「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The scan signal line driving circuit 30 applies the voltage VGHx to a scan signal line selected out of scan signal lines G1 to Gn and the voltage VGL to unselected scan signal lines.例文帳に追加

走査信号線駆動回路３０は、走査信号線Ｇ１〜Ｇｎの中から選択した走査信号線には電圧ＶＧＨｘを、非選択の走査信号線には電圧ＶＧＬを印加する。 - 特許庁

The apparatus comprises a plasma display panel comprising a plurality of scan electrodes, and a scan driver which drives the plurality of scan electrodes, divides the plurality of scan electrodes into a plurality of scan electrode groups, and distinguishes a level of reset pulse supplied to at least one of the plurality of scan electrode groups from a level of reset pulse supplied to the others of the plurality of scan electrode groups.例文帳に追加

本発明は、複数のスキャン電極を含むプラズマディスプレイパネルと、複数のスキャン電極を駆動させ、複数のスキャン電極を複数のスキャン電極群に分けて、複数のスキャン電極群のうち、少なくとも１つ以上に供給されるリセットパルスの大きさを他のスキャン電極群に供給されるリセットパルスの大きさと異なるようにするスキャン駆動部と、を含む。 - 特許庁

In the scanning conversion apparatus, a first converter converts input interlaced scan data into sequential scan data, a second converter converts sequential scan data outputted from the first converter into interlaced scan data.例文帳に追加

第１変換器は入力飛越し走査データを順次走査データに変換し、第２変換器は第１変換器から出力された順次走査データを飛越し走査データに変換する走査変化装置である。 - 特許庁

The scan base ATPG test circuit comprises a scan chain group 400 comprising a plurality of scan chains 401, 403, 405 and 407 connected so that test and diagnosis for these scan chains can be performed; and a scan test point group 410 performing processing so that an unknown value present in the scan chain have no influence on a test result.例文帳に追加

スキャンベースＡＴＰＧテスト回路は、複数個のスキャンチェーン４０１，４０３，４０５，４０７についてのテスト及び診断が可能なように、これらを連結したスキャンチェーングループ４００、及びスキャンチェーンに存在する未知の値がテスト結果に影響を与えないように処理するスキャンテストポイントグループ４１０を含む。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

Each of the protrusions 74a and 74b extends in a slant direction (direction not parallel to a main-scan direction and a sub-scan direction).例文帳に追加

各凸部７４ａ，７４ｂは、斜め方向（主走査方向及び副走査方向に平行でない方向）に伸びている。 - 特許庁

A scan test device 1 according to the present invention includes a test data input terminal, an OR element 17, and a scan flip-flop 12.例文帳に追加

本発明にかかるスキャンテスト装置１は、テストデータ入力端子、ＯＲ素子１７、スキャンフリップフロップ１２を備える。 - 特許庁

A scan flip-flop circuit OSFF for observation is incorporated in a shift register constituted by a plurality of scan flip-flop circuits.例文帳に追加

観測用スキャンフリップフロップ回路ＯＳＦＦは、複数のスキャンフリップフロップ回路が構成するシフトレジスタに組み込まれる。 - 特許庁

To prevent the original for which a user tries to utilize a push scan function from being sent by utilizing a pull scan function.例文帳に追加

プッシュスキャン機能を利用しようとしたユーザの原稿が、プルスキャン機能を利用して取得されることのないようにする。 - 特許庁

To provide a scan flip-flop for executing a scan test without obstructing the skew adjustment of a clock line.例文帳に追加

クロックラインのスキュー調整を阻害することなくスキャンテストを実行することが可能なスキャンフリップフロップを提供する。 - 特許庁

A dynamic scan for sequentially performing a plurality of scans at time intervals is started by a dynamic scan start part 251.例文帳に追加

複数のスキャンを、順次、時間間隔を隔てて実行するダイナミックスキャンをダイナミックスキャン開始部２５１が開始させる。 - 特許庁

To provide a logic circuit design method for adjusting a clock skew occurred between scan FFs constituting a scan path.例文帳に追加

スキャンパスを構成するスキャンＦＦ間に発生するクロックスキューを調整するための論理回路設計方法を提供する。 - 特許庁

A line which reads bit map data is switched in response to a position of a scan direction so that a bending of the scan line is offset with respect to a print part 107 having the scan line having the bending.例文帳に追加

曲がりがある走査ラインを持つ印刷部１０７に対して、走査ラインの曲がりを相殺するようにビットマップデータを読み出すラインを走査方向の位置に応じて切り替える。 - 特許庁

Once the first wobbler array completes a scan or portion of the scan, the second wobbler array begins the scan without waiting for initiation of the wobbling (50).例文帳に追加

第１のウォブラアレイがスキャンを全部または一部を完了すると、第２のウォブラアレイが移動の開始を待つことなくスキャンを開始する（５０）。 - 特許庁

In a backlight (BL) scan signal arithmetic device, BL scan signals 1 to N synchronized with video signals are transmitted to LED rows to perform BL scan.例文帳に追加

バックライト（ＢＬ）スキャン信号演算装置は、映像信号に同期したＢＬスキャン信号１〜ＮをＬＥＤ列に送信してＢＬスキャンを行う。 - 特許庁

The scan condition determining means 45 changes the parameter value of a scan parameter corresponding to the selected item to determine new scan conditions.例文帳に追加

スキャン条件決定手段４５は、選択された項目に対応したスキャンパラメータのパラメータ値を変更し、新たなスキャン条件を決定する。 - 特許庁

A dummy flip-flop operating only at the scan test time is connected to the scan chain, and shift-out by the scan chain can not be performed at the ordinary operation time.例文帳に追加

またスキャンチェーンに、スキャンテスト時のみ動作するダミーフリップフロップを接続し、通常動作時にスキャンチェーンによるシフトアウトができないようにする。 - 特許庁

A scan list correlating the PC with the scan data is registered in the RAM, and the PC is notified of information on the scan data.例文帳に追加

そして、ＰＣとスキャンデータとを対応付けたスキャンリストをＲＡＭに登録し、このＰＣに対して、スキャンデータに関する情報を通知する。 - 特許庁

The scanner first determines the needed scan width (302) and then performs a scan where the full width of the scan line is not illuminated (304).例文帳に追加

スキャナは、まず、必要なスキャン幅を決定し（３０２）、次に、スキャンを行うが、この場合、スキャンの全幅が照明されるわけではない（３０４）。 - 特許庁

A scan circuit sequentially scans row-like scan lines to simultaneously select pixels for two rows commonly connected to one scan line.例文帳に追加

走査回路は、行状の走査線を順次走査して、一本の走査線に対して共通に接続した二行分の画素を同時に選択する。 - 特許庁

A second scan transforming part 102 starts scan transform of transform coefficients by at least two behind from the first scan transforming part 101.例文帳に追加

第２のスキャン変換部１０２は、第１のスキャン変換部１０１から、少なくとも２つ分だけ遅れて変換係数のスキャン変換を開始する。 - 特許庁

The boundary scan cell 18 constituted as a shift resistor, shifts data in one direction from one boundary scan cell to an adjacent boundary scan cell 18.例文帳に追加

バウンダリスキャンセル１８はシフトレジスタとして構成されて、１つのバウンダリスキャンセルから隣接するバウンダリスキャンセル１８に一方向でデータをシフトする。 - 特許庁

Then, one scan pattern is determined from among a plurality of scan patterns for determining different scan orders, respectively, based on the read quantized value (S2).例文帳に追加

次に，それぞれ異なるスキャン順を定める複数のスキャンパターンの中から，読み出した量子化値をもとに，一つのスキャンパターンを決定する（Ｓ２）。 - 特許庁

The scan is executed to a wire provided inside a phantom.例文帳に追加

このスキャンは、ファントム内に設けられたワイヤーに対して行う。 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of simplifying a circuit scale.例文帳に追加

回路規模を簡素化することが可能なスキャンテスト回路を得る。 - 特許庁

To execute a scan test of an LSI containing a non-synchronous circuit.例文帳に追加

非同期回路を含んだＬＳＩのスキャンテストを実行できる。 - 特許庁

So, I had a pet scan... and it lit up like a christmas tree.例文帳に追加

それで検査を受けた 体がライトアップした クリスマスツリーみたいで - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

a device used to scan picture information into a computer, called scanner 例文帳に追加

スキャナーという,画像情報をコンピューターに入力する装置 - EDR日英対訳辞書

For example, a paper feed signal is made 'true' in a scan start timing and a paper discharge signal is made 'true' in a scan end timing.例文帳に追加

例えば、スキャン開始タイミングで給紙信号がｔｒｕｅにされ、スキャン完了タイミングで排紙信号がｔｒｕｅにされる。 - 特許庁

To reduce noise generated in the waveforms applied to a scan electrode and a sustain electrode when a data pulse and a scan pulse are simultaneously applied.例文帳に追加

データパルスとスキャンパルスが同時に印加された場合に、スキャン電極およびサステイン電極の波形に生じるノイズを低減する。 - 特許庁

To secure a print position and dimensional precision by adjusting a main-scan magnification and a sub-scan magnification to proper values in a double-side printing.例文帳に追加

両面印字の際、主走査倍率と副走査倍率を適切な値に調整して印字位置と寸法精度を確保する。 - 特許庁

Based on this list, a boundary-scan cell connected to a circuit terminal is operated as a driver and/or sensor for latching into a boundary-scan register.例文帳に追加

このリストに基づいて、回路端子に接続されたバウンダリスキャン・セルがドライバ、センサとし作動し、バウンダリスキャン・レジスタにラッチする。 - 特許庁

When a scan pulse is output to a scan line Ls, a voltage output to a data line Ld is applied to the capacitor Cs2.例文帳に追加

走査ラインＬｓに走査パルスが出力されると、データラインＬｄに出力されている電圧がコンデンサＣｓ２に印加される。 - 特許庁

To prevent hold errors during implementation of a scan test, wherein a scan chain is constructed of a plurality of flip-flops, in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路において複数のフリップフロップでスキャンチェーンを構成するスキャンテスト実施時のホールドエラーを抑制する。 - 特許庁

The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加

スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも１つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁

To visualize a JTAG boundary scan operation in real time.例文帳に追加

ＪＴＡＧバウンダリスキャン操作をリアルタイムに可視化する。 - 特許庁

The scan line and the data line are disposed on a substrate.例文帳に追加

スキャンラインおよびデータラインは、基板の上に配置される。 - 特許庁

To achieve a reduction of radiation exposure and improvement in image quality of conventional scan (axial scan), cine scan, helical scan, or variable pitch helical scan by an X-ray CT apparatus with a two-dimensional X-ray area detector of a matrix arrangement represented by a multi-array X-ray detector or a flat panel X-ray detector.例文帳に追加

多列X線検出器または、フラットパネルX線検出器に代表されるマトリクス構造の2次元X線エリア検出器を持ったX線CT装置のコンベンショナルスキャン（アキシャルスキャン）またはシネスキャンまたはヘリカルスキャンまたは可変ピッチヘリカルスキャンの被曝を低減、画質改善を実現する。 - 特許庁

The scan electrode 211 has a first hole 211c.例文帳に追加

スキャン電極２１１は、第１ホール２１１ｃを有する。 - 特許庁

To scan observation points at a high speed.例文帳に追加

観測点に対して高速なスキャンを行えるようにする。 - 特許庁

To provide a scan drive circuit which enables high picture quality to be compatible with low power consumption, a display device, an electro- optical and a scan driving method using the scan drive circuit.例文帳に追加

高画質化と低消費電力化とを両立させる走査駆動回路、これを用いた表示装置、電気光学装置及び走査駆動方法を提供する。 - 特許庁

The preceding vehicle is detected by a scan type laser radar 10.例文帳に追加

スキャン型レーザレーダ１０で先行車を検出する。 - 特許庁

There is no need for labeling a probe in this scan.例文帳に追加

このスキャンにおいて、プローブをラベリングする必要はない。 - 特許庁

You see a ct scan where cancer is in the liver.例文帳に追加

CTスキャンでがんが肝臓にあることが確認できます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

You see a ct scan where cancer is in the liver.例文帳に追加

ctスキャンでがんが肝臓にあることが確認できます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書