「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(252ページ目) - Weblio英語例文検索

Also, to the common input terminal, positive potential (VDD) and negative potential (VSS) can be fed in the case of the testing function, and a writing voltage can be fed in the case of the high-voltage applying function used when writing data in its memory means.例文帳に追加

また、前記共通の入力端子は、テスト機能では正電位（ＶＤＤ）と負電位（ＶＳＳ）が供給可能であり、データの書き込みときの高電圧印加機能では書き込み電圧が供給可能であることを特徴とする。 - 特許庁

The circuit for testing cores consisting of a control means 1, a decoding means 2 and a downloading means 3 and to transit states of elements to constitute a logical circuit and a memory circuit of the core 4, is mounted on an LSI as a peripheral logical circuit of the core 4.例文帳に追加

制御手段１、デコード手段２、ダウンロード手段３から成り、コア４の論理回路およびメモリ回路を構成する素子の状態を遷移させるコアテスト回路をコア４の周辺論理回路としてＬＳＩに搭載する。 - 特許庁

This instrument of the present invention comprises an oscillation type liquid testing deive U for viscosity measurement and visco-elasticity measurement, a frequency detecting circuit 7, an amplitude detectting circuit 8, an impedance computing circuit 9 and circuits 10a, 10b for computing the respective values herein.例文帳に追加

並びにこれら粘性測定と粘弾性測定を行うための振動形検液装置Ｕと周波数・振幅検出回路７，８と、インピーダンス演算回路９と上記各値を演算する回路１０ａ，１０ｂとから成る装置。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus for connecting a wafer mother board with a probe card through a connector and performing a test of an IC, each of the wafer mother board and the probe card has a connector class recognizing means for recognizing the class of the connector.例文帳に追加

ウエハマザーボードとプローブカードをコネクタにより接続してＩＣのテストを行う半導体テスト装置において、前記ウエハマザーボードとプローブカードのそれぞれに前記コネクタの種別を認識するためのコネクタ種別認識手段を設けた。 - 特許庁

A timing delayed for one time slot from a normal time air synchronizing timing is supplied to one of testing PHS radio base stations 1-N in this system, and the normal time air synchronizing timing is supplied to the other stations so that those radio base stations can be operated.例文帳に追加

システム内の試験ＰＨＳ無線基地局１〜Ｎのうちの一局に、通常時エアー上同期タイミングより１タイムスロット分遅れたタイミングを供給し、他局には、通常時エアー上同期タイミングを供給して動作させる。 - 特許庁

To provide an accelerated drying method for a hydraulic material for dramatically shortening a test period having required a half year to one year in a conventional test method and to provide a length change testing method for a hydraulic material.例文帳に追加

従来の試験方法で必要であった半年から１年の試験期間を飛躍的に短縮できる水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法を提供することにある。 - 特許庁

The device 100 also comprises a pad 1 for bonding electrically connected to an internal circuit 4 and bonded to a bonding member, and a pad 2 for testing electrically connected to an internal circuit 4 and to which a test probe contacts.例文帳に追加

また、内部回路４と電気的に接続されるとともにボンディング部材と接合されるボンディング用パッド１と、内部回路４と電気的に接続されるとともにテストにおいてテストプローブが接触するテスト用パッド２とを備えている。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a valve abnormality automatic testing device of a liquid transferring device capable of informing an abnormality detection result of a previously set valve opening and closing program by opening and closing a related valve in forming a transferring route of liquid.例文帳に追加

液体の移送ルート作成時に関連するバルブを開閉し、予め設定されたバルブ開閉プログラムの異常検出結果を試験実施者に通知することができる液体移送装置のバルブ異常自動試験装置を提供する。 - 特許庁

A method for testing the complementality of a target DNA with the single chain section of the DNA chain which has the target DNA, a double chain section and a single chain section by bringing the target DNA into contact with the surface where the DNA chain on the substrate is immobilized, is also provided.例文帳に追加

上記基板のＤＮＡ鎖を固定化した表面にターゲットＤＮＡを接触させ、ターゲットＤＮＡと二重鎖部分及び一重鎖部分を有するＤＮＡ鎖の一重鎖部分との相補性を試験する方法。 - 特許庁

To provide an on-vehicle testing apparatus for ETC capable of simplifying and shortening the required time for the performance measuring test of an ETC vehicle-mounted device, without having to change the setting of the vehicle-mounted device in the state of actually performing a communication.例文帳に追加

ＥＴＣ車載器の性能測定試験を、車載器を実際に通信を行う状態での設定を変更する必要がなく、簡単にし、所要時間を短縮することができる、ＥＴＣ車載器用テスタを提供すること。 - 特許庁

For recognizing or testing securities, a row vector (ZV) is generated on at least one face from a belonging section and the component of the row vector forms one synthetic value considering all the scanning values of sections (2.1 and 2.2).例文帳に追加

有価証券を認識しかつテストするために、少なくとも１つの面に所属の区間から、行ベクトル（ＺＶ）を発生し、この行ベクトルの成分が、区間（２．１，２．２）の列のすべての走査値を考慮するそれぞれ１つの総合値をなす。 - 特許庁

To provide a semiconductor device where increase of the number of terminals for testing a memory unit can be suppressed in the semiconductor device composed by integrating a plurality of chips containing at least a memory chip and a logic chip for controlling the memory chip into one package.例文帳に追加

メモリチップと該メモリチップを制御するロジックチップを少なくとも含む複数のチップを１パッケージ化した半導体装置において、メモリ単体検査のための端子数増加を抑制できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁

To make it possible to conduct testing of a real unit effectively, even if an I/O substrate is not mounted on the real unit in a digital protection control apparatus which performs protection, supervision and control of a power system.例文帳に追加

電力系統の保護および監視・制御を行うディジタル保護制御装置において、実装置に入出力基板が搭載されていない場合であっても、実装置に対する試験等の効果的な実施を可能とすること。 - 特許庁

To provide a performance evaluation test machine capable of testing by causing the same elliptic distortion of outer wheel and a weight load state as the state caused in an actual machine of bearing for a planetary gear support, and obtaining highly reliable data.例文帳に追加

遊星歯車支持用軸受の実機で起きる状態と同様な外輪楕円変形および荷重負荷状態を生じさせて試験することができて、信頼性の高いデータを得ることのできる性能評価試験機を提供する。 - 特許庁

In the electronic component tester testing electronic components under a prescribed temperature environment, a carrier 18 for mounting a lead frame 11, in which the plurality of electronic components 12 with built-in light emitting elements 14 are prepared is held by a socket 9.例文帳に追加

電子部品の試験を所定の温度環境下で行う電子部品試験装置において、発光素子１４を内蔵した電子部品１２が複数作り込まれたリードフレーム１１が装着されたキャリア１８をソケット９に保持させる。 - 特許庁

In this damage testing device, a tire support shaft 2 is mounted in the orthogonal direction on a support frame 1 erected vertically, and the test tire W is mounted detachably in parallel with the support frame 1 on the tire support shaft 2.例文帳に追加

損傷試験装置は、鉛直向きに立設された支持フレーム１に、タイヤ支持軸２が直交向きに取付けられ、このタイヤ支持軸２には前記支持フレーム１と平行に試験タイヤＷが着脱可能に取付けられている。 - 特許庁

To provide an abrasion testing device which evaluates an abrasion situation of a rubber roll under a load applied condition, and also evaluates abrasion of the rubber roll under the condition where a mating side member is bitten in the rubber roll under a prescribed condition.例文帳に追加

荷重をかけた状況でのゴムロールの摩耗状況の評価に加え、所定の状態でゴムロールに相手側の部材を食い込ませた状況でのゴムロールの摩耗の評価を行うことができる摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁

For conducting a development test, etc. on an electric vehicle which employs a motor as a power source, a test measuring system for the electric vehicle 1 reproduces a driving state of the electric vehicle to be tested by using a reproduction object testing device 10.例文帳に追加

モータを動力源とする電動車両の開発試験等を行うために試験対象電動車両の走行状態を再現対象試験装置１０において再現する電動車両用試験測定システム１である。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing an optical fiber ribbon capable of forming a reference by which it is assumed that no crack is generated in a jacket against a specific external force when the external force is applied to the optical fiber ribbon.例文帳に追加

テープ心線に外力が作用した際に、一定の外力に対しては外被に割れを生じることがないと見なすことができる基準を形成するための光ファイバテープ心線の試験方法およびその装置を得る。 - 特許庁

To provide a testing device capable of recording desired log data indicating a device state and the like before/after triggering such as when abnormality occurs in a spot manner at a fine time interval, and a log data recording method for the same.例文帳に追加

異常発生時等所望のトリガ前後の装置状態等を示すログデータを、スポット的に精緻な時間間隔で記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

In a power supplying port determining process, part of a plurality of power supply bumps are determined as the power supplying ports upon testing in the range wherein neither the voltage drop violation nor the current density violation is detected by power supply network analysis.例文帳に追加

電源供給口決定工程では、電源網解析により電圧降下違反または電流密度違反のいずれも検出されない範囲で、複数の電源バンプの一部が試験時の電源供給口として決定される。 - 特許庁

The write-once type recording medium having the linking (a run-in area and a guard area) in a unit block of recording/reproducing, and being constituted so that the overlapping takes place and recording is performed at the linking, is tested by the following testing method after manufacture.例文帳に追加

記録再生の単位となるブロックにリンキング（ランインエリアとガードエリア）を有し、そのリンキングでオーバーラップして記録するようにしたライトワンス型の記録媒体に対して、製造後に次のような検査方法で検査を行う。 - 特許庁

The testing machine body 100 collects not only the data at the set sampling cycle, but also the data regardless of the set sampling cycle, when the data change quantity from the previously collected data exceeds the set threshold.例文帳に追加

試験機本体１００は、設定されたサンプリング周期でデータを採取すると共に、前回採取されたデータからのデータ変化量が設定されたしきい値を超えたときには、設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取する。 - 特許庁

The automatic penetration testing machine compares a signal corresponding to a rotary load in rotary penetration of the penetration rod 6 held by a chuck 4 with a threashold preset in advance and drive-controls the rotary drive means 5 of the chuck in accordance with the result.例文帳に追加

本発明は、チャック４に保持した貫入ロッド６を回転貫入する時の回転負荷に対応した信号と予め設定した閾値とを比較し、その結果に応じてチャック回転駆動手段５を駆動制御するものである。 - 特許庁

To provide a novel aging board capable of supporting semiconductor lasers of various standards, having superior heat dissipation efficiencies during the testing time, and capable of obtaining an accurate test result, without producing variations in a reference level relative to a laser receiving unit.例文帳に追加

各種規格の半導体レーザに対応可能で、試験時の放熱効率にも優れ、レーザ受光ユニットに対する基準面にばらつきが生じることなく正確な試験結果が得られる新規なエージングボードを提供する。 - 特許庁

In the case of sandwiching a conductive sheet between a package into which an LSI is built and a socket and testing the LSI, especially in the case of operating it at high frequencies, the potential of power sources and GNDs impressed on the package is prevented from fluctuating.例文帳に追加

ＬＳＩを組み込んだパッケージとソケットの間に導電シートを挟んでＬＳＩのテストをする場合、特に高周波で動作させる場合にパッケージに印加している電源、ＧＮＤの電位が変動するの防止する。 - 特許庁

To solve the problem wherein a phenomenon in which load distribution is different from a design value occurs when executing evaluation of constant velocity and synchronization on the basis of statistical methods in a testing device executing synchronous control of front and rear wheels by being separated for the front and rear wheels.例文帳に追加

前後輪用に分離して前後輪の同期制御を実行する試験装置では、統計的手法に基づいて等速性・同期性の評価を実行すると、負荷分配が設計値と異なる現象が発生する。 - 特許庁

Behavior when a secondary 2 battery is broken is appropriately verified by partially crushing the secondary battery 2 placed on a testing stand 3 with a pressing member, conducting good and bad candidate determination of the secondary battery 2 by measuring the temperature of the secondary battery 2.例文帳に追加

試験台３に設置した二次電池２を押圧部材で部分圧壊し、二次電池２の温度を測定して二次電池２の良否候補判定を行うことで、二次電池２が破損した場合の振る舞いを適切に検証する。 - 特許庁

The receiver 3b receives the digital-analog signal wave transmitted to the track circuit 2T, separates the digital modulation components, and improves the noise resistance by testing the period and the order of the frequency of the digital modulation components that are separated.例文帳に追加

受信器３ｂは軌道回路２Ｔに送信されているデジアナ信号波を受信してデジタル変調成分を分離し、分離したデジタル変調成分の周波数の周期と順番を検定して耐雑音性を向上させる。 - 特許庁

To provide a connector in which an insertion force required in the insertion process of an electronic component is reduced, and a pressing force for pushing a contact portion to an electronic component can be secured, and to provide a semiconductor testing device equipped with the connector.例文帳に追加

電子部品の挿入過程において必要とされる挿入力を低減すると同時に、接触部を電子部品に押し付ける力を確保することのできるコネクタ、及びコネクタを備える半導体試験装置の提供。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

The electronic device 10 has BIST hardwares 102, 104 provided with a production test mode and a diagnostic testing mode, outputs a response signature by the production mode, and outputs a raw response data by the diagnostic test mode, when the scanning pattern is provided.例文帳に追加

電子デバイス（１００）は、生産テストモードと診断テストモードを備えたＢＩＳＴハードウェア（１０２、１０４）を有し、スキャンパターンを提供すると、生産テストモードで応答シグネチャを出力し、診断テストモードで生応答データを出力する。 - 特許庁

To provide a vehicle traction mechanism of a collision testing device, capable of preventing a wire rope from being projected to a camera set inside a pit and suppressing the traveling speed change of a test vehicle at and after a point of time when its being cut off from the wire rope.例文帳に追加

ピット内にセットしたカメラにワイヤロープが映ることを防止し、ワイヤロープから切り離した時点以降のテスト車両の走行速度変化を抑制することが可能な衝突試験装置の車両牽引機構を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of calculating compressive strength of coarse aggregate for concrete simply and accurately without measuring it by a compressive strength testing machine, after boring a sample from ore, and coring it or forming a molded body therefrom.例文帳に追加

コンクリート用粗骨材の圧縮強度を、原石からボーリングして、コア抜きし、又はこれの成形体とし、圧縮強度試験機にかけて測定しなくても、簡便に精度良く、算出できる方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

After completion of the test, the board 31 is sealed within a box 87 which unalterably fixes the board, such that a third person can not touch the testing connector 47.例文帳に追加

さらに、試験が終了した後は、その遊技制御基板３１を非可逆的な組付け状態に固着される遊技制御基板ボックス８７内に封入し、容易に試験用コネクタ４７に第三者が手を触れることができないように構成する。 - 特許庁

Also the semiconductor testing apparatus 10 comprises: a data compression section 16a for compressing the fail data FD according to a prescribed rule; and region fail memories 17, 18 for storing the fail data compressed by the data compression section 16a.例文帳に追加

また、この半導体試験装置１０は、フェイルデータＦＤを所定の規則に従って圧縮するデータ圧縮部１６ａと、データ圧縮部１６ａで圧縮されたフェイルデータを記憶するリージョンフェイルメモリ１７，１８とを備える。 - 特許庁

To provide a heat resistance testing method for evaluating a color tone of a molten substance of an aliphatic terminal diol material including an aromatic for obtaining a thermoplastic resin with a good color tone and a method for producing a thermoplastic resin by using the same.例文帳に追加

色相に優れる熱可塑性樹脂を得るための芳香族を含む脂肪族末端ジオール原料の溶融色相を評価する耐熱試験方法およびそれを用いた熱可塑性樹脂の製造方法を提供する。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

To provide a new noise design supporting system for making adaptable to an immunity design capable of easily identify the contamination (a contamination route) of a testing object by electromagnetic wave disturbance from the outside.例文帳に追加

試験対象物のどの部分が外部からの電磁波妨害に対して汚染されているのか（汚染経路）を容易に特定することができるイミュニティ設計対応のための新たなノイズ設計支援システムを提供しようとするものである。 - 特許庁

When the shipping identification information (write permitting information) is decoded with a radio input signal, a command decode circuit 310 validates the radio input signal when it is for testing to enable the rewrite of product identification information.例文帳に追加

コマンドデコード回路３１０は、この出荷識別情報（書き込み許可情報）を無線入力信号とともにデコードするとき、無線入力信号がテスト用であれば有効にし、生産品識別情報の書き換えを可能とする。 - 特許庁

To provide an XY stage device used for manufacturing or testing various boards such as flat display panel boards for example which deals with enlarged panel boards and reduces the manufacturing cost and the transport cost.例文帳に追加

例えばフラットディスプレイパネル基板等の各種基板の製造又は検査工程に用いられるＸＹステージ装置において、パネル基板の大型化に対応できる、製造コスト及び運送コストの低いＸＹステージ装置を提供する。 - 特許庁

One of them is designed for manufacturing or testing purposes and the other allows reprogramming of the updated operating code or parameters from a remote place.例文帳に追加

２つの制御プログラムが更新されたオペレーティングコードの再プログラミングを制御しそのうちの１つは製造や試験の目的のために設計され、もう１つは遠隔の場所から更新されたオペレーティングコードやパラメータの再プログラミングを可能にする。 - 特許庁

The semiconductor testing device can vary the speed of the pattern to be applied to the DUT, and is provided with a selection means for selecting either pattern data output from a data memory or an output signal fed back just before.例文帳に追加

ＤＵＴに与えるパターンの速度を可変できる半導体試験装置であって、データメモリから出力されるパターンデータとフィードバックされた直前の出力信号のどちらか一方を選択する選択手段を設けた。 - 特許庁