「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(245ページ目) - Weblio英語例文検索

When a slump testing method regulated by JIS(Japanese Industrial Standard) A1173 is applied to the material 25 to be cast in the water, slump can indicate a value of 0.5-2.0 cm.例文帳に追加

然も、この材料は、水中に投入するときの該材料２５に対しＪＩＳ（日本工業規格）Ａ１１７３で規定されているスランプ試験方法を実施した場合のスランプが、０．５ｃｍ以上２．０ｃｍ以下の値を示す。 - 特許庁

To provide a new contactor that can use for an existing measuring device and testing device, provided for using a contacting pin for electronic components and/or wiring and maintains advantageous electrical characteristics thereof.例文帳に追加

電子部品および（または）配線のための接点ピンを使用するために設けられた既存の測定装置および試験装置に使用でき、その有利な電気特性を維持しているの新規な接触器を提供する。 - 特許庁

The method of simulating the surface acoustic wave (SAW) on a structure that is modeled on a computer or other processor-based device enables the testing of actual SAW devices or to develop improved SAW devices.例文帳に追加

コンピュータ又はその他のプロセッサベースのデバイス上でモデル化された構造体上の表面弾性波（SAW）をシミュレートする方法は、実際のSAWデバイスの試験を可能にするし、或いは改善されたSAWデバイスの開発を可能にする。 - 特許庁

To provide a test item extraction device by which one can easily generate minimum necessary and sufficient testing items based on use environments and operational conditions even if one has poor experience in developing object software or a system.例文帳に追加

対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device including a test head having the pin card inside it and an interface device above it, the pin card can be inserted or removed from a side surface of the test head.例文帳に追加

内部にピンカードが収納され上部にインターフェース装置が設けられているテストヘッドを含む半導体試験装置において、前記ピンカードの挿抜を前記テストヘッドの側面から行えるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing a rotary balance of a crankshaft which facilitates an automation of a measurement and which can precisely measure the rotary balance of the crankshaft even when an error is included in a phase of a crank pin.例文帳に追加

測定の自動化が容易であり、かつクランクピンの位相に誤差が含まれている場合であってもクランク軸の回転バランスを正確に測定可能なクランクバランス試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a control device for machine tool for easily achieving the debug of a working program by avoiding a workload to make an operator to input the order of execution of working programs before testing a machine tool.例文帳に追加

工作機械を試験する前に作業者に加工プログラムの実行順を入力させる作業負担を回避して簡便に加工プログラムのデバッグを実現する工作機械用制御装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the whole of the integrated circuit according to SCAN signal input in the integrated circuit device even that internal circuits have employed a multitude of SCAN style.例文帳に追加

内蔵回路が多数のＳＣＡＮスタイルを採用していても、集積回路装置に入力されるＳＣＡＮ信号に応答して集積回路全体をテストすることができる半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a watt-hour meter testing apparatus capable of negating errors caused by insulated current transformers when imaginary load tests are performed on a plurality of watt-hour meters through the use of insulated current transformers.例文帳に追加

絶縁変流器を用いて複数の電力量計を虚負荷試験するに当り、絶縁変流器に起因する誤差を打ち消すことができる電力量計の試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The specimen testing device is provided with a dispensing mechanism 40 which dispenses the liquid such as the reagent or the like to a plurality of recesses U1, for liquid dispensing, formed on a microplate U and a control part which controls the operation of the dispensing mechanism 40.例文帳に追加

マイクロプレートＵに形成された複数の液体分注用凹部Ｕ１に試薬等の液体の分注を行う分注機構４０と、この分注機構４０の動作を制御する制御部とを備える。 - 特許庁

Thus, the output timing of the tested device can be measured more precisely than the resolving power corresponding to the predetermined clock timing in the IC testing device which has not been achieved before.例文帳に追加

こうすることで、従来ではなし得なかったＩＣ試験装置において予め決められているクロックタイミングに対応した分解能以上の細かさで被試験デバイスの出力タイミングを測定することができる。 - 特許庁

To provide a method capable of determining the quality of a semiconductor element, even after a sealing resin or the like is formed on a wafer, with regard to a semiconductor device testing method for determining the quality of the semiconductor device.例文帳に追加

本発明は半導体手装置の不良品判別を行う半導体装置の試験方法に関し、ウエーハ上に封止樹脂等を形成した後であっても半導体素子の良否判定を行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a practical high temperature corrosion evaluation method of metallic material capable of evaluating quantitatively the influence of a temperature in the actual atmosphere without increasing a testing cost, and a projection used for the evaluation method.例文帳に追加

試験コストを増大させることなく、実際の雰囲気で温度の影響を定量的に評価できる金属材料の実用的な高温腐食評価方法と該評価方法に用いる突起物を提供すること。 - 特許庁

To reduce the influence of thermal jitter generated in the starting of an auxiliary circuit in a semiconductor device testing device constituted so as to perform a test by applying a test signal to a semiconductor device to be tested through the auxiliary circuit.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに対して補助回路を通して試験信号を印加し、試験を行う構成とした半導体デバイス試験装置において、補助回路の起動時に発生する熱ジッタの影響を低減する。 - 特許庁

To provide an automatic testing system of communication resources in a mobile communication system, which detects abnormal resources by observing the traffic of communication resources, automatically performs a test and finds the abnormality in hardware on software at an early stage.例文帳に追加

通信リソースのトラヒックを観測して異常リソースを検出し、自動的に試験を行ない、ハードあるいはソフトの異常を早期に発見する移動通信システムの通信リソース自動試験方式を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit device testing system, an input signal conversion circuit is installed at the prestage of an analog/digital conversion circuit on a probe card, thus achieving precise measurement, in agreement with the measurement purpose.例文帳に追加

本半導体集積回路装置テストシステムにおいては、プローブカード上のアナログデジタル変換回路の前段に入力信号変換回路を設置し、測定目的に合致して且つ高精度な測定を可能としている。 - 特許庁

Thus, by interconnecting input terminals and output terminals of a plurality of test devices, pieces of time information of the test devices are synchronized with each other to accurately conduct testing by using the time information.例文帳に追加

このため、複数台の試験装置の入力端子と出力端子の間を接続することで、複数台の試験装置の時刻情報を同期させることができ、時刻情報を用いる試験を正確に行うことができる。 - 特許庁

For the gradation levels included between the reference supply terminals, all the gradation levels included in the interval are tested by testing while switching input data and a decision level of a comparator in sequence for every one gradation level.例文帳に追加

その基準電源端子間に含まれる階調レベルについて、一階調レベル毎、入力データとコンパレータの判定レベルの設定を順次切り替えながらテストし、その区間に含まれる階調レベルを全てテストする。 - 特許庁

To provide a temperature correcting circuit capable of automatically correcting temperature in the case of changes in temperature at each part of a transmission system line constituted of integrated circuits and transmission lines in a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置において、集積回路や伝送路などで構成される伝送系路の各部分で温度変化があった場合に、自動的に温度補正をすることができる温度補正回路を提供する。 - 特許庁

A testing or verifying device of suspension has a first track section having a first rugged section for displacing the wheel of a vehicle by a first predetermined amount when the wheel overcomes at least a part of the rugged section.例文帳に追加

サスペンションの試験あるいは実証装置は、車両の車輪がその少なくとも一部を乗り越えるとき第１の所定量だけ上記車輪を変位させる第１の起伏部を有する第１の軌道セクションを備える。 - 特許庁

To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.例文帳に追加

セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

(ii) Is a system for testing structured in a way to prevent inadequate tests and reviews that would cause problems with long-lasting effects on customers or serious miscalculations in risk management-related documents and materials that are used for corporate management decision making? 例文帳に追加

（ⅱ）テストやレビュー不足が原因で、長期間顧客に影響が及ぶような障害や経営判断に利用されるリスク管理用資料等の重大な誤算が発生しないようなテスト実施態勢を整備しているか。 - 金融庁

To certainly detect a flaw by combining the merits of a plurality of test systems in a substrate inspection apparatus for testing a substrate for a semiconductor circuit element, a liquid crystal display element, or the like.例文帳に追加

本発明は、半導体回路素子や液晶表示素子等の基板を検査する基板検査装置に関し、複数の検査方式の長所を組み合わせて欠陥検出を確実に行うことを目的とする。 - 特許庁

A code synchronous and serial/parallel conversion circuit 1 synchronizes codes and converts a receiving system Y into information systems I1 to IK and a testing system P in serial and parallel, and outputs them to a first stage decoding circuit 2.例文帳に追加

符号同期及び直列／並列変換回路１は符号同期をとり、受信系列Ｙを情報系列Ｉ１〜ＩＫと検査系列Ｐとに直列／並列変換し、第１段復号回路２に出力する。 - 特許庁

A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.例文帳に追加

電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁

The work station (WS) 4 executes defect examination and defect analysis by segments, with respect to failure information on semiconductor memories measured by a memory tester 1, segment-classified prior to testing, and stored in the data storage part 3.例文帳に追加

ワークステーション（ＷＳ）４は、テスト前にセグメント分類され、データ格納部３に格納されているメモリテスタ１で測定した半導体メモリのフェイル情報をセグメントごとに不良調査及び不良解析を実行する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To provide an elastic wave propagation velocity measuring and operating method of a solid capable of acquiring a highly-reliable and highly-accurate test result easily and rationally, and a nondestructive compressive strength testing device using the method.例文帳に追加

容易且つ合理的に信頼性と精度の高い試験結果を得ることができる固体の弾性波伝播速度測定演算方法及び該方法を用いた非破壊圧縮強度試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable execution of probe cleaning and contact check or the like during measurement of a wafer in the wafer testing step for a wafer fixing jig and a manufacturing method of semiconductor device.例文帳に追加

本発明はウエハ固定治具および半導体装置の製造方法に関し、ウエハテストの工程において、ウエハの測定途中にプローブのクリーニングやコンタクトチェック等を実施することを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

An acquiring device 27 acquires the final adjustment value in series of adjustment of the adjustment values s and z, from the adjustment values s and z which are output to the testing terminal 17 and sends them to a storing device 29.例文帳に追加

取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁

A testing tool 60 has a vibration transmission preventing stand 51 for fixing a motor 14 having a rotor 22 and a stator 15, and a vibration transmission prevention stand 52 for fixing a shaft-fixing element 61 connected to a shaft 24.例文帳に追加

試験治具６０は、ロータ２２とステータ１５を有する電動機１４を固定する振動伝達防止台５１と、シャフト２４に接続されたシャフト固定具６１を固定する振動伝達防止台５２と、を有する。 - 特許庁

Further, the testing device 1 includes a compact range 12 for reflecting a radio wave from the radio wave generation device 11, converting a radio wave which is a spherical wave into a plane wave, and introducing the plane wave to the antenna B.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、電波発生装置１１からの電波を反射すると共に球面波である電波を平面波に変換し、平面波をアンテナＢへと導くコンパクトレンジ１２をさらに備えることが望ましい。 - 特許庁

To provide a reinforcing bar pull-out testing apparatus capable of performing pull-out test without having to construct joint bars of extra reinforcing bars, facilitating building work during its installation, and efficiently performing accurate installation.例文帳に追加

余分な鉄筋の差し筋施工をすることなく引抜き試験を行うことができ、また設置時の組み上げ作業が容易であり、正確な設置を効率的に行うことのできる鉄筋引き抜き試験装置を提供する。 - 特許庁

An experiment is conducted on the sucking performance of the electrostatic chuck by using a testing sample with the known magnitude and pattern of warping to find out a critical application voltage at which the sucking state is changed from "bad" to "good".例文帳に追加

反りの大きさ及び反りのパターンが既知の検定用試料を用いて静電チャックに対する吸着実験を行い、吸着状態が「不良」から「良好」に変化するときの臨界印加電圧を求める。 - 特許庁

This invention relates to the communication testing device (1000) including a plurality of data communication module (40 and 50), wherein the data communication module perform data communication with a device to be tested in combination of the plurality of protocols.例文帳に追加

複数のデータ通信手段（４０，５０）を備える通信試験装置（１０００）であって、前記データ通信手段が複数の業務プロトコルの組み合わせで被試験装置とデータ通信を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a ground anchor tension device capable of maintaining constant pressure rising rate of working fluid in a pressure supply line supplying pressure oil to a jack cylinder in a lift-off testing of a ground anchor.例文帳に追加

グラウンドアンカーのリフトオフ試験でジャッキのシリンダへ圧油を供給する圧力供給ラインにおける作動流体の昇圧速度を一定に制御することが出来る様なグラウンドアンカーの緊張用装置の提供。 - 特許庁

The method uses control valve (28) positions as feedback into a compensation algorithm to minimize flow disturbance caused by the closing and reopening of a turbine control valve (28) during periodic operational testing.例文帳に追加

本発明の方法は、制御弁（２８）位置を補償アルゴリズムへのフィードバックとして使用して、周期的動作試験中のタービン制御弁（２８）の閉じおよび再開によって引き起こされる流れの乱れを最小限に抑える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.例文帳に追加

電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element where a probe for testing hardly protrudes from an external electrode even if adjacent semiconductor element regions (IC region) are simultaneously inspected, and to provide a semiconductor wafer and a method of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

隣接した半導体素子領域（ＩＣ領域）を同時に検査しても、検査用のプローブが外部電極から食み出し難くい、半導体素子、半導体ウエハ、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device.例文帳に追加

取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。 - 特許庁

To provide a visual function testing apparatus which can perform a plurality of visual function tests necessary for daily life by one apparatus by applying an image providing procedure designed according to the way of viewing (visual characteristics) of a human being.例文帳に追加

人間の眼の見え方（視覚特性）に応じて設計された映像提示手法を活用し、日常生活に重要な複数の視機能検査を一台で実行できる視機能検査装置を提供する。 - 特許庁

To improve a processing performance in assembling and testing processes of a semiconductor device for a fingerprint sensor, by decreasing a mounting area of the semiconductor device, so as to reduce a manufacturing cost and enhance a mounting reliability.例文帳に追加

本発明は、指紋センサ用半導体装置の実装面積を縮小化し、組立、テスト工程の処理能力を向上させて製造コストを削減し、実装信頼性を向上させることを課題とする。 - 特許庁

The testing land 315L is formed so that its diameter DL is larger than the diameter DB of the lower surface-side land 315 in order to reduce faulty contact with a land contacting contact pin 13L provided in a probe socket 10.例文帳に追加

テスト用ランド３１５Ｌは、プローブソケット１０に設けられたランド接続用コンタクトピン１３Ｌとの接触不良を抑制するため、その直径ＤＬが下面側ランド３１５の直径ＤＢよりも大きくなっている。 - 特許庁