「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(246ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a compact shaft center adjusting device for a material testing machine that allows a user to easily adjust a position and an angle of a gripper and can be attached without forming through holes on a load frame.例文帳に追加

全高を小さくしてもつかみ具の位置および角度を容易に調整することができ、また、負荷枠に貫通孔等を形成することなく取付が可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, it is detected in a statically determinate pressure detection step that the thrust has been statically determinated to be the contacting thrust (Step S14), and the contacting thrust is changed to the adequate thrust in a testing thrusting step (Step S15).例文帳に追加

その後、押圧力が当接押圧力に静定されたことが圧力静定検出工程（ステップＳ１４）により検出され、検査用押圧工程（ステップＳ１５）にて当接押圧力が適正押圧力に変更される。 - 特許庁

The geological survey equipment 1 is equipped with a penetration rod 3 wherein a sampling section 2 for sampling the ground specimen is provided and a sounding testing screw point 4 put on the front end of the penetration rod 3.例文帳に追加

本発明の地質調査装置１は、地盤試料をサンプリングするサンプリング部２が設けられた貫入ロッド３と、該貫入ロッド３の先端に装着されたサウンディング試験用のスクリューポイント４とを備えている。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

Using a status transition diagram obtained by regarding a given logic circuit as a status transition machine, a test pattern generator 4 generates a test pattern for diagnosing resistor level trouble for testing all transitions from a status to a status.例文帳に追加

テストパタン作成器４は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。 - 特許庁

To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.例文帳に追加

高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

To reduce costs for testing by carrying out a performance test at a high speed when data are serially transmitted to/from the outside, and are transmitted in parallel for reading/writing them from/in memory cells.例文帳に追加

本発明は、外部とのデータの受け渡しを直列データで行い、メモリセルへのデータの読み書きを並列データで行う半導体集積回路に関し、動作試験を高速に行い、試験コストを低減することを目的とする。 - 特許庁

A genetic testing system ensures complete traceability of animals and food products involving a method of uniquely identifying animals for data collection, records management and retrieval purpose involving a novel method of genetic analysis using individual DNA fingerprinting of parentage of individual animal to effectively provide for full traceability of animals from birth to consumption.例文帳に追加

これには個々の動物の親子関係のＤＮＡフィンガープリントを用いて動物の出生から消費までの完全な追跡可能性を提供する新規な遺伝子分析法が含まれる。 - 特許庁

To provide a flushing occurrence testing device of powder and grain and a flushing occurrence prediction method of the powder and grain capable of predicting flushing occurrence of the powder and grain more accurately in consideration of a gap size and a differential pressure.例文帳に追加

間隙の大きさおよび差圧を考慮して、より正確に粉粒体のフラッシング発生の有無予測を可能とする、粉粒体のフラッシング発生試験装置および粉粒体のフラッシング発生予測方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive anemometer for a weather/light resistance testing machine capable of measuring wind speed accurately even when a sample is rotated around a light source without disturbing wind passing along the sample surface.例文帳に追加

安価で、試料表面を通過する風を乱すことなく、試料が光源の周囲を回転した場合においても、風速を精度良く測定することが可能な、耐候光試験機用の風速計を提供する。 - 特許庁

In addition, since a peripheral part of the sealed body is not fixed on the substrate, a position shift caused by deformation or adhesion of solder is not generated to thereby facilitate the lead adjustment work, when testing the semiconductor device dismounted from the substrate.例文帳に追加

更に、基板から取り外した半導体装置を試験する際に、封止体近傍部分は基板に固定されていないため、変形による位置のずれやハンダの付着もなく、リード修正作業が容易となる。 - 特許庁

To surely make testing a printed circuit board generate pseudo-failures, by setting the printed circuit board in parallel to an arm efficiently in a short time, to reduce errors as far as possible.例文帳に追加

本発明は、短時間で効率的に、プリント回路基板とアームとを並行に設定し、誤差をできるだけ小さくすることよって、確実に擬似故障を発生させ、プリント回路基板の試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a small-sized drying test device not only capable of testing the presence of fly of fine powder in an actual double cone dryer, deposition onto a wall face thereof, and generation of a granule therein, but also capable of facilitating an operation in a test.例文帳に追加

実機のダブルコーンドライヤにおける微粉の飛散、壁面への付着や造粒の発生の有無を試験することができるだけでなく、小規模で且つ試験時の操作が容易である乾燥試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration testing device generating vibration by feeding a vibration signal, with a vibration exciting means excited at the prescribed level, and capable of reducing power consumption.例文帳に追加

加振手段を所定レベルに励磁した状態で振動信号を供給することにより振動を発生させる振動試験装置に関し、消費電力を低減できる振動試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

The recognition belt is manufactured by using a resin film having JIS A hardness of 60 to 120, 100% attraction stress of 6 to 12 MPa and elongation of 500 to 700% in a testing method of JIS K 7311.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７３１１の試験方法において、６０〜１２０ＪＩＳ Ａの硬さ、６〜１２ＭＰａの１００％引力応力、および５００〜７００％の伸びを有する樹脂フィルムを用いて、認識ベルトを製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

Thus, operability in performing rotation operation of the insertion part 12 in the direction around the axis when testing by an endoscope 11 is improved and the flexible pipe 14 is easily inserted in the body cavity of the patient.例文帳に追加

これにより、内視鏡１１の検査時に挿入部１２を軸回り方向に回転操作する際の操作性が向上し、患者の体腔内に挿入しやすい可撓管１４を提供することができる。 - 特許庁

A difference in Pachinko game machines of the same model is that only the shooting mode changing device 41 is mounted or removed in shooting testing and delivery, and the Pachinko game machine itself is standardized.例文帳に追加

従って、同一機種のパチンコ遊技機にあっては、実射試験時と出荷時に発射態様変更装置４１が装着されているか又は脱着されているかの違いのみで、パチンコ遊技機自体は共通化される。 - 特許庁

To provide a display testing device for displaying images or the like by arranging a great number of pixels such as a liquid crystal display in the form of a matrix, individually modifying the transmittance of each pixel, and setting to switch on/off the respective pixels.例文帳に追加

液晶ディスプレイなどの多数の画素をマトリックス状に並べ、各画素の透過率を個別に変更して、それぞれの画素を点灯・消灯を設定し、画像などを表示するディスプレイの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a test generation program for testing a buried core efficiently while separating a custom logic section and a buried core section in a semiconductor integrated circuit having a custom logic section and a buried core.例文帳に追加

カスタムロジック部と埋め込みコアを有する半導体集積回路において、カスタムロジック部と埋め込みコア部とを分離して効率よく埋め込みコアをテストする半導体集積回路およびテスト生成プログラムを得ること。 - 特許庁

To provide a binocular vision testing apparatus performing a highly accurate test regardless of the performance of a projector or a positional relation with a screen or the like without the need of newly performing optical design depending on required test accuracy.例文帳に追加

必要な検査精度によって新たに光学設計を行う必要なく、プロジェクタの性能やスクリーンとの位置関係などに関係なく高精度の検査を行うことができる両眼視検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a forming workability evaluation system and its method capable of eliminating variation due to difference of experience of a person and estimating direct scale-up from a small-sized extrusion testing machine to a production machine.例文帳に追加

人の経験の違いによるバラツキを無くすことができると共に、小型の押出試験機からも生産機へ直接スケールアップ予測を行うことができる成形加工性評価システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.例文帳に追加

ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

A traction testing device can highly accurately determine an applying load by supporting a stand 14 by being floated from a base 50 by an air bearing 15 by placing a spindle unit 12 and a torque meter 70 on a common stand 14.例文帳に追加

スピンドルユニット１２とトルク計７０を共通の架台１４に載せ、架台１４をエアベアリング１５にてベース５０から浮き上がらせて支持し、高精度に負荷荷重を求めることができるようにしたトラクション試験装置。 - 特許庁

To rapidly regulate a temperature in a test tank to a predetermined tolerance temperature by an extremely simple constitution in fire retardancy testing equipment equipped with the test tank where a substance to be tested of a fire retardancy test is burnt.例文帳に追加

難燃性試験の被試験物が内部で燃やされる試験槽を備える難燃性試験装置において、ごく簡易な構成により、前記試験槽内の温度を速やかに所定の許容温度に調節できること。 - 特許庁

Operation information that records operation data generated by an operation unit 3a of a target device 3 and a temporary stopping instruction waiting for completion of operation of a machine unit 3b is stored in a storage means 1a of a testing device 1.例文帳に追加

試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁

To provide a method for attaching an electronic component which can prevent an occurrence of a defective board by testing whether or not an area for attaching a large-sized electronic component is normal before the large-sized electronic component is attached thereto.例文帳に追加

大型電子部品を装着する前に大型電子部品を装着する領域が正常であるか否かを検査することにより、不良基板の発生を防止できる電子部品の装着方法を提供する。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of precisely reproducing the white exfoliation phenomenon of a bearing in a market, in a short time, and capable of optionally reproducing the white exfoliation of a rolling contact surface or a rolling element of the bearing.例文帳に追加

市場における軸受の白色はく離現象を短時間で的確に再現させるとともに、軸受の転動面や転動体に対して任意に白色はく離再現を可能とする軸受試験機を提供する。 - 特許庁

When verifying the semiconductor testing apparatus, the elements in the element region 2 are changed with the elements in the spare region 3, and purposely generates the defective elements, by making the state of the elements in the spare region 3 to a predetermined state.例文帳に追加

半導体試験装置の検証を行うときは素子領域２の素子をスペア領域３の素子に切替え、スペア領域３の素子を電気的に所定の状態にし、故意に不良素子を発生させる。 - 特許庁

To provide a testing machine which can be adjusted so as to make an amplitude of a measurement signal set to a set value even when the response of a whole system including a test piece changes because of a change in the rigidity of the test piece.例文帳に追加

供試体の剛性の変化等により供試体を含むシステム全体の応答性が変化した場合であっても、測定信号の振幅を設定値となるように調整することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.例文帳に追加

半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for efficiently testing whether any content whose output is inappropriate is included in content to be output via display devices arranged under various environments.例文帳に追加

様々な環境下に配置された表示装置を介して出力されるコンテンツの中に、出力することが不適切な内容が含まれていないか、効率的に考査するための技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

To relieve an operator from constantly having to walk back and forth placing electrodes in different positions, and also obviate the need to return to the main unit of the testing device to refer to a display and/or change parameters or settings.例文帳に追加

電極を異なる位置に設置しながら常に歩いて往来する必要がなく、また、試験用機器のメインユニットまで戻ってディスプレイを参照しおよび／またはパラメータもしくは設定を変更する必要がない。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSING SYSTEM, IMAGE PROCESSOR, ALGORITHM GENERATION DEVICE, IMAGE TESTING DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS IMAGE PROCESSOR, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER FUNCTION AS ALGORITHM GENERATION DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像処理システム、画像処理装置、アルゴリズム作成装置、画像検査装置、コンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラム、コンピュータをアルゴリズム作成装置として機能させるためのプログラム、および記録媒体 - 特許庁

A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加

前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for testing bending strength to be used in the RCCP (Roller Compacted Concrete) compound design or in the quality control without using special equipment and without needing huge labors.例文帳に追加

ＲＣＣＰにおける配合設計や品質管理などに用いられる曲げ強度試験用供試体を、特別な機材を使用することなく、かつ多大な労力を必要とせずに製造する方法を提供する。 - 特許庁

This lubricating function evaluating device is provided with a control means, a driving control device controlled by the control means, a driving-detecting device for detecting the torque of a tested body, and a testing machine for enclosing the tested body.例文帳に追加

制御手段と、同制御手段によって制御される駆動制御装置と、被試験体のトルクを検出する駆動・検出装置と、被試験体を収納する試験機とを備えてなる潤滑機能評価装置。 - 特許庁

The solvent power of the obtained coating solvent is 29.0 KB (Kauri Butanol) value in accordance with the Survey for Rationalization of Demand of Petroleum Products for Fiscal 1986 of the Japan Paint Inspection and Testing Association.例文帳に追加

得られた塗料用溶剤の溶解力を「昭和６１年度石油製品需要適正化調査」（財）日本塗料検査協会に準拠して測定すると、ＫＢ（Ｋａｕｒｉ Ｂｕｔａｎｏｌ）値が２９．０であった。 - 特許庁

The test method for testing fitting comprises steps of supporting the fitting by a fitting holding member for test in a deformed state; and performing test using the fitting supported by the fitting holding member.例文帳に追加

建具を試験する試験方法であって、試験用建具保持部材に前記建具を、変形させた状態で支持させるステップと、前記試験用建具保持部材に支持された前記建具を用いて試験するステップと、を有する。 - 特許庁

METHOD OF PROVIDING PRODUCER, CONSUMER AND THE LIKE WITH DATA FROM DEVICE OR THE LIKE FOR MEASURING AND TESTING ARTICLE VIA COMMUNICATION LINE例文帳に追加

商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて生産者等に提供する方法と商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて消費者等に提供する方法 - 特許庁