「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(253ページ目) - Weblio英語例文検索

To a plurality of analogue circuit blocks (Anlg_Cir1... Anlg_CirN), a plurality of switching circuits for testing (Tcnt_Sw1... Tcnt_SwN) for switching the signal paths from normal signal path in the test mode to that in the normal operation mode are connected.例文帳に追加

複数のアナログ回路ブロックＡｎｌｇ＿Ｃｉｒ１…には、テストモードでの信号経路と通常動作モードでの信号経路とを切り換える複数のテスト用スイッチ回路Ｔｃｎｔ＿Ｓｗ１…Ｔｃｎｔ＿ＳｗＮが接続される。 - 特許庁

To provide a vibration testing device, capable of applying vibration in three orthogonal axial directions to an object to be tested, further, allowing vibration test of the object during use and reducing the size of the device.例文帳に追加

直交する三軸方向への振動を被試験体に加えることができ、さらに、被試験体の使用状態での振動試験を可能とするとともに、装置の小型化を図ることを可能とする振動試験装置を提供する。 - 特許庁

Also, to the common input terminal, positive potential (VDD) and negative potential (VSS) can be fed in the case of the testing function, and a writing voltage can be fed in the case of the high-voltage applying function used when writing data in its memory means.例文帳に追加

また、前記共通の入力端子は、テスト機能では正電位（ＶＤＤ）と負電位（ＶＳＳ）が供給可能であり、データの書き込みときの高電圧印加機能では書き込み電圧が供給可能であることを特徴とする。 - 特許庁

The device 100 also comprises a pad 1 for bonding electrically connected to an internal circuit 4 and bonded to a bonding member, and a pad 2 for testing electrically connected to an internal circuit 4 and to which a test probe contacts.例文帳に追加

また、内部回路４と電気的に接続されるとともにボンディング部材と接合されるボンディング用パッド１と、内部回路４と電気的に接続されるとともにテストにおいてテストプローブが接触するテスト用パッド２とを備えている。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a valve abnormality automatic testing device of a liquid transferring device capable of informing an abnormality detection result of a previously set valve opening and closing program by opening and closing a related valve in forming a transferring route of liquid.例文帳に追加

液体の移送ルート作成時に関連するバルブを開閉し、予め設定されたバルブ開閉プログラムの異常検出結果を試験実施者に通知することができる液体移送装置のバルブ異常自動試験装置を提供する。 - 特許庁

In this constitution, by confirming whether or not the testing operation is performed in response to the operation of the left switch, the presence/absence of the abnormality of the hardware including the left switch and the presence/absence of the abnormality of the software can be checked before starting the game.例文帳に追加

この構成の場合、左スイッチの操作に呼応してテスト運転が行われるか否かを確認することで、左スイッチを含んだハードウェアの異常の有無およびソフトウェアの異常の有無を遊技開始前にチェックできる。 - 特許庁

To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.例文帳に追加

所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

The personal computer system is provided with a service aid device for deciding the faults of multiple equipment arranged in a power system on the basis of information obtained from these equipment and a simulator type testing device for simulatively driving the service aid device and inspecting its functions.例文帳に追加

電力系統に設けられる複数の機器からの情報に基づいて機器の故障判定を行う保守支援装置と、この保守支援装置を模擬的に動作させてその機能を点検するシミュレータ式試験装置とを備える。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus for connecting a wafer mother board with a probe card through a connector and performing a test of an IC, each of the wafer mother board and the probe card has a connector class recognizing means for recognizing the class of the connector.例文帳に追加

ウエハマザーボードとプローブカードをコネクタにより接続してＩＣのテストを行う半導体テスト装置において、前記ウエハマザーボードとプローブカードのそれぞれに前記コネクタの種別を認識するためのコネクタ種別認識手段を設けた。 - 特許庁

A timing delayed for one time slot from a normal time air synchronizing timing is supplied to one of testing PHS radio base stations 1-N in this system, and the normal time air synchronizing timing is supplied to the other stations so that those radio base stations can be operated.例文帳に追加

システム内の試験ＰＨＳ無線基地局１〜Ｎのうちの一局に、通常時エアー上同期タイミングより１タイムスロット分遅れたタイミングを供給し、他局には、通常時エアー上同期タイミングを供給して動作させる。 - 特許庁

To provide an accelerated drying method for a hydraulic material for dramatically shortening a test period having required a half year to one year in a conventional test method and to provide a length change testing method for a hydraulic material.例文帳に追加

従来の試験方法で必要であった半年から１年の試験期間を飛躍的に短縮できる水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法を提供することにある。 - 特許庁

(3) The average of the results of the testing in pursuance of rules made under sub-section (1) or of an order passed under sub-section (2) shall be prima facie evidence of the number, quantity, measure, gauge or weight of the goods. 例文帳に追加

(3)本条第(1)項により制定された規則により又は同条第(2)項により発出された命令に従って行われる検査結果の平均は、当該商品の個数、数量、度量、ゲージ又は重量の一応の証拠とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of suppressing increases in the area of a redundancy saving circuit and the area of a scan testing circuit when the redundancy saving using a BIST is realized, and its inspection method.例文帳に追加

ＢＩＳＴを用いたメモリの冗長救済を実現にあたり、冗長救済回路面積およびスキャンテスト用回路の面積の増加を抑えることができる半導体集積回路および検査方法を提供することである。 - 特許庁

The testing station (12) includes rotatable chuck and spindle assemblies mounted to the frame which include upper and lower rims that engage the beads of the tire (20) and are rotated to rotate the tire (20).例文帳に追加

この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).例文帳に追加

周期（周波数）の異なる複数ポートを持つＤＵＴに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス（印加波形等）が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.例文帳に追加

被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a conveyer of microplates capable of realizing the improvement in both high throughput and flexibility in system constitution, in a test processing system for performing a series of work processings for biochemical testing.例文帳に追加

生化学試験のための一連の作業処理を行う試験処理システムにおいて、ハイスループットとシステム構成におけるフレキシビリティの向上をともに実現することができるマイクロプレートの搬送装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

In the bending testing device 1, the uniform bending stress can be generated in the whole circuit board 9 by this constitution, while determining selectively the bending direction of the circuit board 9, when performing the bending fatigue test of the circuit board 9.例文帳に追加

これらの構成により、曲げ試験装置１では、回路基板９の曲げ疲労試験を行う際に、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。 - 特許庁

To easily replace contacts for contact with IC terminals and eliminate the need for preparing IC sockets for every IC package in an IC testing apparatus for the electrical connection between ICs to be tested and IC terminals.例文帳に追加

被試験ＩＣのＩＣ端子と電気的接続をとるためのＩＣ試験装置において、ＩＣ端子に接触させるための接触子を容易に取り替えることができ、ＩＣパッケージごとにＩＣソケットを作成しなくてもよいようにする。 - 特許庁

This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.例文帳に追加

水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室１２と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置１４と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置１６とを備える。 - 特許庁

The durability testing method for inspecting durability of the tire includes a process for accelerating deterioration of the pneumatic tire and a process for performing drum durability traveling test by applying load on the pneumatic tire of which the deterioration is accelerated.例文帳に追加

空気入りタイヤの耐久性を調べるための耐久性試験方法であって、空気入りタイヤの劣化を促進させる工程と、劣化を促進させた空気入りタイヤに負荷をかけてドラム耐久走行テストを行う工程とを含む。 - 特許庁

In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加

ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.例文帳に追加

供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁

To provide an efficient projector capable of rewriting the VT correction of red, green and blue light valves so that a projection image gets closer to an ideal spectrum, compensating the secular change of lamps and the light valves and also simultaneously testing all colors.例文帳に追加

投影影像が理想的なスペクトルに近くなるよう赤、緑、青のライトバルブのＶＴ補正を書き換え、ランプやライトバルブの経年変化を補償すると共に、全色を同時に試験できる効率的なプロジェクタを提供する。 - 特許庁

To provide a vibration-testing system for allowing continuous vibration from low frequency to high one by using a cylindrical coil being incorporated between vibration and grounding-part bodies as an electromagnetic damper.例文帳に追加

本発明の課題は、加振部本体２３と接地部本体２４の間に組み込んだ円筒状コイルを電磁ダンパーとして使用することにより、低周波から高周波までの連続加振を可能にした振動試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a method of identifying a transparent object having specific optical properties, particularly a transparent object such as a measuring cuvette used in a light intensity detection system or testing the authenticity of the transparent object.例文帳に追加

本発明の目的は、特定の光学的性質を有する透明物体、特に光度検出システムにおいて使用される測定キュベット等の透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing device of an electronic part substrate, capable of aiming miniaturization of the device, and capable of increasing the number of trays storable in the device, a test method and trays for the electronic part substrate used therefor.例文帳に追加

装置の小型化を図ることができると共に、装置内に収容できるトレイ枚数を増大させることができる電子部品基板の試験装置、試験方法およびそれに用いられる電子部品基板用トレイを提供すること。 - 特許庁

This test bench includes a sendout chamber 1 equipped with a plurality of sound sending systems 6, and an adjacent receiving chamber 2 separated from the sendout chamber by a separating wall 3 having a test aperture for locating the object of testing 4.例文帳に追加

複数の音響送出装置６を備える送出チャンバ１と、試験対象物４を配置するための試験開口を有する分割壁３によって送出チャンバから分離されている隣接した受け取りチャンバ２とを含む。 - 特許庁

The drive subsystem includes a reciprocating motor driven block engaging the carrier and moving the carrier back and forth in a predetermined longitudinal path extending along a longitudinal axis from an entrance station to a plurality of processing stations in the same testing machine.例文帳に追加

駆動サブシステムは、担体と係合し、入口ステーションから試料試験機内の複数の処理ステーションまで長手軸に沿って延びる所定の長手方向経路内で担体を前後に移動させる往復運動モータ駆動ブロックを備えている。 - 特許庁

To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.例文帳に追加

テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁

The initial standard coating pattern is corrected from the ratio of the simulation result to the result of a coating experiment by carrying out the coating film thickness simulation using the initial basic coating pattern and conducting the coating experiment using a testing piece.例文帳に追加

初期基準塗装パターンを用いた塗装膜厚シミュレーションを行うと共に、テストピースを用いた塗装実験を行い、シミュレーションの結果と塗装実験の結果との比率に基づき、初期基準塗装パターンを修正する。 - 特許庁

The on-chip circuit and the testing method can evaluate deterioration of a cell transfer device by a MOSFET deterioration mechanism that becomes active at the time of electric charge transfer or storage in an operating state or burn-in state.例文帳に追加

このオン・チップ回路およびテスト方法は、電荷転送の際および動作状態またはバーン・イン状態のもとでの記憶の際にアクティブになるＭＯＳＦＥＴ劣化メカニズムによるセル転送デバイスの劣化を評価することを可能にする。 - 特許庁

The testing apparatus (100) further comprises an overload protector (160) connected between the power coupler (120) and the receiver (140) to reduce or maintain the signal intensity of the receiving signal of the receiver in accordance with a control signal (180).例文帳に追加

試験装置(100)は、前記電力結合器(120)と前記レシーバ(140)の間に接続され、前記レシーバにおける受信信号の信号強度を制御信号(180)に基づいて低下させ、又は維持するための過負荷保護装置(160)を更に含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

The receiver 3b receives the digital-analog signal wave transmitted to the track circuit 2T, separates the digital modulation components, and improves the noise resistance by testing the period and the order of the frequency of the digital modulation components that are separated.例文帳に追加

受信器３ｂは軌道回路２Ｔに送信されているデジアナ信号波を受信してデジタル変調成分を分離し、分離したデジタル変調成分の周波数の周期と順番を検定して耐雑音性を向上させる。 - 特許庁

To provide a connector in which an insertion force required in the insertion process of an electronic component is reduced, and a pressing force for pushing a contact portion to an electronic component can be secured, and to provide a semiconductor testing device equipped with the connector.例文帳に追加

電子部品の挿入過程において必要とされる挿入力を低減すると同時に、接触部を電子部品に押し付ける力を確保することのできるコネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置の提供。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.例文帳に追加

電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of calculating compressive strength of coarse aggregate for concrete simply and accurately without measuring it by a compressive strength testing machine, after boring a sample from ore, and coring it or forming a molded body therefrom.例文帳に追加

コンクリート用粗骨材の圧縮強度を、原石からボーリングして、コア抜きし、又はこれの成形体とし、圧縮強度試験機にかけて測定しなくても、簡便に精度良く、算出できる方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To achieve a semiconductor testing apparatus that writes failure data to an acquisition memory using a burst access, even in the case where the number of addresses and failure data does not match the burst length, or when irrelevant data is mixed in the failure data.例文帳に追加

アドレスとフェイルデータの数がバースト長と一致しない場合またはフェイルデータに非対象データが混在した場合でも、フェイルデータをバーストアクセスを用いて収集メモリへ書き込むことが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing steering stability of a vehicle, which can evaluate steering stability of a slalom state of which the reproducibility is most difficult in reproduction of various traveling states.例文帳に追加

種々の走行状態を再現する内、最も再現性が困難なスラローム状態の操縦安定性能の評価を可能とする車両の操縦安定性能試験方法及び操縦安定性能試験装置を提供する。 - 特許庁