Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
To provide a testing device for rotational bodies for automotive use that can reduce the time taken to reach a target temperature and hold the temperature in a constant temperature tank during an evaluation test at the target level.例文帳に追加
目標温度に達するまでの時間の短縮化、及び評価試験時における恒温槽内の温度を目標温度に保持可能な自動車用回転体の試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a cleaning sheet and method for cleaning a base substrate- treating device evading foreign materials such as a producing device or testing device of e.g. a semiconductor, flat panel display, printing base substrate, etc.例文帳に追加
本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニングシート及びクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
To discover a CT (cancer-testis) antigen useful for testing, diagnosing or treating digestive organ cancers, and to provide a new method for diagnosing cancers and a new kit for diagnosing cancers, using the CT antigen as a cancer marker.例文帳に追加
消化器癌の検査、診断あるいは治療に有用なCT抗原を見出し、当該CT抗原を癌マーカーとする新規な癌診断方法および癌診断キットを提供する - 特許庁
The low- or moderate-speed input and output circuits are more flexible, for example, they have preset, enable and clear signals for control line input and are able to support JTAG boundary testing.例文帳に追加
中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、JTAGバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁
To provide a device with an overvoltage protection function and a test method of a high voltage system to which a surge arrester is connected capable of preventing damage of the surge arrester when testing the high voltage system.例文帳に追加
サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing question collection book for evaluating according to a point of view capable of easily grasping what is an essential evaluating point of view of most importance of a learning unit relatively corresponding to its test sheet.例文帳に追加
そのテスト用紙が相対応する学習単元の最重要な主要評価観点が何であるかを容易に把握できる観点別評価用テスト問題集を提供する。 - 特許庁
This method for testing the gene for predicting the future onset of glaucoma is provided by using the mutations of bases in a gene domain containing the coding region of a GPPK7 which is a glaucoma associated gene, as an indicator.例文帳に追加
緑内障関連遺伝子であるGPRK7遺伝子のコード領域を含む遺伝子領域における塩基の変異を指標として将来の緑内障の発症を予測する。 - 特許庁
To easily and safely generate a false blast impact and to make the test of a safety bursting plate, in a false blast impact system for testing the bursting condition of the safety bursting plate.例文帳に追加
安全破裂板の破裂条件を試験する擬似爆風衝撃装置において、擬似爆風衝撃の発生と安全破裂板の試験を容易かつ安全に行うことを可能とする。 - 特許庁
An assembly test is performed by connecting the governor ASSY 14 and a second cable unit 58, by switching an inner relay of a relay unit 52, and by giving the simulation signal by program processing of the testing device 34.例文帳に追加
ガバナASSY14と第2ケーブルユニット58とを接続し、リレーユニット52の内部リレーを切り替え、検査装置34のプログラム処理により模擬信号を与えてアッセンブリ検査を行う。 - 特許庁
The dynamic thrust (an electromagnetic force) generated by the testing linear actuator 1 is estimated on the basis of the force detected by the force sensor 5 and a displacement amount detected by the displacement sensor 6.例文帳に追加
力センサ5によって検出された力と、変位センサ6によって検出された変位量とに基づいて試験用リニアアクチュエータ1が発生する動推力(電磁力)を推定する。 - 特許庁
The automatic testing device 1 converts an inputted document file into a list format (step ST2), extracts a table unit (step ST3) and performs structure analysis of the table (step ST4).例文帳に追加
自動テスト装置1は、入力された文書ファイルをリスト形式に変換し(ステップST2)、表の単位を抽出して(ステップST3)、表の構造解析を行う(ステップST4)。 - 特許庁
To provide a method for testing functions of a TAG-RAM without loading all capacity of actual memories for all patterns of address data stored in a TAG-RAM, and to provide its device.例文帳に追加
TAG−RAMに格納するアドレスデータの全パターンについて実メモリを全容量分装着せずにTAG−RAMの性能を試験する方法とその装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing a bearing device that can easily select even when erroneous assembly of a constitution member composing a bearing device occurs, and to provide its manufacturing method and the bearing device.例文帳に追加
軸受装置を構成する構成部材の誤組付けが生じても容易に選別を行うことが可能な軸受装置の検査方法及び製造方法、軸受装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a synthetic sleeper material with a bond strength testing part which can surely judge the quality of bond strength of each sleeper on an adhesive face of mutual plate materials.例文帳に追加
板材と板材との接着面での接着強度の良否を枕木ごとに確実に判断できる接着強度試験部付き合成枕木材を提供することを目的としている。 - 特許庁
To provide a game machine of simple configuration and low cost in which a test signal representing that prize game balls are put out is outputted to the outside when testing the game machine.例文帳に追加
景品遊技媒体が払い出されたことを示す試験用の信号を遊技機の試験時に外部出力することができる簡単な構成かつ低コストの遊技機を提供する。 - 特許庁
To provide an adhesion testing machine by which an adhesion test to test an adhesive strength between samples in a specimen pasted to be sheetlike or tapelike is made simply and precisely.例文帳に追加
シート状またはテープ状に貼り合わされた供試体における試料間の接着強度を試験する剥離試験を、簡易に、しかも正確に試験することができる剥離試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a ray path testing system and a light source power level monitoring method capable of easily monitoring abnormal emission of light source to be a cause of erroneous measurement and instable power.例文帳に追加
誤認測定の原因となる光源の異常発光、不安定出力を簡単に監視できる光線路試験装置及び光源出力レベルの監視方法を提供する。 - 特許庁
During the wafer testing, the probe provided with the probe styli as many as the number corresponding to one chip group is used and all probe styli are placed in contact with all chips of one chip group while the wafer 24 is rotated.例文帳に追加
そして、ウエハテスト時、1つのチップ群に応じた数だけのプローブ針を備えたプローブを使用し、ウエハ24を回転させながら全プローブ針を1つのチップ群の全チップに接触させる。 - 特許庁
To provide an AD converter measuring circuit capable of using an LSI tester that does not need a DC measuring unit to perform a test in short period of time in testing an AD converter.例文帳に追加
ADコンバータのテストを行う際、DC測定ユニットを必要としないLSIテスタを用いて短時間でテストを行うことを可能にするADコンバータ測定回路を提供する。 - 特許庁
To provide a search device for acoustic source to highly precisely search an acoustic source by reducing deterioration of a sound wave by influence of a free shear layer, and to provide a wind tunnel testing device.例文帳に追加
自由せん断層の影響により生じる音波の劣化を低減して高精度に音源を探査することができる音源探査装置及び風洞試験装置を提供する。 - 特許庁
The amount of the error of the detection result for the test temperature in testing the temperature characteristics is measured, and the temperature detecting part for detecting the predetermined temperature is compensated based on the amount of the error.例文帳に追加
温度特性試験時の試験温度に対する検出結果の誤差量を測定し、この誤差量に基づいて所定温度を検出する温度検出部の補正を行なう。 - 特許庁
LOAD TESTING DEVICE, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH LOAD TEST PROGRAM RECORDED THEREON, FAILURE DIAGNOSING DEVICE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH FAILURE DIAGNOSTIC PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加
負荷試験装置、負荷試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、障害診断装置、および障害診断プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
The cylindrical actuator 50 elevates a working body 40 being provided at the lower portion of the movable base 20, and applies a load for testing to an aircraft leg being mounted to the lower surface of the working body 40.例文帳に追加
シリンダー式アクチュエータ50は、可動ベース20の下方に設けられた作動体40を昇降させ、作動体40の下面に取り付けられた航空機脚に試験用の荷重を付加する。 - 特許庁
To provide a testing piece for an immunological measuring method based on an immunochromatograph method, provided with a detection level regulating means and capable of detecting an examined substance quickly, easily and favorably.例文帳に追加
検出レベルの調整手段を備え、被検物質を迅速、簡便に、かつ良好に検出しうる、免疫クロマトグラフ法に基づく免疫測定法用試験片を提供すること。 - 特許庁
To simplify the constitution of an environmental testing device for electronic parts so as to remarkably reduce the cost and size of the device, and to make the device compact even when an automatic entrance opening/ closing mechanism section is additionally provided in a limited space.例文帳に追加
限られたスペースに自動開閉式の出入口開閉機構部を付設する場合であっても、構成の簡易化を実現し、大幅なコストダウン及び小型コンパクト化を図る。 - 特許庁
Other aspects of the invention include methods of forming the stop structure and using the structure to perform testing of integrated circuits, including for example a semiconductor wafer of integrated circuits.例文帳に追加
本発明の他の側面は、ストップ構造の形成方法、及び集積回路、例えば集積回路の半導体ウエハーなどのテストを行うためにストップ構造を使用する方法を含んでいる。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device with an event pulse generating part capable of eliminating practically or reducing, storage updating for a storage memory provided inside the event pulse generating part.例文帳に追加
イベントパルス発生部内に備える格納メモリへの格納更新を実用的に解消若しくは低減可能とするイベントパルス発生部を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To improve the reliability of a microbiology validation system for monitoring and validating clinical culture laboratory test results occurring throughout a testing lifecycle of a clinical culture.例文帳に追加
臨床培養の検査サイクルの期間を通して生じる臨床培養実験室検査結果をモニタしかつ確証する微生物確証システムをより信頼性のおけるものに改善する。 - 特許庁
To provide a testing device of an IC capable of shortening a test time of the IC having a detection circuit and a circuit for changing an output signal corresponding to an output signal of the detection circuit.例文帳に追加
検波回路と検波回路の出力信号に応じて出力信号を変化させる回路とを有するICの試験時間を短縮するICの試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a high speed bus interface of a semiconductor testing device for increasing transfer capacity, reducing the number of signal conductors of a bus, and capable of freely setting order of the signal conductors.例文帳に追加
本発明は、転送容量を増加し、バスの信号線数を削減し、信号線の順番を自由に設定できる半導体試験装置の高速バスインタフェースを提供する。 - 特許庁
To provide an optical pulse tester capable of appropriately performing offset processing even if background light is excessive and of detecting an optical return of weak testing light.例文帳に追加
背景光が過大である場合においてもオフセット処理を適正に行うことができるとともに、より微弱な試験光の戻り光を検出することができる光パルス試験器を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.例文帳に追加
命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing individually a functional block out of a plurality which are provided, reducing the number of terminals for setting an operation mode to a minimum when a test is performed.例文帳に追加
テスト時の動作モードを設定するための端子数を最小限に抑えたうえで、複数備えられる機能ブロックを個別にテストすることができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device for testing a reception part without using any expensive high-speed tester and also having a structure for enhancing the rate of failure detection.例文帳に追加
高価な高速テスタ−を用いることなく受信部をテストでき、しかも故障検出率を向上させることも可能な構成を持つ半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
A buffer for testing 110 fixes a signal level given to the comparison circuit from the channel exchanger when a plurality of output nodes of the channel exchanger 100 are in an open state.例文帳に追加
テスト用バッファ110は、経路交換器100の複数の出力ノードが開放状態である場合、経路交換器100から比較回路50に与えられる信号レベルを固定する。 - 特許庁
To provide a vehicle brake system testing stand device with which the test of a brake system of a vehicle having two wheels whose distance is narrow can be performed.例文帳に追加
両車輪の間隔が狭く並んで配置されている2つの車輪を有している乗り物の制動システムのテストが実施可能な乗り物の制動システムのテストスタンド用の装置を提供する。 - 特許庁
A feedback control system 10 which uses a digital signal processor 16 is a control system for controlling a material testing machine 12 and is equipped with an attenuator 28 in its feedback path.例文帳に追加
ディジタル信号処理装置16を用いたフィードバック制御系10は、材料試験機12を制御するための制御系であり、そのフィードバック経路中に減衰器28を備えている。 - 特許庁
There are also provided a method for isolating a virus by using the cells and animals, a method for detecting a virus, a method for screening an antiviral medicine, and a method for testing viral toxicity.例文帳に追加
並びに、前記細胞又は動物を用いてウイルスを分離する方法、ウイルスを検出する方法、抗ウイルス薬をスクリーニングする方法及びウイルスの毒力を試験する方法。 - 特許庁
A pattern control part 4 acquires command data from a main control part 1 to control an image displayed on a display, and outputs the acquired command data to the testing terminal 5.例文帳に追加
図柄制御部4は、主制御部1からのコマンドデータを取得して表示器に表示される画像の制御を行うとともに、その取得したコマンドデータを試験端子5に出力する。 - 特許庁
A measuring tube 30 holding a test filter 50 is connected to an aperture 25 formed in a duct 10 that introduces gas for testing so that the filter plane of the test filter 50 is vertically set.例文帳に追加
試験用気体を導入するダクト10に形設した開口部25に、テストフィルター50を保持する測定管30を、テストフィルター50のフィルター面が垂直になるように接続する。 - 特許庁
To obtain a control method and a material-testing device for performing control so that the amplitude of load fluctuation being applied to a test piece becomes a target value more accurately.例文帳に追加
試験片に加わる負荷変動の振幅が、より正確に目標値となる様に制御している材料試験装置における制御方法及び材料試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a light stability-testing apparatus that has a reliable signal transmission means that is stable for a long time and a signal transmission mechanism having a large degree of freedom of installation.例文帳に追加
長期にわたり安定した信頼度の高い信号伝達手段を持ち、且つ設置の自由度の大きい信号伝達機構を有する光安定性試験装置を提供する。 - 特許庁
To efficiently perform work for placing a work on the plate and work for taking over the work from the plate by a simple mechanism, in a plate temperature conditioned type environment testing device.例文帳に追加
プレート温調方式の環境試験装置において、ワークをプレートに載せる作業、ワークをプレートから引き取る作業を簡単な機構により効率良く行い得るようにすること。 - 特許庁
Thereafter, the ringlike holding parts 24 are peeled from the pasteboard 22 and fixed to the upper and lower clamp parts of testing equipment so that the clamp parts and the nanofibers may be arranged on a straight line.例文帳に追加
その後、リング状把持部24を台紙22から剥がし、試験装置の上部クランプ部および下部クランプ部にクランプ部とナノファイバーとが一直線上に並ぶように固定する。 - 特許庁
This testing system disturbs the sleep of an animal to be tested, placed in a rearing box by regulating an oxygen concentration and/or a carbon dioxide concentration in the rearing box.例文帳に追加
本発明の実験システムは、飼育器内の酸素濃度及び/又は二酸化炭素濃度を調節することによって、飼育器内におかれた実験動物の睡眠を障害するものである。 - 特許庁
To provide an apparatus (100 and 210) and a method to provide electrical loading to RF coils (56 and 144) of an MRI system (10) during testing/calibration, or operator training.例文帳に追加
試験/較正あるいはオペレータ訓練の間においてMRIシステム(10)のRFコイル(56、144)に電気的負荷を与えるため装置(100、210)及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide an abrasion test method and an abrasion testing device allowing the abrasion quantity of an elastic body in indoor evaluation to correspond accurately to the abrasion quantity at an actual car traveling time.例文帳に追加
室内評価での弾性体の摩耗量を実車走行時の磨耗量に精度よく対応させることの可能な摩耗試験方法および摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁
Testing time can be reduced because simultaneous reading and writing on all the memory modules, memory devices and memory units can be carried out by bypassing the memory identification information.例文帳に追加
前記メモリ識別情報を無視することにより、全てのメモリモジュール、メモリ装置、乃至メモリユニットに対して同時に読み込んで書き込むことができるので、テスト時間が減少される。 - 特許庁
To implant the tip of an introducer to the depth of a vein in the same pathway as a pathway for passing the tip of a 23G testing puncture needle in performing the depth venipuncture operation using Seldinger technique.例文帳に追加
セルディンガー法による深部静脈穿刺術を行う際に、23G試験穿刺針先端が通過した経路と同一の経路で、イントロデューサー先端を深部静脈に刺入する。 - 特許庁
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