Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
The package substrate 300 includes pads 303, 903 arranged on the upper surface 3a, a pad 904 arranged on the lower surface 3b, and an exclusive pad 905 for testing arranged on the lower surface 3b.例文帳に追加
パッケージ基板300は、上面3aに配置されたパッド303、903と、下面3bに配置されたパッド904と、下面3bに配置されたテスト専用パッド905と、を備える。 - 特許庁
The testing device 10 icnludes a guide member 28, into which a groove 32 to guide a shaft 38 of a test tool 36 along a vertical direction of a moving direction of a weight 18 is formed.例文帳に追加
試験装置10は、試験治具36の軸部38を錘18の移動方向である鉛直方向に沿って案内する溝部32が形成されたガイド部材28を備える。 - 特許庁
When the water level sensor 2 measures a water level in the water storage tank 1 and informs of a reduced water warning, the water tank device opens the testing valve 5 to start water supply from a second sub water flow path 32 to the water storage tank 1.例文帳に追加
水位センサ2が貯水槽1の水位を計測し、減水警報を報知すると、試験弁5を開けて第2のサブ流水路32から貯水槽1への給水を開始する。 - 特許庁
Then, a mask layer 103 is formed on the testing substrate 101 where the recesses are formed and a plurality of openings 104 are formed in the mask layer 103.例文帳に追加
次に、各凹部が形成されたテスト基板101の上に、マスク層103が形成された状態とし、加えて、マスク層103に複数の開口部104が形成された状態とする。 - 特許庁
To provide a common terminal and an inputting means capable of using in common a writing function and a testing function in order to satisfy a requirement of the reduction of the number of pads for reducing a chip size.例文帳に追加
チップサイズを小さくするためにはパッド個数の減少が望まれており、路書き込み機能と、テスト機能とを共通に使用できる共通端子及び入力手段を提供する。 - 特許庁
To provide a testing cap used in a plurality of cases by changing the depth and the claw width of a water injection port even in different kinds of water injection ports, while used in a time when applying pressure from the water injection port of a radiator.例文帳に追加
ラヂエーターの注水口から圧力をかける時に用いて、異種の注水口でも、注水口の探さと爪幅を変化させて複数に利用できるテスト用キャップの提供 - 特許庁
To provide a multiaxial testing machine for performing a sufficient oscillation test even with an extremely small amount of oil used for oscillating a specimen in a horizontal direction under pressurization.例文帳に追加
加圧下にある試験片に水平方向に加振するのに、使用する油量が極めて少なくても十分な振動試験を行わせることができる多軸試験機を提供する。 - 特許庁
The water permeability comparing and experiencing device 3 makes it possible to compare the water permeability of respective testing devices by putting water into the two test devices D1, R2 and peeping the change rates by the water permeated with lapse of time.例文帳に追加
透水性比較装置は、2つの試験器D1,R2 に水をいれ、その水の経時的な透水による変化量を覗き見て各試験器の透水性を比較するようになされたものとする。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device provided with a bus interface device applicable easily to transfer data continuously to a plurality of optional resistors out of a resistor group for conducting data transfer.例文帳に追加
データ転送を行うレジスタ群の中で任意の複数レジスタに対する連続的なデータ転送が容易に適用可能なバスインターフェース装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To accurately measure the friction force inherent in an elastic material sample as objective data with the high correlation with the friction force of a product tire or the like, in testing the friction characteristics of the elastic material sample.例文帳に追加
弾性材料サンプルによる試験をもって、そのサンプルに固有の摩擦力を、製品タイヤ等のそれと高い相関をもつ客観データとして正確に測定することを可能とする。 - 特許庁
This tire testing device 1 can detect the occurrence of exfoliation in the tread splice part 3b, at a stage prior to burst through of the detection of the temperature change in the surface temperature of the tread part 3a.例文帳に追加
タイヤ試験装置1は、トレッド部3aの表面温度の温度変化を検出することで、バーストする前の段階でトレッドスプライス部3bの剥離の発生を検出することができる。 - 特許庁
To provide a test bottle which can be easily detected while the function of testing a bottle detecting machine is performed, and to provide a labelling apparatus which can surely and easily detect such the test bottle.例文帳に追加
瓶検査機のテストという機能を果たしつつ、容易に検出可能なテスト瓶、及び、そのようなテスト瓶を確実にかつ容易に検出するラベル貼付装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and device for transferring a semiconductor device between trays used for testing the semiconductor device, by using a buffer tray for storing the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置を収納するためのバッファトレイを用いて前記半導体装置をテストするために用いられるトレイの間で、前記半導体装置を移送する方法と装置が開示される。 - 特許庁
An adjusting operator voices "Testing a microphone now." in front of the microphone 33 and then the input voice is converted into a digital voice signal, which is temporarily stored on a HDD 13.例文帳に追加
調整作業者がマイク33に向かって「ただいまマイクのテスト中」などと発声すると、その入力音声がデジタル音声信号に変換されてHDD13に一旦記憶される。 - 特許庁
To provide a method and system of testing the slider used in a head gimbal assembly and a disk drive to prevent defects in the manufacturing steps of a slider and cost increase in assembling steps.例文帳に追加
スライダの製造工程での欠陥を防ぎ、組み立て工程でのコストの増加を防ぐために、ヘッドジンバルアセンブリ及びデイスク装置に使用するスライダの試験方法及びシステムを提案する。 - 特許庁
This game machine is provided with a testing connector 47 capable of monitoring signals transmitted on a control board 31 which processes with detection signals and solenoid driving signals for electro-driven premium devices, etc.例文帳に追加
入賞検出信号や電動役物のソレノイド駆動信号等が伝送される遊技制御基板31上において、伝送される信号をモニタ可能な試験用コネクタ47を取付ける。 - 特許庁
To provide a method of testing and verifying total functionality in an actual application, by mounting a new software module depending on a newly established protocol version.例文帳に追加
新しく確立されたプロトコル・バージョンに依存する新しいソフトウェアモジュールを実装して、実際のアプリケーションで全体的な機能性を試験および検証する方法および装置を提供する。 - 特許庁
In the case of testing the functions of an IP core 33, test signals are supplied for the IP core 33 via a selector 41, and its output signals are transferred to the signal checker 45.例文帳に追加
IPコア33の機能試験を行う場合には、試験信号をセレクタ41を介してIPコア33に供給し、その出力信号を信号チェック器45に転送する。 - 特許庁
To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform).例文帳に追加
試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつAC試験条件(波形)の改善が可能とする。 - 特許庁
This testing device of the PLL circuit having a phase comparator 1, a loop filter 2, a VCO 3 and a prescaler 4 is equipped with the first switch 11 and the second switch 12.例文帳に追加
この発明は、位相比較器1、ループフィルタ2、VCO3、およびプリスケーラ4を有するPLL回路のテスト装置であって、第1スイッチ11と、第2スイッチ12とを備えている。 - 特許庁
The test bottle 1 is used for testing bottle detecting apparatuses 3 and 5, and a fluorescent substance emitting fluorescence when it is irradiated with UV rays is provided on the outer surface of the bottle.例文帳に追加
本発明のテスト瓶1は、瓶検査装置3,5のテストのために使用されるものであって、紫外線が照射されたときに蛍光を発する蛍光物質を瓶の外表面に有する。 - 特許庁
A wire harness inspection device has a continuity test jig 7 for testing continuity of connectors 3 of a wire harness 2, a pass tape issuing apparatus 10, and an urethane sheet detecting jig 11 on an inspection table 6.例文帳に追加
検査作業テーブル6上に、ワイヤハーネス2のコネクタ3の導通検査を行なう導通検査治具7、合格テープ発行装置10、ウレタンシート検出治具11を備えている。 - 特許庁
To provide a method and a device for testing a heavy load in an encryption system where a load is freely applied to server authentication and encryption processing so as to easily and properly test a server.例文帳に追加
サーバの認証および暗号化処理に対して負荷を自在にかけてサーバを簡単かつ適確に試験し得る暗号化システムにおける高負荷試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
Also, even when internal configuration is unknown, the memory testing program can be used universally for various memories by estimating its internal configuration.例文帳に追加
また、内部構成が不明である場合であっても、その内部構成を推定することを可能とすることで、各種メモリに対して、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することができるようになる。 - 特許庁
An integrated circuit, where a wiring electrode 103 is formed on a circuit substrate 101 via an insulation film 102 and an insulation protection film 104 and the like are formed on it, is to be a testing object.例文帳に追加
回路基板101上に絶縁膜102を介して配線電極103が形成され、その上に絶縁保護膜104などが形成された集積回路が試験対象となる。 - 特許庁
By changing the program configurating from the memory element 21 to the FPGA 12 to flexible, the device body A is operated in a hardware constitution proper for testing devices B to be measured.例文帳に追加
記憶素子21からFPGA12にコンフィギュレーションするプログラムをフレキシブルに変更することで、装置本体Aを被測定デバイスBの検査に適したハード構成にて動作させる。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device enabling a delay adjusting width of a deskew circuit to flexibly cope with a skew, by programmably adjusting the timing of the clock signal.例文帳に追加
クロック信号のタイミングをプログラマブルに調整することにより、スキューに対してデスキュー回路の遅延調整幅を柔軟に対応させることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for testing an internal bus capable of effectively performing a test for the internal bus of a semiconductor integrated circuit without requiring a complicated circuit.例文帳に追加
複雑な回路を必要としないで、半導体集積回路の内部バス試験を効率よく実行することのできる内部バス試験装置及び内部バス試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device and its correcting method which can correct dispersion of measurement data between sites (sockets) conducting simultaneous measurement and devices and its correcting method.例文帳に追加
本発明は、同時測定をおこなうサイト(ソケット)間及び装置間の測定データのバラツキを補正して高精度測定ができる半導体試験装置とその補正方法を提供する。 - 特許庁
The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.例文帳に追加
前記トレッド溝4を形成した試験片3を作成する試験片作成工程と、該試験片3を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁
To provide a penetration testing machine automatically executing operation processing such as a conversion N-value operation or the like having different coefficients used for operation in accordance with soil.例文帳に追加
土質に応じて演算に用いる係数が異なる換算N値演算等の演算処理を自動的に行う貫入試験機および換算N値の自動算出方法の提供。 - 特許庁
To provide a leak testing method that can applied to various sized vessels or various contained materials, when the contained component is a liquid, and to provide an apparatus.例文帳に追加
収容成分が液体である場合に、多様な大きさの容器に対してまた多様な収容材料に対して適用し得るようなリークテスト方法および装置を提供すること。 - 特許庁
To perform wedge operation separately in tension testing and tension anchoring with simple constitution of arranging an elastic resistor between a presser board 4 and an anchor head 7.例文帳に追加
抑え盤4とアンカーへッド7の間に弾性抵抗体6を配置するという簡単な構成によって、緊張試験時と、緊張定着時のクサビの動作を区別して行わせることができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor device wherein measurement accuracy can be improved when a resistance value of a resistance element formed in a semiconductor chip is measured, and to provide its testing method.例文帳に追加
本発明は、半導体チップに形成された抵抗素子の抵抗値を測定する際の精度を向上させることができる半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing an input circuit in the semiconductor integrated circuit for inputting a data input signal having a short pulse width.例文帳に追加
短パルス幅のデータ入力信号を入力する半導体集積回路内の入力回路の試験を行うことができる半導体集積回路を提供することを課題とする。 - 特許庁
The low or medium speed input and output circuit is more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.例文帳に追加
中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、JTAGバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加
仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁
The alcohol testing device 10 includes a database of persons to be tested containing face image feature data and ID information, an ID inputting device 18, an alcohol detector 22, and a digital camera 28.例文帳に追加
アルコール検査装置10は顔画像特徴データとID情報を含む被験対象者データベースと、ID入力装置18と、アルコール検知器22と、デジタルカメラ28を備える。 - 特許庁
To provide a vane shear testing device attaining measurement of high accuracy by providing a torque meter at a part uninfluenced by the load of a rod.例文帳に追加
本発明は、ロッドの荷重に影響を受けない個所にトルクメーターを設けることにより精度の高い測定を可能とするベーンせん断試験装置を提供することを目的とするものである。 - 特許庁
To provide a noise-waveform-accompanied driver input generating method for a semiconductor testing device, allowing the evaluation of noise resistance by applying an input waveform accompanied by noises to a measuring device.例文帳に追加
ノイズを伴う入力波形を測定デバイスに印加し、ノイズ耐性評価を実現させることができる半導体試験装置のノイズ波形を伴うドライバ入力発生方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method and device for testing accelerated weatherability, which eliminates an effect from various kinds of requirements other than photoirradiation of accelerated weatherability and has high accuracy and reproducibility.例文帳に追加
促進耐候性試験の光照射以外の各種の要件からの影響をなくし、精度と再現性の良い促進耐候性試方法、及び促進耐候性試験装置を提供すること。 - 特許庁
Relative positional shifts of the projection images SPI with respect to a frame pattern on the testing substrate 91 are also measured based on the images acquired by the photographing, and the shifts are corrected.例文帳に追加
また、撮影により取得された画像に基づいて、試験用基板91上の枠パターンに対する投影像SPIの相対位置のずれを計測し、そのずれを補正する。 - 特許庁
To provide a tandem type image forming device with which deterioration in testing precision of image forming function due to intervals between reference images being narrowed within each reference pattern can be decreased.例文帳に追加
各基準パターン像内における基準像間の間隔を狭めることに起因する作像性能の試験精度の悪化を軽減することができるタンデム式画像形成装置を提供する。 - 特許庁
As for the flip-flop to be input with the output of the selecting circuit, a polarity of the output is normal rotation polarity to the normal data and is reversal rotation polarity to the scan testing data.例文帳に追加
その選択回路の出力が入力されるフリップフロップは、出力の極性が、通常データに対しては正転極性であり、スキャンテスト用データに対しては反転極性である。 - 特許庁
An OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) waveform is acquired for each wavelength with testing lights of wavelengths of λ1, λ2, ..., λn, and an OTDR waveform of reference light λ0 different from all of them is acquired.例文帳に追加
λ1,λ2,…,λnの波長の試験光によりOTDR波形を各波長ごとに得て、さらに、これらのいずれとも異なる基準光λ0のOTDR波形を得る。 - 特許庁
The testing substances react together using the polymer as a catalyst and a compound generated by the hydrolysis of the substances is measured, as a result, the cyclic amide compound can be measured.例文帳に追加
該ポリマーを触媒として比検定物質を反応させ、比検定物質の加水分解によって生成された化合物を測定することにより、環状アミド化合物が測定できる。 - 特許庁
To provide a circuit inspection device, a semiconductor integrated circuit, and a memory macrocell, for circumventing a memory macrocell from stopping propagation of scan data in scan pass testing using a simple circuit.例文帳に追加
スキャンパステスト時にメモリマクロセルでスキャンデータの伝搬が阻止されてしまうことを、簡単な回路で回避する回路検査装置、半導体集積回路およびメモリマクロセルを提供する。 - 特許庁
To realize an antenna accommodating apparatus which enables a performance test of an antenna means such as an antenna for receiving to be easily performed and an antenna testing system using the antenna accommodating apparatus.例文帳に追加
受信用アンテナ等のアンテナ手段の性能検査を簡易に行うことを可能とするアンテナ収容装置およびアンテナ収容装置を用いたアンテナ検査システムを実現する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for testing weatherability of images, which can simulate compositely and accurately the light fastness and gas resistance of images, such as ink jet recorded image.例文帳に追加
インクジェット記録画像等の耐光性及び耐ガス性を複合的、かつ正確にシミュレートすることが可能な画像耐候性試験方法及び画像耐候性試験装置を提供すること。 - 特許庁
Protein having the glycoalkaloid biosynthase activity of a plant belonging to the genus Solanaceae such as potato, and a method for producing and testing a new organism by using a gene encoding the protein are provided.例文帳に追加
バレイショ等のナス科植物のグリコアルカロイド生合成酵素酵素活性を有するタンパク質、及び該タンパク質をコードする遺伝子を用いて新規の生物を作成・検定する方法。 - 特許庁
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