「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(242ページ目) - Weblio英語例文検索

This semiconductor integrated circuit device is constituted of a memory circuit 100, a BIST circuit 110 self-testing the memory circuit 100, and a speed decision circuit 120 deciding address access time performance of the memory circuit 100.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路装置は、メモリ回路100と、メモリ回路100を自己テストするBIST回路110と、メモリ回路100のアドレスアクセスタイム性能の判定を行なうスピード判定回路120とを含み構成されている。 - 特許庁

An on-board vehicle emissions testing system includes a flowmeter module adapted to be detachably connected to the exhaust pipe of a vehicle to provide for flow of exhaust gas therethrough.例文帳に追加

車両搭載型の排気物試験システムの中に、車両の当該排気管に対して取外し可能に接続されるように成した排気ガスの流れを規定する流量計モジュールを包含する。 - 特許庁

A process for isolating an active factor from the coelomic fluid(CF) of a mature earthworm (Pheretima posthuma) belonging to the phylum Annelida, and a process for testing sperm immotility are also provided.例文帳に追加

成熟した環形動物門に属するミミズ（Ｐｈｅｒｅｔｉｍａ ｐｏｓｔｈｕｍａ）体腔液（ＣＦ）中から活性因子の単離のための方法、精子運動不能性試験の方法を提供する。 - 特許庁

This vehicle cooling device 1 comprises a plurality of suspending members 3 fixed to a ceiling part 2 in a testing laboratory, and sheet-shaped cooling bags 4 suspended from each of the suspending members 3.例文帳に追加

車輌冷却装置１は、試験室内の天井部２に固定された複数の吊下部材３と、各吊下部材３により吊り下げられるシート状のクーリングバッグ４とにより構成されている。 - 特許庁

To provide a method for testing many word lines of a semiconductor memory assembly in a multiple WL wafer test in which a multiple wafer test can be performed quickly without needing much cost.例文帳に追加

迅速に、そして多大の費用を伴わずにマルチプルＷＬウエハテストを実施できるような、マルチプルＷＬウエハテストにおける半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法を提供する。 - 特許庁

An in- communication detecting means 3b decides whether the network terminating device specified by the means 3a is in the middle of communication at that time and notifies it to a testing means 3c.例文帳に追加

通信中検出手段３ｂは、対象特定手段３ａによって特定された網終端装置がその時点において通信中であるか否かを判定し、試験手段３ｃに通知する。 - 特許庁

The semiconductor testing device sets high-level and low-level signals, which a driver 2 inputs to the DUT 4 by adjustment DA converters 15 and 16, to a high level for adjustment and a low level for adjustment, respectively.例文帳に追加

半導体試験装置は、その調整用ＤＡコンバータ１５、１６によりドライバ２がＤＵＴ４に入力するハイレベル、ローレベルの信号を、それぞれ調整用ハイレベル、調整用ローレベルに設定する。 - 特許庁

To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.例文帳に追加

下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁

A tremie pipe 24 is inserted to the continuous wall hole 18, a testing device 32 is set, and a load transmission pipe 42 is inserted into the tremie pipe 24 until it reaches the bottom of the continuous wall hole 18.例文帳に追加

連続壁孔１８にトレミー管２４を挿入し、更に、試験装置３２を設置して、荷重伝達管４２をトレミー管２４の内側へ連続壁孔１８の底面に達するまで挿入する。 - 特許庁

To shorten, remarkably compared with hitherto, a time required for display of a response signal by applying to emulation of an integrated circuit by a logic circuit, concerning a testing device.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、ロジック回路による集積回路のエミュレーションに適用して、応答信号の表示に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁

A memory BIST circuit 4 where semiconductor chips 2 are used for a die sorting test, and contact pads 8 exclusive for testing are formed on dicing regions 3 separating the adjacent semiconductor chips 2.例文帳に追加

隣接する半導体チップ２間を分離するダイシング領域３上に、前記半導体チップ２をダイソート・テストに使用するメモリＢＩＳＴ回路４およびそのテスト専用コンタクトパット８を形成する。 - 特許庁

To provide a technology capable of preventing deformation of a lead of a semiconductor device in a characteristic test, and facilitating the lead adjustment work when testing the semiconductor device dismounted from a substrate.例文帳に追加

特性試験における半導体装置のリードの変形を防止し、加えて、基板から取り外した半導体装置を試験する際のリード修正作業を容易にすることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

Integrity testing stations 24 examine the contents at plural locations along the distribution channel 16, and determine whether or not the integrity of the digital contents has been tempered with, by using the embedded applet 18.例文帳に追加

配布経路１６上の複数の場所で、一貫性検査ステーション２４がコンテンツを検査し、埋め込まれたアプレット１８を利用してディジタルコンテンツの一貫性が改ざんされているか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a test method which improves a test method performed in an atmosphere in which siloxane gas gets mixed and enables a stable control even with respect to humidity, and testing equipment.例文帳に追加

シロキサンガスが混入された雰囲気中で行う試験方法を改良し、湿度についても安定して制御することができる試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.例文帳に追加

簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device which bears up against rapid temperature increase, with small temperature dispersion, without breaking semiconductor wafer by heat shock.例文帳に追加

迅速な昇温を行うことが可能であり、加熱面の温度ばらつきが小さく、半導体ウエハ等が熱衝撃により破損することのない半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。 - 特許庁

The method for testing the canceration comprises utilizing the nucleic acid for measurement, wherein the nucleic acid hybridizes with specified two kinds of base sequences or at least one of base sequences complementary to the above under a stringent condition.例文帳に追加

本癌化検定方法は、特定の２種の塩基配列、又は少なくともその一方に相補的な塩基配列に対し、ストリンジェントな条件下でハイブリダイズする測定用核酸を利用する。 - 特許庁

To prevent a damage of a measuring probe needle when performing a large-numbered parallel test, and to heighten inspection efficiency, concerning a probe card, a semiconductor integrated circuit testing device and a semiconductor integrated circuit test method.例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置及び半導体集積回路試験方法に関し、多数個並列テストを行う際の測定プローブ針の損傷を防止するとともに、検査効率を高める。 - 特許庁

By maintaining the total mass flow through parallel turbine inlet control valves (28) constant, steam generator pressure is maintained constant, and an inlet pressure regulator is unaffected during inlet control valve testing.例文帳に追加

平行タービン入口制御弁（２８）を流れる全質量流量を一定に保ち、蒸気発生器圧力が一定に維持され、入口制御弁試験中に入口圧力調整器が影響を受けない。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

To provide a device and method for precisely evaluating the hydrogen embrittlement of a thin steel sheet by loading the thin steel sheet with stress while charging hydrogen by improving a conventional stress corrosion testing machine of a thick steel sheet.例文帳に追加

従来の厚鋼板の応力腐食試験装置を改良し、水素チャージしながら応力を負荷して、薄鋼板の水素脆化を精度良く評価するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The web page output is selectively enabled by the web server to a thin client when an output of the testing indicates that the identified address is associated with safe site data.例文帳に追加

照合テストによって、識別されたアドレスが安全サイト・データに関連付けられていると判断されたときに、シン・クライアントに対するウェブ・サーバによるウェブ・ページの出力が選択的に有効化される。 - 特許庁

As the pin 5 and the pin 7 directly contact at the slopes 5a and 5b, the electrodes of the semiconductor device electrically contact the electrode 11 of the testing substrate 9 at a shortest distance.例文帳に追加

ピン５とピン７は斜面５ａ及び斜面５ｂで直接接触しているので、半導体装置の電極は、ピン５，７を介して、最短距離で試験基板９の電極１１と電気的に接続される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for testing the semiconductor device for accurately measuring the life of wiring at the time of evaluating the reliability of the wiring by an electromigration test.例文帳に追加

エレクトロマイグレーション試験により配線部の信頼性を評価する際に、配線部の寿命を正確に測定することができる半導体装置および半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

Data verification, artificial intelligence pattern matching of extremely high predictability, network data integration and a negative file check are used for testing an extremely large number of factors for calculating the unfair transaction risk.例文帳に追加

データ検証、極めて予測性の高い人工知能パターンマッチング、ネットワークデータ総合及びネガティブファイルチェックが、不正取引リスクを計算するための極めて多数の要因を試験するために用いられる。 - 特許庁

The mastication judging kit comprises the testing food containing ascorbic acid and/or an ascorbic acid derivative and/or ethanol as a detecting component and the indicator reacted with the detecting component.例文帳に追加

検出用成分としてアスコルビン酸及び／またはアスコルビン酸誘導体，及び／またはエタノールを含有した試験用食品と、前術の成分に反応する指示薬とからなる咀嚼判定用キットとする。 - 特許庁

The kit for testing bladder cancer contains a primer capable of efficiently amplifying a gene polymorphism site-containing region present in the ABO-type blood group gene in the No.9 chromosome.例文帳に追加

本発明に係る膀胱癌検査キットは、９番染色体のＡＢＯ式血液型遺伝子に存在する遺伝子多型部位を含む領域を効率的に増幅できるプライマーを含んでいる。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.例文帳に追加

損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁

The system and the apparatus include a simultaneous code checker for testing the error in an encoded data packet through a static characteristic of a data packet and a dynamic characteristic of a data stream including a packet.例文帳に追加

システム及び装置は、データパケットの静的特性及びパケットを含むデータストリームの動的特性を通じて符号化済みデータパケット内のエラーを検査するための同時コードチェッカーを含むことができる。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

To provide a preprocessing method for a semiconductor test program capable of shortening operation time as compared to a conventional program, and a semiconductor testing device equipped with a compiler for executing the preprocessing method.例文帳に追加

従来のプログラムに比べて動作時間を短縮可能とする半導体試験用プログラムの前処理方法および当該前処理方法を実行するコンパイラを備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.例文帳に追加

テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁

To provide a laser beam machining method capable of smoothly removing a low-k film on streets formed on a semiconductor substrate and metallic patterns for testing partially disposed on the streets.例文帳に追加

半導体基板に形成されたストリート上のＬｏｗ−ｋ膜およびストリート上に部分的に配設されたテスト用の金属パターンを円滑に除去することができるレーザー加工方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.例文帳に追加

テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁

Even when the semiconductor chip size changes, the testing bonding pad within the semiconductor chip region can be disposed at the same position and the same probe card can be shared when the semiconductor wafer is tested.例文帳に追加

半導体チップサイズが変化する場合でも、半導体チップ領域内の試験用ボンディングパッドを同じ位置に配置することが可能になり、半導体ウエハ試験時に同じプローブカードを共用することができる。 - 特許庁

To provide a testing process of polyester taste which can determine whether a polyester has a superior aroma retention performance and can be advantageously used as containers or wrapping materials of foods, drinks, etc.例文帳に追加

ポリエステルが保香性に優れ、食品や飲料用等の容器、包装材料として有利に使用することができるか否かの判定をすることが出来るポリエステルの味覚試験方法を提供することである。 - 特許庁

The control device is configured to receive the value, to convert the value into a real value by using a function having a plurality of predetermined coefficients and to dispatch the value through the data interface to the testing device.例文帳に追加

制御装置は前記値を受信し、複数の所定の係数を有する関数を用いてその値を実際の値に変換し、その値をデータインタフェースを介して試験装置へ渡すように構成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor relay capable of remarkably reducing leakage current toward downstream side in a semiconductor relay to be used for a semiconductor testing device, for example.例文帳に追加

本発明は、例えば半導体試験装置などにおいて用いられる半導体リレーにおいて、下流側への漏れ電流を著しく低減することが可能な半導体リレーを提供することを目的としている。 - 特許庁

The test method comprises a step of varying a threshold voltage which is used for judging a logic level of a signal in a cell in a semiconductor integrated circuit, only when testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内のセルにおいて信号の論理レベルを判定するのに用いる閾値電圧を、半導体集積回路の試験時にのみ変化させるステップを含むように構成する。 - 特許庁

To improve the reproducibility of a target waveform signal by compensating for the reactive force of a specific frequency component received from a sample, in a vibration-testing apparatus that conducts shaking test on a structure.例文帳に追加

構造物の加振実験を行う振動試験装置において、供試体から受ける特定の周波数成分の反力を補償することで、目標波形信号の再現性を向上させる。 - 特許庁

To provide an optical pulse testing device capable of suppressing waveform distortion or a noise, even when power of an optical pulse entering an optical fiber is fluctuated, and performing a test with high accuracy.例文帳に追加

光ファイバに入射させる光パルスのパワーが変動する場合であっても波形歪みや雑音を抑制することができ、高い精度で試験を行うことができる光パルス試験装置を提供する。 - 特許庁

To surely detect overshoot and undershoot and accurately measure peak voltages thereof in a device for testing a semiconductor having a voltage generation circuit the output voltage of which is changed stepwise.例文帳に追加

出力電圧がステップ状に変化する電圧発生回路を有する半導体試験装置において、オーバシュート及びアンダーシュートを確実に検出し、かつそのピーク電圧を精密に測定する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method capable of manufacturing a semiconductor device having fine pitch electrodes, and including a process for testing a number of semiconductor devices in a batch processing.例文帳に追加

ファインピッチの電極を有する半導体デバイスの製造が可能であり，多数の半導体デバイスを一括して試験することが可能な工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The testing system can reproduce the condition of the sleep apnea syndrome well, and can make the animal model of the sleep disorder in conditions extremely near to the physiological condition of the sleep apnea syndrome.例文帳に追加

この実験システムは、睡眠時無呼吸症候群の病態をよく再現し、睡眠時無呼吸症候群と生理的状況が極めて近い睡眠障害モデル動物を作製することができる。 - 特許庁

When the design is directly performed on the MPLD, restriction of the compatible UPLD is taken into account when the user intends that the design is migrated to the UPLD for testing.例文帳に追加

設計が直接ＭＰＬＤ上でなされる場合には、その設計を試験のためにＵＰＬＤに移行することをユーザーが意図するときに、互換性を有するＵＰＬＤの制約が考慮される。 - 特許庁