Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
This testing method of a semiconductor integrated circuit with a plurality of functional blocks 1 includes a switching means 21, capacitors 31 and voltage detecting means 41 which are provided in the respective functional blocks 1.例文帳に追加
複数の機能ブロック1を有する半導体集積回路において、各機能ブロック1毎に、スイッチ手段21と、容量31と、電圧検出手段41とを備える構成とする。 - 特許庁
In addition, because the UK adopts a labor market testing system, it must be proved that there is insufficient employment domestically in the field, and a work permit must be obtained from the Department of Work and Pensions (DWP).例文帳に追加
さらに、労働市場テスト制を採用しているので、国内で当該雇用が充足できないことを立証し、雇用省から労働許可を取得しなければならない。 - 経済産業省
Customers include electronic component makers, circuit board set makers, public testing institutions, and private sector research institutions. For the past three years the company has been making an effort to expand its market by maintaining sales agents in Korea and Taiwan.例文帳に追加
販売先は、デバイスメーカー、基盤セットメーカー、公的試験機関、民間研究機関などであり、3年前からは韓国や台湾にも販売代理店を持ち販路拡大に努めている。 - 経済産業省
To provide a fuse holder in which a fuse corresponding to an electric circuit for testing object can be selected and it is not necessary to prepare a plurality of fuse holders according to the electric circuit of the test object.例文帳に追加
試験対象の電気回路に合致したヒューズが選択できて試験対象の電気回路に合わせ複数のヒューズホルダを準備する必要がないヒューズホルダを提供する。 - 特許庁
To provide a test body reaction force estimating device capable of estimating reaction force of a testing body, based on known data such as vibration table oscillation force, without measuring directly a reaction force value of the test body.例文帳に追加
試験体の反力値を直接計測しなくても、振動台加振力等の既知データから試験体の反力を推定することが可能な試験体反力推定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a biaxial tensile testing device capable of tensile test in four directions along two axes intersecting with each other at right angles by a monoaxial tensile testing machine, performing its tensile motions synchronously in the four direction, and eliminating the need for complicated alignment along the four directions of the two axes as in a mechanism using four oil hydraulic cylinders.例文帳に追加
単軸の引張試験機によって直交する二軸に沿った四方向への引っ張り試験が可能となり、かつその引っ張り動作を四方向について互いに同期させて行うことができるとともに、従来のような、4台の油圧シリンダを用いた機構のように二軸の四方向に沿う面倒な軸合わせが不要となる二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁
After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.例文帳に追加
NGが発生すると試験対象チップにおけるNGの回数が第1の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、NGの回数が第1の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、NGの数が第2の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁
To provide a particle abrasion testing machine of dust collection filter cloth constituted so as to be made usable without lowering a dust collection capacity or economical efficiency by making it possible to replace the dust collection filter cloth during the optimum period by preliminarily testing the durable period of the dust collection filter cloth under a condition near to an actual base to preliminarily judge the life under the use environment and condition thereof.例文帳に追加
集塵用濾布の耐用期間を、予め実機ベースに近い条件で試験をしてその使用環境、条件での寿命を予め判定して、最適な期間に集塵用濾布を交換できるようにして集塵能力を低下させることなく、また不経済になることなく使用できるようにした集塵用濾布の粒子摩耗試験装置を提供すること。 - 特許庁
This composite panel 10 is provided with four testing pad parts 10a, having the plurality of testing pads 101, a rigid substrate part 10b having a die pad 11 mounted with a semiconductor chip 12, a flexible substrate part 10c for connecting the rigid substrate part 10b to the rigid substrate part 10b, and four triangular bonding pads 10d provided in an inner end of a wiring pattern 103.例文帳に追加
複合基板10は、複数のテストパッド101を有する4つのテストパッド部10a、半導体チップ12が搭載されるダイパッド11を有するリジット基板部10b、リジット基板部10bとリジット基板部10bを接続するフレキシブル基板部10c、及び配線パターン103の内側端に設けられた4つの三角形状のボンディングパッド10dを備えている。 - 特許庁
To measure and evaluate before formation of a thin deposition film, behaviors of a weblike plastic film under various conditions in vacuum inside a film testing machine in the weblike plastic film formed thereon with the thin deposition film by a chemical vapor deposition method(CVD) or the like, grasp the optimum film-forming condition based on a measuered result provided by the testing machine, and form the stable thin deposition film.例文帳に追加
化学気相成長法(CVD)等により蒸着薄膜を成膜させるウェブ状プラスチックフイルムを薄膜形成前に、フイルム試験機内で真空中の各種条件下でのフイルムの挙動を測定、評価出来るようにし、該フイルム試験機で得られた測定結果を基に成膜の最適条件を把握し、安定した蒸着薄膜を形成させることを可能にすることである。 - 特許庁
The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加
制御装置2は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第1のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部20と、収集された第1のデータを冗長度が少ない第2のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部21とを備える。 - 特許庁
To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加
本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁
A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加
複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書11、12を作成するステップと、設計書11、12に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁
A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.例文帳に追加
RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも1つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁
In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加
Arガスを満たした釘刺し用容器2内でLiイオン電池ユニット3の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にLiイオン電池ユニット3から発生したガスが釘刺し用容器2内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器2から配管70を通ってバッファタンク80にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁
To provide a bolt testing machine installing device for a roof and its installation method, to be put in a stable installation state on an existing slate roof so that a worker can safely operate a bolt testing machine for the roof for measuring whether or not an existing hook bolt has strength endurable against reuse, for leaving the existing slate roof as it is, in roof remodeling work.例文帳に追加
屋根改修工事において、既設スレート等屋根をそのままにするために、前記既設フックボルトが再利用に耐え得る強度を有しているか否かを測定するための屋根用ボルト試験機を作業員が安全に操作することができるように、既設スレート等屋根上に安定した設置状態にする屋根用ボルト試験機の取付装置及びその設置方法とすること。 - 特許庁
To provide an impact and vibration testing device capable of independently and successively performing input operations, such as test parameter set, waveform input, and data display, corresponding to precise impact test conditions according to an intended state to be reproduced such as soil quality, earthquake waveform, intensity from one screen in order to be applied as a pseudo earthquake testing device, and extremely easily performing a precise operation and a data analysis.例文帳に追加
擬似地震試験装置として適用する為に、土質、地震波形、強度等の再現すべき目的状態に対応した緻密な衝撃試験条件に対応する入力操作を一つの画面から、試験パラメータ、波形入力、データ表示が夫々独立して順次行なわれ、緻密な操作とデータの解析が極めて容易に行なわれる衝撃・振動試験装置の提供。 - 特許庁
Furthermore, a first switch circuit which outputs the external clock input to the first group during testing and outputs the second clock to the first group during normal operation, and a first mask circuit which interrupts the outputting to the second group when the second group is not operated by the external clock input during testing and outputs the third clock to the second group during normal operation, are provided.例文帳に追加
さらに、試験時には外部クロック入力を第1の群に出力し、通常の使用時には第2のクロックを第1の群に出力する第1のスイッチ回路と、試験時において外部クロック入力で第2の群が動作しない場合には第2の群への出力を遮断し、通常の使用時には第3のクロックを第2の群に出力する第1のマスク回路とを設ける。 - 特許庁
In this vibration control device for controlling vibration of this vibration testing machine by outputting a vibration control signal, a vibration analog signal of the vibration testing machine is converted digitally, and then a signal having the same frequency as the vibration control signal is extracted from the digital vibration signal by using a digital filter, and the second vibration control signal is generated based on the extracted digital vibration signal.例文帳に追加
振動制御信号を出力して振動試験機の振動を制御する振動制御装置において、振動試験機の振動アナログ信号をデジタル変換した後、当該デジタル振動信号から前記振動制御信号と同一の周波数の信号をデジタルフィルタを用いて抽出し、抽出したデジタル振動信号にもとづいて第2の振動制御信号を生成する。 - 特許庁
(6) If the results of experimental testing are not filed within three months preceding the expiration of four years from the date of priority, the Hungarian Patent Office shall invite the applicant to rectify the irregularity within the time limit fixed in paragraph (5) or to verify that the results of experimental testing have not yet been communicated. Failure to comply with the said invitation, the applicant shall be considered to have surrendered the provisional plant variety protection.例文帳に追加
(6) 実験的試験の結果が優先日から4年の満了前の3月以内に提出されない場合は,ハンガリー特許庁は,出願人に対し,(5)に定める期限内に不備を更正するよう又は実験の結果がまだ伝達されていないことを確認するよう求める。出願人が当該求めに従わない場合は,植物品種仮保護を放棄したものとみなす。 - 特許庁
To provide a plane bending fatigue-testing device for obtaining the identical fatigue testing conditions between plane bending rocking to one surface side and that to the other surface side with respect to a test piece, for reducing the influence of vibration, and for accurately performing a plane bending fatigue test even if a metal plate new material is used as the test piece.例文帳に追加
本発明は、試験片に対し、その一面側への平面曲げ揺動時と他面側への平面曲げ揺動時とで同一の疲労試験条件が得られることや、振動の影響を低減すること、金属板新素材を試験片として用いた場合であっても平面曲げ疲労試を精度よくなし得る平面曲げ疲労試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
This testing apparatus includes: a storage section 10a which stores music and test questions related to the music; audio output means 5 for outputting the music; display means 2 for displaying the test questions; input means 3 where a subject inputs answers to the test questions; and testing means 1 which determines the level of the dementia or forgetfulness of the subject based on the input answers.例文帳に追加
音楽と音楽に関連する検査質問が保存された記憶部10aと、音楽を出力する音声出力手段5と、検査質問を表示する表示手段2と、検査質問に対して被験者が回答を入力する入力手段3と、入力された回答から被験者の認知症又は物忘れの症状レベルを判定する検査処理手段1と、を備えている。 - 特許庁
To provide a simple and efficient method for measuring the size of coke cake particles and the number of cracks on coke cakes in a coal dry distillation testing furnace, by measuring directly the surface profile without decomposition of coke cakes derived from the coal dry distillation testing furnace to thereby determine the number of cracks on the coal cakes and additionally to determine the coke particle diameter from the number of cracks.例文帳に追加
石炭乾留試験炉でのコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の測定を、石炭乾留試験炉で乾留して得られたコークスケーキを解体せずに直接その表面形状を測定することによりコークスケーキの亀裂数を求め、さらにこの亀裂数からコークス粒径を求めるコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の簡易且つ効率的な測定方法を提供する。 - 特許庁
The IgG and the transferrin in the urine and the IgG and the transferrin in the blood are quantitatively determine using testing paper pieces of the immunochromatography, and are measured by one-measuring operations respectively, using the testing paper pieces same respectively, and the ratio of the ratios thereof is calculated to determine the start of the adrenal cortical hormone therapy for the neophrotic syndrome, based on the numeral value obtained therein.例文帳に追加
尿中のIgGとトランスフェリンの定量および血液中のIgGとトランスフェリンの定量をイムノクロマト法の試験紙片を用いて行ない、それぞれ同じ仕様の試験紙片を使い、それぞれ1回の測定操作で測定出来、その測定結果の比の比を算出しその数値によって、ネフローゼ症候群に副腎皮質ホルモン治療をするかどうかを決められるようにする。 - 特許庁
To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.例文帳に追加
OFFリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Iddq試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
For testing the compressive strength of a specimen by applying the compressive load to the columnar specimen 1 in the axial direction, this concrete compressive strength testing device 10 is composed of a cylindrical device body 11 having a housing part 14 for housing the specimen and a cylindrical device cover 12 installed in the outer peripheral part in a fitting installing state.例文帳に追加
柱状の供試体1に対して軸線方向に沿って圧縮荷重を加えることにより該供試体の圧縮強度を試験するために、コンクリート圧縮強度試験装置10を、供試体を収納する収納部14を有する筒状の装置本体11と、その外周部に嵌装した状態で組付けられる筒状の装置カバー12とから構成する。 - 特許庁
Waveform data for modulation signals output from the semiconductor testing device is stored in the testing circuit in advance, and in-chip noise in the RF chip and inherent circuit characteristics of the RF chip are extracted by comparing the result of analysis in which the signals output from the low-noise amplifier and the signals input to the amplifier were analyzed by spectrum analysis to the waveform data for the stored modulation signals.例文帳に追加
試験回路は、半導体試験装置より出力する変調信号の波形データが予め記憶され、低雑音増幅器より出力される信号及び増幅器に入力される信号をスペクトラム解析した解析結果と記憶されている変調信号の波形データとの比較によりRFチップにおけるチップ内ノイズ及びRFチップ本来の回路特性を抽出する。 - 特許庁
To provide an elastic wave sensing device which can detect Arm Electronics (AE) generated from a testing object of outdoor ground by installing optical fibers in the testing object or, for the tesing object preserving liquid, directly immersing it in the liquid, while reducing any affect from extraneous noise to enhance accuracy in detection of AE and also safely achieving integrity test of a combustibles storage container.例文帳に追加
光ファイバを屋外地上の被検査対象物に設置したり、液体を貯蔵する被検査対象物には液体中に直接浸漬して、被検査対象物から発生するAEを検出すると共に、外来ノイズの影響を低減してAEの検出精度高め、且つ可燃物貯蔵容器の健全性検査を安全に行うことが可能な弾性波検出装置を提供する。 - 特許庁
As a result, even if a conventional testing device 12 for digital and analog circuit is used instead of an expensive testing device which can output a high frequency signal, the high frequency signal characteristics in a wafer stage is tested, to reduce the generation of defective products in the examination after a package assembly, and to suppress and lower the inspection cost occupied in the manufacturing cost.例文帳に追加
その結果、高周波信号を出力可能な高価な試験装置を用いずに従来のデジタルおよびアナログ回路用の試験装置12を用いたとしても、ウエハ段階での高周波信号特性の試験を行うことが可能となり、パッケージ組み立て後の試験における不合格品の発生を減らすことが可能となり、製造コストに占める検査のコストを低く抑えることができる。 - 特許庁
A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part.例文帳に追加
被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for test analysis that can automatically find out an optical testing condition to identify a cause of failure, even if a plurality of causes of failure coexist and are provided with new quantitative means and method that are hard to be affected by correlation between testing conditions and failure density and skill of an analyst.例文帳に追加
複数の不良原因が混在している場合でも、不良原因を識別するのに最適な検査条件を自動的に求めることができ、更に検査条件と不良密度との相関に加え、解析者の熟練度に影響を受けにくい新しい定量的な不良原因の識別手段及び方法を備えた検査解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To realize a light-weight testing apparatus, capable of executing a continuous test to be tested easily by forming and reproducing projection parts formed by simulating a rough road surface by many kinds of programmed extensible/retractable modes of protruding portions on actuators installed on rotating drum mechanisms parts, in a rough road running testing device formed by simulating rough road surface encountered by a vehicle while running.例文帳に追加
車両が走行中に遭遇する悪路面をシュミレーションした悪路走行試験装置において、悪路面を模擬した凸部を、回転ドラム機構部に設けたアクチュエータの突起部のプログラミングされた幾種類もの伸縮モードで形成して再現することにより、軽量で試験に手間のかからない連続試験ができる試験装置を実現することを課題とする。 - 特許庁
In the semiconductor testing device for logically comparing the plurality of outputs of a DUT with each expected value at the same timing and testing them, a solving means is provided with a latch means to latch and output the plurality of output of the DUT, a multiplexeer means for receiving the latched outputs and selectively output them, and a logical comparison means to logically compare the selected output with the expected value.例文帳に追加
DUTの複数出力と、各期待値とを同一タイミングで論理比較して試験する半導体試験装置において、DUTの複数出力をそれぞれラッチ出力するラッチ手段と、該ラッチ出力を受けて選択出力するマルチプレクサ手段と、該選択出力と期待値とを論理比較する論理比較手段とを設けた解決手段。 - 特許庁
To provide a software testing device testing device, especially built-in software, in an environment using no actual machine, maintaining a conventional function by change of a control request or compliance with new control while checking a new function for improving quality of the software to be mounted , and extracting a differential point between an expectation value and a test output for facilitating debugging after a test.例文帳に追加
特に組み込みソフトウェアにおいて、実機を用いない環境でのソフトウェアテストを提供し、制御要求変更や新規制御対応による従来機能の保持と、新規機能の確認による実装対象となるソフトウェアの品質を向上し、更に期待値とテスト出力の差分点を抽出することにより、テスト後のデバッグを容易化するソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁
This testing method comprises calculating the shape characteristic of the solder paste from the image data of the fillet forming spot by use of the above testing device, and measuring the time required until the shape characteristic is laid in a prescribed stable state from the time of starting the melting of the solder paste or the time of reaching substantially the same temperature as the liquid phase line temperature for the solder paste.例文帳に追加
試験方法は、上記試験装置を用い、フィレット形成個所の画像データよりはんだペーストの形状特性を算出し、はんだペーストが溶融し始めた時点、または前記はんだペーストについての液相線温度と実質的に同一の温度に到達した時点から、前記形状特性が所定の安定状態に至るまでに要する時間を測定する。 - 特許庁
This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.例文帳に追加
運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、1台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁
This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加
測位用信号を受信する受信装置20の自動試験システム10であって、受信装置20に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置20を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段44と、を有する。 - 特許庁
In this toilet stool device 1 with an urine testing function provided with an urine sensor for detecting concentrations of substances in an urine such as saccaride, protein, occult blood, vitamins and the like contained in the urine, a capillary passage 415a capable of holding liquid by a capillary phenomenon is provided in a detection head 3 having the urine testing sensor for detecting concentrations of the substances in the urine.例文帳に追加
尿に含まれる糖、タンパク、潜血、ビタミン等の尿中物質の濃度を検出する尿センサーを備えた検尿機能付き便器装置1において、尿中物質の濃度を検出する検尿センサーを備えた検出ヘッド3には、毛細管現象により液体を保持可能な微細通路415aを設けたことを特徴とする検尿付き便器装置。 - 特許庁
To provide a seal structure of a chain case joining surface improving robustness to a leakage of engine oil by suppressing a clearance change of a thin film part of an FIPG (formed in place gasket) in a testing bench operating time.例文帳に追加
試験ベンチ運転時におけるFIPGの薄膜部のクリアランスの変化を抑制し、もってエンジンオイルの漏れに対するロバスト性を向上させる、チェーンケース合わせ面のシール構造を提供すること。 - 特許庁
An area judgment threshold k, a judgment threshold α, and a fixing time period S are set corresponding to each recording quality and a kind of each recording medium from an optimum fixing time period determined according to the testing.例文帳に追加
試験することによって定めた最適な定着時間をもとに、各記録品位および各記録媒体の種類に応じてエリア判定閾値k、判定閾値αおよび定着時間Sを設定した。 - 特許庁
To provide a heat radiation performance tester on an enclosure for removing variable factors by natural environment or an installation location, and variable factors caused by internal heat generation distribution independently of time for testing.例文帳に追加
試験のための時期によらず、また自然環境や設置場所に起因する変動要素、内部発熱分布による変動要素を排除することができる筐体の放熱性能試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test method and a test apparatus for testing integrated-circuit technology and, to be more precise, provide a probe card constituted in such a way as to reduce crosstalk between probes of a probe card.例文帳に追加
集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。 - 特許庁
To provide a compact semiconductor device for SiP or PoP, a method of manufacturing it, and a testing method suitable for SiP and PoP which achieve simplification of a system and enhancement of its efficiency.例文帳に追加
小型化を図ったSiP又はPoPに向けた半導体装置及びその製造方法とシステムの簡素化及び効率化を実現したSiP又はPoPに好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁
This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加
本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うICテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
The test technique comprises a memory cell, a built-in self-testing cell, a comparing cell and a signature cell, and the signature cell contains one set of first conductive paths at a first level and one set of second conductive paths at a second level.例文帳に追加
メモリセルと、内蔵自己テストセルと、比較セルと、シグナチャセルとを有し、該シグナチャセルは、第一レベルの1組の第一導電性経路と、第二レベルの1組の第二導電性経路と包含している。 - 特許庁
To provide a board-mounted component and a mounting method therefor which is applied, for example, to a wireless LAN module, design and manage easier than the conventional types and simplify testing facility.例文帳に追加
本発明は、基板実装部品及び基板実装部品の実装方法に関し、例えば無線LANモジュールに適用して、従来に比して設計、管理が容易で、かつ検査設備を簡略化できるようにする。 - 特許庁
The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加
検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁
Settings and control for realizing this reproduction are automatically carried out by the testing control apparatus 44 using predetermined setting information 45a, 45b, 45c and control information 47a, 47b and 47c.例文帳に追加
この再現を行うための設定および制御を、予め定められた設定情報45a,45b,45cおよび制御情報47a,47b,47cを用いて試験制御装置44により自動で行う。 - 特許庁
To provide a material testing machine equipped with a test force display meter, which can highlight the contents to be desirably watched by an operator, even in a plurality of digital display part equipped with indicators of the same size.例文帳に追加
同じサイズの表示器を備える複数のデジタル表示部においても、オペレータに注目させたい内容を強調表示することが可能な試験力表示計を備える材料試験機を提供する。 - 特許庁
A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加
透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、LEDチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してLEDチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁
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