「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(243ページ目) - Weblio英語例文検索

In the case that an RSSI measured value exceeds a threshold, the route loss of the signal route of an outgoing line connected from the wireless base station to the testing mobile equipment 109 is increased by a variable attenuator 232.例文帳に追加

ＲＳＳＩ測定値が閾値を超えている場合には、無線基地局から試験移動機１０９に接続される下り回線の信号経路の経路損失を、可変減衰器２３２により増加させる。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

To provide a wafer testing method in which accuracy and speed of sensing of the temperature of a wafer can be improved during the sensing of the wafer temperature when an electrical test of an IC chip is conducted, and to provide a probe card.例文帳に追加

ＩＣチップの電気的テストを行う際にウェハの温度を検知する場合に、ウェハ温度の検知精度及び検知速度を向上させることができるウェハテスト方法及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a low cost testing arrangement for Doppler radar systems capable of reducing interference caused by disturbance, reducing its circuit scale, and moreover generating a signal of a frequency whose Doppler shift has been carried out with high precision.例文帳に追加

外乱による干渉を低減し、かつ回路規模を小さくすると同時に精度の良いドップラシフトした周波数の信号を生成する低コストのドップラレーダ装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing apparatus capable of improving test efficiently and reducing manufacturing costs by generating a constitution, which has been used for generating timing in a conventional apparatus, only by a time delay.例文帳に追加

従来装置においてタイミング生成のために使用した構成を時間遅延だけで生成し、テスト効率及び製造コストを低減することができる半導体素子のテスト装置を提供する。 - 特許庁

A deleted inspection point index calculating part 111 calculates deleted inspection point index information 123 reflected with an index expressing easiness for testing an inspection point based on circuit information 121 and inspection point information 122.例文帳に追加

削除検査点指標計算部１１１は、回路情報１２１と検査点情報１２２から、検査点のテスト容易性を表わす指標を反映した削除検査点指標情報１２３を計算する。 - 特許庁

The comparison score calculating means 11, an LLR measuring section 14 and a threshold identifying section 16 perform hypothesis testing for each object, and output an identification result to which object each time-series data belongs to.例文帳に追加

比較スコア算出手段11、LLR測定部14および閾値識別部16は、各オブジェクトについての仮説検定を行い、各時系列データがどのオブジェクトのいずれに属するかの識別結果を出力する。 - 特許庁

Then, as the load mechanism of the material-testing machine is operated and a pull is applied to the rope, the rope W is extended while it is slid along the guide grooves 13 and 33 of the curved parts 12 and 32.例文帳に追加

つぎに材料試験機の負荷機構を作動させてロープに引張荷重を加えていくと、ロープＷは湾曲部１２、３２の案内溝１３、３３に摺接されながら伸長していく。 - 特許庁

On the reflection plane formation side 96 of a glass board 92 of the testing jig 90, aluminum is evaporated in respective regions corresponding to a plurality of leads of QFP to form a plurality of reflection planes 98.例文帳に追加

検査用治具９０のガラス板９２の反射面形成面９６のうち、ＱＦＰの複数のリードに対応する領域にそれぞれアルミニウムを蒸着し、反射面９８を複数形成する。 - 特許庁

To provide a program test program, program test method, and program test device for testing a program capable of easily, quickly, uniformly, and efficiently preparing highly precise test results.例文帳に追加

本発明は、番組の考査を行う番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置に関し、精度の高い考査結果を簡易、迅速かつバラツキなく効率的に作成することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that is capable of executing, at high frequencies, a disturb test which requires a long time for testing, when a burn-in tester which can supply only clocks with low frequencies is used.例文帳に追加

低周波数のクロックしか供給できないバーンインテスタを用いた場合であっても、テストに長時間を要するディスターブテストを、高周波数で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, a run-flat traveling durability evaluation testing method, with inputs to the tire being approached that of the general road, is provided so as to properly perform traveling test of pneumatic rubber run flat tire with safety wheels.例文帳に追加

従って、中子式ランフラットタイヤの走行試験を適切に行うことができるように、タイヤへの入力を一般路に近づけたランフラット走行耐久性評価試験方法とすることができる。 - 特許庁

The testing method, reagent, or kit is used to facilitate each patient to decide whether to select a chemoradiation therapy, and the QOL of the patient is improved.例文帳に追加

本件発明の検査方法、試薬、又はキットを使用することにより、個々の患者が放射線化学療法を選択すべきか否かの判断が容易になり、患者のQOLの向上を図ることができる。 - 特許庁

To provide a testing pad arrangement on a semiconductor chip of a semiconductor device, which reduces a packaging area of a probe used in test by DFT in the field of LSI circuits, flush memories and the like.例文帳に追加

ＬＳＩ回路やフラッシュメモリ等の分野におけるＤＦＴによるテストに用いるプローブの実装面積を小さくすることが可能な半導体装置における半導体チップ上のテスト用パッド配置を得る。 - 特許庁

To efficiently compare analysis results of incidents in a wide area network and characteristics of respective malwares to obtain correlations between them, by creating a method for precisely testing similarity between sequence data.例文帳に追加

系列データ間の類似性を高精度に検査する手法を創出し、それによって広域ネットワークにおけるインシデントの解析結果と、各マルウェアの特性とを効率よく比較し、両者の相関を得ること。 - 特許庁

In addition, the National Institute of Advanced Industrial Science and Technology provided radiation measuring equipment and sent experts for radiological testing of industrial products in Fukushima.例文帳に追加

また、独立行政法人産業技術総合研究所では、福島県で行われている鉱工業製品の放射線量検査に対し、放射線測定機器の貸出しや専門家派遣等の支援をしている。 - 経済産業省

Chambers of commerce and industry round the country started to issue "radiological testing inspection certificates" which were required by exporters since March 28 (Figure 4-3-2-2).例文帳に追加

全国の商工会議所では輸出者が作成する放射能非汚染の自己宣誓書に対する「サイン証明」である「放射能検査証明書」について3 月28 日から発給を開始している（第4-3-2-2 図）。 - 経済産業省

To provide an alarm of which sound volume, etc., of a voice output accompanying the testing and determining of the expiration or not expiration of the serviceable life time of the alarm can be arbitrarily controlled by a user.例文帳に追加

警報器の試験や耐用期間の経過有無の判定等に伴う音声出力の音量等を利用者が任意に制御等することができる警報器を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a pattern generating device for testing a memory which can access a memory to be tested having an address region being in relation of 2n or more without generating a needless address other than the region.例文帳に追加

２^n以上の関係にあるアドレス領域を持つ被試験メモリに対して、その領域以外の無駄なアドレスを発生させることなく、アクセスすることができるメモリ試験用パターン発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lightfast testing machine capable of uniforming the quantity of irradiation light in a chamber, especially even when a part of light sources is put out.例文帳に追加

チャンバー内での照射光量の均一化が図れる耐光性試験機、特に一部の光源を消灯したときでも照射光量を均一化することのできる耐光性試験機を提供すること。 - 特許庁

To provide means for improving the arrangement density of pads and preventing missing of a passivation film, using a probe which is used in electrical testing, in a method of manufacturing a pad and a semiconductor device.例文帳に追加

パッドと半導体装置の製造方法において、パッドの配置密度を向上させると共に、電気的試験で使用されるプローブによってパシベーション膜が欠損するのを防止する手段の提供。 - 特許庁

The timing of the transmission/reception between the each probe and the testing device main body are already adjusted but also capable of adjusting with the adjusting screw 15.例文帳に追加

そして、各探触子と試験装置本体との間における電気信号の送信及び受信のタイミングを各探触子１０間で調整してあり又は調整ねじ１５等により調整可能である。 - 特許庁

?for example, by convincing governments to require elaborate RFI testing on computers, or by creating `consensus' standards which are so complex that they cannot be implemented effectively from scratch without large resources. 例文帳に追加

——たとえば政府に対し、コンピュータに入念な RFI テストを義務づけさせたり、ポケットが深くない限り、複雑すぎて1から実装するのが実質的に不可能な「合意に基づく」規格を作ったりするわけだ。 - Eric S. Raymond『ノウアスフィアの開墾』

To provide a semiconductor integrated circuit device which can accurately correct skew at a DUT end, enabling complete skew for calibrating an input signal/output signal to all pins to be skew calibrated of a DUT and further confirm the timing accuracy of the input signal from a semiconductor testing unit, in a state in which the integrated circuit device is actually tested by the testing unit.例文帳に追加

ＤＵＴ端でのスキューを正確に補正可能とし、ＤＵＴのスキュー・キャリブレーション実施対象となる全ピンに対して入力信号／出力信号ともに完全なスキュー・キャリブレーションを可能とし、更に実際に半導体試験装置でテストをしている状態で半導体試験装置からの入力信号のタイミング精度の確認も可能とする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mechanical characteristics testing machine of transmission lines with optical components which performs accurate test, without reducing the mass of both a capstan for holding the transmission line and a capstan-holding part for freely holding the capstan, in the mechanical characteristics testing machine which impresses tensile load on the transmission line which extends from the optical component, and tests various mechanical characteristics of the transmission line with the optical component.例文帳に追加

光部品から延出している伝送線に引っ張り荷重を加えて、上記光部品付伝送線の機械的諸特性を試験可能な光部品付伝送線の機械的試験機において、上記伝送線を保持するキャプスタンとこのキャプスタンを保持自在なキャプスタン保持部との質量を軽減することなく、正確な試験をすることができる光部品付伝送線の機械的試験機を提供する。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

The method includes: (a) in each of marker sets, a step to obtain an identity of one or both of allelic genes in a genome of a canine animal for testing; and (b) a step to determine a contribution of a population of canine animal to the canine animal for testing by comparing the allelic genes in the genome of the canine animal with a database which includes a profile of the population of canine animal.例文帳に追加

この方法は、以下の工程を包含する：（ａ）各マーカーセットについての試験イヌ科動物ゲノム中の片方または両方の対立遺伝子の同一性を得る工程；および（ｂ）この試験イヌ科動物ゲノムへのイヌ科動物個体群の寄与度を、この試験イヌ科動物ゲノム中の対立遺伝子と、イヌ科動物個体群プロファイルを含むデータベースとを比較することによって決定する工程。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for power converter that can conduct noise test equivalent to combined noise test without using a power converter as a final product in a power converter, protect semiconductor switching elements for an inverter arm of a power converter for testing from short circuit current flowing in the inverter arm and automatically reset them after the short circuit current disappears.例文帳に追加

組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なうことができるとともに、試験用の電力変換器のインバータアームの半導体スイッチング素子を、該インバータアームを流れる短絡電流から保護し、該短絡電流消滅後は自動復帰することを可能とした電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor which simultaneously measures a plurality of testing object devices includes: a system control unit which performs measurement, using a plurality of already inspected devices of which the results of measurement are known beforehand, while shifting the inspected devices in a plurality to be objects of measurement; and an execution result verifying means which verifies whether the results of measurement of the same already inspected devices are identical and outputs the results of verification.例文帳に追加

複数の被試験対象デバイスを同時に測定する半導体試験装置において、測定結果が予め分かっている複数の検査済みデバイスを用いて、測定対象となる複数の検査済みデバイスをずらして測定を行うシステム制御部と、同一の検査済みデバイスの測定結果が同じであるか否かを検証し検証結果を出力する実行結果検証手段とを備える。 - 特許庁

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

To provide a method and system for updating software in a network element of a telecommunication network the units of which are divided into an original side and testing side, wherein the system include a network element having units that are logically divided into the original side and the testing side, original software for performing traffic transmitting tasks and a new piece of software to be tested and/or introduced.例文帳に追加

テレコミュニケーションネットワークのネットワーク要素におけるソフトウェア更新方法及びシステムであって、そのユニットがオリジナル側とテスト側に分割され、そして上記システムは、オリジナル側とテスト側に論理的に分割されるユニットより成るネットワーク要素と、トラフィック送信タスクを実行するためのオリジナルソフトウェアと、テスト及び／又は導入されるべきソフトウェアの新たな断片とを含むような方法及びシステムに係る。 - 特許庁

This semiconductor testing device constituted so as to select a function block constituting the semiconductor testing device from among a plurality of kinds and connect it, is provided with an attribute discrimination means for discriminating the attribute of the connected function block, and a connection propriety determination means for determining connection propriety by collating output information from the attribute discrimination means with connectable attribute information which is set beforehand.例文帳に追加

半導体試験装置を構成する機能ブロックを、複数種類の中から選択して接続するように構成された半導体試験装置において、接続される機能ブロックの属性を識別する属性識別手段と、この属性識別手段の出力情報と予め設定された接続可能な属性情報とを照合し、接続の可否を判断する接続可否判断手段、を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a system and a method for business mediation which comply with both demands of the manufacturing maker of semiconductor integrated circuit testing devices which wants to expand the business at 2 low cost while preventing technical information from flowing out to other companies of the same business and demands of an organization which wants to expand new business by improving the technical level while accumulating technologies regarding the semiconductor integrated circuit testing devices.例文帳に追加

競業他社への技術情報の流出を防いだ上で、低コストで事業展開の拡大を図りたい半導体集積回路試験装置の製造メーカの要求と、半導体集積回路試験装置に関する技術を蓄積しつつ技術レベルを向上させ新たな事業の展開を図りたい組織の要求とを両立することができるビジネス仲介システム及び方法を提供する。 - 特許庁

If, on such testing the difference between the average count or length and the described count or length is in excess of the variation permitted in the notification issued by the Central Government under section 121 of the Act, the importer or any other person having any claim to or in relation to, goods in question or otherwise interested may apply for a further testing.例文帳に追加

当該試験に基づいて，平均番手又は長さと表示された番手又は長さとの間の差異が第121条に基づいて中央政府が公布した告示における許容偏差を超過したときは，輸入業者又はその他当該商品に対して若しくはそれに関係して何らかの権利主張を有し若しくは他の利害関係を有する者は，更なる試験を申請することができる。 - 特許庁

Article 64-2 With regard to the application of the provisions of Article 58, an Accredited Certification Body's testing laboratory (limited to laboratories which are entered in the Directory of Certification Body pursuant to the provisions of Item 5 of Paragraph 2 of Article 27) shall be deemed to have been Accredited pursuant to the provisions of Paragraph 1 of Article 57 for the Division of the Testing Method as entered in the Directory of Certification Body pursuant to provisions of said item,. 例文帳に追加

第六十四条の二　登録認証機関は、第五十八条の規定の適用については、国内にあるその試験所（第二十七条第二項第五号の規定により認証機関登録簿に記載された試験所に限る。）について、同号の規定により認証機関登録簿に記載された試験方法の区分に係る第五十七条第一項の登録を受けたものとみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A RF chip is provided with a testing circuit to which signals output from a lower-noise amplifier that amplifies and outputs modulation signals output from a semiconductor device are supplied and to which signals input to an amplifier that outputs the modulation signals processed by orthogonal demodulation after amplified by the low-noise amplifier to the transmission channel of a substrate for the semiconductor testing device are supplied.例文帳に追加

半導体試験装置より出力された変調信号を増幅して出力する低雑音増幅器より出力される信号が供給されるとともに、低雑音増幅器により増幅された後に直交復調処理された変調信号を半導体試験装置用基板の伝送路に対して出力する増幅器に入力される信号が供給される試験回路をＲＦチップに備える。 - 特許庁

The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁

A self-test circuit built-in semiconductor memory 20 comprises a semiconductor substrate, a memory cell array 30 formed on the semiconductor substrate, testing circuits 50, 54 provided on the semiconductor substrate, storing a program, testing a memory cell array conforming to the stored program, and outputting a test result, and a controller 52 provided on the semiconductor substrate and rewriting the contents of programs stored in the test circuits 50, 54.例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置２０は、半導体基板と、半導体基板上に形成されたメモリセルアレイ３０と、半導体基板上に設けられ、プログラムを記憶して記憶されたプログラムにしたがってメモリセルアレイのテストを行ない、テスト結果を出力するためのテスト回路５０，５４と、半導体基板上に設けられ、テスト回路５０，５４に記憶されるプログラムの内容を書き換えるためのコントローラ５２とを含む。 - 特許庁

Communication which is established based on data communication between a mobile terminal and a mobile electric communication network is audited passively, so that precisely accurate correction can be realized, and an information signal being the base of the communication is at least partially sampled and evaluated by a testing device, and it is proposed that a reference frequency unit integrated into the testing device should be corrected based on this evaluation.例文帳に追加

きわめて正確な較正を実現するために、本発明は、移動端末と移動電気通信網との間のデータ通信に基づいて確立された通信を受動的に聴取し、通信の基礎となる情報信号を、試験装置によって少なくとも部分的にサンプリングして評価し、この評価に基づいて、試験装置に組み込まれた基準周波数ユニットを較正することを提案する。 - 特許庁

The game machine 10 is provided with a data output part capable of outputting data to an external testing device for testing a privilege history, and the data output part can output stoppage operation information for stopping pattern strings (85, 86 and 87) by specific patterns corresponding to a prescribed specific state when an internal state becomes the specific state by an operation signal corresponding to that a start operation part 61 is operated.例文帳に追加

遊技機１０は、特典履歴を試験する外部の試験装置にデータを出力可能なデータ出力部を備え、そのデータ出力部は始動操作部６１が操作されたのに相当する操作信号によって内部状態が所定の特定状態となったときに、図柄列（８５、８６、８７）を当該特定状態に応じた特定図柄で停止するための停止操作情報を出力可能となっている。 - 特許庁

After receiving image information by a FAX transmission and reception 84 through a communication 83, a CPU 70 controls an image forming control portion 80 so as to form a testing image on a photosensitive drum and also performs information processing which informs that the image is not formed and suspension processing that suspends image forming, when an ADC sensor 27 detects that the testing image is not formed.例文帳に追加

ＦＡＸ送受信部８４により通信回線８３を介して画像情報を受信した後に、ＣＰＵ７０は、感光体ドラムに試験画像が形成されるように画像形成制御部８０を制御し、ＡＤＣセンサ２７によって試験画像が形成されないことが検出された場合に、画像が形成されないことを報知する報知処理、及び画像の形成を中止する中止処理を実行する。 - 特許庁

Article 69-30 (1) A prefectural governor, when it is determined that it is necessary for ensuring proper conduct of Examination Affairs, may request a Designated Testing Agency to submit the necessary reports concerning the status of Examination Affairs, direct its personnel to ask questions of the relevant person, enter the Business Office of a Designated Testing Agency in order to inspect said facility, record books and documents, and other items. 例文帳に追加

第六十九条の三十　都道府県知事は、試験事務の適正な実施を確保するため必要があると認めるときは、指定試験実施機関に対し、試験事務の状況に関し必要な報告を求め、又は当該職員に関係者に対して質問させ、若しくは指定試験実施機関の事務所に立ち入り、その設備若しくは帳簿書類その他の物件を検査させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The X community has found many other noveluses for Xvfb, including testing clients against unusual depths and screenconfigurations, doing batch processing with Xvfb as a background rendering engine, load testing, as an aid to porting the X server to a new platform,and providing an unobtrusive way to run applications that don't really need an X server but insist on having one anyway.例文帳に追加

しかし、X のコミュニティにおいて Xvfb の新しい使用法が数多く考えられた。 これは、普通は使われない深さやスクリーンの設定におけるクライアントのテストや、Xvfb をバックグラウンドのレンダリングエンジンとして使うバッチ処理、X サーバを新しいプラットフォームへ移植するための補助、実際には X サーバを使用しないが、それにもかかわらず X サーバが必要とするアプリケーションを実行するための邪魔にならない方法の提供などである。 - XFree86

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

This microorganism testing device includes a first detector that detects the fluorescence emitted from microorganisms flowing through a detection flow path when a microorganism detection unit included in a microorganism testing chip is irradiated with an exciting light, and converts the fluorescence to an electrical signal; and a second detector that detects scattered light, emitted similarly from the microorganisms flowing through the detection flow path, and converts the scattered light to an electrical signal.例文帳に追加

微生物検査チップを構成する微生物検出部に励起光を照射した場合に、検出用流路に流れる微生物から発生される蛍光を検出して電気信号に変換する第１の検出器と、同じく検出用流路に流れる微生物から発生される散乱光を検出して電気信号に変換する第２の検出器とを微生物検査装置に搭載する。 - 特許庁