「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(239ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor evaluation device capable of selecting automatically an input terminal, a testing object, on the semiconductor device side connected to a tester outputting high-frequency noise.例文帳に追加

試験対象であって、高周波ノイズを出力する試験器と接続される半導体装置側の入力端子の選択を自動的に行うことが可能な半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.例文帳に追加

ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42.例文帳に追加

燃焼器（２０）、該燃焼器（２０）に結合された圧力変換器（４４）、及びスパーク検出器（４２）を含むガスタービンエンジン（１０）内部に結合された点火器（４０）をテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed.例文帳に追加

直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁

To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加

本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a semiconductor element and an external electrode are connected by lead wiring, and which can prevent the occurrence of areas not filled by a sealing resin and can ease testing processes.例文帳に追加

半導体素子と外部電極とがリード配線で接続された半導体装置において、封止樹脂の未充填領域の発生を防ぎ、かつ試験工程が容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁

This testing device includes a reservoir 14 for including the fluid, an aerator device 22 for generating air entrainment in the fluid, and a densimeter 26 for measuring the effect of the air entrainment relative to a fluid density.例文帳に追加

本試験装置は、流体を含むためのリザーバ１４と、流体に空気飛沫同伴させるエアレータ装置２２と、流体密度に対する空気飛沫同伴の効果を測定する密度計２６とを含む。 - 特許庁

To provide a collision-testing device, capable of reproducing in a simulating manner drop of a robot arm having a comparatively heavy load with a simple constitution, and of performing easily a high-accuracy collision test.例文帳に追加

簡単な構成でありながら荷重の比較的大きいロボットアームの落下を模擬的に再現することができ、精度の高い衝突試験が容易に行える衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

A load testing device 9 independently sets call processing signaling to a node B device 4 and a load of user data communication by a radio control part 9a and a user data preparation/inspection part 9b.例文帳に追加

負荷試験装置９では無線制御部９ａ及びユーザデータ生成／検査部９ｂによって、ノードＢ装置４に対する呼処理シグナリング及びユーザデータ通信の負荷を独立に設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of making an input test pattern associate with an abnormality of voltage in detecting the abnormality of the voltage, when the test pattern is input into a device.例文帳に追加

テストパターンをデバイスに入力した時の電圧の異常を検出する際に、入力テストパターンと電圧の異常との対応付けをすることができる半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

The semiconductor-testing device has been improved, which tests a liquid crystal drive driver, incorporating a relay for connecting output from the positive-electrode amplifier and negative-electrode amplifier provided for each pin to the pin.例文帳に追加

ピンごとに設けられる正極アンプ、負極アンプからの出力をピンに接続させるリレーを内蔵した液晶駆動ドライバの試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To solve the problem that tests require time and labor as the tests are performed by activating only one clock when testing an integrated circuit operated by a plurality of clock signals at normal operation.例文帳に追加

通常動作において、複数のクロック信号によって動作する集積回路をテストするとき、１つのクロックだけを起動することによってテストするため、テストにかかる手間および時間がかかる。 - 特許庁

To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加

検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

The jaw heating element of the handpiece 12 with which a thermal tissue operation system 10 is provided is consecutively tested by applying a testing heater power signal to the jaw heating element betweentimes of individual thermal tissue operations.例文帳に追加

熱組織手術システム１０の備えるハンドピース１２のジョー加熱素子は、個別の熱組織手術の合間に試験用ヒーター電力信号をジョー加熱素子に印加することにより継続的にテストされる。 - 特許庁

To provide a convenient in vitro membrane protein expression system using an inhibitor of drug efflux pump proteins and heterologous cells for testing other drug resistance-relating cell membrane proteins.例文帳に追加

薬剤排出ポンプ蛋白質の阻害物質や異なる種由来の薬剤耐性に関連する他の細胞膜蛋白質を試験するための細胞を用いた簡便なin vitro膜蛋白質発現系を提供する。 - 特許庁

To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.例文帳に追加

既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices.例文帳に追加

同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

(2) The conditions laid down in Article 106(3) to (5) shall be assessed in the course of the procedure for state registration or on the basis of the results of experimental testing carried out for the purposes of the procedure concerning plant variety protection.例文帳に追加

(2) 第106条(3)から(5)までに定める条件は，国家登録手続の過程において又は植物品種保護に関する手続の目的で行われた実験的試験の結果に基づいて評価する。 - 特許庁

The depositary institution for the purposes of patent procedure issues a receipt of a reception immediately after receiving the application of patent depositary, and then it issues a Receipt of an Original Deposit after testing the microorganism and finding them to be viable. 例文帳に追加

特許庁長官の指定する機関では、寄託申請を受け付けた際、直ちに「受領書」を発行し、生存確認試験を行って、微生物の生存を確認した後に「受託証」を交付する。 - 特許庁

(iii) When the Accredited Foreign Testing Laboratory Operator fails to report or has made a false report in the event that the competent minister requested it to make a report on its business as he/she deemed it necessary. 例文帳に追加

三　主務大臣が必要があると認めて登録外国試験事業者に対しその業務に関し報告を求めた場合において、その報告がされず、又は虚偽の報告がされたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To prevent the occurrence of cracks due to fatigue breakdown from a portion other than a blade section that is a rating section by strongly performing cantilever support and fixation of a turbine moving blade to a tool-chucking section that is mounted to a fatigue-testing machine.例文帳に追加

タービン動翼を疲労試験機に取り付けられた治具のチャック部に強固に片持支持・固定し、評定部である翼部以外の部分からの疲労破壊によるクラックの発生を防止する - 特許庁

To provide an internal pressure fatigue testing machine capable of performing a more accurate test by suppressing fluctuation of a test pressure at the driving/stopping time of an auxiliary oil pressure source regardless of the pressure of an internal pressure test.例文帳に追加

内圧試験の圧力に係わらず、補助油圧源の駆動／停止時における試験圧力の変動を抑制し、より正確な試験を行うことのできる内圧疲労試験機を提供する。 - 特許庁

When tampering is detected, the testing stations 24 notifies the contents provider 12 of the occurrence of tampering, whereupon the contents provider 12 updates the security mechanism 14 to prevent further breach.例文帳に追加

改ざんが検出されると、検査ステーション２４がコンテンツ提供者１２に改ざんの発生を知らせ、それに応じて、コンテンツ提供者１２がセキュリティ機構１４を更新してそれ以上の侵害を防止する。 - 特許庁

In an actual operation state of the low-voltage wiring 1, an imaginary load testing device 13 is connected between an output terminal 1at of the first line 1a and an output terminal 1bt of a neutral line 1b.例文帳に追加

低圧配線１の実稼動状況において、第１線１ａの出力端子１ａｔと中性線１ｂの出力端子１ｂｔとの間に虚負荷試験装置１３を接続する。 - 特許庁

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁

To prevent the operating efficiency of a tester from decreasing and to prevent the wafer map of the measuring device of a semiconductor wafer from deviating even in a wafer without any target patterns in wafer-testing device and method.例文帳に追加

ウェハテスト装置およびウェハテスト方法において、テスタの稼働率を低下させることなく、タ−ゲットとなるパタ−ンの無いウェハでも半導体ウェハの測定装置のウェハマップずれが生じさせない。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

A testing tool comprising a transparent base 101 having the same shape with a package main body of the IC package, and terminals 103 same with the terminals of IC packages arranged to the lower surface of the base 101 are used.例文帳に追加

ＩＣパッケージのパッケージ本体と同一形状の透明なベース１０１と、ベース１０１の下面に設けられ、ＩＣパッケージの端子と同一の端子１０３とを有する検査ツールを用いる。 - 特許庁

The system 10 for testing and cleaning a removable medium drive 12 such as a tape drive is provided with a utility cartridge 20 and a program code 60 for starting utility operations 70, 84, 94 and 100.例文帳に追加

テープドライブのような取り外し可能媒体ドライブ（１２）をテストおよび清掃するシステム（１０）は、ユーティリティカートリッジ（２０）およびユーティリティ動作（７０，８４，９４，１００）を開始するプログラムコード（６０）を有する。 - 特許庁

A socket 1 for testing a BGA package 10, according to this invention, includes contact pins 20 consisting of spiral coil springs 20a and stored in spring storage holes 51 in a ball guide 50 and a positioning setting 40 provided thereon.例文帳に追加

本発明のＢＧＡパッケージ１０をテストするソケット１は、ボールガイド５０のばね収納孔５１に、螺旋状のコイルばね２０ａからなるコンタクトピン２０を収納し、位置決め台座４０を設けてある。 - 特許庁

METHOD OF MEASURING HOLE DIAMETER, HOLE POSITION, HOLE SURFACE ROUGHNESS, OR BENDING LOSS OF AN OPTICAL FIBER WITH A HOLE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FIBER WITH HOLE, AND METHOD OF TESTING OPTICAL FIBER LINE WITH HOLE例文帳に追加

空孔付き光ファイバの空孔径、空孔位置、空孔表面荒さまたは曲げ損失の測定方法、空孔付き光ファイバの製造方法および空孔付き光ファイバ光線路の試験方法 - 特許庁

A second testing tool 70 is attached to a maintenance device 44, disposed in water supply piping to which a primary side of the hose 28 is connected so as to shut off the communication between the hose primary side and the water supply piping.例文帳に追加

第２試験治具７０はホース２８の１次側が接続される給水配管に設けられたメンテナンス用装置４４に装着されて、ホース１次側と給水配管との間を遮断する。 - 特許庁

In the PACHINKO game machine 1, the unrewritable performance image memory device 340 has stored therein performance image data for use in the performance display operation and the test display data for use in testing the display operation.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

(1) A surface pH of an ink accepting layer measured by a glass electrode method, i.e. the paper pulp testing method No. 45-1 of TAPPI, reaches the minimum value within 60 seconds after dripping of a wetting liquid.例文帳に追加

（１）ＴＡＰＰＩ 紙パルプ試験方法Ｎｏ．４５−１：ガラス電極法により測定したインク受容層の表面ｐＨは、湿潤液を滴下してから６０秒以内に極小値に達する。 - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

In the electrode 22, an upper surface is used as a terminal 24 for making electrical connection to an external circuit device, and a lower surface is used as a terminal 26 for testing the operation of the circuit device 10.例文帳に追加

この電極２２は、上面が外部の回路装置との電気的な接続用の接続用端子２４として用いられ、下面が回路装置１０の動作試験用の試験用端子２６として使用される。 - 特許庁

To provide a tire testing machine capable of measuring dynamic characteristics of a plurality of tires at once, and capable of enhancing precision of a result of the dynamic characteristic of the measured tire.例文帳に追加

一度に複数個のタイヤの動的特性の測定を行うことができるとともに、測定されたタイヤの動的特性の結果の精度を向上することができるタイヤ試験機を提供すること。 - 特許庁

In a solid cancer testing method, subjects are determined to suffer from solid cancers in the case that α1-antitrypsin (α1-AT^52) having a molecular weight of 52KDa has been detected in their urine.例文帳に追加

本発明は、分子量５２ＫＤａのα１−アンチトリプシン（α１−ＡＴ^５２）が尿中に検出された場合に固形癌に罹患していると判定する、固形癌の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a droplet ejecting head, capable of finding out a failure which could not be found in the past early by laying the head in a state equal to the actual using state.例文帳に追加

実際と同様の使用状態にすることで従来では発見できなかった不良を早期に発見することができる液滴吐出ヘッドの試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an adapter for continuity test of a line which can shorten the time for the continuity test and is easy to use since pins for testing can easily be inserted into conductor insertion holes in a short time.例文帳に追加

複数の導線挿入孔に試験用のピンを容易にかつ短時間に挿入できて、導通試験の時間短縮を図れる上に、使い勝手に優れた回線の導通試験用アダプターを提供する。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.例文帳に追加

周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁

In the case of testing the breakdown voltage, the one of the units 17, which has the outside diameter size meeting to the inside diameter size of an ambient temperature contraction tube 5a to be tested is selected from the plurality of the units 17.例文帳に追加

耐圧試験を行なう際には、上記複数の電極ユニット１７の中から、試験対象となる常温収縮チューブ５ａの内径寸法に見合った外径寸法を有するものを選択する。 - 特許庁