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Testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

In this case, the predetermined thickness distribution of the calibration layer on the calibration testing substrate corresponds to the flat thickness distribution of a layer on the multilayed substrate obtained by the same predetermined process condition and a set.例文帳に追加

この場合、較正試験基板上の較正層の所定の厚さ分布は同じ所定のプロセス条件・セットによって得られた多層基板上の層の平坦な厚さ分布に対応する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a method for opening, short circuit, a neck-down or inappropriate etching in which a trace is not brought into physical contact and is not excessively wasting time.例文帳に追加

トレースが物理的に接触されるものではなく、また過度に時間を費やすことのない開放、ショート、ネックダウンまたは不適切なエッチングのためのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁

To increase a generation voltage in a finish time point of a ramp-up time up to a reference generation voltage, even in a loading time, in an insulation withstand voltage testing device having a ramp-up function.例文帳に追加

ランプアップ機能を有する絶縁耐圧試験装置において、有負荷時においてもランプアップ時間の終了時点で発生電圧を基準発生電圧にまで上げることを可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a unit power supply automatic control function automatically measuring the ripple voltage of each unit power supply and checking whether the ripple voltage is within an allowable limit or not.例文帳に追加

自動的に各ユニット電源のリップル電圧を測定してリップル電圧が許容範囲にあるかをチェックするユニット電源自動管理機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

例文

An obtained supporting element provides a minimum residual pressure of at least 4 psi for holding the brittle structure within the housing after testing at 900°C, at 200 cycles.例文帳に追加

得られた支持要素は、900℃で200サイクルの試験後に前記ハウジング内に前記脆弱構造体を保持するために少なくとも4psiの最小残留圧力を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a simulated application test apparatus for a computer system that facilitates changes in testing conditions, and dispenses with the new programming of test programs, when the hardware of a computer system is changed.例文帳に追加

テスト条件の変更を容易とし、かつ計算機システムのハードウェアが変更となった場合にテストプログラムの新規製作を不要とする計算機システムの模擬アプリケーション試験装置を得る。 - 特許庁

Then the access server 6 reads and analyzes the fault information from the fault management database 8 and instructs a test detection circuit 7 for testing a subscriber line to perform a test according to the result of analysis.例文帳に追加

次に、故障情報を故障管理データベース8から読み出して分析し、分析結果に従って、加入者回線の試験を行う試験装置7へ試験実施の指示を行う。 - 特許庁

To prevent overheating so as to prevent quality degradation of packed food or transported liquid by making planned sterilization conditions determined in a retort testing machine, usable almost as they are at a production site.例文帳に追加

レトルト試験機で決定された計画殺菌条件をほぼ、そのまま生産現場で使えるようにして、過加熱を防止し、包装食品や輸液等の品質劣化を防止すること。 - 特許庁

To provide a method for testing cytotoxicity, capable of quantifying the toxicity of a chemical subjected to the toxicity test with higher accuracy by accurately measuring the activities of cultured cells one by one.例文帳に追加

培養細胞の細胞活性を1個ずつ正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性をより高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an emulation apparatus capable of appropriately emulating a testing device that is achieved by an open architecture and that is used while carrying modules developed by various vendors.例文帳に追加

試験装置がオープンアーキテクチャにより実現され、様々なベンダによって開発されたモジュールを混載して使用する試験装置を適切にエミュレートすることができるエミュレート装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a low-cost and reliable sensor which achieves not only high precision, but also the diagnostic capability of testing error problems at resolution higher than at conventional systems.例文帳に追加

高精度を有するだけでなく、上記従来のシステムよりも誤差の問題をより高い分解度で診断できる能力を有する、低コストの信頼性のあるセンサを提供すること - 特許庁

Based on a timing analysis under the logic BIST mode, a scan flip-flop with a selector is arranged with insertion at a place where a testing error occurs, and the path where the timing error occurs is pipelined.例文帳に追加

ロジックBISTモードにおけるタイミング解析に基づいてタイミングエラーの発生箇所に、セレクタ付きスキャンフリップフロップを挿入配置することで、そのタイミングエラー発生パスをパイプライン化する。 - 特許庁

After the delay time is adjusted, an input signal for testing is inputted again, the comparison result data are read again from the comparison result register, and the delay time is confirmed after the adjustment.例文帳に追加

遅延時間が調整された後にテスト用入力信号を再度入力し、比較結果レジスタから比較結果データを再度読み出して、調整後の遅延時間を確認する。 - 特許庁

To provide a connector and its testing method enabling easy and visual checking of whether contacts are in normal positions without causing any connection failure and without using any tools.例文帳に追加

本発明は接続不良に繋がることがなく、治具等を用いることなく、コンタクトが正規の位置にあるかを容易に目視で確認できるコネクタとその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flooring made of a fiber which is capable of preventing static electricity by simply placing it on a floor, and a test method for measuring its static electricity preventive function without causing differences among people involved in testing.例文帳に追加

単に床に置くだけで静電気を除電することができる繊維製床敷物の提供、並びに個人差を生ずることなく除電性能を測定する試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vapor-liquid two-phase flow simulation testing device capable of acquiring a flowing process in a steam generator or an IMR (Integrated Modular Reactor) wherein water is spontaneously circulated by buoyancy caused by generated steam.例文帳に追加

発生蒸気による浮力によって水が自然循環する蒸気発生器やIMRの流動過程を把握することができる気液二相流模擬試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing of cytotoxicity determinable toxicity of a chemical substance having a property to be poisoned in a high accuracy by directly, respectively and correctly measuring cytoactivity of a cultured cell.例文帳に追加

培養細胞の細胞活性を直接、1個1個、正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性を高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for testing a therapeutic or prophylactic agent of the destruction of bone in osteoporosis or rheumatoid arthritis, and further to provide a DNA usable in the method.例文帳に追加

骨粗鬆症または慢性関節リウマチにおける骨破壊の治療または予防剤を試験するための新規な方法および該方法において用いられるDNAを提供する。 - 特許庁

To provide a data driver whose operating test can be performed easily and surely at a manufacturing stage and also whose testing time can be shortened and a display device in which the driver is used.例文帳に追加

本発明は、製造段階において容易で確実な動作試験が行えると共に、試験時間を短縮することができるデータドライバ及びそれを用いた表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a micro-component capable of being arranged on a sample mount within a sample chamber of an electronic microscope and applying outside force while observing a sample.例文帳に追加

電子顕微鏡の試料室内の試料台に配設可能であって、試料の観察を行いながら外力を加えることができる微小部品用試験装置を提供する。 - 特許庁

The composite film has also a suitable Δb* value (15 degree light-receiving angle) of ≤6.0 by accelerated damp heat testing in the dark under the atmosphere at 85°C and 85% relative humidity.例文帳に追加

また、複合フィルムは、さらに、暗所における85℃、相対湿度85%雰囲気下での促進耐湿熱性試験におけるΔb*値(受光角度15度)が6.0以下であることが好ましい。 - 特許庁

To appropriately evaluate the strength of a corner part by suppressing that a large load is locally charged on one end of a flange piece during a strength test, in a flange piece strength testing device.例文帳に追加

フランジ片強度試験装置において、強度試験中にフランジ片の一端部に局所的に大きな荷重がかかることを抑制して適切なコーナ部の強度評価を可能とする。 - 特許庁

On the lower surface of the wiring substrate 301, a lower surface side land 315 to which a solder ball 305 is connected and a testing land 315L to which the solder ball 305 is not connected are formed.例文帳に追加

配線基板301の下面には、半田ボール305が接続された下面側ランド315と、半田ボール305が接続されないテスト用ランド315Lとが形成されている。 - 特許庁

To provide a device for testing a bearing which generates static electricity without relying on external voltage and can check white detachment and which can also measure durable life in a short time.例文帳に追加

外部電圧に頼らずに静電気を発生させ白色はく離を確認できると共に、短時間で耐久寿命を測定できる軸受試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A concave surface adhesion test device 1 for testing an adhesion state of the adhesive sheet includes a concave surface bonding jig 30 and a concave surface pressing device 10.例文帳に追加

粘着性シートの接着状態を試験する凹曲面接着試験装置1において、凹曲面接着試験装置1は、凹曲面貼り付け冶具30と、凹曲面押圧装置10を有する。 - 特許庁

To suppress a fraud by making a situation that a fraud is hardly performed instead when making a situation that a fraud prevention device does not function in testing a game machine.例文帳に追加

遊技機のテストを行う際に不正防止装置を機能しない状態とした場合に、代わりに不正行為の行いにくい状況を生じさせて不正行為の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The rubber friction testing machine 10 includes a measuring device 16 to which a rubber specimen p has been attached; and a test road surface material 15 relatively moving in contact with a surface of this rubber specimen p.例文帳に追加

ゴム摩擦試験機10は、ゴム試験片pを取り付けた計測装置16と、このゴム試験片pの表面に接触し、相対移動する試験路面材15とを備えている。 - 特許庁

To manufacture a coping which fits with an abutment tooth model more appropriately relating to a method for testing a coping and a method of manufacturing a coping using the same.例文帳に追加

本発明は、コーピングの検査方法および、それを用いたコーピングの製造方法に関するもので、支台歯模型に、さらに適切に嵌合するコーピングを作ることを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a continuous abrasion testing device capable of performing an abrasion test not in a batch style but continuously in succession without opening a lower tank or an upper tank, and improving efficiency.例文帳に追加

バッチ式ではなく、下部タンクや上部タンクを開放せずに連続的に継続して摩耗試験を行うことができ、効率向上を図り得る連続式摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a load testing device having a simple constitution capable of verifying the degree of keeping a rotational frequency in the fixed state, against fluctuation of a load torque.例文帳に追加

負荷トルクの変動に対して、回転数がどの程度一定で保持することができるのかを検証することができる簡易な構成の負荷試験装置を提供することにある。 - 特許庁

Further, desirable human RUP3 for use in screening and testing is provided as a specified nucleic acid sequence or as an amino acid sequence corresponding to the nucleic acid sequence.例文帳に追加

更にスクリーニングおよび試験の際に使用するため好ましいヒトRUP3が、特定の核酸配列として、およびその核酸配列に、対応するアミノ酸配列として提供される。 - 特許庁

The moderate and low-speed input and output circuits are more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.例文帳に追加

中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、JTAGバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁

The method for testing water resistance of the cured thermosetting resin product includes a process for immersing the cured the thermosetting resin product 4 in water 3 in a high atmospheric pressure atmosphere.例文帳に追加

熱硬化性樹脂硬化物の耐水性試験方法であって、熱硬化性樹脂硬化物4を高気圧雰囲気中の水3に浸漬する工程を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an accelerated deterioration testing method enhanced in a correlation with outdoor exposure with respect to a sealing material containing polyether based polyurethane, and to provide a deterioration degree evaluation method of high precision.例文帳に追加

ポリエーテル系ポリウレタンを含んでなるシーリング材について、屋外暴露と相関性の高い促進劣化試験方法を提供し、かつ精度の高い劣化度評価方法も併せて提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a method of testing a semiconductor memory device having a high degree of freedom in setting conditions of a stress test, and detecting various defects.例文帳に追加

ストレス試験の条件設定の自由度が大きく、様々な欠陥を検出可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.例文帳に追加

その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップAに仕様で定められた条件で電源電圧と第1のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

A substrate 206 for temperature characteristic inspection is constituted by a receiving side signal generator 12 using self-testing function incorporated IC 17, an error detector 13 and a transmitting side signal generator 14.例文帳に追加

セルフテスト機能内蔵IC17を用いたる受信側信号発生器12、エラー検出器13および送信側信号発生器14により、温度特性検査用基板206を構成する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a shock nearly equivalent to that of a fall test to a specimen with high reproducibility without increasing the height of the device.例文帳に追加

装置の高さを大きくすることなく、落下試験と略等価といえる衝撃を高い再現性をもって供試体に加えることが可能な衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method by which reliable diagnosis of a function of a tank ventilation valve between an internal combustion engine and a fuel vapor tank can be made attainable regardless of fuel components of a recovery gas.例文帳に追加

回収ガスの燃料成分に係わり無く、内燃機関と燃料蒸気タンクとの間のタンク排気弁の機能の信頼性のある診断を可能にする試験方法を提供する。 - 特許庁

To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.例文帳に追加

試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁

To provide a method for preparing an article having a thermal-spray coating and, in more detail, to provide a method for testing such an article in order to assure the integrity of the joining of the coating to an article substrate.例文帳に追加

本発明は、溶射皮膜を有する物品の作製に関し、より詳細には、皮膜と物品基材間の結合の完全性を保証するための、このような物品の試験に関する。 - 特許庁

To easily detect material flaws for a complicated shape of a testing body, for which angle beam flaw detection and surface wave flaw detection are difficult to be applied in a normal method, in particular the material flaw generated in a cylindrical face.例文帳に追加

通常の方法では斜角探傷や表面波探傷の適用が困難な、複雑形状の試験体の、特に円筒面に発生する材料きずを容易に検出する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for an actuator, that prevents physical breakage such as crack, chip, or fracture while increasing the rigidity, and provide a switch device including the actuator, and a testing device including the switch device.例文帳に追加

剛性を高めつつ、割れ、欠け、またはヒビ等の物理的な破壊を防ぐアクチュエータの製造方法、およびアクチュエータを備えるスイッチ装置、スイッチ装置を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

The pressure leakage test in the cylinder bore 3 is carried out by a pressure leakage testing machine 31 by using parts for forming the coating layers 29, 49, and the inside diameter is measured by a gap sensor 53.例文帳に追加

これら各コーティング層29,49を形成する部位を利用して圧漏れ試験機31にてシリンダボア3内の圧漏れ試験および、ギャップセンサ53による内径測定を行う。 - 特許庁

A plurality of light sources 20 contain the light source irradiating light having several different colors, and intensity of the light of each color is controlled according to predetermined testing contents.例文帳に追加

複数の光源20には、何種類かの異なる色の光を放射する光源が含まれており、各色の光の強さは、所定の試験内容に応じてそれぞれ制御される。 - 特許庁

To test a plenty of LEDs in several times without complexing and increasing a price of an apparatus, thereby reducing a time and labor required for testing.例文帳に追加

装置の複雑化及び高価格化を招くことなく、多数のLEDを複数回に分けて試験することを可能し、それにより試験に要する時間及び労力を低減することにある。 - 特許庁

To provide an IC tester (semiconductor device-testing apparatus) which can restrict ringing generated when a response waveform from a DUT (semiconductor device to be tested) is multiple reflected in a transmission line between the DUT and a pin electronics.例文帳に追加

DUTからの応答波形がDUTとピンエレクトロニクス間の伝送路で多重反射して発生するリンギングを抑制することができるICテスタを提供することにある。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor integrated circuit device which can perform a test of many device en bloc even in a test device testing a semiconductor integrated device in a state in which input/output pins are short-circuited.例文帳に追加

入出力ピンを短絡した状態で半導体集積回路装置をテストするテスト装置においても、多数個の一括テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁




  
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