「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(251ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for testing an acuiclude earth material which can quickly execute various kinds of characteristic tests in a moisture-saturated state without containing air by surely completing a moisture saturating process in a short time.例文帳に追加

水分飽和の過程を短時間で確実に完了させて、空気の含有が無い水分飽和の状態で各種特性試験を迅速に実施することができる難透水性土質材料の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diagnostic method dispensing with reloading a test pattern after diagnosis, and capable of shortening the time required from the finish of the diagnosis to the start of mass production, and to provide a semiconductor testing device that uses the same.例文帳に追加

診断後に試験パターンを再ロードする必要がなく、診断終了から量産開始までにかかる時間を短縮することが可能な診断方法及びこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

As for the subdivision of corrosion, classification can be made only when animal testing is conducted with exposed time and observation period to which the decision of corrosion of GHS (GHS Table 3.2.1) can be applied.例文帳に追加

また、腐食性の細区分については、ＧＨＳの腐食性の判定（ＧＨＳ表３．２．１）を適用できるような暴露時間と観察期間をもうけた動物試験が実施されたときのみ分類することができる。 - 経済産業省

(Note 2) “R&D Site” herein shall refer to facilities needed to carry out R&D, such as industrialization through applied development, trials and product testing from advanced industrial technology in line with technological innovation. 例文帳に追加

"（注２）「研究開発拠点」とは、技術革新の進展に即応した高度な産業技術の研究から応用開発、試作、製品試験等による産業化等の研究開発を行うために必要な施設とします。 - 経済産業省

(Note 2) "R&D Site" herein shall refer to facilities needed to carry out R&D, such as industrialization through applied development, trials and product testing from advanced industrial technology in line with technological innovation.例文帳に追加

"（注２）「研究開発拠点」とは、技術革新の進展に即応した高度な産業技術の研究から応用開発、試作、製品試験等による産業化等の研究開発を行うために必要な施設とします。" - 経済産業省

To provide a train control device allowing the long-time recording of a received waveform along with the determination of a train control signal and reproduction of the seized condition of reception and the actual condition of reception for serving accurate testing.例文帳に追加

列車制御信号の判別と平行して長時間の受信波形の記録を可能とし、受信状態の把握状態、実際の受信状態を再生可能として正確な試験を行う列車制御装置を得る。 - 特許庁

An operator for the living body testing device specifies an existing part of an abnormal region in the living body with reference to the direction and approach state of the abnormal region to obtain an ultrasonic image of the region.例文帳に追加

生体検査装置の操作者は、異常部位の方向および接近状態を参照して、生体内部における異常部位の存在部位を特定し、その部位の超音波画像を取得するようにしている。 - 特許庁

This penetration testing machine includes: an erected column 2; the elevating table 3 provided to elevate along the column 2; a chuck 4 disposed on the elevating table 3; and a penetration rod 6 removably held on the chuck 4.例文帳に追加

本発明は、立設されたコラム２と、このコラム２に沿って昇降可能に設けた昇降台３と、この昇降台３に配置したチャック４と、このチャック４に着脱可能に保持された貫入ロッド６とを有する。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A testing equipment e7 for semiconductor device, which performs a burn-in test of a wafer 401 that is not divided into chip size pieces yet, has a configuration including a circuit board 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retainer plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３、フィルム３０５、位置決め板３０７、押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

To provide a loop testing device of a LAN system for preventing a frame from being aborted even if the frame outputted from an own device is returned.例文帳に追加

本発明はＬＡＮシステムのループ試験装置に関し、自装置から出力したフレームが折り返されて戻ってきた場合でも、フレームの破棄が起きないようにしたＬＡＮシステムのループ試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

However, at that point one is no longer being a scientist, since the moment one moves from the world of physical models, predictions, observable testing, and so on, into the realm of God's purposes one is moving outside of science, 例文帳に追加

しかし、人がもはや科学者であることを止める地点では、人は物理的モデル、予測、観察可能な検証等々の世界から神の目的の領域へと移る瞬間から、人は科学の外部へと出るんだ。 - Ian Johnston『科学のカリキュラムで創造説？』

To automatically create a cache test program and a cache state setting program according to cache configuration modeling arrangement and the description of a cache test sheet on the basis of a cache configuration to automatically create a program easily and certainly testing a cache function without a description mistake, in a test program creation system creating the program testing the cache function, a test program creation program, and a record medium.例文帳に追加

本発明は、キャッシュ機能の試験を行うプログラムを生成する試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体に関し、キャッシュ構成をもとにキャッシュ試験シートの記述およびキャッシュ構成モデリング配列に従い、キャッシュ状態設定プログラムおよびキャッシュ試験プログラムを自動生成し、簡易かつ確実かつ記述ミスなしにキャッシュ機能の試験を行うプログラムを自動生成することを目的とする。 - 特許庁

Pieces of the abstracted instruction information by the command library are converted into unique commands to the respective testing devices, and the converted commands are sent to testing devices 31, 32 and 33 respectively.例文帳に追加

試験制御装置８に、設備管理センタ５から指示された光線路試験の種別に応じて、光線路試験システム内の各試験装置の動作順序と試験指示を抽象化された指示情報で組み立てる試験組立機能部８ｂと、各試験装置毎に固有なコマンドと抽象指示とを対応させるコマンドライブラリ８ｃ、８ｄ、８ｅを設け、該コマンドライブラリにより抽象指示を各試験装置に固有なコマンドに変換し、該変換されたコマンドを各試験装置３１、３２、３３に送信する。 - 特許庁

When a pulse rising time of an inverter pulse testing power source used when inspecting or diagnosing a motor is different from a rising time of a surge voltage observed in a motor terminal of an inspection diagnosis object at an inverter driving time, the magnitude ΔV of the surge voltage of the inverter pulse testing power source is heightened or lowered as much as a value necessary for applying a peak voltage Vm generated at the inverter driving time between motor winding turns.例文帳に追加

モータを検査又は診断する際に用いるインバータパルス試験電源のパルス立ち上がり時間が、インバータ駆動時に検査診断対象のモータ端子で観測されるサージ電圧の立ち上がり時間と異なる際には、モータ巻線ターン間にインバータ駆動時に発生するピーク電圧Ｖｍを印加するのに必要な値だけ、前記インバータパルス試験電源のサージ電圧の大きさΔＶを高くあるいは低くすることを特徴とする。 - 特許庁

Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards. Functions or characteristics commonly used among a person skilled in the art is those commonly used by a person skilled in the art with the definitions or testing or measuring methods understood by the persons skilled in the art. 例文帳に追加

標準的なものとは、JIS（日本工業規格）、ISO規格（国際標準化機構規格）又はIEC規格（国際電気標準会議規格）により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。当業者に慣用されているものとは、当該技術分野において当業者に慣用されており、その定義や試験・測定方法が当業者に理解できるものをいう。 - 特許庁

The semiconductor testing device performs a semiconductor test on a wafer where a circuit corresponding to a plurality of chips is formed, and is provided with a semiconductor testing implementation section 131 that performs a predetermined measurement while sequentially changing positions of chips contained in one wafer, and a self-diagnosis implementation section 134 when measurement results obtained by the section 131 on a predetermined number of chips continuously failed to satisfy the provided certain criteria.例文帳に追加

半導体試験装置は、複数のチップに対応する回路が形成されたウエハに対して半導体試験を行うものであり、一のウエハに含まれるチップの位置を順番に切り替えながら所定の測定を実施する半導体試験実行部１３１と、半導体試験実行部１３１による測定結果が所定数のチップについて連続してフェイルとなったときに、自己診断を実施する自己診断実行部１３４とを備えている。 - 特許庁

To provide a system for testing IC that allows a simulation result in an analyzing part to be analyzed in real time, allows a microprogram inputted for setting a simulation condition to be diverted to setting of an actual testing condition, and can enhance the working efficiency for worker, by making a microprogram simulator and the analyzing part hold information about a simulation for an IC test and information about the test in common.例文帳に追加

マイクロプログラムシミュレータ及び解析部がＩＣ試験のシミュレーションに関する情報と試験に関する情報とを共有することにより、解析部におけるシミュレーション結果のリアルタイム解析を可能にするとともに、シミュレーション条件を設定するために入力したマイクロプログラムを、実際の試験条件の設定に転用することを可能にして、作業者の作業効率を高めるとができるＩＣ試験システムを提供する。 - 特許庁

(2) The competent minister may, when recognizing that a Registered Inspection Body is in violation of the provisions of Article 19 paragraph (1) or paragraph (2), or when recognizing that the details entered in the notification in Article 17 paragraph (3) made by a Registered Inspection Body are not appropriate, order said Registered Inspection Body to implement Testing of Organisms or take necessary measures to improve the method of Testing of Organisms or other work methods. 例文帳に追加

２　主務大臣は、登録検査機関が第十九条第一項若しくは第二項の規定に違反していると認めるとき、又は登録検査機関が行う第十七条第三項の通知の記載が適当でないと認めるときは、その登録検査機関に対し、生物検査を実施すべきこと又は生物検査の方法その他の業務の方法の改善に関し必要な措置を執るべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Based in Tokyo’s Chiyoda City, with a workforce of 97 and capital of ¥100 million, Oriental Giken Inc. is an enterprise which originally manufactured and sold testing and measuring equipment for research and experimentation in the fields of science, medicine and biotechnology. However, because it faced a price war only with its previous line of business, it redirected its core business to a previously unknown area; the consultation and planning of equipment with the appropriate specifications for laboratories and other testing facilities.例文帳に追加

東京都千代田区のオリエンタル技研工業株式会社（従業員97名、資本金1億円）は、従来は、科学・医薬分野、バイオテクノロジー分野等における研究・実験用の設備・機器の製造・販売を行っていたが、それだけでは価格の勝負になることから、研究室や実験室に最適な仕様を有する設備に関するコンサルティングやプラニングという、これまでにない事業領域へとコア事業を転換させた企業である。 - 経済産業省

To provide a highly reliable plant failure diagnostic device for achieving the failure diagnosis of a plant in a short period of time and a plant test device for accurately testing a plant in a short period of time without increasing the scale of this system.例文帳に追加

システムを肥大化させること無く、プラントの故障診断を短時間に正確に行える信頼性の高いプラント故障診断装置、およびプラントの試験を短時間に正確に行えるプラント試験装置を提供する。 - 特許庁

The reference rotating speed SR is the rotating speed at which the DC motor cannot be rotated when the reference voltage SE is applied to the DC motor in a state of hot and cold water existing in the bathtub, and is the rotating speed lower than the testing rotating speed TR.例文帳に追加

基準回転数ＳＲは、浴槽内に湯水がある状態で直流モータに基準電圧ＳＥを印加した場合、直流モータが回り得ない回転数であって、試験回転数ＴＲよりも低い回転数である。 - 特許庁

The testing device outputs such a test output that is recognized as low-speed data of 25 MHz from the outside of the LSI, though the clock recovery circuit 1 in the LSI operates practically by a high-speed clock of 125 MHz, for example.例文帳に追加

そして、実際にはＬＳＩ内部のクロックリカバリ回路１はたとえば１２５ＭＨｚの高速クロックで動作しているが、ＬＳＩ外部からは２５ＭＨｚの低速データとして認識されるような試験出力を外部に出力させる。 - 特許庁

A transmission/reception message 13 described for configuring a test as a message to be transmitted and a message to be received is inserted to a test signal to be transmitted/received between a testing device 1 and a test object 7.例文帳に追加

試験装置１と試験対象７との間で送受信される試験信号のなかに、試験を構成するために記述された、送信されるメッセージと受信されるべきメッセージである送受メッセージ１３が挿入されている。 - 特許庁

This method finds preliminarily frequency distributions of respective accelerations along a lateral direction and a longitudinal direction in test course travel, and an external condition generated under a specified travel condition as to the tire attached to a specified wheel of a testing vehicle.例文帳に追加

試験コース走行時の横方向及び前後方向のそれぞれの加速度の頻度分布と、試験車両の特定車輪に装着されたタイヤについての特定の走行状態で生じる外的条件とを求めておく。 - 特許庁

To provide an impact load response evaluation method for a track pad, which provides the track pad with excellent cushioning performance by grasping impact load response characteristics of the track pad under a quasi-static load, and an impact testing apparatus for the track pad.例文帳に追加

準静的荷重下における軌道パッドの衝撃荷重応答特性を把握し、緩衝性能に優れた軌道パッドを得るための軌道パッドの衝撃荷重応答評価方法及びその衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加

環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子１５、電位差計測端子１６に対する試験片１１の相対位置を同一にする試験冶具１２の位置決め機構１４を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times are determined from the result of the testing erasure and registered in a memory 19 of the optical disk device.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定し、光ディスク装置のメモリ１９に登録する。 - 特許庁

To provide an automatic unit testing system capable of handling an interruption processing and bit data and provided with functions for setting an initial value to a variable, perfing a type definition independent of a processor, coping with an alias variable and outputting performance information, etc.例文帳に追加

割込み処理やビットデータを扱うことができ、変数への初期値設定やプロセッサ非依存の型定義、別名変数への対応、性能情報の出力等の機能を備えた自動単体試験システムを提供する。 - 特許庁

In the accelerated weathering resistant testing method for a coating film using a remote plasma apparatus, the inside of the apparatus is set to a reduced pressure state, and e.g. oxygen gas is introduced to the inside of the apparatus.例文帳に追加

リモートプラズマ装置を用いることを特徴とする塗膜の促進耐候性試験方法であって、上記リモートプラズマ装置内を減圧状態にすることができるとともに、例えば、酸素ガスを装置内に導入することができる。 - 特許庁

Furthermore, when the intensity Ib of mirror reflection light from the testing image for fixing and light emitting intensity Ia of a halogen lamp are detected by an image information detection part, the glossiness of the test image for fixing is calculated utilizing these data (S5).例文帳に追加

また、画像情報検出部４３が定着テスト画像Ｔの正反射光の強度Ｉｂ、およびハロゲンランプの発光強度Ｉａを検出すると、これらを用いて定着テスト画像の光沢度を算出する（Ｓ５）。 - 特許庁

At the time of testing the communication path of a portion incorporated in the integrated circuit, a first communication path is formed in the communication path and the test is performed by making prescribed data to flow to the formed first communication path.例文帳に追加

集積回路における組込み部の通信路をテストする場合、所定の組込み部の通信路に第１の通信路を作成し、この作成された第１の通信路に所定のデータを流し、組込み部の通信路をテストするものである。 - 特許庁

The test emulation apparatus 190 emulates the testing device on the basis of a test control program stored in a system controller, a test program and test data, and conducts a simulated test on a DUT while using a simulation model 200 of the DUT.例文帳に追加

試験エミュレート装置１９０は、システム制御装置に格納された試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データに基いて試験装置をエミュレートし、ＤＵＴのシミュレーションモデル２００を用いてＤＵＴの試験を擬似的に行う。 - 特許庁

In a Web load testing method, a load simulator 22a interrupts access to a Web server device 10 by a virtual Web client 201 until all the response messages of a sequence set as synchronous points is acquired by all virtual Web clients 201, 202 and 203.例文帳に追加

負荷シミュレータ２２ａは、同期ポイントとして設定された順番のレスポンスメッセージを全ての仮想ウェブクライアント２０１，２０２，２０３，…が取得するまで、仮想ウェブクライアント２０１によるウェブサーバ装置１０へのアクセスを、中断させる。 - 特許庁

To provide a wafer level packaging cap and its manufacturing method for preventing the damage of the connection part of a connection bar and a cap substrate at the time of testing temperature-proof performance, and for easily machining the connection hole of a wafer having a high cross-section rate.例文帳に追加

本発明は耐温度性能の実験時に接続棒とキャップ基板との連結部分の破損が発生せず、高断面比を有するウエハーの連結穴の加工が容易なウエハーレベルパッケージングキャップおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a molding for medical use having well-balanced stiffness, impact resistance and transparency, and satisfying the quality of dialysis fluid supply sections and dialysis fluid circuits, and the testing method 1(2) specified in the Production Acceptance Criteria for Dialysis-type Artificial Kidney Apparatuses.例文帳に追加

剛性と耐衝撃性、透明性のバランスに優れ、かつ透析型人工腎臓装置承認基準のうち、透析液供給部及び透析液回路の品質及び試験法１（２）を満足する医療用成形品を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing apparatus in which a current output circuit of a DC magnetic field and a high frequency magnetic field can be shared, a magnetic field leaked to the periphery from a core is suppressed, and which can be miniaturized.例文帳に追加

ＤＣ磁界と高周波磁界の電流出力回路を共通化することができ、コアから周辺へ漏洩する磁界を抑え、装置の小型化を図ることができる磁気ヘッドスライダ検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an automobile noise testing apparatus capable of preventing noise occurrence caused by the vibration of an intermediate bearing on the outside of a sound proof box by suitably suppressing the vibration of the intermediate bearing without causing difficulty of axis alignment operation.例文帳に追加

軸合わせ作業の困難化を招来することなく、中間軸受の振動を好適に抑制して、防音箱外に中間軸受の振動に起因する騒音の発生を防止可能な自動車用騒音試験装置を提供する。 - 特許庁

The pin 5 is pushed to the testing substrate 9 side and the slope 5a side of the pin 5 and the slope 7a side of a pin 7 are moved in the directions mutually opposed and to the side widening the inner diameter of the metal plate 3.例文帳に追加

ピン５は試験基板９側へ押され、ピン５の斜面５ａ側及びピン７の斜面７ａ側は斜面５ａと斜面５ｂの接触面に沿って、互いに相反する方向かつ金属板３の内径を広げる側へ移動する。 - 特許庁

Screws are embedded in the ALC panel itself, the extraction strength of the screws is measured by a screw extraction testing method, and the degree of deterioration of the ALC panel concerned is estimated according to the relationship between the screw extraction strength and the degree of carbonation.例文帳に追加

ＡＬＣパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ＡＬＣパネルの劣化度を推定することを特徴とする。 - 特許庁

The method for testing the collision of the vehicle comprises a step of colliding the MDB (1) in which a high rigidity protrusion (5c) is disposed lower than a front end (bumper beam 8) of a side frame of a vehicle (6) to be examined, with a front surface of the vehicle to be examined.例文帳に追加

車両の衝突試験方法において、被験車両（６）のサイドフレーム前端部（バンパービーム８）よりも下方に高剛性凸部（５ｃ）を位置させたＭＤＢ（１）を被験車両の前面に衝突させるものとする。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁

To provide a measuring device and a measuring method capable of measuring, simply in a room, the temperature stress by the heat of hydration generated from a concrete structure, concerning a testing device and a method for temperature stress measurement.例文帳に追加

本発明は温度応力測定用試験装置及び方法に関し、コンクリート構造物から発生する水和熱による温度応力を室内で簡便に測定できる測定装置及び測定方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁