the semiconductor integrated circuit for storing the test pattern data.例文帳に追加
上記課題は、半導体集積回路のメモリへの書き込みを試験するための試験パタンデータを生成するパタンデータ生成手段と、前記試験パタンデータを前記半導体集積回路の該試験パタンデータを格納する記憶領域へ書き込む書き込み手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の試験装置により達成される。 - 特許庁
On the basis of picture information of the acquired exposure unit mark 54, the pusher stage 4 compensates for any positional deviation when it judges that a new exposure unit has been positioned in a testing part and, after compensating for the positional deviation, compensates for no positional deviation except in contact failure until it judges that the next exposure unit has been positioned in the testing part.例文帳に追加
取得した露光単位マーク54の画像情報に基づいて、試験部に新たな露光単位が位置したと判断したときに、プッシャステージ4は位置ずれ補正を行い、位置ずれ補正を行った後、次の露光単位が試験部に位置すると判断するまでは、コンタクト不良となる以外、プッシャステージ4は位置ずれ補正を行わない。 - 特許庁
The semiconductor-testing device includes: a test board including a plurality of test pins, where the semiconductor device to be tested is mounted; a test part for testing continuity between the plurality of test pins and a plurality of device pins; and a control part for identifying test pins continuous to the device pins from among the plurality of test pins to allocate test pins connected to the device pins by referring to coordinates of the device pins.例文帳に追加
試験対象の半導体装置が搭載される、複数のテストピンを含むテストボードと、複数のテストピンと複数のデバイスピンとの導通を試験するテスト部と、複数のテストピンのうち、デバイスピンと導通するテストピンを特定し、デバイスピンの座標を参照してデバイスピンに接続するテストピンを割り当てる制御部とを有する。 - 特許庁
To provide a transmission line testing device for BS added channel capable of testing whether or not in particular a transmission line in a facility can transmit a BS-IF signal of the BS added channel without the need for an exclusive device to generate the BS-IF signal and to provide a transmission line test signal generating device for BS added channel.例文帳に追加
BS−IF信号を発生させる専用の装置を必要とすることなく、当該設備の特に伝送路がBS追加チャンネルのBS−IF信号を伝送できるかどうかを試験することができるBS追加チャンネル用伝送路試験装置およびBS追加チャンネル用伝送路試験信号発生装置を提供する。 - 特許庁
To provide a blood coagulation accelerant with surpassing stability coagulating any blood, even containing heparin, in a short time and a container for blood test favorably-used not only for normal blood testing but also for blood serum sampling in blood testing of an artificial dialysis patient or a thrombosis patient subject to heparin administration.例文帳に追加
血液、更にはヘパリンを含む血液であっても、短時間で凝固させるとともに、安定性に優れる血液凝固促進剤、及び通常の血液検査だけでなく、ヘパリン投与を受けている人工透析患者や血栓症患者の血液検査における血清の分取に好適に用いられる血液検査用容器を提供する。 - 特許庁
Article 53 (1) The designated testing agency shall prepare a business plan and receipt and payment budget pertaining to the testing procedures in each business year and obtain an approval of the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism prior to the commencement of the said business year (in the business year in which the designation was granted, after the designation without delay). The same shall apply to the event of its revision. 例文帳に追加
第五十三条 指定試験機関は、毎事業年度、試験事務に係る事業計画及び収支予算を作成し、当該事業年度の開始前に(指定を受けた日の属する事業年度にあっては、その指定を受けた後遅滞なく)、国土交通大臣の認可を受けなければならない。これを変更しようとするときも、同様とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Article 61 (1) Those who wish to consider the Operation Manager Examination or to be granted the issuance or reissuance of the Operation Manager Qualification Certificate shall pay the commission in the amount prescribed by the Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism by taking into consideration of the actual cost to the State (for those who wish to consider the examination by the designated testing agency, the said designated testing agency). 例文帳に追加
第六十一条 運行管理者試験を受けようとする者又は運行管理者資格者証の交付若しくは再交付を受けようとする者は、実費を勘案して国土交通省令で定める額の手数料を国(指定試験機関が行う試験を受けようとする者にあっては、当該指定試験機関)に納めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加
DUTに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁
The device 4 has a first cylindrical member 24 having the testing chamber 26 therewithin and having an upper surface opened so as to open the testing chamber 26 to the exterior, a first piston member 23 inserted from the opening of the cylindrical member 24 and capable of moving in close contact therewith, and a first cylinder device 16 for advancing or retreating the piston member 23.例文帳に追加
高圧装置4は、高圧試験室26を内部に有し、高圧試験室26を外部に開放するように上面が開口された第1筒状部材24と、第1筒状部材24の開口から密接状態で移動自在に内挿された第1ピストン部材23と、第1ピストン部材23を進退移動させる第1シリンダ装置16とを有している。 - 特許庁
A water outlet 61e formed on an uppermost part of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 is communicated to a water testing port 66 for confirming the circulation of the cooling water by the operation of the cooling water pump 46, whereby the air retained inside of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 can surely be discharged from the water testing port 66.例文帳に追加
排気マニホールド冷却ウオータジャケットJM2の最上部に設けた水出口61eを、冷却水ポンプ46の作動による冷却水の循環を確認する検水口66に連通させることで、排気マニホールド冷却ウオータジャケットJM2の内部に滞留したエアを前記検水口66から確実に排出することができる。 - 特許庁
The differentiation of the skin condition is that near infrared absorption spectra of more than two kinds of skin with different conditions are measured beforehand, multivariate analysis of the above near infrared absorption spectra and figure of merit of the skin characteristics is performed, and a near infrared absorption spectrum of the skin which is a testing sample is compared with the analysis result as an index to differentiate the skin condition of the testing sample.例文帳に追加
皮膚性状の鑑別に於いて、予め状態の異なる2種以上の皮膚の近赤外吸収スペクトルを測定し、前記近赤外吸収スペクトルと、皮膚性状の示性値とを多変量解析し、該分析結果を指標として、これと試験試料である皮膚の近赤外吸収スペクトルとを比較し、該試験試料の皮膚性状を鑑別する。 - 特許庁
The product shipment management system comprises a terminal for a production planning department, a terminal for a production counting department, a terminal for a quality testing department, a terminal for a shipment managing department, and a host computer connected to the terminals, in which each product is related to the specific terminals of the production planning and quality testing departments.例文帳に追加
生産計画部門の端末、生産計上部門の端末、品質判定部門の端末および出荷管理部門の端末と、これらの端末に接続されたホストコンピュータとを備え、個々の製品が特定の生産計上部門の端末および特定の品質判定部門の端末に関連づけられた製品出荷管理システムを用いる。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加
本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a moving picture distribution testing device for testing video quality of each client in accessing a moving picture distribution server on a packet switching network at the same time, implementing simulation needing less calculation amounts for propagation of a defect by inter-frame reference, and simplifying inspection of a packet loss and a header so as to obtain video quality under conditions closer to actual conditions.例文帳に追加
パケット交換ネットワーク上の動画配信サーバに同時アクセスするときの各クライアントの映像品質を試験する装置において、フレーム間参照による欠損の波及を計算量の少ないシミュレーションで行い、パケット損失とヘッダ検査を簡易にして、より実際に近い条件で映像品質を求める動画配信試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a tester and a testing device for judging uniformity of an insulation film that do not damage a normal insulation film part, easily specify a failure position, sufficiently take measures against a residual charge effect and an absorbing phenomenon, and do not generate a malfunction to electrical noise, and are suitable as a tester and a testing device on a line.例文帳に追加
正常な絶縁皮膜部分を破壊することなく、不良個所の特定が容易であり、残留電荷効果・吸収現象に対する対策が十分に施され、また、電気的ノイズに対して誤動作が生ぜず、ライン上の試験器、試験装置として好適な絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置を安価に提供する。 - 特許庁
This is an initial setting apparatus for a fire detector, and while the fire detector is connected by a connector 6, a data acquisition part 16 makes the fire detector 3 perform the monitoring operation and testing operation and receives the photodetection signal outputted from a detection sensor as a result to obtain data characteristic of the detector needed to decide a fire and perform the testing operation.例文帳に追加
火災検知器の初期設定装置であって、コネクタ6による火災検知器の接続状態で、データ取得部16が火災検知器3に監視動作及び試験動作を行わせ、これに伴って検知センサから出力される受光検知信号を取込んで火災判定及び試験動作に必要な検知器固有のデータを取得する。 - 特許庁
The collection capacity testing machine 1 of the mask 2 has a test chamber 100 capable of floating a particulate substance P in air, a suction part 200 capable of attaching and detaching the testing mask 2 in the test chamber 100 and a collection part 600 for collecting the particulate substance P passed through the mask to flow in the suction part 200.例文帳に追加
マスク2の捕集性能試験機1が空気中に粒子状物質Pを浮遊させることが可能な試験室100と、試験室100の内部で試験用のマスク2を取り付け取り外しできる吸気部200と、マスクを通過して吸気部200へ流入した粒子状物質Pを捕集するための捕集部600とを有する。 - 特許庁
A standard substrate 3 is faced symmetrically to a testing substrate 2 by a substrate arranging means 26 via an electrode member 4, then an RF electromagnetic wave is propagated to the member 4 by a network analyzer 5 to measure a characteristic, and the presence of defects in a surface of the testing substrate 2 is determined by a defective detecting means 25, based on a result measured hereinbefore.例文帳に追加
標準基板3と試験基板2を基板配置手段26で電極部材4を介して対称に対向させ、この状態でネットワークアナライザ5により電極部材4にRF電磁波を伝搬させて特性を測定し、この測定結果から不良検出手段25により試験基板2の表面の不良の有無を判定する。 - 特許庁
The amplifier 20 contained in a metallic housing and amplifying a high frequency signal is fixed to an outer wall of a waveguide 32 extendedly provided on a rear end side of a horn 34 in a horn antenna 30 for emitting the testing purpose radio wave, and the high frequency signal for emitting the testing purpose radio wave is given to the horn antenna 30 via the amplifier 20.例文帳に追加
試験用電波を放射するホーンアンテナ30において、ホーン34の後端側に延設された導波管32の外壁に、金属筐体内に収納されて高周波信号を増幅する増幅器20を固定し、ホーンアンテナ30には、この増幅器20を介して試験用電波放射用の高周波信号を入力する。 - 特許庁
This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.例文帳に追加
高速動作する試験回路2を有する半導体装置1において、低速LSIテスター12から入力する基準クロック,入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路2に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路3を内蔵したものである。 - 特許庁
To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加
打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a testing agent for dental plaque dyeing which utilizes the advantages of both liquid type and tablet type testing agents while eliminating their defects pointed out, is hygienic and easily handleable without causing troubles of staining clothes or faces when in use and also makes it possible to quickly and surely perform even the dyeing of children dental plaque.例文帳に追加
液状タイプの検査薬と錠剤タイプの検査薬に指摘される欠点を解消しつつ両者の利点を生かし、衛生的で且つ取扱いが簡便で、使用時に衣服や顔面を汚すといった問題を生じること無く、しかも児童などに対しても歯垢の染色を迅速且つ確実に行なえる様な歯垢染色用検査薬を提供すること。 - 特許庁
To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.例文帳に追加
本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の2度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁
In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.例文帳に追加
ハウジング1内に配置され,導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端2の短絡を検査する方法であって,−各接続端2のレベルを,少なくとも一度,隣接する接続端と異なるレベルにセットし;かつ−各接続端2のセット間に,半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁
To provide an optical disk device control program capable of obtaining an optimum write setting value by testing recording quality and adding a user's arrangement to the obtained write setting value by allowing a user to set conditions, or the like for testing the recording quality and calculating the write setting value, and to provide a host computer therefor.例文帳に追加
記録品位テストを行うことで、より最適な書き込み設定値を求めることができ、なおかつ、ユーザーの手によって、記録品位テストや書き込み設定値の算出の条件等を設定できることで、求められる書き込み設定値にユーザーのアレンジを加えることができる、光ディスク装置制御プログラムおよびホストコンピュータを提供する。 - 特許庁
To provide a forming method of a deflecting voltage can copy with both of PVC mode and NVC mode, and to provide a testing device can improve detection sensitivity by reducing scanning deviation of an electron beam caused by noises of a deflection control circuit in an electron beam type testing device based on an electrostatic deflector system of a multi-stage and multi-pole constitution.例文帳に追加
複数段多極構成の静電偏向器方式に基づいた電子ビーム式検査装置において、PVCモードとNVCモードのいずれにも対応できる偏向電圧生成方法を提供すると共に、偏向制御回路のノイズに起因する電子ビームの走査ずれを低減して検出感度を向上できる検査装置を提供する。 - 特許庁
An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加
検査時には、LSI検査装置130が状態制御フラグ121の値を設定することによって、検査モジュール100のインターフェース制御回路102が制御され、テスト用データの検査対象LSIへの出力、前記検査対象LSIから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁
This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.例文帳に追加
半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第1のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第2のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁
The present invention includes a testing turn-on device 14 for making a liquid crystal panel turn on for testing, a timing device 22 for generating a signal of a predetermined timing, a photographing device 16 for photographing an image of the liquid crystal panel 10 in synchronization with the signal, and a turning-off device for detecting a turning-on pixel or a turning-off pixel from the photographed image.例文帳に追加
液晶パネルを試験的に表示させる試験点灯装置14と、所定のタイミングの信号を発生させるタイミング装置22と、前記信号と同期して液晶パネル10の画像を撮影する撮影装置16と、撮影した画像から点灯画素または消灯画素を検出する消灯装置を有するものである。 - 特許庁
However, in particular fields, such as drug products, it takes a long time to conduct the testing and examinations etc. that are necessary for gaining the legally-mandated approvals etc. prescribed by the laws that are intended to ensure the safety of those products, which gives rise to the problem that while such testing and examinations are being conducted inventors cannot enjoy the benefits of the exclusive rights that they hold. 例文帳に追加
しかしながら、医薬品等一部の分野では、安全性の確保等を目的とする法律の規定による許可等を得るにあたり所要の試験・審査等に相当の長期間を要するため、その間はたとえ特許権が存続していても権利の専有による利益を享受できないという問題が生じている。 - 特許庁
This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加
本発明のテストパターン評価装置2は、評価条件出力部21と、試験結果入力部22と、テストパターン評価装置23とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部1に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁
To provide an impact testing machine capable of effectively turning away the collision energy or the like against a wall while having a function equal to that of a conventional barrier type (truck type) collision testing machine to make it unnecessary to provide a large reaction force wall, reduced in its installation area by miniaturization and capable of suppressing even the transmission of vibration to the circumference.例文帳に追加
従来のバリア式(台車式)衝突試験機と同等の機能を有しながら、壁に対する衝突のエネルギ等を有効に逸らすことができ、もって大きな反力壁を設ける必要がなく、装置の小型化を達成して設置面積を小さくし、また、周囲への振動の伝達をも抑制することのできる衝撃試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a circuit board testing device capable of bringing a probe into contact with a measuring point on a circuit board with a proper pressure, concerning the circuit board testing device having a circuit board holding tool for holding the circuit board and a probe holding tool for holding the probe for measuring the measuring point in contact with the measuring point on the circuit board.例文帳に追加
回路基板を保持する回路基板保持具と、回路基板の被測定点に接触して被測定点の計測を行うプローブを保持するプローブ保持具とを有する回路基板試験装置であって、回路基板の被測定点に適度な圧力でプローブを接触させることができる回路基板試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a testing circuit and a testing method which have function capable of conducting a contact test or the like of terminals of a semiconductor device mounted on a board at a low cost, and capable of starting with a simple starting sequence without needing exclusive terminals, and preventing an easy start-up in the state of usual application in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
ボード等に実装された半導体装置の端子のコンタクト試験等を安価に行う機能を備えた試験回路およびその試験方法、および半導体集積回路に関し、専用の端子を必要とせずに簡単な起動シーケンスで起動し、かつ、通常の使用状態では容易に起動しないようにすることを目的とする。 - 特許庁
Each common testing electrode Y is formed, such that the shape and size do not corresponding to the individually tested electrodes X, and one common testing electrode Y corresponds to a tested electrode group formed by two or more tested electrodes X in common.例文帳に追加
本発明の検査用治具基板は、被検査電極に対応する位置に検査用電極を備え、その少なくとも1つは、2個以上の被検査電極に共通に対応する共通検査用電極であり、共通検査用電極は、被検査基板における独立の配線ネットワークが互いに電気的な閉回路を形成することがない状態に形成されている。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a magnetic head for testing capable of generating a surface state equal to the surface state of a magnetic head after long time operation in a short time and with sufficient reproducibility so that evaluation of influence of the magnetic head to which a lubricant adheres by long time operation is efficiently performed and to provide a testing method using the same.例文帳に追加
長時間稼動により潤滑剤が付着した磁気ヘッドによる影響の評価を効率的に行うべく、長時間稼動後の磁気ヘッドの表面状態と同等の表面状態を短時間で再現性良く発生させることのできる試験用磁気ヘッドの製造方法及びこれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
A control part 33 finds an accurate temperature of a testing solution 42 based on a signal which a heat radiation detector 17 receives a heat radiation (infrared ray) emitted from a liquid face of a testing solution 42 to output, and a current flowing amount to a heater 16 built in a blade body 122 of a paddle 12 is controlled to maintain the temperature within a specified range.例文帳に追加
制御部33は、熱放射検出器17が試験溶液42の液面から放出される熱放射(赤外線)を受けて出力する信号に基づいて試験溶液42の正確な温度を求め、その温度が規定範囲内に維持されるようにパドル12の翼体122に内蔵された発熱体16への通電量を制御する。 - 特許庁
In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.例文帳に追加
試験用信号出力処理にて、CPUは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁
Additionally, the method for evaluating or screening whether a testing substance is an activator or inhibitor for or against a sensitizing substance is characterized by incubating a cell expressing CCR7, IL-23 and/or ATF-3, the sensitizing substance and the testing substance and detecting the expression of the CCR7, IL-23 and/or ATF-3 due to the cell.例文帳に追加
本発明はさらに、CCR7、IL-23及び/又はATF-3を発現する細胞と、感作性物質と被験物質とを一緒にインキュベートし、該細胞によるCCR7、IL-23及び/又はATF-3の発現を検出することを特徴とする、該被験物質が該感作性物質に対する活性化剤又は抑制剤であるか否かを評価する方法又はスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
Looking at the example of the impact on the automobile industry, the EU member states agreed to implement certification testing for entire automobiles rather than for each component (full-body certification testing) and, as a result, an automobile which has been certified as having marketing authorization in any one EU country is automatically permitted to be sold in all the other member states.例文帳に追加
自動車産業への影響を例に挙げると、EU加盟国が、部品単位ではなく車一台ごとの認定検査(全型認定検査)を実施することに合意したことによって、EUのいずれかの国で販売許可の認定を受けた自動車は、自動的に他のすべての加盟国において販売することを許可されるようになった。 - 経済産業省
To provide a material testing machine capable of conducting a smooth material test even when a pump becomes low in rotational frequency so as to conduct the material test in a low-speed area.例文帳に追加
低速度領域で材料試験を行うためにポンプの回転数が低速となった場合にも、スムースな材料試験を実行することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a pseudo-spatial transmission testing system having a small size that can simply simulate a field for a transmission test, is suitable for an indoor test, can easily shield the entire field, and bring leakage of radio waves to a low level.例文帳に追加
伝送試験のフィールドが簡易にシミュレートでき、小型で屋内試験に適し、全体のシールドが容易で、電波漏洩を低レベルする疑似空間伝送試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a storage battery discharge controller that can efficiently use power of a storage battery, and to efficiently use power of a group of storage batteries, even if power failure occurs during testing.例文帳に追加
本発明では、蓄電池の電力を有効に使用し且つ試験中に停電しても蓄電池群の電力を効率よく使用できる蓄電池放電制御装置を提供する。 - 特許庁
To attain reduction of complexity in hardware, reduction of an operation under testing, and reduction of a system operation, even when a gain-factor table is used as prepared under a "computed gain-factor" method.例文帳に追加
「コンピューテッド・ゲインファクタ」法によって生成されたゲインファクタ対応表を用いる場合であっても、ハードウエアの複雑性の低減や試験稼働の低減やシステム運用の低減を達成する。 - 特許庁
The required number of magnetic heads for testing can be mass-produced for a short time by performing the surface state reproducing step a plurality of times according to the number of descriptions of required reliability evaluation tests.例文帳に追加
表面状態再現工程を必要な信頼性評価試験の種類数に応じて複数回行えば必要な数の試験用磁気ヘッドを短時間で量産できる。 - 特許庁
For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproduction device does not verify is decoded and processed well can be easily confirmed by using the empty testing disk.例文帳に追加
したがって、空テストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証しない初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁
It is determined within an LSI that a terminal which can not have Hi-Z (high impedance) during normal use by a user has Hi-Z (high impedance) at the time of testing and then the LSI goes into a test mode.例文帳に追加
通常ユーザーが使用時にはHi−Zになり得ない端子が、検査時にHi−ZであることをLSI内部で判別してテストモードに移行するように構成したものである。 - 特許庁
Each of the scenarios for testing may consider that a request form the client computer is validated through multiple authorization points and finally a valid and complete response to the client's request is returned.例文帳に追加
テストのための各シナリオは、クライアントコンピューターからの要求が多数の認証ポイントを介して最終的にクライアントの要求への有効かつ完全な回答が戻ってくることを考慮する。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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