Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
Switches 60-1, 60-2 supply driving signals to the inputs of the repair amplifiers 40-1, 40-2 when a test mode for testing the repair amplifiers 40-1, 40-2 is executed.例文帳に追加
スイッチ60−1、60−2は、リペアアンプ40−1、40−2をテストするテストモードが実行されるときに、リペアアンプ40−1、40−2の入力に駆動信号を供給する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the reduction in conductivity of a terminal and a probe needle even when an oxide film and a foreign substance exist on the surface of the terminal of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の端子の表面に酸化膜や異物が存在する場合でも、端子とプローブ針の導通性の低下を抑制できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for temperature characteristic of sensors capable of simplifying manufacturing processes when spread in sensor outputs is large due to temperature drift, particularly in trial-manufacture/design phases.例文帳に追加
特に試作・設計段階において、温度ドリフトによるセンサ出力のばらつきが大きい場合、製造工程を簡素化することができるセンサの温度特性検査方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a compact vehicle-testing device with simple structure where a measuring roller for placing a vehicle to be measured is connected to a hydraulic motor and the vehicle is tested by hydraulic control.例文帳に追加
被測定車両を載置する測定ローラを油圧モータに連結し、油圧制御により車両の試験を行うようにした、構造が簡単、かつ小型の車両の試験装置を提供する。 - 特許庁
To enable an ophthalmic optical adapter to be used with non-contact and high safety, and high-definition ophthalmic imaging/observation/testing to be performed by adjusting optical characteristics of an eye to be examined.例文帳に追加
非接触かつ高い安全性で眼科光学アダプタを用いることができ、被検眼の有する光学特性を補正し高画質な眼科撮影/観察/検査を行なえるようにする。 - 特許庁
Thus, the probe is brought into contact with the space between the conducting pads and a current is caused to flow to perform testing continuity between the conductive layer and the conducting pad of ground potential.例文帳に追加
これにより、導通パッド間にプローブを接触させて電流を流すことにより、導電層とグランド電位とされた導通パッドとの間の導通検査を行うことができる。 - 特許庁
The BIST unit receives the selection commanding signal and outputs the enable signal, and at the same time, regulates the output voltage of the testing voltage source to a predetermined level, on the basis of the compared result.例文帳に追加
BIST装置は選択指示信号を受信してイネーブル信号を出力にすると共に、比較結果に基づいてテスト電圧源の出力電圧を所定の電圧に調整する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of detecting generation of a glitch noise, using a scanning test circuit, irrespective of a timing window of a flip-flop in the scanning test circuit, and a testing method therefor.例文帳に追加
スキャン試験回路のフリップフロップのタイミングウインドウに関係なく、スキャン試験回路を用いてグリッチノイズの発生を検出する半導体集積回路及びその試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an easier and simpler evaluation method of steel products than any conventional ESSO testing, which can inhibit variation by taking distribution of fracture toughness in board thickness direction of the steel product into consideration.例文帳に追加
鋼材の板厚方向の破壊靭性の分布を考慮に入れることにより、ばらつきを抑制できると共に、従来のESSO試験よりも簡便な評価方法を提供する。 - 特許庁
The pile 10 supporting a structure 12 has at least one testing hole 14, 16 formed therein in which a plurality of sensors 18, 20 for receiving elastic waves are set at depths different from each other.例文帳に追加
構造物12を支持する杭10に形成された少なくとも1つの検査孔14、16内の異なる深度に弾性波を受信する複数のセンサー18、20がセットされている。 - 特許庁
To obtain a testing method using aggregate itself to measure the strength or Young's modulus of the aggregate as a physical property regardless of the difference between broken stone or crushed sand and gravel or sand.例文帳に追加
骨材そのものを用いて、砕石や砕砂と、砂利や砂との相違に係らず、骨材の物質的性質としての強度やヤング係数を測定する試験方法を提供する - 特許庁
To provide an electromagnetic excitation fatigue testing device targeting a mold material of a ground coil in a superconducting magnetically levitated railroad and utilizing a superconducting magnet magnetic field that is excited at an optional frequency.例文帳に追加
超電導磁気浮上式鉄道の地上コイルのモールド材を対象に、任意の周波数での加振が可能な超電導磁石磁場を利用した電磁加振疲労試験装置を提供する。 - 特許庁
The testing method can thus test the program created according to the design specifications 11 and 12 more appropriately to reduce quality degradation of the program.例文帳に追加
その結果、このようなテスト方法は、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをより適切にテストすることができ、そのプログラムの品質劣化をより低減することができる。 - 特許庁
To provide a method for testing the degree of the corrosion of a metal material like metal wiring caused by a solution like a washing solution or the like containing a corrosive substance when washing of resist.例文帳に追加
レジスト洗浄の際の腐食性物質を含む洗浄液等と同様の溶液による、金属配線と同様の金属材料の腐食の度合を試験する方法を提供する。 - 特許庁
To detect a defect by using a three-point bending testing device of wood and a laminated veneer material, and to measure simultaneously a bending Young's modulus and a shear modulus.例文帳に追加
木材および単板積層材の3点曲げ試験装置を使って、欠点の検出を可能とし、曲げヤング率とせん断弾性率を同時に測定することを可能とすること。 - 特許庁
Then, check sum calculation for a payload part is performed, and a correction value is added to an area of a testing special patter so that the calculation results is FFFF(h), and the frame pattern is output.例文帳に追加
その後、ペイロード部分についてチェックサム計算を行い、その計算結果がFFFF(h)となるように試験用特殊パターンのエリアに補正値を付加してフレームパターンを出力する。 - 特許庁
To provide a new method and device for testing and training muscular parameters of athletes such as a runner, biker, team sport athletes, etc.例文帳に追加
本発明の課題は、走者、自転車走者、チームスポーツ運動選手などの運動選手の筋肉パラメータをテストしかつ訓練するための新しい方法及び装置を提供することである。 - 特許庁
To provide an environmental testing device capable of uniformly irradiating an entire sample with electromagnetic wave in a prescribed frequency range while suppressing heat generation of an electromagnetic wave source.例文帳に追加
電磁波の発生源の発熱量を抑制しつつサンプルの全体に所定の周波数領域の電磁波を均一に照射することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁
The testing method can reduce man-hours for generating the test specifications and test data to reduce human errors in generating the test specifications and test data.例文帳に追加
このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。 - 特許庁
To relieve a processing of software in access control such as JTAG control and to enable high speed control by hardware in an access controller and a testing method.例文帳に追加
本発明は、アクセス制御装置及び試験方法に関し、JTAG制御等のアクセス制御におけるソフトウェアの処理を軽減し、ハードウェアによる高速制御を可能とすること目的とする。 - 特許庁
To provide a flowability evaluating and testing method of concrete which enable the confirmation of execution properties before the execution of concrete is performed even in a ready-mixed concrete factory or a building construction site.例文帳に追加
生コン工場や建設工事現場においても、コンクリートの施工を行う前に施工性の確認が可能であるコンクリートの流動性評価試験方法を提供すること。 - 特許庁
An lens driving apparatus 42 moves the objective lens 11 to the direction of the light axis by the amount in accordance with the distance information to respective measuring points of the object so that the testing object is in focus.例文帳に追加
レンズ駆動装置42は、被検物の各測定点までの距離情報に応じた量だけ、対物レンズ11を光軸方向に移動させて、被検物に焦点が合うようにする。 - 特許庁
To provide a truck testing device capable of controlling the brake deceleration characteristics of a test truck by high reproducibility, in a predetermined deceleration section, during traveling.例文帳に追加
走行中、予め定められた減速区間において高い再現性により試験台車の制動減速度特性の制御を行うことができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide on-off durability testing equipment for an on-off body capable of performing the on-off driving of the on-off body not only at an angle of rotation of 180° or less but also at an angle of rotation of 180° or more.例文帳に追加
180度以下の回転角度ではもちろん、180度以上の回転角度であっても開閉体を開閉駆動できる開閉体の開閉耐久試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a shaft center adjusting device for a material testing machine that can be attached without forming through holes on a load frame and allows a user to adjust tensile force after the attachment.例文帳に追加
負荷枠に貫通孔等を形成することなく取り付けが可能であり、また、取り付け後も引張力の調整が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁
To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加
試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁
To provide a non-halogen flame-resistant wire of phosphorus-free type which is applicable to BWR and PWR use, and also is applied to an inverse sequential method testing, having thermal resistance, radiation resistance, and high flame retardancy.例文帳に追加
BWR用並びにPWR用に適用でき、かつ逆遂次法試験にも対応した耐熱性、耐放射線性、高難燃性の無リンタイプのノンハロゲン難燃電線を提供する。 - 特許庁
To provide a redundancy opperating method and a redundancy opperating device capable of shortening a period of time needed for the failure recovery of a memory device, and to provide a memory testing device with the redundancy opperating device.例文帳に追加
メモリデバイスの不良救済に要する時間を短縮することができるリダンダンシ演算方法及び装置並びに当該装置を備えるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁
The substrate for IC testing apparatus 10 comprises an insulating substrate body 11; a plurality of principal surface-side terminals 21; a plurality of rear surface-side terminals; and a plurality of via conductors 42.例文帳に追加
本発明のIC検査装置用基板10は、絶縁性の基板本体11、複数の主面側端子21、複数の裏面側端子、及び、複数のビア導体42等を備える。 - 特許庁
It is effective to impart a pitch changing structure to the socket itself for testing or mounting, by the above, the cost of interposer, space on a base board, related man power, and the like are eliminated.例文帳に追加
テスト用や実装用のソケット自体に、ピッチ変換機構を持たせることが効果的であり、これによりインターポーザーなどのコスト、基板上のスペース、伴う手間などを排除できる。 - 特許庁
To provide a method for lowering risk that a chip having the potential of becoming a defective product is transferred to the subsequent steps in a method of manufacturing semiconductor device and a semiconductor device testing apparatus.例文帳に追加
半導体装置の製造方法と半導体試験装置において、潜在的に不良になる可能性のあるチップを後の工程に出す危険性を低減する方法の提供。 - 特許庁
To provide a simple, low-cost, and precise signal generator which can generate various test signals over a high-frequency region for testing the signal receiving performance of an array antenna or the like.例文帳に追加
アレイアンテナの受信性能などを試験するために高周波領域にわたって多様な試験信号を発生できる簡易・安価・高精度の信号発生装置を提供する。 - 特許庁
A data base containing data indicating the passing time of each wafer through each of a plurality of devices is prepared and whether or not each wafer has a certain kind of damage mark is discriminated by testing the wafers.例文帳に追加
データベースを作り、そのデータは各ウエーハが各複数台の装置を通過する時間を表して、複数個のウエーハをテストして、ウエーハがある種の損傷マークを有するかどうか判断する。 - 特許庁
To provide a pattern insertion circuit for OOR testing for causing disturbance of LM, for confirming that a reception side correctly detects and releases OOR.例文帳に追加
本発明は、受信側がOORの検出及び解除を正しく行えることを確認するためにLMの擾乱を起こすOOR試験用パターン挿入回路の提供を目的とする。 - 特許庁
To reduce a manufacturing time for a semiconductor memory by suppressing increase of a testing time due to transfer processing of information of a defective memory cell to a buffer memory from a fail memory.例文帳に追加
フェイルメモリからバッファメモリへの不良メモリセル情報の転送処理に起因する試験時間の長時間化を抑制し、以って半導体メモリの製造時間の短縮化を図る。 - 特許庁
This semiconductor integrated circuit 201 mounted on the board 100 comprises a normal circuit part composed of an internal logic part 113 and a circuit part 231 operating at the time of testing.例文帳に追加
基板100に実装された半導体集積回路201は、内部ロジック113からなる通常の回路部分とテスト時に動作する回路部分231から構成されている。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for testing pleat retention of a woven fabric and a knitted fabric using an image pickup means which can reduce the measurement error to the practical range.例文帳に追加
計測誤差を実用可能な範囲にまで減らすことのできる撮像手段を用いた織物及び編物のプリーツ性試験方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
Article 75 If any person falls under any of the following items, an officer or employee of the designated testing agency who has done the violation shall be punished by a fine not more than one million yen. Any person who: 例文帳に追加
第七十五条 次の各号のいずれかに該当するときは、その違反行為をした指定試験機関の役員又は職員は、百万円以下の罰金に処する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Subsection 2 Registration of an Organization that Prepares Registration Examination Questions, and Appointment of a Designated Testing Agencies and Designated Training Agency (Articles 69-11 to 69-33) 例文帳に追加
第二款 登録試験問題作成機関の登録、指定試験実施機関及び指定研修実施機関の指定等(第六十九条の十一—第六十九条の三十三) - 日本法令外国語訳データベースシステム
(2) A Designated Testing Agency which engages in Examination Affairs or its personnel shall be deemed as personnel that engage in public service pursuant to the provisions of laws and regulations, with regard to application of the Penal Code or other penal provisions. 例文帳に追加
2 試験事務に従事する指定試験実施機関又はその職員は、刑法その他の罰則の適用については、法令により公務に従事する職員とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(3) The competent minister may, when recognizing that the regulations in Article 19 paragraph (4) are no longer appropriate in terms of the fair implementation of Testing of Organisms, order those regulations to be changed. 例文帳に追加
3 主務大臣は、第十九条第四項の規程が生物検査の公正な実施上不適当となったと認めるときは、その規程を変更すべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(iv) When it has cancelled Registration under the provisions of Article 21 paragraph (4) or paragraph (5), or ordered the work of Testing of Organisms to be suspended in part or in whole under the provisions of the said paragraph. 例文帳に追加
四 第二十一条第四項若しくは第五項の規定により登録を取り消し、又は同項の規定により生物検査の業務の全部若しくは一部の停止を命じたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Warning: While testing, it's a good idea to tell fetchmail to keep (-k) the mail on the remote server in case something goes wrong and you need to fetch it again.例文帳に追加
警告:テストの間は、うまくいかなくてもう一度メールを取ってくる必要になった時のことを考えて、リモートサーバーにメールを置いておくためのオプションである-kをfetchmailに渡しておくといいでしょう。 - Gentoo Linux
This tutorial provides an overview of the sample project, AsynchronousSample, and illustrates deploying, executing and testing an asynchronous BPEL process using NetBeans IDE 6.0 with all the necessary runtimes. 例文帳に追加
このチュートリアルでは、サンプルプロジェクト AsynchronousSample の概要を示し、NetBeans IDE 6.0 および必要なすべての実行環境を使用して非同期 BPEL プロセスを配備、実行、およびテストする方法について説明します。 - NetBeans
At this stage, you are introduced to GlassFish testing functionality that is available from the IDE.Finally, you create a Java application that connects to the web service to display the images in an album created from Swing components.例文帳に追加
この段階では、IDE から利用できる GlassFish のテスト機能を紹介します。 最後に、Web サービスに接続して、Swing コンポーネントから作成されるアルバムのイメージを表示する Java アプリケーションを作成します。 - NetBeans
To provide a biochip having a space sufficient to cause a DNA probe and a target DNA to make a complementary pair, and to provide a method for complementarity testing with nucleic acid using this biochip.例文帳に追加
DNAプローブとターゲットDNAが相補対を作ることができる十分な空間をもったバイオチップの提供及びこれを用いる核酸との相補性を試験する方法の提供。 - 特許庁
To provide a method for testing the presence of microorganism in a gaseous environment comprising hydrogen peroxide, and to provide a cassette containing an agar growth medium that is adapted for execution in the method.例文帳に追加
過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法、並びに本方法において実施されるように適合された寒天生育培地を有するカセットの提供。 - 特許庁
CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTER USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD USING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR CLEANING CONTACTOR FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置用コンタクタ及び半導体装置用コンタクタを用いた試験装置及び半導体装置用コンタクタを用いた試験方法及び半導体装置用コンタクタのクリーニング方法 - 特許庁
To provide a method for generating approximate a waveform capable of generating an approximate waveform with high approximate precision to a given analog waveform, and a semiconductor testing device capable of performing a precise quality judgment.例文帳に追加
与えられたアナログ波形に対し、近似精度の高い近似波形を生成することが可能な近似波形生成方法及び、良否判定の正確な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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