「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(247ページ目) - Weblio英語例文検索

The testing land 315L is formed so that its diameter DL is larger than the diameter DB of the lower surface-side land 315 in order to reduce faulty contact with a land contacting contact pin 13L provided in a probe socket 10.例文帳に追加

テスト用ランド３１５Ｌは、プローブソケット１０に設けられたランド接続用コンタクトピン１３Ｌとの接触不良を抑制するため、その直径ＤＬが下面側ランド３１５の直径ＤＢよりも大きくなっている。 - 特許庁

To provide a vibration testing device generating vibration by feeding a vibration signal, with a vibration exciting means excited at the prescribed level, and capable of reducing power consumption.例文帳に追加

加振手段を所定レベルに励磁した状態で振動信号を供給することにより振動を発生させる振動試験装置に関し、消費電力を低減できる振動試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

The recognition belt is manufactured by using a resin film having JIS A hardness of 60 to 120, 100% attraction stress of 6 to 12 MPa and elongation of 500 to 700% in a testing method of JIS K 7311.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７３１１の試験方法において、６０〜１２０ＪＩＳ Ａの硬さ、６〜１２ＭＰａの１００％引力応力、および５００〜７００％の伸びを有する樹脂フィルムを用いて、認識ベルトを製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

Thus, operability in performing rotation operation of the insertion part 12 in the direction around the axis when testing by an endoscope 11 is improved and the flexible pipe 14 is easily inserted in the body cavity of the patient.例文帳に追加

これにより、内視鏡１１の検査時に挿入部１２を軸回り方向に回転操作する際の操作性が向上し、患者の体腔内に挿入しやすい可撓管１４を提供することができる。 - 特許庁

A difference in Pachinko game machines of the same model is that only the shooting mode changing device 41 is mounted or removed in shooting testing and delivery, and the Pachinko game machine itself is standardized.例文帳に追加

従って、同一機種のパチンコ遊技機にあっては、実射試験時と出荷時に発射態様変更装置４１が装着されているか又は脱着されているかの違いのみで、パチンコ遊技機自体は共通化される。 - 特許庁

To provide a display testing device for displaying images or the like by arranging a great number of pixels such as a liquid crystal display in the form of a matrix, individually modifying the transmittance of each pixel, and setting to switch on/off the respective pixels.例文帳に追加

液晶ディスプレイなどの多数の画素をマトリックス状に並べ、各画素の透過率を個別に変更して、それぞれの画素を点灯・消灯を設定し、画像などを表示するディスプレイの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a test generation program for testing a buried core efficiently while separating a custom logic section and a buried core section in a semiconductor integrated circuit having a custom logic section and a buried core.例文帳に追加

カスタムロジック部と埋め込みコアを有する半導体集積回路において、カスタムロジック部と埋め込みコア部とを分離して効率よく埋め込みコアをテストする半導体集積回路およびテスト生成プログラムを得ること。 - 特許庁

To provide a binocular vision testing apparatus performing a highly accurate test regardless of the performance of a projector or a positional relation with a screen or the like without the need of newly performing optical design depending on required test accuracy.例文帳に追加

必要な検査精度によって新たに光学設計を行う必要なく、プロジェクタの性能やスクリーンとの位置関係などに関係なく高精度の検査を行うことができる両眼視検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a forming workability evaluation system and its method capable of eliminating variation due to difference of experience of a person and estimating direct scale-up from a small-sized extrusion testing machine to a production machine.例文帳に追加

人の経験の違いによるバラツキを無くすことができると共に、小型の押出試験機からも生産機へ直接スケールアップ予測を行うことができる成形加工性評価システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.例文帳に追加

ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

A traction testing device can highly accurately determine an applying load by supporting a stand 14 by being floated from a base 50 by an air bearing 15 by placing a spindle unit 12 and a torque meter 70 on a common stand 14.例文帳に追加

スピンドルユニット１２とトルク計７０を共通の架台１４に載せ、架台１４をエアベアリング１５にてベース５０から浮き上がらせて支持し、高精度に負荷荷重を求めることができるようにしたトラクション試験装置。 - 特許庁

To provide a disk evaluation device which can easily acquire a highly accurate data for searching the cause when disk quality does not satisfy a reference value in testing and evaluation of the disk such as a DVD.例文帳に追加

ＤＶＤ等のディスクの試験、評価において、ディスクの品質が基準値を満たさない場合に、その原因を究明するための精度の高いデータを容易に取得することができるディスク評価装置を提供する。 - 特許庁

In a device 7 for taking out the sample cassettes automatically of this invention, a plurality of the sample cassettes 11 containing samples for the material testing and respectively provided with two sets of notches 11B on the both sides, are contained in the magazine 8.例文帳に追加

本発明の自動サンプルカセット取出し装置７では、材料試験用サンプルを収容した、両側側面にそれぞれ２組の切り欠き１１Ｂを設けた複数のサンプルカセット１１をマガジン８に収容する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing apparatus changing no state of a signal imparted to a semiconductor device to be tested even if the test condition is changed when performing a test 2 immediately after a test 1.例文帳に追加

試験１の後に直ちに試験２を実行する場合に、試験条件の変更を行なっても、被試験半導体デバイスに与えている信号の状態が変化しない半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

If pressure water is supplied from a pump 20 in a state that the kelep 11 is brought into contact with a valve seat 53a, testing pressure water is supplied to the piping connected to the cut-off valve 53 or the water supply equipment to perform the water-pressure test.例文帳に追加

ケレップ11を弁座53a に当接させた状態でポンプ20から圧力水を供給すれば、止水弁53に連続した配管や給水設備にテスト用の圧力水を供給することができ、水圧テストを行える。 - 特許庁

This method makes it possible to determine whether to assemble a semiconductor device using the semiconductor element 11 based on the testing result of the electric characteristics of the distorted semiconductor element 11, and to reduce production cost of the semiconductor device.例文帳に追加

歪曲した半導体素子１１の電気特性の試験結果に基づいて、当該半導体素子１１を半導体装置に組み立てるか否かを判断できるようになり、半導体装置の製造コストが低減する。 - 特許庁

In an ultrasonic probe diagnosing apparatus to diagnose an ultrasonic probe 200, a control section 1011 acquires a prescribed characteristic value of a reflection ultrasonic signal received by the ultrasonic probe 200 from a testing object.例文帳に追加

超音波プローブ２００を診断する超音波プローブ診断装置において、制御部１０１１は、超音波プローブ２００がテスト物体から受信した反射超音波信号における所定の特徴値を求める。 - 特許庁

The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁

It is desirable that the contact terminal contacting the first terminal 12 in the testing board have the same input impedance as the contact terminal which makes contact with the first terminal 12 in the semiconductor device 20.例文帳に追加

試験用ボード１０における、第１端子１２に接触する接触端子が、半導体デバイス２０における、第１端子１２に接触する接触端子と同一の入力インピーダンスを有することが好ましい。 - 特許庁

Characteristic data of a magnetic head measured by a characteristic testing device 202 or 302 installed in a slider processing plant 201 or an HGA assembling plant 301 is stored in the manufacturing result database via the network.例文帳に追加

スライダ加工工場２０１やＨＧＡ組立工場３０１に設置された特性試験装置２０２や３０２で測定された磁気ヘッドの特性データをネットワークを介して製造実績データベースに格納する。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing quickly and easily how an antithrombogenetic medicine inhibits the promotion of blood coagulation, when a platelet activity activator serves as a cause of the promotion of the blood coagulation.例文帳に追加

血小板活性賦活剤が血液凝固促進の原因になっている場合、抗血栓薬が、どのように血液凝固の促進を阻害するのかを迅速かつ簡易に試験する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁

The test apparatus comprises a head load mechanism for receiving and positioning the read/write head during testing, and a multi-channel preamplifier arranged to interface plural channels to a measurement system.例文帳に追加

前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。 - 特許庁

A method of testing a blood sample from an individual for diagnosing chronic renal failure in the individual comprises determining the presence of BMP-1 isoforms BMP-1-3 and BMP-1-5 in the sample.例文帳に追加

個体の慢性腎不全を診断するために個体からの血液試料を試験する方法であって：ＢＭＰ−１イソ型であるＢＭＰ−１−３、およびＢＭＰ−１−５の試料中の存在を確定する。 - 特許庁

To acquire a dynamic behavior or performance evaluation of a railway vehicle loading apparatus during traveling of an actual vehicle inexpensively in a short period under various vibration environments, in a running testing device for a railway vehicle.例文帳に追加

鉄道車両用走行試験装置において、様々な振動環境下で短期間及び低コストで実車両走行中の鉄道車両搭載機器の動的な挙動や性能評価を把握できるようにする。 - 特許庁

To provide forms for molding a specimen for testing concrete strength capable of easily perform molding, being inexpensively manufactured, easily handled, and easily reused and from which the molded specimen can be easily extracted.例文帳に追加

成形が容易で、安価に製作でき、取り扱いが簡便で、成形した供試体を容易に取り出すことが可能で、しかも容易に再利用可能なコンクリート強度試験用供試体成形用型枠を提供する。 - 特許庁

To provide an anisotropic electric conductive sheet having superior inadhesive character preventing the state of adhesion to a substance, even if the substance is pressed against the sheet, and a testing device using the same.例文帳に追加

その表面に対して物体が圧接された場合にも、当該物体と接着状態となることが防止され、優れた非接着性を有する異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置を提供することにある。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSOR, ALGORITHM GENERATION DEVICE, IMAGE TESTING DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS IMAGE PROCESSOR, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS ALGORITHM GENERATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像処理システム、画像処理装置、アルゴリズム作成装置、画像検査装置、コンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラム、コンピュータをアルゴリズム作成装置として機能させるためのプログラム、および記録媒体 - 特許庁

A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加

前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁

(4) The Minister of Health, Labour and Welfare or a prefectural governor, etc. may entrust affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) to a registered conformity assessment body. 例文帳に追加

４　厚生労働大臣又は都道府県知事等は、第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を登録検査機関に委託することができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(2) The competent minister shall register the testing laboratory pertaining to the application for the Accreditation of the preceding paragraph when such laboratory complies with the criteria related to laboratories as specified by the International Organization for Standardization and the International Electrotechnical Commission. 例文帳に追加

２　主務大臣は、前項の登録の申請に係る試験所が国際標準化機構及び国際電気標準会議が定めた試験所に関する基準に適合しているときは、その登録をしなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(xxiv) Vibration test equipment or components therefor, or wind tunnels , combustion test equipment, environment test equipment, electron accelerators usable for the development or testing of rockets or unmanned aerial vehicles, or equipment using therefor 例文帳に追加

（二十四）　振動試験装置若しくはその部分品又はロケット若しくは無人航空機の開発若しくは試験に用いることができる風洞、燃焼試験装置、環境試験装置、電子加速器若しくはこれを用いた装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

When the terminals T1, T5 are short-circuited, an AC current generated in the secondary coil L2 flows to the ground through the terminal T1 and a capacitor C1, and does not flow in the testing resistor R10.例文帳に追加

端子Ｔ１と端子Ｔ５とが短絡されたとき、２次側コイルＬ２に発生する交流電流は、端子Ｔ１及びコンデンサＣ１を介してグランドに流れ、試験用抵抗Ｒ１０に交流電流は流れない。 - 特許庁

To safely and smoothly change over a connection state of an actual operation before renewal to a connection state of testing after renewal in a short time and inexpensively in the case of renewal of the railroad signal protective device.例文帳に追加

鉄道の信号保安装置の更新に際して更新前の実機運転の接続状態と更新後の試験の接続状態とを短時間で而も低コストで安全かつ円滑に切り換えられるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

A tensile testing machine 200 using a connector fixing tool 100 includes a mandrel 220 for winding up a cable 310 connected to a connecter 300; and an actuator 230 for pulling the mandrel 220 in the direction of an axis A1.例文帳に追加

コネクタ固定治具１００を使用した引張試験機２００は、コネクタ３００に接続されたケーブル３１０を巻き取るマンドレル２２０と、マンドレル２２０を軸線Ａ１方向に引っ張るアクチュエータ２３０とを有する。 - 特許庁

When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加

コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁

To provide an environmental testing device for suppressing surely supply of the outside air containing moisture into a closed space inside a closed space constitution part constituting a test tank, when starting a test from a low-temperature test.例文帳に追加

低温試験から試験を始める場合に試験槽を構成する閉空間構成部の内部の閉空間に湿気を含んだ外気が供給されるのを確実に抑制することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁