「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(238ページ目) - Weblio英語例文検索

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

The testing of the sleep disorder is achieved in high repeatability, and the animal model of the sleep disorder is made by controlling the flow rate of each gas fed to the rearing box in good accuracy.例文帳に追加

また、飼育器内に供給される各気体の流量を精度良くコントロールすることによって、再現性の高い睡眠障害実験および睡眠障害モデル動物の作製を実現できる。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

The utility cartridge 20 is composed of a computer readable magnetic storage medium 22 for executing the testing operations 70, 84 and 90, and a nonmagnetic cleaning medium 24 for cleaning a drive head 14.例文帳に追加

ユーティリティカートリッジ（２０）はテスト動作（７０，８４，９０）を実行するコンピュータが読み取り可能な磁性記憶媒体（２２）およびドライブヘッド（１４）を清掃するための非磁性のクリーニング媒体（２４）からなる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.例文帳に追加

高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.例文帳に追加

部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁

In an apparatus for testing the force for shearing a welding element of solder or gold for bonding a conductor from a substrate, the welding element has a diameter of 50-100 μm.例文帳に追加

導電体を接合するためのはんだまたは金の溶着体を基板から剪断させるための力を試験するための装置で、溶着体は５０−１００マイクロメートルの範囲の直径を有する。 - 特許庁

In this load testing equipment 10, foundation concrete 14 is allowed to subside while the ground 12 is compressed and deformed by allowing load to act on the foundation concrete 14 in a vertical lower direction by a plurality of hydraulic jacks 20.例文帳に追加

載荷試験装置１０では、複数の油圧ジャッキ２０が基礎コンクリート１４に鉛直下方への荷重を作用させることで、地盤１２が圧縮変形されつつ基礎コンクリート１４が沈下される。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.例文帳に追加

試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.例文帳に追加

薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁

The reactor 20 for power includes an iron-core main leg 24 wound with the testing wiring 26 in the reactor wiring 21, an iron core-side leg 22 and a yoke 23 retained at a common end of each of these legs.例文帳に追加

電力用リアクトル２０は、リアクトル巻線２１に試験用巻線２６を巻き込んである鉄心主脚２４と、鉄心側脚２２と、これらの脚の共通の端部に保持される継鉄２３とを備える。 - 特許庁

The bacteria detection part 17 is arranged to be inclined in the microbiological testing chip 10 so that a normal vector of the bacteria detection part 17 on an incident surface and the optical axis of the excitation light are not parallel.例文帳に追加

菌体検出部１７の入射面における法線ベクトルと励起光の光軸が平行とならないように、微生物検査チップ１０内において菌体検出部１７を傾斜させて配置する。 - 特許庁

To provide a biaxial tensile testing machine for enabling a tensile test in four directions, along two orthogonal axes by a drive means, such as one hydraulic cylinder, and preventing a test piece from being displaced.例文帳に追加

１台の油圧シリンダ等の駆動手段によって直交する二軸に沿った四方向への引張試験が可能となり、試験片の位置が変動することがない二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system devised so as to be capable of efficiently pinpointing a part where a fault occurs in a system being a test object including a plurality of components, on the occasion of the occurrence of the fault.例文帳に追加

複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位を特定することができるように工夫された試験装置を提供する。 - 特許庁

The data to be written in the electronic tag labels 20 are divided, and by writing the data in the electronic tag labels 20 by the plurality of readers 151A to 151C, it is possible to shorten a reading/writing time, and to quicken a testing speed.例文帳に追加

電子タグラベル２０書き込むべきデータを分割し、複数のリーダ１５１Ａ〜１５１Ｃで電子タグラベル２０に書き込むことにより読み書き時間を短くし、検査速度の高速化を図った。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.例文帳に追加

粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.例文帳に追加

電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁

To achieve the size reduction of a power converter testing device for executing a loading test by allowing a power converter to simulate motor behavior instead of using a large motor whose mounting and replacement are troublesome, as a load.例文帳に追加

大型で取り付けや交換が面倒なモータを負荷とする替わりに電力変換器にモータの挙動を模擬させて負荷試験を行う電力変換器試験装置の小型化を実現する。 - 特許庁

Namely, in a testing device 3, the sensor module 5 is fixed to a specimen fixing device 340 whose absolute axis is determined, so that the direction of the detection axis of the gyro sensor 520 becomes the direction of the absolute axis.例文帳に追加

すなわち、試験装置３において、絶対軸が定められた被検体固定装置３４０に、ジャイロセンサー５２０の検出軸の方向を絶対軸方向とするようにセンサーモジュール５が固定される。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of keeping truck levelness even if braking force or external force or disturbance input acts on a test truck, and ensuring the straight-ahead stability of the test truck.例文帳に追加

試験台車に制動力や外力や外乱入力が作用しても台車水平度を保持し、試験台車の直進安定性を確保することができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor memory device, which detects a minute defect in an SRAM memory cell without finely controlling a voltage or excessively increasing measuring time.例文帳に追加

電圧を細かく制御させることなく、かつ測定時間を極端に増大させることなく、ＳＲＡＭメモリセルの微小欠陥を検出可能な半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system, method and computer readable medium of instructions, which are useful for determining whether an evaluation testing method or device is clinically equivalent to a reference test method or device.例文帳に追加

評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁

The jaw heating element of the handpiece 12 with which a thermal tissue operation system 10 is provided is consecutively tested by applying a testing heater power signal to the jaw heating element betweentimes of individual thermal tissue operations.例文帳に追加

熱組織手術システム１０の備えるハンドピース１２のジョー加熱素子は、個別の熱組織手術の合間に試験用ヒーター電力信号をジョー加熱素子に印加することにより継続的にテストされる。 - 特許庁

To provide a convenient in vitro membrane protein expression system using an inhibitor of drug efflux pump proteins and heterologous cells for testing other drug resistance-relating cell membrane proteins.例文帳に追加

薬剤排出ポンプ蛋白質の阻害物質や異なる種由来の薬剤耐性に関連する他の細胞膜蛋白質を試験するための細胞を用いた簡便なin vitro膜蛋白質発現系を提供する。 - 特許庁

To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.例文帳に追加

既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices.例文帳に追加

同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the parts to be inspected are colored on the prepared layout drawing, and a file 5 of visually-inspected parts specifying drawings for each testing machine is prepared.例文帳に追加

更に、試験機別目視検査対象部品一覧３に従って、作成されたレイアウト図上で目視検査の対象となる部品が色塗りされ、試験機別目視検査部品指定図ファイル５が作成される。 - 特許庁

To provide a strength testing apparatus having a configuration for obtaining the stagnation of work and an experimental result as the result at a work field by achieving the strength experiment at an actual bar arrangement field.例文帳に追加

実際の配筋現場での強度実験を可能にすることにより作業の停滞や実験結果を作業現場での結果として得られる構成を備えた強度試験装置を提供すること。 - 特許庁

Thus the use of the voltage value, when resistance is connected in parallel with the electric cell to apply current enables accurate testing of connection status, even if minute disconnections are found on the cell voltage sensing line.例文帳に追加

電池電圧検出線に微小断線があっても、単電池と並列に抵抗を接続し電流を流したときの電圧値を用いるので、精度よく接続状態の検査が可能である。 - 特許庁

To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.例文帳に追加

高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lamp for testing weather and light resistant property capable of reducing estrangement between deterioration due to sunlight including energy of a visible area with 500 nm as a center and a result of the weather and light resistant property test, at the weather and light resistant property test of a sample.例文帳に追加

試料の耐候光性試験において５００ｎｍを中心とした可視域のエネルギーを含む太陽光による劣化と耐候光性試験の結果との乖離を低減することができること。 - 特許庁

A protection device 42 is interposed between the input shaft 31a of the testing object 31 and and an output shaft 32a of the motor 32 for supplying the simulation torque for an engine, without using an expensive torque pick-up.例文帳に追加

特に高価なトルクピックアップを用いることなく、供試体３１の入力軸３１ａと、エンジンの模擬動力供給用モータ３２の出力軸３２ａとの間に保護装置４２を介在させる。 - 特許庁

Thus, no voltage is hereinafter applied to the semiconductor device, thereby to avoid thermal runaway thereof and to prevent damage of the semiconductor device and the burn-in testing apparatus resulting from the thermal runaway.例文帳に追加

これにより、その半導体装置には、以後、電圧が印加されなくなるため、その熱暴走が回避され、熱暴走に起因した半導体装置やバーンイン試験装置の損傷が回避されるようになる。 - 特許庁

To provide a smoke sensor and a smoke sensor testing method which safely and easily performs general tests of a fire alarm system having the smoke sensor attached to a high ceiling.例文帳に追加

加煙感知器が高天井に設置された火災警報システムの総合試験を地上で安全かつ容易に行うことができる加煙感知器および加煙感知器の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.例文帳に追加

ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing system which can reduce labor- hours and manhours when a test is performed to complaint call and enables quick acquisition and unified control of test results.例文帳に追加

苦情呼に対して試験を行う際の手間や工数を低減することができ、試験結果の迅速な入手や統一的な管理を行うことができる加入者回線試験システムを提供すること。 - 特許庁

The test kit comprises a liquid impermeable support 12. a test part 13 containing a reagent for testing the humor components, and a treating part 14 which contains a viscosity reducing reagent and into which the humor components permeate.例文帳に追加

液体不浸透性の支持体１２と、体液成分検査用試薬を含有する検査部１３と、粘性低減試薬を含有し体液成分が浸透する処理部１４とを有する検査具とする。 - 特許庁

To align a liquid crystal panel by considering difference in thermal expansion contraction between liquid crystal panels, when testing a plurality of liquid crystal panels of the same specification.例文帳に追加

同一仕様の複数の液晶パネルを点灯検査するときに，液晶パネル間で熱膨張による伸縮量に違いがあっても，その違いを考慮して液晶パネルをアライメントできるようにする。 - 特許庁

If an operational fault is confirmed by a test, the layout diagram corresponding to its testing content is collated to the contrast image, and a position in which a mismatch occurs is displayed on a display means 7.例文帳に追加

試験により動作異常が確認された場合に、その試験内容に対応した上記レイアウト図と上記電位コントラスト画像とを照合し、不一致が発生した箇所を表示手段７に表示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device capable of selecting automatically an input terminal, a testing object, on the semiconductor device side connected to a tester outputting high-frequency noise.例文帳に追加

試験対象であって、高周波ノイズを出力する試験器と接続される半導体装置側の入力端子の選択を自動的に行うことが可能な半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁