Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加
本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁
A testing method includes the steps of: creating design specifications 11 and 12 indicating a plurality of individual specifications and a plurality of common specifications distinguishably; causing a computer to execute the operation of generating test specifications and test data from the design specifications 11 and 12; and testing a program created according to the design specifications 11 and 12 on the basis of the test specifications and test data.例文帳に追加
複数の個別仕様と複数の共通仕様とを判別可能に示す設計書11、12を作成するステップと、設計書11、12に基づいてテスト仕様書とテストデータとを生成する動作をコンピュータに実行させるステップと、設計書11、12に基づいて作成されたプログラムをそのテスト仕様書とそのテストデータとに基づいてテストするステップとを備えている。 - 特許庁
A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.例文帳に追加
RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも1つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁
In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加
Arガスを満たした釘刺し用容器2内でLiイオン電池ユニット3の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にLiイオン電池ユニット3から発生したガスが釘刺し用容器2内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器2から配管70を通ってバッファタンク80にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁
To realize a light-weight testing apparatus, capable of executing a continuous test to be tested easily by forming and reproducing projection parts formed by simulating a rough road surface by many kinds of programmed extensible/retractable modes of protruding portions on actuators installed on rotating drum mechanisms parts, in a rough road running testing device formed by simulating rough road surface encountered by a vehicle while running.例文帳に追加
車両が走行中に遭遇する悪路面をシュミレーションした悪路走行試験装置において、悪路面を模擬した凸部を、回転ドラム機構部に設けたアクチュエータの突起部のプログラミングされた幾種類もの伸縮モードで形成して再現することにより、軽量で試験に手間のかからない連続試験ができる試験装置を実現することを課題とする。 - 特許庁
In the semiconductor testing device for logically comparing the plurality of outputs of a DUT with each expected value at the same timing and testing them, a solving means is provided with a latch means to latch and output the plurality of output of the DUT, a multiplexeer means for receiving the latched outputs and selectively output them, and a logical comparison means to logically compare the selected output with the expected value.例文帳に追加
DUTの複数出力と、各期待値とを同一タイミングで論理比較して試験する半導体試験装置において、DUTの複数出力をそれぞれラッチ出力するラッチ手段と、該ラッチ出力を受けて選択出力するマルチプレクサ手段と、該選択出力と期待値とを論理比較する論理比較手段とを設けた解決手段。 - 特許庁
To provide a software testing device testing device, especially built-in software, in an environment using no actual machine, maintaining a conventional function by change of a control request or compliance with new control while checking a new function for improving quality of the software to be mounted , and extracting a differential point between an expectation value and a test output for facilitating debugging after a test.例文帳に追加
特に組み込みソフトウェアにおいて、実機を用いない環境でのソフトウェアテストを提供し、制御要求変更や新規制御対応による従来機能の保持と、新規機能の確認による実装対象となるソフトウェアの品質を向上し、更に期待値とテスト出力の差分点を抽出することにより、テスト後のデバッグを容易化するソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁
To provide a simple and efficient method for measuring the size of coke cake particles and the number of cracks on coke cakes in a coal dry distillation testing furnace, by measuring directly the surface profile without decomposition of coke cakes derived from the coal dry distillation testing furnace to thereby determine the number of cracks on the coal cakes and additionally to determine the coke particle diameter from the number of cracks.例文帳に追加
石炭乾留試験炉でのコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の測定を、石炭乾留試験炉で乾留して得られたコークスケーキを解体せずに直接その表面形状を測定することによりコークスケーキの亀裂数を求め、さらにこの亀裂数からコークス粒径を求めるコークス粒度及びコークスケーキの亀裂数の簡易且つ効率的な測定方法を提供する。 - 特許庁
This testing apparatus includes: a storage section 10a which stores music and test questions related to the music; audio output means 5 for outputting the music; display means 2 for displaying the test questions; input means 3 where a subject inputs answers to the test questions; and testing means 1 which determines the level of the dementia or forgetfulness of the subject based on the input answers.例文帳に追加
音楽と音楽に関連する検査質問が保存された記憶部10aと、音楽を出力する音声出力手段5と、検査質問を表示する表示手段2と、検査質問に対して被験者が回答を入力する入力手段3と、入力された回答から被験者の認知症又は物忘れの症状レベルを判定する検査処理手段1と、を備えている。 - 特許庁
The IgG and the transferrin in the urine and the IgG and the transferrin in the blood are quantitatively determine using testing paper pieces of the immunochromatography, and are measured by one-measuring operations respectively, using the testing paper pieces same respectively, and the ratio of the ratios thereof is calculated to determine the start of the adrenal cortical hormone therapy for the neophrotic syndrome, based on the numeral value obtained therein.例文帳に追加
尿中のIgGとトランスフェリンの定量および血液中のIgGとトランスフェリンの定量をイムノクロマト法の試験紙片を用いて行ない、それぞれ同じ仕様の試験紙片を使い、それぞれ1回の測定操作で測定出来、その測定結果の比の比を算出しその数値によって、ネフローゼ症候群に副腎皮質ホルモン治療をするかどうかを決められるようにする。 - 特許庁
To provide a particle abrasion testing machine of dust collection filter cloth constituted so as to be made usable without lowering a dust collection capacity or economical efficiency by making it possible to replace the dust collection filter cloth during the optimum period by preliminarily testing the durable period of the dust collection filter cloth under a condition near to an actual base to preliminarily judge the life under the use environment and condition thereof.例文帳に追加
集塵用濾布の耐用期間を、予め実機ベースに近い条件で試験をしてその使用環境、条件での寿命を予め判定して、最適な期間に集塵用濾布を交換できるようにして集塵能力を低下させることなく、また不経済になることなく使用できるようにした集塵用濾布の粒子摩耗試験装置を提供すること。 - 特許庁
(6) If the results of experimental testing are not filed within three months preceding the expiration of four years from the date of priority, the Hungarian Patent Office shall invite the applicant to rectify the irregularity within the time limit fixed in paragraph (5) or to verify that the results of experimental testing have not yet been communicated. Failure to comply with the said invitation, the applicant shall be considered to have surrendered the provisional plant variety protection.例文帳に追加
(6) 実験的試験の結果が優先日から4年の満了前の3月以内に提出されない場合は,ハンガリー特許庁は,出願人に対し,(5)に定める期限内に不備を更正するよう又は実験の結果がまだ伝達されていないことを確認するよう求める。出願人が当該求めに従わない場合は,植物品種仮保護を放棄したものとみなす。 - 特許庁
Waveform data for modulation signals output from the semiconductor testing device is stored in the testing circuit in advance, and in-chip noise in the RF chip and inherent circuit characteristics of the RF chip are extracted by comparing the result of analysis in which the signals output from the low-noise amplifier and the signals input to the amplifier were analyzed by spectrum analysis to the waveform data for the stored modulation signals.例文帳に追加
試験回路は、半導体試験装置より出力する変調信号の波形データが予め記憶され、低雑音増幅器より出力される信号及び増幅器に入力される信号をスペクトラム解析した解析結果と記憶されている変調信号の波形データとの比較によりRFチップにおけるチップ内ノイズ及びRFチップ本来の回路特性を抽出する。 - 特許庁
To provide an elastic wave sensing device which can detect Arm Electronics (AE) generated from a testing object of outdoor ground by installing optical fibers in the testing object or, for the tesing object preserving liquid, directly immersing it in the liquid, while reducing any affect from extraneous noise to enhance accuracy in detection of AE and also safely achieving integrity test of a combustibles storage container.例文帳に追加
光ファイバを屋外地上の被検査対象物に設置したり、液体を貯蔵する被検査対象物には液体中に直接浸漬して、被検査対象物から発生するAEを検出すると共に、外来ノイズの影響を低減してAEの検出精度高め、且つ可燃物貯蔵容器の健全性検査を安全に行うことが可能な弾性波検出装置を提供する。 - 特許庁
As a result, even if a conventional testing device 12 for digital and analog circuit is used instead of an expensive testing device which can output a high frequency signal, the high frequency signal characteristics in a wafer stage is tested, to reduce the generation of defective products in the examination after a package assembly, and to suppress and lower the inspection cost occupied in the manufacturing cost.例文帳に追加
その結果、高周波信号を出力可能な高価な試験装置を用いずに従来のデジタルおよびアナログ回路用の試験装置12を用いたとしても、ウエハ段階での高周波信号特性の試験を行うことが可能となり、パッケージ組み立て後の試験における不合格品の発生を減らすことが可能となり、製造コストに占める検査のコストを低く抑えることができる。 - 特許庁
A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part.例文帳に追加
被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for test analysis that can automatically find out an optical testing condition to identify a cause of failure, even if a plurality of causes of failure coexist and are provided with new quantitative means and method that are hard to be affected by correlation between testing conditions and failure density and skill of an analyst.例文帳に追加
複数の不良原因が混在している場合でも、不良原因を識別するのに最適な検査条件を自動的に求めることができ、更に検査条件と不良密度との相関に加え、解析者の熟練度に影響を受けにくい新しい定量的な不良原因の識別手段及び方法を備えた検査解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.例文帳に追加
OFFリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Iddq試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
For testing the compressive strength of a specimen by applying the compressive load to the columnar specimen 1 in the axial direction, this concrete compressive strength testing device 10 is composed of a cylindrical device body 11 having a housing part 14 for housing the specimen and a cylindrical device cover 12 installed in the outer peripheral part in a fitting installing state.例文帳に追加
柱状の供試体1に対して軸線方向に沿って圧縮荷重を加えることにより該供試体の圧縮強度を試験するために、コンクリート圧縮強度試験装置10を、供試体を収納する収納部14を有する筒状の装置本体11と、その外周部に嵌装した状態で組付けられる筒状の装置カバー12とから構成する。 - 特許庁
To provide an impact and vibration testing device capable of independently and successively performing input operations, such as test parameter set, waveform input, and data display, corresponding to precise impact test conditions according to an intended state to be reproduced such as soil quality, earthquake waveform, intensity from one screen in order to be applied as a pseudo earthquake testing device, and extremely easily performing a precise operation and a data analysis.例文帳に追加
擬似地震試験装置として適用する為に、土質、地震波形、強度等の再現すべき目的状態に対応した緻密な衝撃試験条件に対応する入力操作を一つの画面から、試験パラメータ、波形入力、データ表示が夫々独立して順次行なわれ、緻密な操作とデータの解析が極めて容易に行なわれる衝撃・振動試験装置の提供。 - 特許庁
Furthermore, a first switch circuit which outputs the external clock input to the first group during testing and outputs the second clock to the first group during normal operation, and a first mask circuit which interrupts the outputting to the second group when the second group is not operated by the external clock input during testing and outputs the third clock to the second group during normal operation, are provided.例文帳に追加
さらに、試験時には外部クロック入力を第1の群に出力し、通常の使用時には第2のクロックを第1の群に出力する第1のスイッチ回路と、試験時において外部クロック入力で第2の群が動作しない場合には第2の群への出力を遮断し、通常の使用時には第3のクロックを第2の群に出力する第1のマスク回路とを設ける。 - 特許庁
In this vibration control device for controlling vibration of this vibration testing machine by outputting a vibration control signal, a vibration analog signal of the vibration testing machine is converted digitally, and then a signal having the same frequency as the vibration control signal is extracted from the digital vibration signal by using a digital filter, and the second vibration control signal is generated based on the extracted digital vibration signal.例文帳に追加
振動制御信号を出力して振動試験機の振動を制御する振動制御装置において、振動試験機の振動アナログ信号をデジタル変換した後、当該デジタル振動信号から前記振動制御信号と同一の周波数の信号をデジタルフィルタを用いて抽出し、抽出したデジタル振動信号にもとづいて第2の振動制御信号を生成する。 - 特許庁
This composite panel 10 is provided with four testing pad parts 10a, having the plurality of testing pads 101, a rigid substrate part 10b having a die pad 11 mounted with a semiconductor chip 12, a flexible substrate part 10c for connecting the rigid substrate part 10b to the rigid substrate part 10b, and four triangular bonding pads 10d provided in an inner end of a wiring pattern 103.例文帳に追加
複合基板10は、複数のテストパッド101を有する4つのテストパッド部10a、半導体チップ12が搭載されるダイパッド11を有するリジット基板部10b、リジット基板部10bとリジット基板部10bを接続するフレキシブル基板部10c、及び配線パターン103の内側端に設けられた4つの三角形状のボンディングパッド10dを備えている。 - 特許庁
After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.例文帳に追加
NGが発生すると試験対象チップにおけるNGの回数が第1の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、NGの回数が第1の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、NGの数が第2の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁
To measure and evaluate before formation of a thin deposition film, behaviors of a weblike plastic film under various conditions in vacuum inside a film testing machine in the weblike plastic film formed thereon with the thin deposition film by a chemical vapor deposition method(CVD) or the like, grasp the optimum film-forming condition based on a measuered result provided by the testing machine, and form the stable thin deposition film.例文帳に追加
化学気相成長法(CVD)等により蒸着薄膜を成膜させるウェブ状プラスチックフイルムを薄膜形成前に、フイルム試験機内で真空中の各種条件下でのフイルムの挙動を測定、評価出来るようにし、該フイルム試験機で得られた測定結果を基に成膜の最適条件を把握し、安定した蒸着薄膜を形成させることを可能にすることである。 - 特許庁
To provide a bolt testing machine installing device for a roof and its installation method, to be put in a stable installation state on an existing slate roof so that a worker can safely operate a bolt testing machine for the roof for measuring whether or not an existing hook bolt has strength endurable against reuse, for leaving the existing slate roof as it is, in roof remodeling work.例文帳に追加
屋根改修工事において、既設スレート等屋根をそのままにするために、前記既設フックボルトが再利用に耐え得る強度を有しているか否かを測定するための屋根用ボルト試験機を作業員が安全に操作することができるように、既設スレート等屋根上に安定した設置状態にする屋根用ボルト試験機の取付装置及びその設置方法とすること。 - 特許庁
This testing method comprises calculating the shape characteristic of the solder paste from the image data of the fillet forming spot by use of the above testing device, and measuring the time required until the shape characteristic is laid in a prescribed stable state from the time of starting the melting of the solder paste or the time of reaching substantially the same temperature as the liquid phase line temperature for the solder paste.例文帳に追加
試験方法は、上記試験装置を用い、フィレット形成個所の画像データよりはんだペーストの形状特性を算出し、はんだペーストが溶融し始めた時点、または前記はんだペーストについての液相線温度と実質的に同一の温度に到達した時点から、前記形状特性が所定の安定状態に至るまでに要する時間を測定する。 - 特許庁
This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.例文帳に追加
運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、1台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁
This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加
測位用信号を受信する受信装置20の自動試験システム10であって、受信装置20に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置20を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段44と、を有する。 - 特許庁
In this toilet stool device 1 with an urine testing function provided with an urine sensor for detecting concentrations of substances in an urine such as saccaride, protein, occult blood, vitamins and the like contained in the urine, a capillary passage 415a capable of holding liquid by a capillary phenomenon is provided in a detection head 3 having the urine testing sensor for detecting concentrations of the substances in the urine.例文帳に追加
尿に含まれる糖、タンパク、潜血、ビタミン等の尿中物質の濃度を検出する尿センサーを備えた検尿機能付き便器装置1において、尿中物質の濃度を検出する検尿センサーを備えた検出ヘッド3には、毛細管現象により液体を保持可能な微細通路415aを設けたことを特徴とする検尿付き便器装置。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus which takes advantage of the characteristics of each of an eddy current testing (ECT)-based flaw detection apparatus and an imaging-based flaw detection apparatus in an inspection system for detecting flaws on a metal bar.例文帳に追加
金属棒の欠陥を検出する検査システムにおいて、渦電流試験(ECT)系欠陥検出装置と画像系欠陥検出装置のそれぞれの特徴を生かした検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加
DLL回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するDLL回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁
In the method of ultrasonically testing the welding joint, the joint 12 is irradiated with ultrasonic waves from two focusing probes 8, 9 disposed oppositely on matrixes 10, 11 via the joint 12, for angle beam detection.例文帳に追加
溶接継手12を挟んで母材10、11上に対向配置させた2つの集束超音波探触子8、9から上記溶接継手12に対して各々、超音波を発射して斜角探傷する。 - 特許庁
To provide a method of ultrasonically testing a welding joint capable of detecting a defect existing in the joint with high reliability by efficiently judging and deciding a defect echo and a shape echo from a welding margin.例文帳に追加
欠陥エコーと溶接余盛からの形状エコーとを効率的に識別判定して溶接継手に存在する欠陥を信頼度高く検出できる超音波探傷方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a shock testing device having a simply-constructed low-cost safety mechanism capable of surely preventing a weight from dropping in replacement of a test piece.例文帳に追加
試験片交換時等に重錘が落下してくることを確実に防止することができ、極めて簡単な構成でかつ低コストで形成することができる安全機構を備えた衝撃試験機を提供する。 - 特許庁
According to the above means, as the heat generation distribution in a state that the semiconductor chip is mounted on the substrate can be easily known, a semiconductor device testing device can correspond efficiently to the countermeasures against generated heat of the chip.例文帳に追加
上述した手段によれば、半導体チップの実装状態での発熱分布を容易に知ることができるので、半導体チップの熱対策を効率的に対応することができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor wafer in which the internal circuit of a chip is not short-circuited when a test pad is provided in a scribe region and the number of test pads can be reduced, and to provide a method for testing a semiconductor wafer.例文帳に追加
テストパッドをスクライブ領域に設けた場合に、チップの内部回路の短絡を生じないと共に、テストパッド数を削減できる半導体ウェハおよび該半導体ウェハのウェハテスト方法を提供する。 - 特許庁
Therefore, without the need for manufacturing the test device (an iron bird) imitating the actual machine for testing the stiffness or the durability of a steering system of the aircraft, a test with high precision can be inexpensively carried out.例文帳に追加
これにより、飛行機の操縦系統の剛性や耐久性を試験するための実機を模した試験装置(アイアンバード)を作成することなく、低コストで高精度の試験を行うことができる。 - 特許庁
To provide a switching power supply circuit capable of preventing electric elements of the circuit from burning at testing safety standards for electric apparatuses because of a simple configuration using resisters consuming large power.例文帳に追加
消費電力の大きい抵抗体を用いる簡単な構成により、電気製品の安全規格試験時に回路の電気素子が焼損する問題を回避し得るスイッチング電源回路を提供する。 - 特許庁
To provide a multi spindle corotation testing device capable of simultaneous reproduction test for a plurality of bearings for driven pulleys and moreover capable of surely recognizing a radial load concerning the bearings for driven pulleys.例文帳に追加
複数の従動プーリの軸受に対して再現試験を同時におこなうことができ、また従動プーリの軸受にかかるラジアル荷重を的確に確認できる多軸同時回転試験装置を提供する。 - 特許庁
To improve sensor testing method so as to use a signal for expressing a parameter to be measured at a very short time interval even when inspecting a sensor without interruption or relatively large interruption.例文帳に追加
センサが中断なしでまたは比較的に大きな中断なしで検査される場合でも、非常に短い時間間隔で、測定すべきパラメータを表す信号が使用されるように改善することである。 - 特許庁
To provide a method for testing run-flat durability evaluation with the inputs to a tire being approached that of a general road so as to properly perform a traveling test of pneumatic rubber run-flat tire with safety wheels.例文帳に追加
中子式ランフラットタイヤの走行試験を適切に行うことができるように、タイヤへの入力を一般路に近づけたランフラット走行耐久性評価試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
By such configuration, the generation of particles which is an obstacle in a checking process of the magnetic disk etc., is averted in the spindle for testing the disk while the accuracy of rotation equal to that of the conventional air spindle is maintained.例文帳に追加
この構成により、本発明のディスク検査用スピンドルは、従来のエアスピンドルと同等の回転精度を維持しつつも、磁気ディスク等の検査工程で障害となるパーティクルの発生がない。 - 特許庁
To provide a performance evaluation method of a processed oil that allows the evaluation result of a laboratory level in a simplified testing machine to be adapted to the finishing machine of an actual machine, is precise and reliable, and has short test evaluation time.例文帳に追加
簡易型試験機による実験室レベルの評価結果が、実機の加工機に適応でき、精度および信頼性が高く、試験評価時間の短い加工油の性能評価方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a call-processing load test apparatus and a method therefor, enabling easy call-processing load testing, in which all radio resources are used uniformly, even when a base station is provided with a large amount of radio resources.例文帳に追加
基地局装置の無線リソースが多い場合でも、全無線リソースを均等に使用する呼処理負荷試験を容易に行うことができる呼処理負荷試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
To simultaneously operate scan tests on a plurality of LSI chips, without having to install dedicated test circuit in all the LSI chips, in testing a multi-chip package LSI carrying a plurality of LSI chips.例文帳に追加
複数のLSIチップを搭載するマルチチップパッケージLSIのテストにおいて、すべてのLSIチップに専用のテスト回路を設けることなく、複数のLSIチップのスキャンテストの同時実行を可能にする。 - 特許庁
To provide a method for testing corrosion capable of accurately evaluating long-term reliability with respect to corrosion that depends on the installation environment of electronic devices, while reflecting and atmospheric corrosion environment, and to provide a device therefor.例文帳に追加
電子機器等の設置環境に依存して生じる腐食に対する長期的な信頼性を、大気腐食環境を反映しつつ的確に評価しうる腐食試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of measuring OTF of a lens at some spatial positions, spatial frequencies, orientations, and defocus positions, a lens testing system using one chart, and to provide a method of generating the test chart.例文帳に追加
1枚のチャートにより、いくつかの空間位置、空間周波数、方向及びデフォーカス位置でレンズのOTFを測定する方法、レンズ試験システム、更に、テストチャートを生成する方法を開示する。 - 特許庁
The receiving signal from the plurality of the probes 10 are capable of simultaneous display with the constitution parallel connecting the receiving terminals of the plurality of probes and the receiving terminals of the electric signal of the testing device body.例文帳に追加
複数の探触子の受信側端子を試験装置本体の電気信号の受信端子に並列接続し、複数の探触子10からの受信信号を同時に表示可能に構成する。 - 特許庁
The performance evaluation test machine for testing a test bearing for roller bearing for planetary gear support is constituted of a base stage 3, a bearing holding member 7, a weight load device 6 and a rotational drive device 17.例文帳に追加
遊星歯車支持用の転がり軸受のサンプルである供試軸受を試験する性能評価試験機を、基台3と、軸受保持部材7と、荷重負荷装置6と、回転駆動装置17とで構成する。 - 特許庁
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