「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(244ページ目) - Weblio英語例文検索

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

The X community has found many other noveluses for Xvfb, including testing clients against unusual depths and screenconfigurations, doing batch processing with Xvfb as a background rendering engine, load testing, as an aid to porting the X server to a new platform,and providing an unobtrusive way to run applications that don't really need an X server but insist on having one anyway.例文帳に追加

しかし、X のコミュニティにおいて Xvfb の新しい使用法が数多く考えられた。 これは、普通は使われない深さやスクリーンの設定におけるクライアントのテストや、Xvfb をバックグラウンドのレンダリングエンジンとして使うバッチ処理、X サーバを新しいプラットフォームへ移植するための補助、実際には X サーバを使用しないが、それにもかかわらず X サーバが必要とするアプリケーションを実行するための邪魔にならない方法の提供などである。 - XFree86

For this tester provided are a step installing a testing board having a terminal array similar to the terminal array of a semiconductor device 20 to a socket 50, a production step for producing test signals with a driver 76, a detection step for detecting the test signal having reached the testing board and a setting step for setting the output timing of the test signals, based on the test signals detected in the detection step.例文帳に追加

半導体デバイス２０の端子配列と同様の端子配列を有する試験用ボード１０をソケット５０に装着するステップと、ドライバ７６により試験信号を生成する生成ステップと、試験用ボード１０に到達した試験信号を検出する検出ステップと、検出ステップにより検出した試験信号に基づいて試験信号の出力タイミングを設定する設定ステップとを備えた。 - 特許庁

This microorganism testing device includes a first detector that detects the fluorescence emitted from microorganisms flowing through a detection flow path when a microorganism detection unit included in a microorganism testing chip is irradiated with an exciting light, and converts the fluorescence to an electrical signal; and a second detector that detects scattered light, emitted similarly from the microorganisms flowing through the detection flow path, and converts the scattered light to an electrical signal.例文帳に追加

微生物検査チップを構成する微生物検出部に励起光を照射した場合に、検出用流路に流れる微生物から発生される蛍光を検出して電気信号に変換する第１の検出器と、同じく検出用流路に流れる微生物から発生される散乱光を検出して電気信号に変換する第２の検出器とを微生物検査装置に搭載する。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

The wiring for connecting the microcomputer 2 drip and the memory chip 4 to the conductive pad 10p for testing is connected to a conductive pad 7p in the outer row out of conductive pads 6p, 7p in two rows connected to the microcomputer chip 2.例文帳に追加

また、マイコンチップ２およびメモリチップ４をテスト用導電パッド１０ｐに接続する配線は、マイコンチップ２に接続される２列の導電パッド６ｐ、７ｐのうち、外側の列の導電パッド７ｐに接続する。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

The duct 10 is connected to a gas supplying pipe 17 and a steam supplying pipe 18, the efficiency of the filter can be tested using various kinds of gas, and the humidity of the gas for testing can be adjusted.例文帳に追加

ダクト１０にはガス供給配管１７とスチーム供給配管１８が接続しており、多様な気体をもってフィルターの性能試験を行うことができ、また試験用気体の湿度を調整することができる。 - 特許庁

To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.例文帳に追加

従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁

In the scratch testing method, an acceleration sensor for preventing sensitivity from degrading is used for detecting variations in a load even when a signal generated in the breakdown of the thin film has a high frequency.例文帳に追加

薄膜が破壊する時に発生する信号が高い周波数を持つ場合にも感度が落ちにくい加速度センサを荷重変動の検出に使用することによって課題を解決して発明を完成するに至った。 - 特許庁

To provide an optical line testing and monitoring system capable of being applied to a communication system using a wavelength of a wide band by realizing the optical coupler module of small reflection, having the precipitous filter blocking characteristic.例文帳に追加

フィルタの遮断特性が急峻で且つ、反射の小さい光カプラモジュールを実現できることにより、広帯域な波長を用いた通信システムに適応可能な光線路試験監視システムを実現するにある。 - 特許庁

To properly confirm a quality standard and also to make an accurate appraisal on performance durability in an actual use in testing new products before shipment even with a small initial investment and maintenance-free condition.例文帳に追加

初期投資が小さく、かつ、メンテナンスフリーでありながら、製品出荷前の性能テスト時における品質確認の目安及び実使用状態での性能耐久性の判断を適確に行うことができるようにする。 - 特許庁

As a result, for example, data stored in a ROM area are surely read from the ferroelectric memory having the ROM area in which the data are written beforehand in the testing step or the like of the manufacturing process.例文帳に追加

この結果、例えば、製造工程の試験工程等で予めデータが書き込まれるＲＯＭ領域を有する強誘電体メモリにおいて、ＲＯＭ領域に記憶されているデータを確実に読み出すことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a built-in test circuit capable of testing operation of a signal propagation route including a signal input/output end without exerting an influence on an input/output signal.例文帳に追加

本発明は、入出力信号に影響を与えることなく、信号入出力端を含めた信号伝搬経路の動作を内蔵テスト回路によりテスト可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a surface state of a measuring object suitable for evaluating the hardness and dynamical characteristic of metal, polymeric material, surface film, or the other material, for example.例文帳に追加

例えば、金属、高分子材料、表面膜、又はその他の材料の硬さや力学的特性を評価するのに好適な測定物の表面状態試験方法及びその表面状態試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a general purpose friction and wear testing machine for an artificial joint which can easily test the rubbing and worn states of each artificial joint when the joint is actually used with high accuracy by reproducing the motion made by the joint when the joint is actually used.例文帳に追加

現実使用時の各人工関節の動作を再現し、その時に生じる摩擦、摩耗状態の試験を容易かつ高精度に行うことのできる汎用型の人工関節摩擦摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a data transfer circuit capable of testing a transfer error on a transfer line to a data detection circuit and capable of detecting a failure in the transfer line and the data detection circuit, a solid-state image sensor, and a camera system.例文帳に追加

データ検出回路への転送線上の転送ミスをテストすることができ、転送線およびデータ検出回路の不良を検知することが可能なデータ転送回路、固体撮像素子、およびカメラシステムを提供する。 - 特許庁

For that reason, whether the DMA information generated after the initialization which a recording and reproducing device verifies is decoded and processed well can be easily confirmed by using the testing disk having the well-known physical deficiency.例文帳に追加

したがって、周知の物理的な欠陥を有するテストディスクを使用して、記録及び再生装置が検証する初期化後に生成されたDMA情報をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認できる。 - 特許庁

To provide a mobile communication testing device and method which can confirm normal operations of a packet data call process function, containing a wireless section of a base station wireless installation in a mobile communication system, and can estimate fault position.例文帳に追加

移動通信システムにおける基地局無線装置の、無線区間を含めたパケットデータ呼処理機能の正常動作確認ができ、更に障害位置の推測を可能にする移動通信試験装置及び方法の提案。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

To provide a cleaning sheet for various devices, for example, a manufacturing device or a testing device for a semiconductor, a flat panel display and a printed circuit board, i.e., a cleaning sheet for a substrate treating device which dislikes foreign materials.例文帳に追加

本発明は、各種装置をクリーニングするシートに関し、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置などのクリーニングシートを提供する。 - 特許庁

To prevent excessive radiation exposure of a subject by controlling cumulative exposure dose in particular in a system controlling the exposure dose received by the subject for every individual by a radiation testing device.例文帳に追加

放射線検査装置によって被検者が被曝した放射線量を、個人ごとに管理するシステムであって、特に、累積被曝線量を管理することによって、被検者に対する過剰な放射線被曝を防止する。 - 特許庁

Thus, the environmental test of the circuit board 20 is conducted by energizing the circuit board 20, using an energizing unit 9, while the temperature inside the testing chamber forming housing 25 is made to change in this manner by low dew-point air.例文帳に追加

このように低露点エアーによって試験室形成用ハウジング２５内の温度を変化させながら回路基板２０へ通電装置９を用いて通電することによって回路基板２０の環境試験を行う。 - 特許庁

The control part 21 incorporates a testing command and expected value data from input terminals 11, 12 and outputs a command to the functional block 31 or the like, and the expected value data to a determining part 40 through an internal bus 30.例文帳に追加

制御部２１では、入力端子１１，１２から試験用のコマンドと期待値データが取り込まれ、内部バス３０を介してコマンドが機能ブロック３１等に、期待値データが判定部４０に出力される。 - 特許庁

To provide an address pattern generation device capable of generating an address pattern for accessing a part of a memory space without forcing an excessive load on user for preparing a device program and to provide a device for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

デバイスプログラムを作成する過度の負担をユーザに強いることなくメモリ空間の一部をアクセスするアドレスパターンを発生させることができるアドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a reference position correction device for a conveying mechanism for correcting the reference positions in all of X-axis direction, Z-axis direction, θ-axis direction and R-axis direction with one testing light beam.例文帳に追加

１本の検査光を用いることによりＸ軸方向、Ｚ軸方向、θ軸方向及びＲ軸方向の全ての方向の基準位置補正を行うことが可能な搬送機構の基準位置補正装置を提供する。 - 特許庁

In the dummy terminal forming step, dummy terminals for testing which are wider than the terminal 17 is formed with a gap narrower than the gap part 65 mutually kept therebetween by cutting the dummy terminal forming region 64 in the extending direction of the gap portion 65.例文帳に追加

ダミー端子形成工程では、ギャップ部６５が延びる方向にダミー端子形成領域６４を切断して互いにギャップ部６５よりも狭い間隙で端子１７よりも幅が広いテスト用ダミー端子を形成する。 - 特許庁

A sensor 16, a sensor driving means 19, and a controlling means 35 for controlling the sensor driving means 19 are included in a housing unit 31 so that integration and downsizing of the urine testing device can be achieved.例文帳に追加

センサ１６とセンサ駆動手段１９と、このセンサ駆動手段１９を制御する制御手段３５を収納ユニット３１に備えることにより、尿検査装置の一元化とともに小形化を図ることができる。 - 特許庁

After the positions of terminals of the measured device are recognized by the imaging element 52 in testing, the positions of the charge-discharge pin 51 and the measuring pin 12 of the meter 11 are made to coincide with those of the terminals from the mutual positional relationship.例文帳に追加

試験時に撮像素子５２で被測定デバイスの端子の位置を認識してから、該相互位置関係より充放電ピン５１・電荷量計１１の測定ピン１２の位置を該端子の位置に一致させる。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is provided with an image display device 320 which receives an MRI signal released from the object to be tested by a receiver 100, and which displays an image based on the received MRI signal.例文帳に追加

核磁気共鳴検査装置１０は検査対象から放出されるＭＲＩ信号を受信器１００で受信し、受信したＭＲＩ信号に基づく画像を表示する画像表示装置３２０を備える。 - 特許庁

To provide a tire performance test-use rotating drum which is lightweight, has a small inertia moment, realizes a short maximum speed arrival time and can carry out a sudden acceleration test and a sudden braking test, and to provide a tire performance testing system using the same.例文帳に追加

軽量であり、慣性モーメントが小さく、最高速度到達時間が短く、急発進や急ブレーキの試験が可能であるタイヤ性能試験用回転ドラムとタイヤ性能試験装置を提供する。 - 特許庁

The adaptive control system 10 for adaptively controlling a material vibration testing machine 12 is provided with a desired value signal generation part 18, an adaptive digital filter 20 and a filter coefficient adaptation part 30.例文帳に追加

材料振動試験機１２を適応制御するための適応制御システム１０は、目標値信号発生部１８と、適応ディジタルフィルタ２０と、実測値信号発生部２２と、フィルタ係数適応部３０とを備える。 - 特許庁

A testing system is provided, wherein a template for performing an image comparison uses the image as the template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place, and the object under test is compared with it initially.例文帳に追加

本発明の検査装置では、画像比較を行うテンプレートを被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像にし、最初に披見物との比較を行うこととした。 - 特許庁

To provide a biological power generation apparatus which has simple structure and which is inexpensive, disposable and has safety by avoiding using of an external power source as to a testing apparatus of a subcutaneous contaminant substance of an inverse iontophoresis type.例文帳に追加

逆イオントフォレシス型皮下含有物質の検査装置に関し、外部電源を用いないため構造が簡単で低コスト、使い捨て可能且つ高い安全性の生体発電式装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a measuring method for a tire uniformity in which the setup of a rim width can be changed automatically, which is low-cost and whose maintenance can be enhanced and to provide a tire uniformity testing apparatus used to execute the measuring method.例文帳に追加

リム巾自動段取り替えを可能とし、安価でメンテナンスの向上を図ることが出来るタイヤユニフォミティーの測定方法及びその測定方法を実施するためのタイヤユニフォミティー試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device without requiring an exclusive carrying mechanism for delivering a workpiece between a horizontal carrying passage and a vertical carrying passage, even when the vertical carrying passage exists in the middle of the horizontal carrying passage.例文帳に追加

水平搬送路の途中に垂直搬送路がある場合でも、水平搬送路と垂直搬送路の間のワークの受け渡しに専用の搬送機構を必要としない環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

To provide an object scattering/driving testing apparatus of a rotor that can predict a position where an object scatters or a position where the object is driven, and can minimize the number of pieces of observing/measuring equipment.例文帳に追加

物体が飛散する位置又は物体が打込まれる位置を予測でき、観測・計測機器の数を必要最小限にすることのできる回転体の物体飛散・打込み試験装置を提供しようとする。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

To provide a suspension system and a movable load testing vehicle for performing various track characteristic tests and quantitative seizure of the influences of vibration on a track or a ground by making the supporting rigidity of a vehicle body adjustable.例文帳に追加

懸架装置及び移動式載荷試験車において、車体の支持剛性を変更可能とすることで多種類の軌道特性試験を実施し、振動が軌道や地盤に及ぼす影響を定量的に把握可能とする。 - 特許庁

Since a control means is assigned to the sound-sending systems 6, the sound-sending systems can be controlled so as to substantially produce one-dimensional sound field directed toward the object of testing 4.例文帳に追加

制御手段が音響送出装置６に割り当てられており、音響送出装置は、試験対象物４に向かって方向付けられた実質的に一次元の音場を生じさせるように制御可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

Consequently in a state before the sheet-like member 11 is pasted on the device body, the test signal terminal 16 is exposed outside via a through-hole, thereby testing signal characteristics using the terminal 16.例文帳に追加

従って、シート状部材１１が装置本体に貼られる前の状態であれば、試験用信号端子１６が、透孔を介して外部に露出しており、その端子１６を使った信号特性の試験が可能になる。 - 特許庁

To provide an IC package tray, an IC test apparatus and its test method, which can test electrical properties of an IC package without transferring ICs from an IC carrying package tray to an IC testing package tray.例文帳に追加

搬送用ＩＣパッケージトレイからテスト用ＩＣパッケージトレイにＩＣを移載することなく、ＩＣパッケージの電気的特性のテストを行うことができるＩＣパッケージトレイ、ＩＣテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide structures and methods for emulation, simulation and tests, capable of shortening development time with superior observability, testability and controllability without having to use an expensive tester for testing or debugging a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路の試験やデバッグを行うために、高価な試験器を用いず、可観測性と試験性と制御性が優れ、開発時間の短縮が可能なエミュレーション、シミュレーション、試験の構造と方法を提供する。 - 特許庁