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Testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14405



例文

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

A substrate 206 for temperature characteristic inspection is constituted by a receiving side signal generator 12 using self-testing function incorporated IC 17, an error detector 13 and a transmitting side signal generator 14.例文帳に追加

セルフテスト機能内蔵IC17を用いたる受信側信号発生器12、エラー検出器13および送信側信号発生器14により、温度特性検査用基板206を構成する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a shock nearly equivalent to that of a fall test to a specimen with high reproducibility without increasing the height of the device.例文帳に追加

装置の高さを大きくすることなく、落下試験と略等価といえる衝撃を高い再現性をもって供試体に加えることが可能な衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method by which reliable diagnosis of a function of a tank ventilation valve between an internal combustion engine and a fuel vapor tank can be made attainable regardless of fuel components of a recovery gas.例文帳に追加

回収ガスの燃料成分に係わり無く、内燃機関と燃料蒸気タンクとの間のタンク排気弁の機能の信頼性のある診断を可能にする試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.例文帳に追加

試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁


例文

To provide a novel technique capable of testing the slipperiness of a container under a test condition close to holding by fingers and utilizing the data of the test as highly reliable data.例文帳に追加

人指による把持に近い試験条件で容器の滑り性を試験することができ、かつ、その試験のデータを信頼性の高いデータとして利用すること可能な新規な技術を提案する。 - 特許庁

To provide particular performance data that are not generally obtained by a large-scale integrated testing method by evaluating the performance characteristic of each memory cell in particular about a random access memory cell.例文帳に追加

ランダム・アクセス・メモリ・セルに関し、特に、個々のメモリ・セルの性能特性を評価し、それによって、一般に大規模統合テスト方法では得られない特定の性能データを与える。 - 特許庁

To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.例文帳に追加

試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁

To significantly shorten the testing time, without having to perform metering (carrying) test from a metering initial value (all zero) up to overflow, in an electronic watthour meter that performs overflow test.例文帳に追加

オーバーフロー試験を行う電子式電力量計において、計量初期値(オール0)からオーバーフローまでの計量(桁上げ)試験を行うことなく、試験時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

例文

When the control mode is to be changed, the feedback and target value signals maintain complete continuity, thus completely eradicating anxiety where the material- testing machine generates shock.例文帳に追加

制御モードの切換に際してフィードバック信号と目標値信号とが共に完全な連続性を維持することから、材料試験機がショックを発生するおそれが完全に払拭されている。 - 特許庁

例文

To provide a tire curbstone run-over testing method and device that can dispense with a plurality of test vehicles, facilitate the maintenance, and prevent a damage in a measuring apparatus.例文帳に追加

複数台の試験車を不要にすると共にメンテナンスを容易にし、かつ測定機器に対する損傷を防止することが可能なタイヤ縁石乗り越し試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A test apparatus to be an object of calibration includes a socket board 32 with a plurality of connector pins Ps to which a DUT is fixed directly or indirectly during a period of testing.例文帳に追加

キャリブレーションの対称となる試験装置は、試験時においてDUTが直接的または間接的に装着される複数のコネクタピンPsを有するソケットボード32を備える。 - 特許庁

To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.例文帳に追加

半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良(シュート等)を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁

In advance of testing the semiconductor device, the relation between the noise quantity and the delayed time is determined by using an LSI 10 for evaluation having a delay measuring circuit 11 and a noise generating circuit 12.例文帳に追加

半導体装置の試験にあたって、遅延測定回路11とノイズ発生回路12とを有する評価用LSI10を用いて、ノイズ量と遅延時間の関係とを求めておく。 - 特許庁

To provide a device and a method for testing a magnetic recording medium, by which an environment inside the magnetic disk drive is reproduced with higher fidelity by using particles which are finer than the conventional particles.例文帳に追加

従来よりも微細な粒子を用いて、磁気ディスク装置内の環境をより忠実に再現することができる磁気記録媒体の試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

To identify new polymorphism lowering a drug metabolism activity of CYP3A4 and to provide a method for testing related to the drug metabolism activity using the polymorphism as an index.例文帳に追加

CYP3A4の薬物代謝活性を低下させる新たな多型を同定し、該多型を指標とした薬物代謝活性に関する検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The testing device 20 stores the archive 13a and the archive managing file 13b in a temporary directory 21 and stores a file, with which the archive 13a is expanded, in a product directory 22.例文帳に追加

試験装置20は、テンポラリディレクトリ21にアーカイブ13aとアーカイブ管理ファイル13bとを格納し、アーカイブ13aを展開したファイルを製品ディレクトリ22に格納しておく。 - 特許庁

To provide an electronic component thrusting apparatus capable of quickly contacting a test objective electronic component with a testing socket at an appropriate pressure, and an IC handler provided with the thrusting apparatus.例文帳に追加

検査対象とする電子部品を検査用ソケットに対して適正な圧力で迅速に当接させることのできる電子部品の押圧装置、及び該押圧装置を備えるICハンドラを提供する。 - 特許庁

A reflectivity correcting means 14 outputs the correction data D18 to the test light intensity setting means 12 on the basis of reflectivity sampling data D17 acquired from a testing device 3A.例文帳に追加

反射率補正手段14は検査装置3Aから得られる反射率サンプリングデータD17に基づき補正データD18を検査光強度設定手段12に出力する。 - 特許庁

To provide a method for testing a driving noise of road paving materials, which can measure the driving noise for a plurality of test samples of the road paving materials in a short time at low cost.例文帳に追加

複数の道路舗装材の試験サンプルに対して短時間で、かつ低コストで走行騒音の測定を行なえるようにした道路舗装材の走行騒音試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simplified and more rapid method of developing solutions that mitigate shadow corrosion, thereby potentially saving years of expensive in-reactor testing.例文帳に追加

シャドウ腐食を軽減し、それによって、何年にも及び、かつ費用のかかる炉内試験を不要にする可能性を秘めた解決方法を開発する、より迅速で簡略化した方法を可能とする。 - 特許庁

To achieve a semiconductor-testing device for speedily determining whether a semiconductor is appropriate, based on a difference between a positive-electrode voltage from a positive electrode amplifier and a negative-electrode voltage from a negative electrode amplifier.例文帳に追加

正極アンプからの正極電圧と負極アンプからの負極電圧との差分に基づいての良否判定を高速に行なう半導体試験装置を実現することにある。 - 特許庁

To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加

試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁

To improve product yield by performing the optimization of temperature distribution on the surface of a metallic mold in a short time and fully excluding a testing shot process, when the metallic mold for casting is preheated.例文帳に追加

鋳造用金型を予熱する際の、金型表面の温度分布の最適化を短時間で行い、捨て打ち工程を完全に排除して、製品歩留まりの向上を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a determination can be made about a frequency of an output pulse of a class-D amplifier within a short required time while utilizing a semiconductor testing apparatus.例文帳に追加

半導体試験装置を利用して、短い所要時間でD級増幅器の出力パルスの周波数に関する判定を行うことが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To perform a simple and efficient test by facilitating formation of a test vector, when testing the operation state of an electronic control system having a plurality of electronic control units.例文帳に追加

複数の電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験するにあたり、テストベクタの作成を容易なものとして、簡便且つ効率的に試験を行えるようにする。 - 特許庁

A semiconductor wafer, which is to be tested comprises test wirings 4 and 5 so formed on dicing lines 3 as to correspond to the lines of chips 2, and testing terminals 6 and 7 connected to the test wirings 4 and 5, respectively.例文帳に追加

被試験半導体ウェハは、各チップ2の列に対応してダイシングライン3に形成されたテスト配線4,5と、それぞれテスト配線4,5に接続されたテスト端子6,7とを備える。 - 特許庁

The testing chip 10 comprises a chip body 12, a conductor 16 provided on the chip body 12, and the three connection electrodes 21, 22 and 23 connected to the conductor.例文帳に追加

試験用チップ10は、チップ本体12と、チップ本体12上に設けられた導電体16と、導電体に接続された三つの接続電極21,22,23と、を備えている。 - 特許庁

To execute the simulation of sensors by using a simulated target reproducing the motion of an actual target more faithfully, when testing a target information processing device connected to plural different sensors.例文帳に追加

複数の異なるセンサを接続する目標情報処理装置のテストを行う場合に、実目標の動きをより忠実に再現した模擬目標を用いることでセンサの模擬を行う。 - 特許庁

The device and method are usable in administering a small amount of test material to an animal body such as plant or reptile and testing it for availability as a crop protecting agent.例文帳に追加

この装置および方法は少量の試験物質を植物または虫類のような生物体に投与し作物保護剤としてのその有用性を試験するのに使用することができる。 - 特許庁

To provide a method of testing a semiconductor chip with a small chip area and a semiconductor wafer used for manufacturing the semiconductor chip which can prevent a short circuit between probes.例文帳に追加

プローブ針同士の短絡を抑制でき、かつ小さいチップ面積を有する半導体チップと、この半導体チップの製造に用いられる半導体ウエハのテスト方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a terminal setting circuit for testing an input/output circuit through program processing by outputting data inputted into one terminal to another terminal without going through an internal bus.例文帳に追加

プログラム処理により内部バスを介することなく、ある端子に入力されたデータを他の端子に出力して入出力回路をテストできる端子設定回路を提供する。 - 特許庁

At the time of testing, a signal directing the test is inputted from the test signal input pin 205, and an edge detection circuit 211 detects the signal to latch signals inputted from respective input pins 102.例文帳に追加

テスト時にはテスト信号入力ピン205からテストを指示する信号が入力し、エッジ検出回路211がこれを検出して各入力ピン102から得られた信号をラッチする。 - 特許庁

To provide a controller of a material testing machine constituted so as to dispense with an operator at the time of the electrical calibration of the amplifier of a strain gauge type detector and capable of automating calibration.例文帳に追加

歪みゲージ式検出器のアンプの電気的校正に際してオペレータが介在する必要がなく、校正を自動化することのできる材料試験機の制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of evaluating and testing polarity inverting ability of DC power equipment, by which the polarity inverting ability of DC power equipment can be evaluated easily and accurately, in a short time.例文帳に追加

短時間のうちに容易かつ正確に極性反転性能を評価することのできる直流用電力機器の極性反転性能評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition for repairing flaking, which shows a favorable penetration, imparts a bending strength and conforms the JHS426 standard defining the method for testing crack impregnation materials.例文帳に追加

JHS426に基づいて、ひび割れ含浸材料の試験方法が定められ、これに適う浸透性が良く、曲げ強度が得られる剥落用エポキシ樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing at desired timing a delay time or an operation speed of an internal circuit without being affected by a floating capacity or the like in a measuring system.例文帳に追加

測定系における浮遊容量等の影響を受けずに、内部回路の遅延時間又は動作速度を所望のタイミングで試験することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an arrangement for testing a power converter that performs a noise test equivalent to a combined noise test without the power converter of a finished product in the power converter.例文帳に追加

組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なう電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

To provide a voice guidance system where a specific sound piece and guidance can be confirmed by deciding a guidance reproduced separately from a testing call and selecting designation of a variable word.例文帳に追加

試験呼とは別に再生するガイダンスを決定し、また、可変語の指定も選択可能なため、特定の音片やガイダンスを確認することが可能な音声ガイダンスシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing an integrated circuit capable of accurately performing an operation test of the integrated circuit even when the integrated circuit operates at a low voltage or a high frequency.例文帳に追加

集積回路の動作が低電圧化や高周波数化した場合でも、当該集積回路の動作テストを正確に行うことができる集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

A fault information storage means 2 performs the reception state check of a frame for testing to a present device, error check and CRC, and stores error information in the register group 8 of the present device.例文帳に追加

障害情報蓄積手段2は、自装置宛の試験用フレームの受信状態チェック,エラーチェック,およびCRCを行い、エラー情報を自装置のレジスタ群8に蓄積する。 - 特許庁

To provide a digital line circuit testing system for a 2W multifunctional telephone set which makes a test for a digital line circuit for a 2W multifunctional telephone set to be unmanned and automated and shortens test time.例文帳に追加

2W多機能電話機用デジタルライン回路の試験の無人化、自動化、試験時間の短縮化を期す2W多機能電話機用デジタルライン回路試験方式を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing position sense of human knee joint characterized in that the knee joint angle can be measured objectively for examination of the position sense of a human knee joint.例文帳に追加

人の膝関節の位置覚を検査するために、膝関節角度を客観的に測定ができるようにしたことを特徴とした膝関節位置覚検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of simply evaluating the flowability of concrete used in a press fit method without using a complicated testing apparatus or method and requiring experience.例文帳に追加

圧入工法に用いられるコンクリートの流動性を、複雑な試験装置や方法を用いず,経験を要さず簡易に評価できるコンクリートの流動性評価方法を提供する。 - 特許庁

For any inspection and testing of an electric equipment, it is important to easily, surely and correctly detect voltage and current impressed on the equipment with required degree of accuracy for efficiency and safety of works.例文帳に追加

電気機器の試験,検査については,機器に印加される電圧,電流を,簡便,確実,そして必要な精度で正確に検出することが,作業の効率,安全のために重要である。 - 特許庁

To provide a penetration testing machine capable of obtaining an accurate small-capacity acoustic signal in which a noise component is removed from an acoustic signal obtainable by a sound detecting means.例文帳に追加

音検出手段によって得られる音響信号から雑音成分を除去した正確かつ容量の少ない音響信号を得ることが可能な貫入試験機の提供。 - 特許庁

To provide a grounding protective relay system equipped with a testing function of a grounding direction relay, capable of attaining a drastic reduction in the number of occurrences of grounding and a significant shortening of operation time.例文帳に追加

地絡発生回数の大幅な削減および作業時間の大幅な短縮を図ることができる地絡方向継電器の試験機能を備えた地絡保護継電器システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing abnormal focus in reduction projection exposure without having to reduce the throughput, even if foreign matters attach to a semiconductor wafer.例文帳に追加

スループットを低下させることなく、かつ、異物が半導体ウェハに付着している場合であっても、縮小投影露光におけるフォーカス異常を検査することができる装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a method for simply and rapidly detecting Escherichia coli O-157 and an intestinal hemorrhagic strain of E. coil upon testing food poisoning and diarrhea.例文帳に追加

本発明は、食中毒・下痢症にかかる検査における、簡便、迅速な大腸菌O157及び腸管出血性大腸菌の検査法を提供することを目的とする。 - 特許庁




  
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