「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(230ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a truck testing device capable of controlling the brake deceleration characteristics of a test truck by high reproducibility, in a predetermined deceleration section, during traveling.例文帳に追加

走行中、予め定められた減速区間において高い再現性により試験台車の制動減速度特性の制御を行うことができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

The allergic disease testing method with the level of expression of the genes in peripheral blood mononuclear cell as an index and a compound screening method for treating the disease are provided.例文帳に追加

末梢血単核球における該遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To provide a handler and a testing device that can efficiently convey and test electronic components, and that can be simplified and made small.例文帳に追加

電子部品の試験および搬送を効率よく行うことができるとともに、装置の簡素化・小型化を図ることのできるハンドラおよび電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cycle testing device and a cycle test method for acquiring an accurate cycle lifetime to a repeated impact load of an electronic component requiring reliability in radio communication.例文帳に追加

無線通信の信頼性が要求される電子部品の繰り返し衝撃負荷に対する正確なサイクル寿命を知ることが出来るサイクル試験装置及びサイクル試験方法を提供する。 - 特許庁

PIXEL TESTING METHOD, METHOD OF CORRECTING OUTPUT VOLTAGE OF PIXEL, DEVICE, PROGRAM, AND METHOD FOR PROCESSING DEFECTIVE PIXEL, AND RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

画素の検査方法および画素の出力電圧の補正方法、並びに欠陥画素処理装置、欠陥画素処理プログラム、欠陥画素処理方法、および前記プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

A simple and inexpensive burn-in and testing mounting device for a grid array package with high terminal density is mounted by a support base having a plurality of C-shaped spring finger piece contact parts.例文帳に追加

端子が高い密度のグリッドアレイパッケージ用の、簡素で、安価なバーンイン及び試験用の取付け装置が、複数のＣ形のバネ指片接触部を有する支持ベースによって取り付けられた。 - 特許庁

A method for testing an allergic disease using the expression level of TRAIL gene in peripheral monocytes as an index and a method for screening a compound for treating the disease, are provided.例文帳に追加

末梢血単核球におけるTRAIL遺伝子の発現レベルを指標とする、アレルギー性疾患の検査方法、および該疾患の治療のための化合物のスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

SPECIMEN-TESTING SYSTEM AND METHOD, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING SPECIMEN TEST PROCESSING PROGRAM BY COMPUTER, AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER CONDUCT SPECIMEN TEST PROCESSING例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法、コンピュータによる検体検査処理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、コンピュータに検体検査処理を実行させるためのプログラム - 特許庁

To provide a diversity evaluation signal generating device capable of testing receiving diversity at low cost by enabling generation of test signals of a plurality of systems with one signal generator.例文帳に追加

１台の信号発生器で複数系統の試験信号を発生可能とすることにより、受信ダイバーシティの試験を低コストで行えるダイバーシティ評価信号発生装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor wafer and an integrated circuit which increases the efficiency of the utilization of a space for test structures in scribed lines formed in an integrated circuit process.例文帳に追加

集積回路プロセスにおいて形成されるスクライブライン内において、テスト構造のためのスペース利用の効率を増大させた、半導体ウエハおよび集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

The voltage regulator circuit, capable of regulating voltages at a plurality of voltage sources has a testing control unit, a multiplexer, a comparator and a BIST (built-in self test) unit.例文帳に追加

電圧調整回路として、試験制御装置とマルチプレクサとコンパレーターとＢＩＳＴ装置とを備える、複数の電圧源の電圧を調整できる電圧調整回路を用いる。 - 特許庁

To reduce deterioration in measurement quality including error between output ports in the case of testing electric characteristics of a wireless apparatus by carrying out connection switching of a waveguide switch with high accuracy.例文帳に追加

導波管スイッチの接続切替えを精度良く行い、無線装置の電気特性試験時の、出力ポート間の誤差を含む測定品質の劣化を低減させることを目的とする。 - 特許庁

By using the element-testing apparatus to which such a contact pin 1 is mounted, it is possible to accurately perform element testings, reduce the cost of the element tests and improve the working efficiency.例文帳に追加

このようなコンタクトピン１を搭載した素子試験装置を用いれば、精度よく素子試験を遂行することができ、素子試験の低コスト化且つ作業効率の向上を図ることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device easily applicable to various kinds of semiconductor tests and capable of reducing the production cost and dealing with the change in a measurement device in a short delivery time.例文帳に追加

多品種の半導体テストに容易に対応出来、生産コストを低減出来、測定デバイスが変更になった場合でも、短納期で容易に対応出来る半導体テスティング装置を提供する。 - 特許庁

A current adjustment unit 22 adjusts the compensation pulse currents I_SRC and I_SINK to be generated in the testing process after the calibration, according to the measured power supply voltage V_DD.例文帳に追加

電流調節部２２は、測定された電源電圧Ｖ_ＤＤに応じて、キャリブレーション後の試験工程において生成すべき補償パルス電流Ｉ_ＳＲＣ、Ｉ_ＳＩＮＫを調節する。 - 特許庁

To provide a radio-frequency signal receiver with a small number of required parts, improved reliability, easy assembly and testing, and reduced manufacturing cost.例文帳に追加

本発明により、必要とされる部品点数が少なく、信頼性が改善され、組み立ておよび試験が簡単になり、製造コストが低減された無線周波数信号受信機を提供する。 - 特許庁

To provide a static electrification testing device that can test the relation between electric charges and electrostatic breakdowns, by intentionally electrostatically charging a device and controlling the electric charges.例文帳に追加

意図的にデバイスを帯電させ、また、その帯電量の制御を行なうことができて、帯電量と静電気破壊との関係を試験することができる静電気帯電試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration testing system for facilitating control of response amplitude of the maximum displacement amount and the maximum acceleration of a test object to a target value, and a method for controlling the same.例文帳に追加

被試験体の最大変位量や最大加速度の応答振幅を目標値に制御することを容易にすることができる振動試験装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

A testing support device 1 retrieves an input/output signal processed in the transmission processing apparatus 9 concerned from the transmission processing apparatus 9 actually employed in a network N.例文帳に追加

試験支援装置１は、ネットワークＮにおいて実際に運用されている運用通信処理装置９から、当該通信処理装置９において処理される入出力信号を取得する。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

A non-defective DUT is connected to any power supply current analyzing device among n-pieces of power supply current analyzing devices 1 to perform tests in the semiconductor testing apparatus 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００において、ｎ個ある電源電流解析装置１１のうち、何れかの電源電流解析装置に良品であるＤＵＴを接続して試験を実行する。 - 特許庁

To relieve a processing of software in access control such as JTAG control and to enable high speed control by hardware in an access controller and a testing method.例文帳に追加

本発明は、アクセス制御装置及び試験方法に関し、ＪＴＡＧ制御等のアクセス制御におけるソフトウェアの処理を軽減し、ハードウェアによる高速制御を可能とすること目的とする。 - 特許庁

To provide a flowability evaluating and testing method of concrete which enable the confirmation of execution properties before the execution of concrete is performed even in a ready-mixed concrete factory or a building construction site.例文帳に追加

生コン工場や建設工事現場においても、コンクリートの施工を行う前に施工性の確認が可能であるコンクリートの流動性評価試験方法を提供すること。 - 特許庁

An lens driving apparatus 42 moves the objective lens 11 to the direction of the light axis by the amount in accordance with the distance information to respective measuring points of the object so that the testing object is in focus.例文帳に追加

レンズ駆動装置４２は、被検物の各測定点までの距離情報に応じた量だけ、対物レンズ１１を光軸方向に移動させて、被検物に焦点が合うようにする。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory which can perform efficiently the test of a data hold characteristic of a ferroelectric nonvolatile memory highly accurately and with less samples, and its testing method.例文帳に追加

強誘電体不揮発性メモリのデータ保持特性の試験を、高精度かつ少ないサンプル数で効率的に行える半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

The pile 10 supporting a structure 12 has at least one testing hole 14, 16 formed therein in which a plurality of sensors 18, 20 for receiving elastic waves are set at depths different from each other.例文帳に追加

構造物１２を支持する杭１０に形成された少なくとも１つの検査孔１４、１６内の異なる深度に弾性波を受信する複数のセンサー１８、２０がセットされている。 - 特許庁

To obtain a testing method using aggregate itself to measure the strength or Young's modulus of the aggregate as a physical property regardless of the difference between broken stone or crushed sand and gravel or sand.例文帳に追加

骨材そのものを用いて、砕石や砕砂と、砂利や砂との相違に係らず、骨材の物質的性質としての強度やヤング係数を測定する試験方法を提供する - 特許庁

Article 75 If any person falls under any of the following items, an officer or employee of the designated testing agency who has done the violation shall be punished by a fine not more than one million yen. Any person who: 例文帳に追加

第七十五条　次の各号のいずれかに該当するときは、その違反行為をした指定試験機関の役員又は職員は、百万円以下の罰金に処する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Subsection 2 Registration of an Organization that Prepares Registration Examination Questions, and Appointment of a Designated Testing Agencies and Designated Training Agency (Articles 69-11 to 69-33) 例文帳に追加

第二款　登録試験問題作成機関の登録、指定試験実施機関及び指定研修実施機関の指定等（第六十九条の十一—第六十九条の三十三） - 日本法令外国語訳データベースシステム

(2) A Designated Testing Agency which engages in Examination Affairs or its personnel shall be deemed as personnel that engage in public service pursuant to the provisions of laws and regulations, with regard to application of the Penal Code or other penal provisions. 例文帳に追加

２　試験事務に従事する指定試験実施機関又はその職員は、刑法その他の罰則の適用については、法令により公務に従事する職員とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(3) The competent minister may, when recognizing that the regulations in Article 19 paragraph (4) are no longer appropriate in terms of the fair implementation of Testing of Organisms, order those regulations to be changed. 例文帳に追加

３　主務大臣は、第十九条第四項の規程が生物検査の公正な実施上不適当となったと認めるときは、その規程を変更すべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(iv) When it has cancelled Registration under the provisions of Article 21 paragraph (4) or paragraph (5), or ordered the work of Testing of Organisms to be suspended in part or in whole under the provisions of the said paragraph. 例文帳に追加

四　第二十一条第四項若しくは第五項の規定により登録を取り消し、又は同項の規定により生物検査の業務の全部若しくは一部の停止を命じたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Warning: While testing, it's a good idea to tell fetchmail to keep (-k) the mail on the remote server in case something goes wrong and you need to fetch it again.例文帳に追加

警告:テストの間は、うまくいかなくてもう一度メールを取ってくる必要になった時のことを考えて、リモートサーバーにメールを置いておくためのオプションである-kをfetchmailに渡しておくといいでしょう。 - Gentoo Linux

This tutorial provides an overview of the sample project, AsynchronousSample, and illustrates deploying, executing and testing an asynchronous BPEL process using NetBeans IDE 6.0 with all the necessary runtimes. 例文帳に追加

このチュートリアルでは、サンプルプロジェクト AsynchronousSample の概要を示し、NetBeans IDE 6.0 および必要なすべての実行環境を使用して非同期 BPEL プロセスを配備、実行、およびテストする方法について説明します。 - NetBeans

At this stage, you are introduced to GlassFish testing functionality that is available from the IDE.Finally, you create a Java application that connects to the web service to display the images in an album created from Swing components.例文帳に追加

この段階では、IDE から利用できる GlassFish のテスト機能を紹介します。 最後に、Web サービスに接続して、Swing コンポーネントから作成されるアルバムのイメージを表示する Java アプリケーションを作成します。 - NetBeans

To provide a biochip having a space sufficient to cause a DNA probe and a target DNA to make a complementary pair, and to provide a method for complementarity testing with nucleic acid using this biochip.例文帳に追加

ＤＮＡプローブとターゲットＤＮＡが相補対を作ることができる十分な空間をもったバイオチップの提供及びこれを用いる核酸との相補性を試験する方法の提供。 - 特許庁

To provide a method for generating approximate a waveform capable of generating an approximate waveform with high approximate precision to a given analog waveform, and a semiconductor testing device capable of performing a precise quality judgment.例文帳に追加

与えられたアナログ波形に対し、近似精度の高い近似波形を生成することが可能な近似波形生成方法及び、良否判定の正確な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the presence of microorganism in a gaseous environment comprising hydrogen peroxide, and to provide a cassette containing an agar growth medium that is adapted for execution in the method.例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法、並びに本方法において実施されるように適合された寒天生育培地を有するカセットの提供。 - 特許庁

CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁

(2) The person or judicial person that has succeeded to the position of the Accredited Testing Laboratory Operator pursuant to the provisions of the preceding paragraph shall notify the competent minister without delay attaching written verification of those facts. 例文帳に追加

２　前項の規定により登録試験事業者の地位を承継した者は、遅滞なく、その事実を証する書面を添えて、その旨を主務大臣に届け出なければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide on-off durability testing equipment for an on-off body capable of performing the on-off driving of the on-off body not only at an angle of rotation of 180° or less but also at an angle of rotation of 180° or more.例文帳に追加

１８０度以下の回転角度ではもちろん、１８０度以上の回転角度であっても開閉体を開閉駆動できる開閉体の開閉耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shaft center adjusting device for a material testing machine that can be attached without forming through holes on a load frame and allows a user to adjust tensile force after the attachment.例文帳に追加

負荷枠に貫通孔等を形成することなく取り付けが可能であり、また、取り付け後も引張力の調整が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a redundancy opperating method and a redundancy opperating device capable of shortening a period of time needed for the failure recovery of a memory device, and to provide a memory testing device with the redundancy opperating device.例文帳に追加

メモリデバイスの不良救済に要する時間を短縮することができるリダンダンシ演算方法及び装置並びに当該装置を備えるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

The substrate for IC testing apparatus 10 comprises an insulating substrate body 11; a plurality of principal surface-side terminals 21; a plurality of rear surface-side terminals; and a plurality of via conductors 42.例文帳に追加

本発明のＩＣ検査装置用基板１０は、絶縁性の基板本体１１、複数の主面側端子２１、複数の裏面側端子、及び、複数のビア導体４２等を備える。 - 特許庁