「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(255ページ目) - Weblio英語例文検索

This test pattern generator 10 for generating a test pattern for scan-testing the semiconductor integrated circuit is provided with a risky portion extracting part 110, and an ATPG 150 of a pattern generation executing part for executing the generation of the test pattern.例文帳に追加

半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置１００は、危険箇所抽出部１１０と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるＡＴＰＧ１５０を備える。 - 特許庁

Further, since an immersion testing ultrasonic probe 6 is provided, the thickness when a normal echo is generated is obtained from a CRT monitor 13 of an ultrasonic thickness meter 8, and data obtained from the RFEC method at its position is constituted.例文帳に追加

さらに、水浸法超音波探触子６を設けてあるので、超音波厚み計８のＣＲＴモニタ１３から、正常なエコーが生じているときの厚みをもとめ、その位置でＲＦＥＣ法から得られるデータを構成する。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times according to the optimum erasure condition are determined from the result of the testing erasure.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、最適消去条件に従い各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定する。 - 特許庁

To provide a test system that makes testing automatically only measurement items where a plurality of component parts used for each measurement item uses only component parts normally connected with a controller controlling those operations.例文帳に追加

各測定項目に使用する複数の構成品が、それらの動作を制御する制御器に正常に接続されている構成品のみを使用する測定項目のみを、自動的に試験するようにした試験システムを提供する。 - 特許庁

An IC 21 is so structured that pull-up resistors are connected to a plurality of external signal terminals 22 via FETs (field effect transistors) in a testing level setting section 25 to enable control of the turning on/off of the FETs from the outside via a test control section 26.例文帳に追加

ＩＣ２１を、複数の外部信号端子２２に対し、テスト用レベル設定部２５においてプルアップ抵抗をＦＥＴを介して接続し、ＦＥＴのオンオフを、テスト制御部２６を介して外部より制御可能に構成する。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether or not the data contents of the data ROMs 124-1 to 3 are correct using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３のデータ内容が正しいか否かがチェックされる。 - 特許庁

The connecting machine for watt-hour meter 10 is a connecting machine for connecting the watt-hour meter 1 provided with a lower external terminals 2 provided under the meter and a profile external terminals 3 provided on the profile side and the electric power side of the testing apparatus.例文帳に追加

電力量計用結線器１０は、下面に設けられた下方外部端子２と側面に設けられた側方外部端子３とを有する電力量計１と、試験装置の電源側とを結線するものである。 - 特許庁

To solve a problem in which temperature adjustment of cooling water circulated in an engine under test by means of a gain controller with the fixed time constant, causes supercooling or undercooling of the cooling water to occur due to change in engine's number of revolutions (rpm), which has an adverse effect on testing accuracy.例文帳に追加

一定時定数、ゲインのコントローラにより、供試エンジンに循環させる冷却水の温度調節をするのでは、エンジン回転数の変化により冷却水の過冷却や不足冷却が生じ、試験精度に影響する。 - 特許庁

A loading testing jack together with a load meter and a displacement meter are installed on the loading slab in an approximately vertical posture to have such a constitution that loading test reaction force is taken in a beam of the existing structure or a slab, and the jack is driven to perform a loading test.例文帳に追加

載荷版の上に荷重計、変位計と共に載荷試験用のジャッキを略垂直姿勢に設置して載荷試験反力を既存構造物の梁又はスラブにとる構成とし、ジャッキを駆動して載荷試験を行う。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.例文帳に追加

シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁

The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスタ３５から、テストモード選択用のデータをＢＩＳＴ回路４０内のＢＩＳＩ制御回路５０に入力すれば、この制御回路５０から、テストクロックｔｃｋに同期してテストモード選択結果が出力される。 - 特許庁

Hence, in order to assure a testing accuracy by intimately contacting the glass sample with the heating element during the test, the elasticity of the heating element should be 50 to 500 MPa and the time required for the glass sample to break down after heating should be 7 seconds or less during the test.例文帳に追加

このため、試験中に、ガラス試料と発熱体を密着させて試験精度を確保するため、発熱体の弾性率を５０〜５００ＭＰａとし、ガラス試料が加熱後破壊するまでの時間を７秒以下にして試験する。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A DC power source is formed by a battery corresponding part 11 to be supplied to an inverter 15 as a test body and the a drive power source from the inverter 15 is supplied to a motor corresponding part 12 to perform testing of the inverter 15.例文帳に追加

バッテリ相当部１１で直流電源を形成し、この直流電源を供試体としてのインバータ１５に供給し、インバータ１５からの駆動電源をモータ相当部１２に供給して、インバータ１５の試験を行う。 - 特許庁

The fuel cell separator material is made of the graphite/hardened resin molded body, on the surface layer part of which, a hydrophilic treatment depending on the air blast treatment is applied, and a wet tension of the surface measured by using a wet tension testing liquid is 40 mN/m or higher.例文帳に追加

黒鉛／硬化樹脂成形体からなり、その表層部がエアブラスト処理による親水化処理が施され、濡れ張力試験液による表面の濡れ張力が４０ｍＮ／ｍ以上の燃料電池用セパレータ材。 - 特許庁

The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.例文帳に追加

マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁

The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.例文帳に追加

本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To attain high testing efficiency by downsizing and simplifying a test apparatus in additionally installing field apparatuses such as signal lights in a railroad station yard on a signal maintenance system which controls the field apparatuses with an electronic interlock device.例文帳に追加

鉄道の駅構内における信号機等の現場機器の制御を電子連動装置を用いて行う信号保安システムに現場機器を増設して試験する際、試験装置を小型化、簡略化して、試験効率を向上を図る。 - 特許庁

This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.例文帳に追加

タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁

To provide an anvil for a hardness testing machine for reducing the irregularity of measurement by attaching a sample support mechanism, which performs measurement even if a measuring person does not lay his hands, to a spot anvil.例文帳に追加

本発明は、測定者が手を添えなくても測定が行える試料支持機構をスポットアンビルに取り付けることにより、測定のばらつきを小さくすることができる硬さ試験機用アンビルを提供することを目的とするものである。 - 特許庁

The on-chip circuit forces and senses voltage in each DRAM storage capacitor, displays each storage capacitor charge leakage rate and enables a pulse testing method for calculating an electric charge transfer rate between a bit line of the DRAM cell and the storage capacitor.例文帳に追加

オン・チップ回路は、個々のＤＲＡＭ記憶キャパシタに電圧をフォースおよびセンスして、個々の記憶キャパシタ電荷漏洩率を表し、ＤＲＡＭセルのビットラインと記憶キャパシタとの間の電荷転送率を求めるパルス・テスト方法を可能にする。 - 特許庁

The testing station 12 includes a rotatable chuck assembly and a spindle assembly attached to the frame, and those are provided with an upper rim and a lower rim rotated to rotate the tire 20 while engaged with a tread of the tire 20.例文帳に追加

この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁

In addition, to obtain responses of the components corresponding to changes in the added operating parameters, the parameter adjuster sets the added parameters to one or a plurality of testing values in response to a command signal from the controller.例文帳に追加

さらに、加えられた動作パラメータの変化に対するこれらのコンポーネントの応答を引き出すために、パラメータ調整器は、コントローラからのコマンド信号に応答して、加えられた動作パラメータを１つまたは複数の試験値に設定する。 - 特許庁

To provide a power supply capable of discharging charges stored in the power supply during testing and maintenance without using large components, and a high-frequency circuit system equipped with the power supply.例文帳に追加

大型の部品を用いることなく、試験や保守時に電源装置に蓄積された電荷の放電を可能にして、作業の安全性を向上させることができる電源装置及びそれを備えた高周波回路システムを提供する。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for an apnea syndrome which detects a respiratory standstill condition or a low respiratory condition with precision which is close to that for the discrimination of the respiratory standstill condition or the low respiratory condition, which is performed by an expert such as a doctor.例文帳に追加

医者等の専門家が行う無呼吸状態もしくは低呼吸状態の判断の精度により近づいた、無呼吸状態もしくは低呼吸状態を検出する無呼吸症候群の検査装置を提供する。 - 特許庁

In an apparatus and a method in which a tilted strand connection part 22 in a small electric component 23 is tested, a testing tool 21 which can be moved simultaneously along two mutually orthogonal exes in a direction at right angels to the direction of a strand is provided.例文帳に追加

小型電気素子における傾斜したストランド接続部を試験するための装置および方法は、ストランドの方向に直交する方向に互いに直交する２軸に沿って同時に移動可能な試験工具を備えている。 - 特許庁

The testing system executes a ground fault test on the plurality of ground fault direction relays 135_1-135_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of the plurality of power distribution lines 102_1-102_3.例文帳に追加

第１乃至第３のスイッチ１１_1〜１１_3の少なくとも１つを開いて複数の配電線１０２_1〜１０２_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、複数の地絡方向継電器１３５_1〜１３５_3の地絡試験を行う。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a characteristic of a magnetic head in which a characteristic of a read element can be tested exactly in the form of a wafer, especially the characteristic of the read element under heating and under cooling can be exactly tested.例文帳に追加

ウエハ段階においてリード素子の特性を的確に試験することを可能とし、とくに加熱下、冷却下におけるリード素子の特性を的確に試験することを可能にする磁気ヘッドの特性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an SRAM device having a configuration for effectively detecting a product, which is small in noise margin and has possibility to cause a malfunction in a market, and the defective connection of one of a pair of read-out bit lines, and to provide a method for testing the SRAM device.例文帳に追加

ノイズマージンが小さく市場で誤動作をする可能性が高い物や、読み出しビット線対の片側の接続不良を有効に検出するための構成を有するＳＲＡＭ装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To solve problems caused by limited assembling space in the case of connecting a clutch and/or transmission capable of automatically operating, that is, for example, the problems such as assembling difficulties, high costs, plenty of man-hours in the case of testing systems.例文帳に追加

オートマチック操作可能なクラッチ及び／又は伝動装置の接続により制限された組み込みスペースにより生じる問題、即ち例えば、組み付け困難性、高いコスト、システムの試験の際の大きな手間といった問題を解消する。 - 特許庁

Thus, it is possible to perform the diversion of an equipment side cable 11 or a case body itself at the time of updating the monitor controller main body 30, and to reduce any design work, job site installing work, or control testing work or the like.例文帳に追加

これにより、監視制御装置本体３０の更新時における機器側ケーブル１１や筐体そのものの流用を可能すると共に、設計作業、現地据付け作業及び調整試験作業等が削減できるようにする。 - 特許庁

The testing station 12 is provided with a rotatable chuck assembly and a spindle assembly attached to the frame, and those are provided with an upper rim and a lower rim rotated to rotate the tire 20 while engaged with a tread of the tire 20.例文帳に追加

この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁

To provide a system, or the like for testing shutter running characteristics that facilitates checking normal or abnormal conditions in running characteristics of a mechanical focal plane shutter without arranging any special members, or the like by an image sensor drivable by an electronic rolling shutter.例文帳に追加

電子ローリングシャッタにより駆動され得る撮像素子を用いて、特別な部材等を配設することなく、メカニカルフォーカルプレーンシャッタの走行特性の正常／不良を容易に確認し得るシャッタ走行特性試験システム等を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 is provided with main body memory circuits 30, 31 storing defective information on the main body memory of the memory to be examined, and auxiliary memory circuits 40, 41 storing defective information on the auxiliary memory of the memory to be examined.例文帳に追加

本発明の半導体試験装置１００は、被試験メモリの本体メモリの不良情報を格納する本体メモリ回路３０，３１と、被試験メモリの予備メモリの不良情報を格納する予備メモリ回路４０，４１とを備える。 - 特許庁

To provide a structure capable of preventing side deviation or local twist of a belt, and preventing drop of the belt between rollers, concerning a belt driving device provided on a vehicle traveling testing machine or the like, for supporting and driving a rotator such as a wheel.例文帳に追加

車輌走行試験機等に備えられ、車輪などの回転体を支持し走行させるベルト駆動装置であって、ベルトの横ズレや局部的なヨレを防止し、更に、ローラ間でのベルトの落ち込みをも防止し得る構造を提案する。 - 特許庁

Article 7 No person other than one who has obtained permission under paragraph (1) of the preceding Article shall manufacture a Class I Specified Chemical Substance; provided, however, that this shall not apply to the case where a person manufactures a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes. 例文帳に追加

第七条　前条第一項の許可を受けた者でなければ、第一種特定化学物質を製造してはならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を製造するときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Screws are embedded in the ALC panel itself, the extraction strength of the screws is measured by a screw extraction testing method, and the degree of deterioration of the ALC panel concerned is estimated according to the relationship between the screw extraction strength and the degree of carbonation.例文帳に追加

ＡＬＣパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ＡＬＣパネルの劣化度を推定することを特徴とする。 - 特許庁

The method for testing the collision of the vehicle comprises a step of colliding the MDB (1) in which a high rigidity protrusion (5c) is disposed lower than a front end (bumper beam 8) of a side frame of a vehicle (6) to be examined, with a front surface of the vehicle to be examined.例文帳に追加

車両の衝突試験方法において、被験車両（６）のサイドフレーム前端部（バンパービーム８）よりも下方に高剛性凸部（５ｃ）を位置させたＭＤＢ（１）を被験車両の前面に衝突させるものとする。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁

To provide a measuring device and a measuring method capable of measuring, simply in a room, the temperature stress by the heat of hydration generated from a concrete structure, concerning a testing device and a method for temperature stress measurement.例文帳に追加

本発明は温度応力測定用試験装置及び方法に関し、コンクリート構造物から発生する水和熱による温度応力を室内で簡便に測定できる測定装置及び測定方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

In the vibration testing method, a head part of a rail at a joint part where rail bonds are together joined is beaten by a beat part so as to cause a vibration approximating to a vibration occurring in the joint part to repetitively occur in the rail when a train passes thereover.例文帳に追加

この振動試験方法は、レールボンドを接合した継目部におけるレールの頭部を連打部によって、列車通過時に前記継目部で発生する振動と近似した振動をレールに繰り返し発生させるように連打する。 - 特許庁

The disaster prevention receiver 1 includes a first test part 15 for testing the operation of a first auxiliary power supply Bt1 provided therein and sending a test signal to the detector power supply 4 via a second signal line Ls2.例文帳に追加

防災受信機１は、自身に設けた第１の予備電源Ｂｔ１の動作試験を行うとともに、第２の信号線Ｌｓ２を介して感知器電源４に対して試験信号を送信する第１試験部１５が設けられている。 - 特許庁