「WAVE FRONT ABERRATION」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

WAVE FRONT ABERRATION CORRECTION DEVICE AND LIGHT PICKUP例文帳に追加

波面収差補正装置および光ピックアップ - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION CORRECTION MIRROR FOR OPTICAL PICKUP例文帳に追加

光ピックアップの波面収差補正ミラー - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION CORRECTION DEVICE AND AND OPTICAL PICKUP例文帳に追加

波面収差補正装置および光ピックアップ - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND PROJECTION EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

波面収差測定方法及び投影露光装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION WAVE FRONT ABERRATION OF TEST LENS例文帳に追加

被検レンズの透過波面収差測定方法及び装置 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE AND PROJECTION ALIGNER例文帳に追加

波面収差測定機及び投影露光装置 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD AND PROJECTION ALIGNER例文帳に追加

波面収差測定方法及び投影露光装置 - 特許庁

To provide an aligner having a wave front aberration measuring apparatus capable of very accurately measuring the wave front aberration of an alignment system.例文帳に追加

アライメン系の波面収差を極めて正確に計測することが可能な波面収差計測装置を有する露光装置を提供することである。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING METHOD, WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF IMAGING OPTICAL SYSTEM AND MANUFACTURING METHOD OF EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

波面収差測定方法、波面収差測定装置、結像光学系の製造方法、及び露光装置の製造方法 - 特許庁

Then, on the basis of the detected position information and cross section information, the wave front aberration of the light beam is measured by a wave front aberration measuring means.例文帳に追加

そして、検出した位置情報と断面情報とに基づいて光ビームの波面収差を波面収差測定手段により測定する。 - 特許庁

CORRECTION MIRROR FOR WAVE FRONT ABERRATION AND OPTICAL DISK DEVICE USING THE MIRROR例文帳に追加

波面収差補正ミラー及び該ミラーを用いた光ディスク装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING WAVE FRONT ABERRATION IN OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

光学系の波面収差測定方法及び波面収差測定装置 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASUREMENT APPARATUS, EXPOSURE SYSTEM, AND DEVICE MANUFACTURING SYSTEM例文帳に追加

波面収差測定装置、露光装置及びデバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR WAVE FRONT ABERRATION MEASUREMENT, AND METHOD AND DEVICE FOR EXPOSURE例文帳に追加

波面収差計測方法及び装置、並びに露光方法及び装置 - 特許庁

To highly accurately inspect wave front aberration of an optical pickup in a short time.例文帳に追加

光ピックアップの波面収差を短時間かつ高精度に検査する。 - 特許庁

To make it possible to form a sharp image by improving wave front aberration.例文帳に追加

波面収差を改善し、シャープな結像を得ることができるようにする - 特許庁

To provide a wave front aberration measuring apparatus with which a wave front aberration of an optical system to be inspected can be measured with high accuracy by removing the influence of a plane mirror used to measure the wave front aberration of the optical system to be inspected.例文帳に追加

被検光学系の波面収差測定に用いる平面鏡の影響を除去し、被検光学系の波面収差を高精度に測定できる波面収差測定装置を提供すること。 - 特許庁

The optical pickup device is provided with a liquid crystal panel 9 as an aberration compensating means and has a construction for applying voltage corresponding to compensation of the medium wave front aberration and the optical system wave front aberration to two transparent electrodes with which the liquid crystal panel 9 is provided.例文帳に追加

また、収差補正手段として液晶パネル９を備え、液晶パネル９に備わる２つの透明電極に対して、媒体波面収差と光学系波面収差の補正とに対応した電圧を印加する構成を有する。 - 特許庁

To provide a lens array, a wave front sensor and a wave front aberration measuring device, for measuring wave front aberration of a lens being a inspection target by effectively utilizing light quantity and suppressing influence of diffracted light being an error factor.例文帳に追加

光量を有効に利用し、かつ、誤差要因となる回折光の影響を抑えて測定することができるレンズアレイ、波面センサ及び波面収差測定装置を供すること。 - 特許庁

To provide a wave front aberration correction mirror which carries out aberration correction with higher precision and a simpler structure.例文帳に追加

より精度良く、より簡易な構造で、収差補正を行なうことの可能な波面収差補正ミラーを提供する。 - 特許庁

To provide an aberration compensating element, facilitating adjustment in compensating a wave front aberration witout consuming power unnecessarily.例文帳に追加

波面収差の補正を行う場合の調整が容易であって、不必要に電力を消費しない収差補正素子を提供する。 - 特許庁

To provide a Fresnel lens excellent in the conformity of the wave front for each zone, capable of excellently compensating wave front aberration and having the optical action of an aspherical surface.例文帳に追加

輪帯毎の波面の合致性が良く、波面収差の良好な補正が可能な、非球面の光学作用を持つフレネルレンズを実現する。 - 特許庁

To provide a measuring method of wave front aberration wherein the whole wave front is not modulated due to a position measurement error of a part of a spot.例文帳に追加

一部のスポットの位置計測誤差により波面全体が変調を受けることがない波面収差の測定方法を提供する。 - 特許庁

To compensate wave front aberration of light emitted form a light source in addition to compensation of wave front caused by tilt of an objective lens and an information recording medium.例文帳に追加

対物レンズと情報記録媒体とのチルトに起因する波面収差の補正に加えて、光源部から発光された光の波面収差を補正する。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE PROVIDED WITH TRANSMISSIVITY MEASURING DEVICE AND TRANSMISSIVITY MEASURING MECHANISM例文帳に追加

透過率測定装置及び透過率測定機構を備えている波面収差測定装置 - 特許庁

LITHOGRAPHIC PROJECTION APPARATUS, DIFFRACTION MODULE, SENSOR MODULE, AND METHOD OF MEASURING WAVE FRONT ABERRATION例文帳に追加

平版投射装置、回折モジュール、センサモジュールおよび波面収差を測定する方法 - 特許庁

LENS AND OPTICAL PICKUP HAVING CORRECTION FUNCTION OF WAVE FRONT ABERRATION DUE TO TILT例文帳に追加

チルトによる波面収差の補正機能を有するレンズ及び光ピックアップ - 特許庁

LIQUID CRYSTAL WAVE FRONT ABERRATION CORRECTING ELEMENT, AND OPTICAL PICKUP USING AND OPTICAL MEDIUM DRIVING DEVICE USING THE ELEMENT例文帳に追加

液晶波面収差補正素子並びにこれを用いた光ピックアップ及び光メディアドライブ装置 - 特許庁

A variety of refraction instruments such as a corneal topography system and a wave front aberration system can be used.例文帳に追加

角膜形態システムおよび波面収差システムのような種々の屈折装置を使用できる。 - 特許庁

To shorten time required for measurement, and obtain wave front aberration information of an object to be inspected with high accuracy.例文帳に追加

計測に要する時間を短縮して、高精度に被検物の波面収差情報を求める。 - 特許庁

ALIGNER, ALIGNER MANUFACTURING METHOD, WAVE FRONT ABERRATION MEASURING APPARATUS AND MICRODEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

露光装置、露光装置の製造方法、波面収差計測装置及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION MEASURING DEVICE, PIN HOLE MASK, PROJECTION EXPOSURE SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

波面収差測定装置、ピンホールマスク、投影露光装置、及び投影光学系の製造方法 - 特許庁

WAVE-FRONT ABERRATION MEASURING APPARATUS AND METHOD, ALIGNER, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

波面収差測定装置及び波面収差測定方法、並びに、露光装置及びデバイスの製造方法 - 特許庁

A medium wave front aberration compensation voltage forming part 20 and an optical system wave front aberration compensation voltage forming part 21 are provided in a control mechanism 2 to separately and independently compensate a medium wave front aberration caused by the shape or the like of an optical recording medium 14 and an optical system wave front aberration caused by an optical system in an optical pickup mechanism 1.例文帳に追加

制御機構２内に媒体波面収差補正電圧生成部２０と光学系波面収差補正電圧生成部２１とを備え、光学記録媒体１４の形状等に起因した媒体波面収差と、光ピックアップ機構１内の光学系に起因した光学系波面収差とを別個独立に補正する機構を有する。 - 特許庁

Wave front distribution in the measurement optical system of the wave front sensor is calculated from the light reception results of each calibration pinhole pattern image PHI' and then the wave front aberration determined from light reception results of the CCD under a state where the entire surface of the measurement opening 46 is illuminated is corrected thus calibrating the wave front aberration measuring equipment.例文帳に追加

各較正用ピンホールパターン像ＰＨＩ’の受光結果から波面センサの測定用光学系における波面の分布を算出し、測定用開口４６の全面を照明した状態でのＣＣＤの受光結果から求めた波面収差を補正して、波面収差測定装置を較正する。 - 特許庁

WAVE FRONT ABERRATION ESTIMATING METHOD AND DEVICE, COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM STORING WAVE FRONT ABERRATION ESTIMATING PROCEDURE, METHOD OF MANUFACTURING IMAGE FOCUSING OPTICAL SYSTEM AND IMAGE FOCUSING OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

波面収差推定方法、波面収差推定装置、及び波面収差推定手順を記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、並びに結像光学系の製造方法及び結像光学系 - 特許庁

Further in the range of the NA for HD, a transparent annular zone electrode pattern is optimized corresponding to a spherical aberration wave front for giving defocus to minimize the biggest inclination of the aberration wave front.例文帳に追加

さらにＨＤのＮＡ範囲において、その収差波面の最大傾きが最小となるようなデフォーカスを与えた球面収差波面に対応して輪帯状透明電極パターンを最適化する。 - 特許庁

When measuring the imaging position by the imaging element and operating the wave front aberration therefrom, data satisfying a specific standard among data of the variation of a spot position are removed, and the wave front aberration is measured based on the residual data.例文帳に追加

この結像位置を撮像素子により測定し、これから波面収差を演算する際、スポット位置の変化量のデータのうち特定の基準を満たすデータを除外して、残ったデータに基づいて波面収差の測定を行う。 - 特許庁

Furthermore, in each of a first surface 11, a second surface 12 and a third surface 13, the wave-front aberration value at the surface peripheries is larger than the wave-front aberration value at the surface center.例文帳に追加

さらに、第１面１１、第２面１２及び反射面１３では、各々、面中央の波面収差値に比べて、面周縁の波面収差値の方が大きい。 - 特許庁

The loading/unloading mechanism loads or unloads the wave-front aberration measuring unit 35 at the drawing position separated from the measuring position as the position to measure the wave-front aberration of the projected optical system.例文帳に追加

そして、着脱機構は、投影光学系の波面収差を測定する位置である測定位置から離れた退避位置で波面収差測定ユニット３５を着脱する。 - 特許庁

The spherical wave L2 is split in this side of the system 6 to be brought into shearing-interference separately, an interference fringe therein is measured to measure a wave front aberration of the spherical wave itself, and a wave front aberration-measured result of the tested optical system 6 is corrected using a measured result therein.例文帳に追加

この際、上記球面波Ｌ２を上記被検光学系６の手前で分割して別途シアリング干渉させ、その干渉縞を測定することにより上記球面波そのものの波面収差を測定し、その測定結果を用いて上記被検光学系６の波面収差測定結果を較正する。 - 特許庁

To provide a method for analytically properly evaluating wave front aberration of an image-forming optical system, while paying attention to the orthogonality of aberration functions in an aberration polynomial obtained with respect to discrete point, for example, in a rectangular effective image-forming region.例文帳に追加

たとえば矩形状の有効結像領域における離散点に対して得られる収差多項式の収差関数の直交性に留意しつつ結像光学系の波面収差を解析的に正しく評価する方法。 - 特許庁

Out of wave front aberrations generated when the laser beams with different wavelengths are condensed on the information recording surfaces of the corresponding optical recording media, the maximum wave front aberration Wmax and minimum wave aberration Wmin are assumed and they meet the following equation, Wmax≤0.035 λRMS.例文帳に追加

異なる波長のレーザビームが、対応する光記録媒体の情報記録面上に集光する際に発生する波面収差のうち、最大波面収差をＷmax、最小波面収差をＷminとしたとき、Ｗmax≦０．０３５λＲＭＳを満たす。 - 特許庁

Thereby, wave front aberration of a converged spot converged to the information recording plane by an objective lens 109 is varied, and since a new detected signal is outputted from the optical detector 113 receiving the varied wave front aberration, the control part CT can feedback-control the heating parts/cooling parts HC1-HC4 so that the optimum wave front aberration is obtained.例文帳に追加

それにより対物レンズ１０９により情報記録面に集光される集光スポットの波面収差が変化し、それを受光した光検出器１１３より新たな検出信号が出力されるので、制御部ＣＴは、最適な波面収差となるように、加熱部兼冷却部ＨＣ１〜ＨＣ４をフィードバック制御できる。 - 特許庁

The liquid crystal panel 21 annularly divided in the radial state is preferable for exactly correcting the wave front aberration.例文帳に追加

液晶パネル２１は、正確な波面収差を補正するため、放射状に環状に分割されていることが好ましい。 - 特許庁