「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(238ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test facility for fire alarm that is suitable for testing an actual operating condition of a fire alarm by visually presenting a realistic condition in the occurrence of fire.例文帳に追加

実際の火災発生状況に近い状況等を視覚的に演出して、火災警報器の実際の作動状況を試験することに適した火災警報器の試験設備を提供すること。 - 特許庁

Three lines (101-103) out of the four lines are used to make connection to a semiconductor testing device (300), and the remaining line (104) is connected to a power supply (VTX) via a terminating resistor (R_VTX).例文帳に追加

４本の配線のうち３本の配線（１０１〜１０３）で半導体試験装置（３００）と接続し、残る１本の配線（１０４）を終端抵抗（Ｒ＿ＶＴＸ）を介して電源（ＶＴＸ）へ接続する。 - 特許庁

This, in turn, allows manufacturing tolerances and alignment tolerances to be relaxed, test times and test complexity to be reduced, and overall manufacturing and testing costs to be reduced.例文帳に追加

このことは、今度は、製造公差や位置合わせ公差を緩和することができ、試験時間や試験の複雑性を減らすことができ、全体的な製造及び試験に関する費用を低減させることができる。 - 特許庁

A switching unit 7 switches in a testing mode an input origin to the control operation unit 3 and an output destination of the control operation unit 3 to a simulator unit 6 inside of the plant monitoring control device.例文帳に追加

そして試験モード時に、切り換え部７により、制御演算部３への入力元および制御演算部３からの出力先を、プラント監視制御装置の内部のシミュレータ部６に切り換える。 - 特許庁

The shear testing device (12) includes a drive mechanism that provides relative movement between an X-Y table (13) to which the substrate (300) is attached and a test tool (100) mounted on a baseplate (20) via a resilient connector (21).例文帳に追加

剪断試験装置（12）は、基板(300)が取付けられるＸ−Ｙテーブル(13)と、弾性コネクタ(21)を介してベースプレート(20)に取付けられた試験ツール(100)との間の相対移動を行う駆動機構を有する。 - 特許庁

To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加

環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a pressure regulating device capable of loading stably a liquid pressure, when executing a pressure test of a test body, and to provide a pressure testing device including the pressure regulating device.例文帳に追加

試験体の耐圧試験を実施する場合において、液体の圧力を安定して負荷させることが可能な圧力調整装置およびこれを備える耐圧試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The coil of the dynamo-electric machine is disposed on the cart system and the coil clamp is disposed on the lifting rail so as to apply the pressing force to the coil to facilitate a testing procedure.例文帳に追加

本カートシステム上に発電電動機械のコイルを配置することができかつ該コイルに押圧力を加えるように持上げレール上にコイルクランプを配置してテスト手順を可能にすることができる。 - 特許庁

Separation of the probe 37 region from the wire bond 38 region prevents the final metal layer pad 16 from being damaged by the probe testing, thereby achieving more reliable wire bonds.例文帳に追加

プローブ３７領域をワイヤボンド３８領域から分離することで、最終金属層パッド１６がプローブ検査によって損傷を受けることが防止され、より信頼性の高いワイヤボンドが可能となる。 - 特許庁

To provide a travel testing device for vehicles having multiple power sources whose driving source has a battery as an energy source, performing mode driving evaluation while changing a driving condition of the driving source.例文帳に追加

駆動源がバッテリーをエネルギー源とする複数の動力源を持つ車両の走行試験装置として、駆動源の運転条件を変化させながらモード運転評価を可能とするものが要望されている。 - 特許庁

By maintaining the total mass flow through several parallel turbine inlet control valves (28) constant, the steam generator pressure is maintained constant, and the inlet pressure regulator is unaffected during inlet control valve testing.例文帳に追加

平行タービン入口制御弁（２８）を流れる全質量流量を一定に保ち、蒸気発生器圧力が一定に維持され、入口制御弁試験中に入口圧力調整器が影響を受けない。 - 特許庁

To provide a cover for a passive sensor operation test which can remarkably reduce a work load by making a cover part be floated using helium gas, and to provide a method for testing a passive sensor operation using the cover.例文帳に追加

この発明は、ヘリウムガスを用いてカバー部を浮き上がらせるようにし、作業負荷を著しく軽減できるパッシブセンサ動作試験用カバーおよびそれを用いたパッシブセンサの動作試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.例文帳に追加

柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tape for wafer processing that has good sensor recognition properties, and also has good productivity and testing accuracy, even if an adhesive layer is thin (≤10 μm), and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

接着剤層が薄い（１０μｍ以下）場合であっても、センサ認識性が良好であり、生産性や検査精度が良好であるウエハ加工用テープ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Namely, in a testing device 3, the sensor module 5 is fixed to a specimen fixing device 340 whose absolute axis is determined, so that the direction of the detection axis of the acceleration sensor 520 becomes the direction of the absolute axis.例文帳に追加

すなわち、試験装置３において、絶対軸が定められた被検体固定装置３４０に、加速度センサー５２０の検出軸の方向を絶対軸方向とするようにセンサーモジュール５が固定される。 - 特許庁

To provide a constitution in which testing pads are separated from an internal circuit after an all lighting test is conducted for the substrate that constitutes a flat panel display of a liquid crystal panel or the like having dedicated pads for the test.例文帳に追加

全点灯試験用の専用パッドを備えた液晶パネル等のフラットパネルディスプレイを構成する基板において、全点灯試験後に試験用パッドが内部回路から切り離される構成とすること。 - 特許庁

To provide a testing device, a high-speed serial controller, and an image processor which don't require preparation of apparatus for error function evaluation when evaluating an error function between connected semiconductors.例文帳に追加

接続された半導体間におけるエラー機能評価を行う際に、エラー機能評価を行うための機器類を用意する必要がないテスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The flexible board circuit wires are provided up to the projected areas 31A, 31B from the circuit structure for propagating low-frequency signals, and these are connected with contact electrodes 27A, 27B for testing at the projected areas 31A, 31B.例文帳に追加

低周波信号が伝搬する回路構成部から突出部３１Ａ，３１Ｂまでフレキシブル基板回路配線を設け、突出部３１Ａ、３１Ｂで検査用のコンタクト電極２７Ａ、２７Ｂと接続する。 - 特許庁

A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.例文帳に追加

プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁

A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested.例文帳に追加

試験用入出力装置３０は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン４０は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a comparator circuit in a semiconductor testing device capable of comparing and measuring by a high-impedance input when an output voltage of an IC to be measured is not more than a rated voltage of a comparator.例文帳に追加

被測定ＩＣの出力電圧がコンパレータの定格電圧以内の場合に、高インピーダンス入力による比較測定を行うことができる半導体試験装置におけるコンパレータ回路を提供する。 - 特許庁

This easily disaggregating paper tube is constituted so that required time up to completely disaggregating becomes 60 minutes or less when performing disaggregation processing by a pulp-disaggregation testing method recorded on JIS P 8220.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｐ ８２２０に記載のパルプ−離解試験方法により離解処理を行った際の、完全に離解するまでの所要時間が６０分以下である易離解性紙管を製造する。 - 特許庁

To provide a portable mobile mold material evaluation system for collecting a minute sample from an actual product structure, processing the minute sample in the field and testing a material.例文帳に追加

実機構造物から微小なサンプル試料を採取し、その場で微小なサンプル試料を加工し材料試験を行うことができる持ち運び可能なモバイル型材料評価システムを提供することである。 - 特許庁

To provide an inexpensive corrosion test method capable of reproducing a corrosion state in an actual environment, and efficiently performing a corrosion test by accelerating corrosion, and dispensing with special testing devices.例文帳に追加

実環境における腐食状態を再現でき、腐食を加速させて効率的に腐食試験を行うことができ、しかも特殊な試験装置を必要としない安価な腐食試験方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.例文帳に追加

Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.例文帳に追加

診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁

The base paper for the corrugated cardboard obtained by the method has ≥50 sec smoothness based on J Tappi paper pulp testing method No. 5, and ≥20% glossiness based on JIS-P-8142.例文帳に追加

Ｊ Ｔａｐｐｉ紙パルプ試験方法Ｎｏ．５に準ずる平滑度が５０秒以上で、かつＪＩＳ−Ｐ−８１４２に準ずる光沢度が２０％以上であることを特徴とする段ボール原紙。 - 特許庁

This net for construction work is knitted by using synthetic fibers having ≥80% tenacity retention after irradiation in a sunshine weatherometer of an apparatus for testing of weather resistance for 500 h and ≤3,300 dtex fineness.例文帳に追加

耐候試験機サンシャインウェザーメーター５００時間照射後に強力保持率が８０％以上である繊度が３３００ｄｔｅｘ以下の合成繊維を用いて製編された建設工事用ネットである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.例文帳に追加

ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.例文帳に追加

データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁

The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.例文帳に追加

試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁

To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加

本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加

対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁

To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.例文帳に追加

ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

The testing of the sleep disorder is achieved in high repeatability, and the animal model of the sleep disorder is made by controlling the flow rate of each gas fed to the rearing box in good accuracy.例文帳に追加

また、飼育器内に供給される各気体の流量を精度良くコントロールすることによって、再現性の高い睡眠障害実験および睡眠障害モデル動物の作製を実現できる。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

The utility cartridge 20 is composed of a computer readable magnetic storage medium 22 for executing the testing operations 70, 84 and 90, and a nonmagnetic cleaning medium 24 for cleaning a drive head 14.例文帳に追加

ユーティリティカートリッジ（２０）はテスト動作（７０，８４，９０）を実行するコンピュータが読み取り可能な磁性記憶媒体（２２）およびドライブヘッド（１４）を清掃するための非磁性のクリーニング媒体（２４）からなる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加

高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.例文帳に追加

部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁